CN112504595B - 一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法，星模拟器通过三点定位支撑结构与气浮平台连接固定；六自由度微振动模拟器通过支撑系统与零刚度系统连接；零刚度系统与悬吊系统连接；毫角秒级光学敏感器悬挂固定于六自由度微振动模拟器作业台面；毫角秒级光学敏感器、数据采集与处理系统通过线缆连接，进行信号传输；六自由度微振动模拟器、信号驱动设备通过线缆连接，进行微振动信号的产生与控制。光源、星模拟器、毫角秒级光学敏感器中心线位于同一条直线上。支撑系统上安装有加速度传感器；六自由度微振动模拟器上下台面分别安装有加速度传感器；毫角秒级光学敏感器安装接口和光学元件上分别安装有加速度传感器以及一个角位移传感器。

Description

一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法
技术领域
本发明涉及空间极高精度指向测量技术、空间遥感、星敏感器领域以及天文、航空等涉及到的高性能光学仪器领域。特别涉及一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置。
背景技术
空间光学敏感器是航天器的重要组成部分或重要类型，可在特定光学波段对目标(地球、恒星、行星等天体)进行观测，以获取航天器本身的姿态、轨道参数或者目标天体的状态、演化信息等。毫角秒级光学敏感器精度更高，系统更加敏感，以往被忽略的航天器在轨正常工作时产生的微小扰动(下文统称“微振动”)将严重影响姿态测量系统的测量精度，进而影响航天器的稳定性，甚至直接影响空间光学敏感的工作质量。
为测试毫角秒级空间光学敏感器微振动环境下的工作性能，并为后续微振动抑制奠定基础，提出一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置，可有效获取微振动环境下毫角秒级光学敏感器的工作性能和精度指标，以及毫角秒级敏感器微振动敏感频带范围，并为整机标定误差给出参考。
发明内容
本发明的目的在于克服已有技术中的缺陷，提供一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置，适用于实际工程应用。
本发明原理：一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置，通过悬吊系统和零刚度系统用以模拟自由边界条件和零重力环境。光源和星模拟器模拟无穷远的恒星；六自由度微振动模拟器模拟在轨微振动力学环境，并作为试验的输入。极高精度传感器采集系统响应数据。通过本发明中的测量装置对毫角秒级空间光学敏感器的微振动影响进行测量，并根据数据识别出系统敏感参数。
本发明的技术方案是：一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置，包括：光源、星模拟器、气浮隔振平台、悬吊系统/气浮系统、零刚度系统、支撑系统、六自由度微振动模拟器、信号驱动设备、数据采集与处理系统；
星模拟器与气浮平台连接固定；六自由度微振动模拟器通过支撑系统与零刚度系统连接；零刚度系统与悬吊系统/气浮系统连接；待测试空间指向测量仪器悬挂固定于六自由度微振动模拟器作业台面；光源、星模拟器、待测试空间指向测量仪器中心线位于同一条直线上；由光源和星模拟器模拟无穷远的恒星，悬吊系统/气浮系统、零刚度系统用以模拟自由边界条件和零重力环境；
信号驱动设备按照预设的测试需求产生控制信号并发送至六自由度微振动模拟器，由六自由度微振动模拟器产生对应的微振动信号模拟在轨微振动力学环境；
待测试空间指向测量仪器、数据采集与处理系统通过线缆连接，进行信号传输，完成试验过程中目标位置的响应数据采集和存贮。
优选的，支撑系统上安装有加速度传感器；六自由度微振动模拟器上下台面分别安装有加速度传感器；待测试空间指向测量仪器安装接口和光学元件上分别安装有加速度传感器以及一个角位移传感器。
优选的，所述的加速度传感器质量不大于10克，具备0.001g重力加速度测量能力，且分辨力优于0.5m·g；所述的角位移传感器质量不大于10克，分辨力优于3毫角秒。
优选的，在加速度传感器的安装面同时安装位移传感器，位移传感器的分辨力优于2微米。
优选的，所述零刚度系统的三向一阶频率均低于0.05Hz；所述的支撑系统三向一阶频率均不小于2KHz。
优选的，所述的六自由度微振动模拟器具备六自由度解耦能力并满足0～1kHz范围内0.001g量级加速度驱动能力。
优选的，所述气浮系统气压可调且能长时保持稳定，其与支撑系统相连平面的平面度应优于3um，气浮刚度优于20Hz。
优选的，所述星模拟器通过三点定位支撑结构与气浮平台连接固定，三点位置应呈轴对称形式分布。
优选的，所述的待测试空间指向测量仪器为毫角秒级光学敏感器。
一种空间指向测量仪器微振动影响测量方法，包括如下步骤：
(1)在百万级超净实验室中搭建所述的测量装置，并检查连接安全性；
(2)打开光源，数据采集与处理系统开机上电，通过上述传感器进行环境背景噪声测试，数据采集频率不小于5kHz，稳态数据采集时间不小于30秒；
(3)对采集的背景噪声进行初步分析，先对采集的时域数据进行统计，在进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，获取背景噪声幅频特性；满足要求后进行步骤(4)，若不满足，应返回(1)进行检查；
(4)信号驱动设备上电，驱动六自由度微振动模拟器分别进行0～1kHz范围内不同幅值的扰动驱动；同时进行数据采集与处理系统的数据采集与存贮；数据采集频率不小于5kHz，每段稳态数据采集时间不小于60秒；至少采集10段稳态数据；首次试验过程中待测试空间指向测量仪器应开机上电，不工作；
(5)对(4)中采集数据进行分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，最终应获得传感器采集数据的幅频特性图；
(6)待测试空间指向测量仪器开机上电工作成像，重复步骤(4)、(5)；
(7)待测试空间指向测量仪器关机，重复步骤(4)、(5)；
(8)试验后，应先对被测试对象、测试设备停止工作指令，然后断电关机。
本发明与现有技术相比的优点在于：
本发明方法提供了一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置，a)悬吊系统和零刚度系统能够阻断外界噪声及干扰的影响，并且同时模拟在轨自由边界条件和零重力环境；b)能够同时对毫角秒级光学仪器输入6自由度的微小振动；c)能够实现毫角秒光学仪器在微振动环境下的成像过程和图像采集存储；d)能够根据成像效果对微振动环境下的影响进行成像评价；e)极高精度传感器能够获取毫角秒级光学敏感器的微振动响应量级采集与存贮，完成系统微小振动环境下的传递函数测试。
附图说明
图1是本发明原理悬吊实施示意图；
图2是本发明原理悬吊实施示意图中传感器位置示意图；
图3是本发明原理气浮实施示意图。
具体实施方式
以下结合附图1、图2和具体实施例对本发明进行详细说明。
用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置，主要包括：光源10、星模拟器20、气浮隔振平台30、悬吊系统(或气浮系统)40、零刚度系统50、支撑系统60、六自由度微振动模拟器70、信号驱动设备80、毫角秒级光学敏感器90、数据采集与处理系统100。
所述的悬吊系统40通常有N(N为2或者3的倍数，且不小于3)个刚度相等的钢丝绳索构成，且能够保持悬吊过程中整个测试系统稳定不侧翻，钢丝绳索两端的固定方式可根据需要设计。
所述的零刚度系统50上安装有加速度传感器501；所述的六自由度微振动模拟器70上下台面分别安装有加速度传感器701、702；所述的毫角秒级光学敏感器90安装接口位置与光学元件位置分别安装有加速度传感器901、902，光学元件上安装有角位移传感器903。所述的加速度传感器501、701、702、901、902质量不大于10克，具备0.001g重力加速度测量能力，且分辨力优于0.5m·g；所述的角位移传感器903质量不大于10克，分辨力优于3毫角秒；所述加速度传感器的安装面同时安装位移传感器，分辨力优于2微米，位移传感器可采用间接测量，如激光位移计。
所述的零刚度系统50三向一阶频率均低于0.05Hz；所述的零刚度系统50可采用现有的准零刚度系统代替，但其系统刚度应不大于0.1Hz；所述的支撑系统60三向一阶频率均不小于2KHz，采用高强度金属材质一体加工成型，两端具有安装法兰，用于连接零刚度系统50和六自由度微振动模拟器70，法兰可根据需要设计，但应保证连接强度，不同系统之间紧固件除螺钉螺栓外，应有销钉定位，销钉不小于φ3；所述的六自由度微振动模拟器70具备六自由度解耦能力，即X、Y、Z运动方向的自由度与X、Y、Z转动方向的自由度刚度没有耦合，可采用现有的PI六足平台实现，但应满足0～1kHz范围内0.001g量级加速度驱动能力；所述的六自由度微振动模拟器70可采用现有的定频激振器代替，经过不同频率激振测试后，将不同频率数据集成处理；所述的光源10、星模拟器20、毫角秒级光学敏感器90轴线位于同一直线上；所述的气浮隔振平台30具备气浮隔振能力，且气压可调。
当所述的悬吊系统(或气浮系统)40为气浮系统时，其应平面度应优于3um，气浮刚度优于20Hz，气压可调且能长期保持稳定。
所述的一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置工作时位于百万级超净实验室中。
所述的一种用于毫角秒级空间光学敏感器微振动影响的测量装置也可应用于高性能卫星、航空遥感器、临近空间飞行器、天文观测、民用精密光学设备等涉及到的极高精度光学的微小扰动的试验、测试等领域。
测试流程如下：
(1)按照图1所示在百万级超净实验室中进行试验系统的搭建，并检查连接安全性；试验过程中应无人员走动等环境人为噪声；
(2)打开光源10，数据采集与处理系统100开机上电，通过系统中的加速度传感器701、702、901、902，角位移传感器903，或位移传感器进行环境背景噪声测试，数据采集频率不小于5kHz，稳态数据采集时间不小于30秒；
(3)对采集的背景噪声进行初步分析，先对采集的时域数据进行统计，在进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，获取背景噪声幅频特性；满足要求后进行步骤(4)，若不满足，应返回(1)进行检查；
(4)信号驱动设备80上电，驱动六自由度微振动模拟器70，分别进行0～1kHz范围内不同幅值的扰动驱动；同时进行数据采集与处理系统100的数据采集与存贮；数据采集频率不小于5kHz，每段稳态数据采集时间不小于60秒；至少采集10段稳态数据；试验过程中毫角秒级光学敏感器90应开机上电，不工作；
(5)对(4)中采集数据进行分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，最终应获得传感器采集数据的幅频特性图，通常用瀑布图的形式表达；
(6)重复步骤(4)，但此次毫角秒级光学敏感器90应开机上电工作成像；
(7)对(6)中采集数据进行分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，最终应获得传感器采集数据的幅频特性图，通常用瀑布图的形式表达；
(8)重复步骤(4)，但此次毫角秒级光学敏感器90应关机；
(9)对(8)中采集数据进行分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，最终应获得传感器采集数据的幅频特性图，通常用瀑布图的形式表达；
(10)试验后，应先对被测试对象、测试设备停止工作指令，然后断电关机。
本发明未详细说明部分属本领域技术人员公知常识。

Claims (10)

1.一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置，其特征在于：包括：光源、星模拟器、气浮隔振平台、悬吊系统/气浮系统、零刚度系统、支撑系统、六自由度微振动模拟器、信号驱动设备、数据采集与处理系统；
星模拟器与气浮隔振平台连接固定；六自由度微振动模拟器通过支撑系统与零刚度系统连接；零刚度系统与悬吊系统/气浮系统连接；待测试空间指向测量仪器悬挂固定于六自由度微振动模拟器作业台面；光源、星模拟器、待测试空间指向测量仪器中心线位于同一条直线上；由光源和星模拟器模拟无穷远的恒星，悬吊系统/气浮系统、零刚度系统用以模拟自由边界条件和零重力环境；
信号驱动设备按照预设的测试需求产生控制信号并发送至六自由度微振动模拟器，由六自由度微振动模拟器产生对应的微振动信号以模拟在轨微振动力学环境；
待测试空间指向测量仪器、数据采集与处理系统通过线缆连接，进行信号传输，完成试验过程中目标位置的响应数据采集和存贮。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：支撑系统上安装有加速度传感器；六自由度微振动模拟器上下台面分别安装有加速度传感器；待测试空间指向测量仪器安装接口和光学元件上分别安装有加速度传感器，光学元件上安装一个角位移传感器。
3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述的加速度传感器质量不大于10克，具备0.001g重力加速度测量能力，且分辨力优于0.5m·g；所述的角位移传感器质量不大于10克，分辨力优于3毫角秒。
4.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于：在加速度传感器的安装面同时安装位移传感器，位移传感器的分辨力优于2微米。
5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述零刚度系统的三向一阶频率均低于0.05Hz；所述的支撑系统三向一阶频率均不小于2KHz。
6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述的六自由度微振动模拟器具备六自由度解耦能力并满足0～1kHz范围内0.001g量级加速度驱动能力。
7.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述气浮系统气压可调且能长时保持稳定，其与支撑系统相连平面的平面度应优于3um，气浮刚度优于20Hz。
8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述星模拟器通过三点定位支撑结构与气浮平台连接固定，三点位置应呈轴对称形式分布。
9.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述的待测试空间指向测量仪器为毫角秒级光学敏感器。
10.一种空间指向测量仪器微振动影响测量方法，其特征在于包括如下步骤：
(1)在百万级超净实验室中搭建权利要求1所述的测量装置，并检查连接安全性；
(2)打开光源，数据采集与处理系统开机上电，通过权利要求2中传感器进行环境背景噪声测试，数据采集频率不小于5kHz，稳态数据采集时间不小于30秒；
(3)对采集的背景噪声进行初步分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，获取背景噪声幅频特性；满足要求后进行步骤(4)，若不满足，应返回(1)进行检查；
(4)信号驱动设备上电，驱动六自由度微振动模拟器分别进行0～1kHz范围内不同幅值的扰动驱动；同时进行数据采集与处理系统的数据采集与存贮；数据采集频率不小于5kHz，每段稳态数据采集时间不小于60秒；至少采集10段稳态数据；首次试验过程中待测试空间指向测量仪器应开机上电，不工作；
(5)对(4)中采集数据进行分析，先对采集的时域数据进行统计，再进行FFT转换，得到频域数据，并进行频域数据分析，最终应获得传感器采集数据的幅频特性图；
(6)待测试空间指向测量仪器开机上电工作成像，重复步骤(4)、(5)；
(7)待测试空间指向测量仪器关机，重复步骤(4)、(5)；
(8)试验后，应先对被测试对象、测试设备停止工作指令，然后断电关机。
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US17/917,272 US12085474B2 (en) 2020-10-27 2021-06-24 Apparatus and method for measuring micro-vibration influence of spatial orientation measuring instrument

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112504595B (zh) 2020-10-27 2022-07-05 北京控制工程研究所 一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法
CN113158336B (zh) * 2021-04-07 2022-05-24 北京控制工程研究所 一种空间指向测量仪器多物理场耦合建模及精度计算方法
CN113324717A (zh) * 2021-05-11 2021-08-31 上海卫星工程研究所 控制力矩陀螺隔振支架性能测试装置及测试方法
CN113551881B (zh) * 2021-07-16 2023-02-10 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 高精度六自由度光学组件性能测试方法
CN113919190B (zh) * 2021-08-23 2022-06-03 北京控制工程研究所 一种变行程自适应调整准零刚度装置及参数校核方法
CN113998160B (zh) * 2021-11-10 2024-04-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 集成重力卸载机构
CN114543835B (zh) * 2021-12-27 2023-04-28 中科院南京天文仪器有限公司 一种采用激光干涉探测的星模拟系统振动抑制系统及方法
CN114646443A (zh) * 2022-04-11 2022-06-21 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 微振动模拟平台
CN114878197B (zh) * 2022-05-23 2023-06-02 南京理工大学 一种验证空间低冲击发射与可靠性附着的地面试验方法
CN115979309B (zh) * 2023-03-17 2023-05-16 常州市金坛中测传感器科技有限公司 一种角度式水平位移传感器

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102650563A (zh) * 2011-12-20 2012-08-29 北京卫星环境工程研究所 航天器在轨微振动地面试验系统
JP2013050446A (ja) * 2011-08-01 2013-03-14 Masato Takahashi 方位情報取得方法
CN107782536A (zh) * 2017-09-14 2018-03-09 北京空间飞行器总体设计部 一种多层次微振动系统试验方法及系统
CN108180829A (zh) * 2017-12-28 2018-06-19 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法
CN110543193A (zh) * 2019-08-30 2019-12-06 中国人民解放军国防科技大学 一种用于指向机构的在线加减速控制方法、系统及介质
CN111157208A (zh) * 2020-02-27 2020-05-15 广州大学 一种卫星微振动隔振模拟测量系统与方法
CN111174811A (zh) * 2020-01-17 2020-05-19 北京航空航天大学 用于光学卫星指向测量系统的空间基准标定方法及装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004228473A (ja) * 2003-01-27 2004-08-12 Canon Inc 移動ステージ装置
JP2011213313A (ja) 2010-04-02 2011-10-27 Mitsubishi Electric Corp 宇宙機運動シミュレータ
CN102735264B (zh) * 2012-06-18 2014-11-19 北京控制工程研究所 一种星敏感器故障模拟系统
CN102798459A (zh) 2012-08-10 2012-11-28 上海卫星工程研究所 卫星地面微振动测试系统
DE202015010029U1 (de) * 2014-07-30 2023-10-04 Kokusai Keisokuki Kabushiki Kaisha Oszilliervorrichtung zur Verbindung eines Rütteltisches mit einer Z-Achsen-Oszilliereinheit
CN104266811B (zh) 2014-09-16 2017-03-01 上海卫星工程研究所 零刚度非线性微振动悬吊装置及其微振动试验方法
CN112504595B (zh) 2020-10-27 2022-07-05 北京控制工程研究所 一种空间指向测量仪器微振动影响测量装置及方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013050446A (ja) * 2011-08-01 2013-03-14 Masato Takahashi 方位情報取得方法
CN102650563A (zh) * 2011-12-20 2012-08-29 北京卫星环境工程研究所 航天器在轨微振动地面试验系统
CN107782536A (zh) * 2017-09-14 2018-03-09 北京空间飞行器总体设计部 一种多层次微振动系统试验方法及系统
CN108180829A (zh) * 2017-12-28 2018-06-19 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法
CN110543193A (zh) * 2019-08-30 2019-12-06 中国人民解放军国防科技大学 一种用于指向机构的在线加减速控制方法、系统及介质
CN111174811A (zh) * 2020-01-17 2020-05-19 北京航空航天大学 用于光学卫星指向测量系统的空间基准标定方法及装置
CN111157208A (zh) * 2020-02-27 2020-05-15 广州大学 一种卫星微振动隔振模拟测量系统与方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于ANSYS的某航天光学指向摆镜系统的随机振动分析;刘阳等;《机械设计与制造》;20100408(第04期);第18-20页 *
深空自主导航光学敏感器及其验证;郝云彩等;《空间控制技术与应用》;20120615(第03期);第5-10页 *

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