CN112491432B - 电子设备、拔插检测方法及拔插检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种电子设备、拔插检测方法及拔插检测装置，该电子设备包括设备主体、电路板、卡托、卡座和磁性检测组件。所述设备主体设置有开口，所述卡托可通过所述开口与所述卡座可拆卸连接；所述卡托上设置有磁性件，所述磁性检测组件用于检测所述卡托在第一位置和第二位置时所述磁性件的磁场强度。本申请实施例提供的所述卡托上设置有磁性件，通过所述磁性检测组件来检测所述磁性件的磁场强度，根据所述磁场强度的变化可以判断所述卡托是处于第一位置还是第二位置，提高了所述卡托位置检测的可靠性，保证了所述电子设备的长期稳定使用。

Description

电子设备、拔插检测方法及拔插检测装置

技术领域

本申请涉及通信设备技术领域，具体地，本申请涉及一种电子设备、拔插检测方法及拔插检测装置。

背景技术

目前，手机已成为人们日常生活和工作中必备的实用工具，在手机的使用过程中，随着产品的升级和人们对手机的需要越来越高，手机的安全性、便捷性及可靠性越来越受到重视。手机轻薄短小的特点大大提高了其使用的便捷性，进而带动相应手机组件均朝小型化发展。以手机的卡托和卡座结构为例，目前手机双卡双待功能已是标配，并且大多采用卡托式叠层放置卡的方式取代原有平铺式的多合一卡座方案。这样既满足了一机多卡的需求，又减少了卡托和卡座的需求空间，给手机电池、天线等布局提供了更多的使用空间，利于手机尤其是5G手机的进一步发展。

传统卡托的拔插检测主要依靠机械检测弹片，也就是在卡托未插入卡座时，检测弹片引脚与地接触，并给主板输入低电平，系统检测到无卡托插入；当卡托完全插入卡座时，检测弹片引脚与地之间被卡托隔离，此时给主板输入高电平，系统检测到卡托插入。但由于卡托频繁从卡座中拔插时，检测弹片可能发生变形，导致检测可靠性降低，降低了系统识别卡托拔插状态的准确性。

发明内容

本申请实施例提供一种电子设备、拔插检测方法及拔插检测装置，以解决现有卡托拔插检测可靠性低的问题。

为了解决上述问题，本申请实施例采用下述技术方案：

第一方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：

设备主体、电路板、卡座、磁性检测组件和卡托；

所述设备主体的内部设置有所述电路板、所述卡座和所述磁性检测组件，所述设备主体设置有开口，所述卡托可通过所述开口与所述卡座可拆卸连接；

所述卡托上设置有磁性件；

所述磁性检测组件用于检测所述卡托在第一位置和第二位置时所述磁性件的磁场强度；

在所述卡托位于所述第一位置的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，所述磁性检测组件检测到的磁场强度为第一磁场强度；在所述卡托位于所述第二位置的情况下，所述卡托与所述设备主体分离，所述磁性检测组件检测到的磁场强度为第二磁场强度；

其中，所述第一磁场强度与所述第二磁场强度不同。

第二方面，本申请实施例提供了一种第一方面所述电子设备卡托的拔插检测方法，包括：

检测所述磁性件的磁场强度；

获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

第三方面，本申请实施例提供了一种第一方面所述电子设备卡托的拔插检测装置，包括：

检测单元，检测所述磁性件的磁场强度；

获取单元，获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

本申请实施例采用的技术方案能够达到以下有益效果：

本申请实施例提供了一种电子设备，包括设备主体、电路板、卡托、卡座和磁性检测组件。所述设备主体设置有开口，所述卡托可通过所述开口与所述卡座可拆卸连接；所述卡托上设置有磁性件，所述磁性检测组件用于检测所述卡托在第一位置和第二位置时所述磁性件的磁场强度。所述卡托插入所述卡座的情况下，所述磁场强度为第一磁场强度，所述卡托拔出所述卡座的情况下，所述磁场强度为第二磁场强度，所述第二磁场强度与所述第一磁场强度不同。本申请实施例提供的所述卡托上设置有磁性件，通过所述磁性检测组件来检测所述磁性件的磁场强度，根据所述磁场强度的变化可以判断所述卡托是处于第一位置还是第二位置，提高了所述卡托位置检测的可靠性，保证了所述电子设备的长期稳定使用。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请实施例提供的一种卡托的正面结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种卡托的反面结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种卡托的正面结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种卡托的反面结构示意图；

图5为本申请实施例提供的另一种卡托的正面结构示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种卡托的反面结构示意图；

图7为本申请实施例提供的一种卡托在插入时第一检测组件和第二检测组件获得的磁场变化曲线图；

图8为本申请实施例提供的一种卡托在拔出时第一检测组件和第二检测组件获得的磁场变化曲线图。

附图标记说明：

1-卡托；11-磁性件；111-第一磁性件；112-第二磁性件；113-第三磁性件；114-第四磁性件；115-第五磁性件；2-卡座；3-磁性检测组件；31-第一检测组件；32-第二检测组件；4-卡帽；5-防水圈。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

以下结合附图，详细说明本申请各个实施例公开的技术方案。

参照图1至图6，本申请实施例提供了一种卡托，包括：

设备主体、电路板、卡托1、卡座2和磁性检测组件3。

所述设备主体的内部设置有所述电路板、所述卡座2和所述磁性检测组件3，所述设备主体设置有开口，所述卡托1可通过所述开口与所述卡座2可拆卸连接。

所述卡托1上设置有磁性件11，所述磁性件11的材质可以为塑胶磁，所述磁性件11的数量可以是一个、两个、三个或者更多，所述磁性检测组件3可以为霍尔传感器，所述磁性检测组件3用于检测所述卡托在第一位置和第二位置时所述磁性件11的磁场强度。具体地，所述第一位置为所述卡托1伸入至所述设备主体内的位置，此时所述卡托1插入所述卡座2；所述第二位置为所述卡托1与所述设备主体分离的位置，此时所述卡托1从所述卡座2拔出。也就是在所述卡托1插入或者拔出所述卡座2时，所述卡托1上磁性件11的磁场强度会发生变化，而所述磁性检测组件3可以将所述磁场强度的变化进行实时检测。

在所述卡托1位于所述第一位置的情况下，所述卡托1伸入至所述设备主体内，所述卡托1插入所述卡座2，所述磁场强度为第一磁场强度，此时所述卡托1插入所述卡座2可以是完全插入，即所述卡托1上放置的卡片可以与所述卡座2实现电连接，此时所述磁性检测组件3检测到的所述第一磁场强度便可以提示用户所述卡托1已经完全插入所述卡座2；在所述卡托1位于所述第二位置的情况下，所述卡托1与所述设备主体分离，所述卡托1从所述卡座2中拔出，所述磁场强度为第二磁场强度，这时所述卡托1可以处在拔出过程或者完全拔出所述卡座2的位置，所述第二磁场强度相对于所述第一磁场强度会发生变化，也就是所述第二磁场强度与所述第一磁场强度不同，此时所述磁性检测组件3检测到的所述第二磁场强度便可以提示用户所述卡托1处于拔出过程或者完全拔出所述卡座2的状态。

具体地，所述塑胶磁的成型可以是先将铁氧体粉末与橡胶混合形成混合物，然后将混合物经过挤出成型、注射成型等成型方式加工而成。所述塑胶磁在成型后可以与所述卡托1上非磁性区域粘接或者通过模具成型，该模具可以是注塑模具或者机械加工模具。

具体地，所述卡托1上还可以设置有卡帽4，在所述卡托1位于所述第一位置的情况下，所述卡帽4连接于所述卡托1远离所述卡座2的一侧，所述卡托1连接于所述卡座2的情况下，所述卡帽4可以对所述开口形成密封，也就是对所述卡座2的外侧端部进行阻挡，以达到保护所述卡托1和所述卡座2的目的。另外，所述卡帽4靠近所述卡托1的一侧连接有防水圈5，所述防水圈5可以在所述卡托1和所述卡座2连接时防止杂质和水滴进入到所述卡座2内，保证了所述卡托1的长期稳定运行。

本申请实施例提供的所述卡托1上设置有磁性件11，通过所述磁性检测组件3来检测所述磁性件11的磁场强度，根据所述磁场强度的变化可以判断所述卡托1的位置状态，也就是所述卡托1与所述卡座2的连接状态，进而可以判断所述卡托1是处于插入状态还是拔出状态，所述磁性检测组件3与所述磁性件11之间的无接触式检测提高了所述卡托1位置检测的可靠性，保证了所述卡托1的长期稳定使用。

可选地，所述磁性检测组件3固定于所述卡座2上。

具体地，所述卡托1可拆卸连接于所述卡座2，也就是所述卡托1从所述卡座2上拔出或者插入时，所述卡座2需要相对固定。而所述卡托1从所述卡座2上拔出或者插入时，会带动所述磁性件11移动，所述磁性检测组件3固定于所述卡座2上的情况下，可以保证所述磁性检测组件3对所述磁性件11的磁场强度检测的准确性。

另外，所述磁性检测组件3也可以固定于所述电路板上，并与所述电路板电连接。所述磁性检测组件3与所述电路板电连接后，所述电路板可以将所述磁性检测组件3获得的磁场检测信号转化成相应的所述卡托1的位置信号，也就可以给用户提供的所述卡托1的拔插位置状态，有利于用户准确使用所述卡托1，提高用户使用电子设备的体验。

可选地，参见图1至图4，所述磁性件11包括第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113，所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113沿所述卡托1的插入方向依次设置。

具体地，所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113沿所述卡托1插入所述卡座2的方向依次设置时，在所述卡托1插入所述卡座2的情况下，所述磁性检测组件3可以依次检测到所述第三磁性件113、第二磁性件112和第一磁性件111的磁场强度变化，所述磁性检测组件3检测到的磁场变化与所述第三磁性件113、第二磁性件112和第一磁性件111的极性和设置位置相对应，也就是可以根据所述磁性检测组件3检测到的磁场变化来判断所述卡托1是否处于插入所述卡座2的状态以及是否完全插入；同样的，在所述卡托1拔出所述卡座2的情况下，所述磁性检测组件3可以依次检测到所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113的磁场强度变化，所述磁性检测组件3检测到的磁场变化与所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113的极性和设置位置相对应，也就是可以根据所述磁性检测组件3检测到的磁场变化来判断所述卡托1是否处于拔出所述卡座2的状态，以达到准确判断所述卡托1拔插位置状态的作用。

可选地，所述卡座2为环形卡座，所述卡托1通过所述卡座2的第一端口在所述第一位置和第二位置间切换，所述磁性检测组件3靠近所述第一端口设置。

具体地，所述卡座2的第一端口靠近所述设备主体的开口，所述卡托1插入所述卡座2的情况下，将所述磁性检测组件3靠近所述第一端口设置，可以在所述卡托1开始通过所述第一端口时，也就是所述卡托1开始插入所述卡座2时便可以通过所述磁性检测组件3对所述磁性件11的磁场强度进行检测。比如所述卡托1开始插入所述卡座2时，所述第三磁性件113靠近所述第一端口，这时所述磁性检测组件3便可以首先检测到所述第三磁性件113产生的磁场变化，在所述卡托1插入所述卡座2的过程中，依次检测到所述第二磁性件112和第一磁性件111的磁场强度变化，以达到对所述卡托1插入所述卡座2的整个过程中所述磁性件11磁场的准确检测；所述卡托1在拔出所述卡座2的情况下，所述磁性检测组件3同样可以准确检测所述卡托1拔出所述卡座2的整个过程。

可选地，参见图3和图4，所述卡托1为双面卡托，所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113靠近所述卡托1正面的极性依次为N级、N极和S极，如图3所示；也就是所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113靠近所述卡托1背面的极性依次为S极、S极和N极，如图4所示。所述卡托1插入所述卡座2的情况下，所述磁性检测组件3可以依次检测到所述第三磁性件113、第二磁性件112和第一磁性件111的磁场强度变化，根据所述磁场强度的变化可以判断所述卡托1是正面插入还是反面插入。

具体地，所述磁性检测组件3可以固定于所述卡座2的上侧，也就是在所述卡托1正面插入时所述磁性检测组件3靠近所述卡托1的正面。所述卡托1在插入所述卡座2的情况下，所述磁性检测组件3可以依次检测S极、N极、N极的磁场变化，也就是依次检测到了所述第三磁性件113、第二磁性件112和第一磁性件111的正面磁场变化，这时可以判断所述卡托1为正面插入；如果所述磁性检测组件3依次检测N极、S极、S极的磁场变化，也就是依次检测到了所述第三磁性件113、第二磁性件112和第一磁性件111的反面磁场变化，这时可以判断所述卡托1为反面插入，进而在所述卡托1反面插入时提醒用户重新插入所述卡托1，避免了所述卡托1在反面插入过深时，所述卡托1和所述卡座2的连接不匹配对所述卡托1和所述卡座2的结构造成损坏。另外，所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113靠近所述卡托1正面的极性还可以是其他组合，比如依次为N极、S极、S极，或依次为S极、S极、N极，或依次为S极、N极、N极，本申请实施例对比不做限制。

可选地，所述卡托1从所述第二位置向第一位置移动的情况下，所述磁场强度包括至少一个先增大后减小的磁场强度变化过程。

具体地，所述第一磁性件111、第二磁性件112和第三磁性件113靠近所述卡托1正面的极性依次为N级、N极和S极时，所述卡托1在正面插入所述卡座2的情况下，也就是所述卡托1从所述第二位置向第一位置移动，所述磁性检测组件3可以依次检测S极、N极、N极的磁场变化。首先，所述磁性检测组件3只检测到S极性磁性变化量Sj时，对应所述卡托1最前端插入，所述卡托1具体插入行程可以根据Sj值的强度曲线计算出来，所述磁性检测组件3检测到S极磁性对称性峰值变化，具体为所述磁性检测组件3检测到S极磁场强度先增大后减小，说明所述卡托1上对应S极的部分已插入所述卡座2中；其次，所述磁性检测组件3检测到中间N极磁性变化量Nj1，说明所述卡托1上对应的中间N极位置插入所述卡座2，所述卡托1具体插入位置可以根据Nj1值的强度曲线计算出来，所述磁性检测组件3检测到N极磁性对称性峰值变化，具体为所述磁性检测组件3检测到N极磁场强度先增大后减小，说明所述卡托1上对应中间N极的部分已插入所述卡座2中；最后，所述磁性检测组件3检测到后端N极磁性变化量Nj2，说明所述卡托1上对应的后端N极位置插入所述卡座2，所述卡托1具体插入位置可以根据Nj2值的强度曲线计算出来，所述磁性检测组件3检测到后端N极磁性对称性峰值变化，具体为所述磁性检测组件3检测到后端N极磁场强度先增大后减小，说明所述卡托1上对应后端N极的部分已插入所述卡座2中，当Nj2的变化值的小于设定门限值时表示所述卡托1已经完全插入所述卡座2，具体可以是所述卡托1已相对于所述卡座2固定不动，也就是所述磁性检测组件3相对于所述磁性件11静止，此时Nj2的变化值接近零，而在实际使用过程中，所述磁性检测组件3相对于所述磁性件11静止时Nj2仍然可能有较小的变化，也就可以通过Nj2的变化值的小于设定门限值时表示所述卡托1已经完全插入所述卡座2，所述门限值的取值可以根据Nj2的变化误差范围确定。

所述卡托1插入或拔出所述卡座2的行程判断可以给用户正常使用所述卡托1提供保证，比如在所述卡托1未完全拔出或未完全插入所述卡座2时及时提醒用户注意调整，防止所述卡托1卡住后导致损坏的问题。另外，当所述卡托1上设置有多个卡片时，在内侧卡片插入所述卡座2后，可提前开启最内侧卡片的检测流程，避免所述卡托1完全插入所述卡座2后同时再同时开启多个卡的检测，提高了卡片的检测效率。

可选地，参见图5和图6，所述磁性件11包括第四磁性件114和第五磁性件115，所述第四磁性件114和第五磁性件115沿所述卡托1的拔插方向设置于所述卡托1的两侧。

具体地，所述磁性检测组件3可以沿所述卡托1拔插方向设置于所述卡托1的一侧，如图5所示，所述卡托1在正向插入所述卡座2时，所述磁性检测组件3靠近所述第四磁性件114，所述磁性检测组件3检测到的所述第四磁性件114磁场变化可以表示所述卡托1的正向插入；如图6所示，在所述卡托1反向插入所述卡座2时，所述磁性检测组件3靠近所述第五磁性件115，所述磁性检测组件3检测到的所述第五磁性件115磁场变化可以表示所述卡托1的反向插入，以提醒用户及时调整所述卡托1的插入方向。

具体地，所述第四磁性件114和第五磁性件115可以对称设置于所述卡托1上，所述第四磁性件114和第五磁性件115相对一侧的极性相反，也就是所述第四磁性件114外侧(远离所述卡托1的一侧)的极性和所述第五磁性件115外侧(远离所述卡托1的一侧)的极性相反，这时所述卡托1在正向或反向插入所述卡座2时，所述磁性检测组件3检测可以检测到相反极性的磁极和磁场变化，给所述卡托1的插入方向提供准确检测。

可选地，所述磁性检测组件3包括第一检测组件31和第二检测组件32，所述卡托1位于所述第一位置的情况下，所述第一检测组件31和第二检测组件32沿所述卡托1的插入方向依次设置于所述卡托1的同一侧。具体地，所述磁性检测组件3可以设置在所述卡座2上，也可以设置在所述电路板上。

具体地，比如所述卡托1拔插方向的长度为30mm，所述第四磁性件114和第五磁性件115沿所述卡托1的拔插方向设置于所述卡托1两侧的中部，所述第一检测组件31和第二检测组件32的间距设置为10mm，如图5所示，所述卡托1在完全插入所述卡座2时，所述第一检测组件31设置于所述第四磁性件114左侧5mm(此距离为所述第一检测组件31和所述第四磁性件114之间沿卡托1拔插方向的距离)的位置，所述第二检测组件32设置于所述第四磁性件114右侧5mm(此距离为所述第二检测组件32和所述第四磁性件114之间沿卡托1拔插方向的距离)的位置。所述卡托1的插入或拔出的行程可以根据所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到的磁场强度综合判断，也就是所述第一磁场强度和第二磁场强度均是所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到磁场的综合强度，所述磁性检测组件3可以对所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到磁场强度进行记录和运算，将所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到磁场强度加和后获得所述第一磁场强度或第二磁场强度。

在一种具体的实施方式中，所述第四磁性件114外侧为N级，所述第五磁性件115外侧为S级。

所述卡托1在插入所述卡座2时，首选，所述第一检测组件31和第二检测组件32检测的初始磁场均低于门限值G1时，此时所述第二磁场强度较低，对应卡托1位于所述第二位置，所述卡托1未插入所述卡座2，所述门限值G1可以根据所述第一检测组件31和第二检测组件32的检测误差设定；其次，当所述第一检测组件31检测到的磁场方向为N极时，则表示所述卡托1为正面插入，若述第一检测组件31检测的磁场方向为S极，则表示所述卡托1为反面插入；再次，第二检测组件32检测到磁场变化，所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到的磁场变化曲线如图7所示，此时所述第一磁场强度先增大后减小；最后，根据上述磁场变化曲线计算所述卡托1插入的行程量。比如图7中，所述磁性检测组件3记录到所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到的磁场强度相等时，表示所述卡托1已经完全插入所述卡座2。

所述卡托1在拔出所述卡座2时，首选，所述第一检测组件31和第二检测组件32检测的初始磁场均高于门限值G2时，此时所述第一磁场强度较高，对应卡托1位于所述第一位置，所述卡托1未拔出所述卡座2，所述门限值G2可以根据所述第一检测组件31和第二检测组件32的检测到的磁场强度设定；其次，所述卡托1从所述卡座2拔出的过程中，所述第一检测组件31检测到的磁场强度逐渐增加，所述第二检测组件32检测到磁场逐渐减小，所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到的磁场变化曲线如图8所示，此时所述第一磁场强度先增大后减小；最后，根据上述磁场变化曲线计算所述卡托1拔出的行程量。比如图8中，所述磁性检测组件3记录到所述第一检测组件31和第二检测组件32检测到的磁场强度均低于门限值G1时，所述第二磁场强度较低，表示所述卡托1已经从所述卡座2完全拔出。

本申请实施例还提供了一种所述电子设备卡托的拔插检测方法，包括：

S101，检测所述磁性件的磁场强度；

S102，获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

本申请实施例提供的卡托的拔插检测方法通过所述磁性检测组件来检测所述磁性件的磁场强度，也就是可以判断所述卡托是处于第一位置还是第二位置，即插入位置状态还是拔出位置状态，所述磁性检测组件与所述磁性件之间的无接触式检测提高了所述卡托位置检测的可靠性，保证了所述卡托的长期稳定使用。

本申请实施例还提供了一种所述电子设备卡托的拔插检测装置，包括：

检测单元，检测所述磁性件的磁场强度；

获取单元，获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

本申请实施例提供的卡托的拔插检测装置通过所述监测单元来检测所述磁性件的磁场强度，也就是可以判断所述卡托是处于第一位置还是第二位置，即插入位置状态还是拔出位置状态，所述检测单元与所述磁性件之间的无接触式检测提高了所述卡托位置检测的可靠性，保证了所述卡托的长期稳定使用。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。

Claims (9)

1.一种电子设备，其特征在于，包括：设备主体、电路板、卡座(2)、磁性检测组件(3)和卡托(1)；

所述设备主体的内部设置有所述电路板、所述卡座(2)和所述磁性检测组件(3)，所述设备主体设置有开口，所述卡托(1)可通过所述开口与所述卡座(2)可拆卸连接；

所述卡托(1)上设置有磁性件(11)；

所述磁性检测组件(3)用于检测所述卡托在第一位置和第二位置时所述磁性件(11)的磁场强度；

在所述卡托(1)位于所述第一位置的情况下，所述卡托(1)伸入至所述设备主体内，所述磁性检测组件(3)检测到的磁场强度为第一磁场强度；在所述卡托(1)位于所述第二位置的情况下，所述卡托(1)与所述设备主体分离，所述磁性检测组件(3)检测到的磁场强度为第二磁场强度；

其中，所述第一磁场强度与所述第二磁场强度不同；

所述磁性件(11)包括第四磁性件(114)和第五磁性件(115)，所述第四磁性件(114)和第五磁性件(115)沿所述卡托(1)的拔插方向设置于所述卡托(1)的两侧；

所述第四磁性件(114)和第五磁性件(115)对称设置于所述卡托(1)上，所述第四磁性件(114)和第五磁性件(115)相对一侧的极性相反，以检测所述卡托(1)插入所述卡座(2)的方向；

所述磁性检测组件(3)包括第一检测组件(31)和第二检测组件(32)，所述卡托(1)位于所述第一位置的情况下，所述第一检测组件(31)和第二检测组件(32)沿所述卡托(1)的插入方向依次设置于所述卡托(1)的同一侧，以计算所述卡托(1)的拔插行程。

2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述磁性检测组件(3)固定于所述卡座(2)上。

3.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述磁性件(11)包括第一磁性件(111)、第二磁性件(112)和第三磁性件(113)，所述第一磁性件(111)、第二磁性件(112)和第三磁性件(113)沿所述卡托(1)的插入方向依次设置。

4.根据权利要求3所述的电子设备，其特征在于，所述卡座(2)为环形卡座，所述卡托(1)通过所述卡座(2)的第一端口在所述第一位置和第二位置间切换，所述磁性检测组件(3)靠近所述第一端口设置。

5.根据权利要求3所述的电子设备，其特征在于，所述卡托(1)为双面卡托，所述第一磁性件(111)、第二磁性件(112)和第三磁性件(113)靠近所述卡托(1)正面的极性依次为N级、N极和S极。

6.根据权利要求5所述的电子设备，其特征在于，所述卡托(1)从所述第二位置向第一位置移动的情况下，所述磁场强度包括至少一个先增大后减小的磁场强度变化过程。

7.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述磁性检测组件(3)为霍尔传感器。

8.一种权利要求1-7任一项所述电子设备卡托的拔插检测方法，其特征在于，包括：

检测所述磁性件的磁场强度；

获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

9.一种权利要求1-7任一项所述电子设备卡托的拔插检测装置，其特征在于，包括：

检测单元，检测所述磁性件的磁场强度；

获取单元，获取所述第一磁场强度的情况下，所述卡托伸入至所述设备主体内，或者，获取所述第二磁场强度的情况下，所述卡托与所述设备主体分离。

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