CN112486065A - 一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机 - Google Patents

Abstract

本发明属于电子领域，本发明提供一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机，其方法包括：将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号；将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号；基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。通过把第一级用于缩小交流输入信号的运放电路和第二级用于放大交流输入信号的运放电路串连，并将两级输出分别送入MCU的两个ADC通道进行转换，通过MCU程序将两路信号的转换输出合二为一，这样输入范围既得到扩大，且直到第一级输出到达饱和前，采样精度都不会损失，达到提高交流信号采样精度的目的。

Description

一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机

技术领域

本发明涉及电子领域，尤指一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机。

背景技术

一般的交流ADC采样电路中采样精度和采样范围相互制约，既要扩大输入的取样范围，又想提高采样精度，就需要采用硬件分段处理的方式，但这种采样方式如果前级处理电路级数过少，在输入信号范围比较宽时，只能兼顾两端，这样会造成信号由小到大变化时中间一段范围，精度不能很好的照顾到。如果增加过多的前级处理电路的级数，且还需要增加ADC通道，那么这样电路体积变大且不说，成本也随之增大。

由于现有技术中的交流ADC采样电路受制于电路前级输入范围的影响，且普通低成本的电路中往往使用MCU中集成的ADC，这类ADC分辨率都不高，造成采样精度损失，引发ADC转换后不能高精度的还原交流输入信号，以至对交流有效值的计算造成精度上的损失。以上问题为本领域人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机，通过把第一级用于缩小交流输入信号的运放电路和第二级用于放大交流输入信号的运放电路串连，并将两级输出分别送入MCU的两个ADC通道进行转换，通过MCU程序将两路信号的转换输出合二为一，这样输入范围既得到扩大，且直到第一级输出到达饱和前，采样精度都不会损失，达到提高交流信号采样精度的目的。

本发明提供的技术方案如下：

一种交流信号的采样装置，包括：第一级运放电路、第二级运放电路和MCU处理电路；

所述第一级运放电路，与所述第二级运放电路、所述MCU处理电路连接，用于接收并缩小交流信号为第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述第二级运放电路和所述MCU处理电路；

所述第二级运放电路，与所述MCU处理电路连接，用于对所述第一交流模拟信号进行放大，输出第二交流模拟信号；

所述MCU处理电路，用于接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以提高交流采样精度。

一种交流信号的采样方法，包括：

将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号；

将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号；

基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

进一步优选地，所述将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号，包括步骤：

通过交流信号的采样装置中的第一级运放电路接收并缩小所述交流信号为所述第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路，并输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

进一步优选地，所述将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号，包括步骤：

通过所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路对所述第一交流模拟信号进行放大，输出所述第二交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

进一步优选地，所述基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率，包括步骤：

通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

进一步优选地，在所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率之前，还包括步骤：

根据所述待采样的交流信号的固定频率，确定采样频率，所述采样频率包括每一个采样周期内采样点的个数；

基于所述采样频率，对所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号进行采样，将所述第一交流模拟信号转换为第一交流数字信号，以及将所述第一交流模拟信号转换第二交流数字信号。

进一步优选地，所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率，包括步骤：

当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理。

进一步优选地，所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，具体包括步骤：

当所述第一交流数字信号均小于预设采样值时，将所述第一交流数字信号作为每个所述交流信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号；

当存在大于所述预设采样值的第一交流数字信号时，将所述第二交流数字信号与放大系数的乘积，作为所述大于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号；将所述第一交流数字信号作为所述小于或等于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点输出的目标交流数字信号。

进一步优选地，所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，还包括步骤：

当输出的所述目标交流数字信号与所述待采样的交流模拟信号一致时，通过叠加所述第一交流数字信号和所述第一交流数字信号，以扩展所述交流信号的采样装置的采样位数。

一种手持式扫码打印机，包括：所述交流信号的采样装置、霍尔电流传感器；

所述霍尔电流传感器，用于采集步进电机的转轴运动的交流信号，并传输至所述交流信号的采样装置；

所述述交流信号的采样装置，与所述霍尔电流传感器连接，用于接收所述交流信号并计算出所述交流信号的交流有效值，利用所述交流有效值与预设交流有效值的比较结果对所述步进电机反馈调节，以控制所述手持式扫码打印机。

本发明提供的一种交流信号的采样方法、装置和手持式扫码打印机，至少具有以下有益效果：

1)通过把第一级用于缩小交流输入信号的运放电路和第二级用于放大交流输入信号的运放电路串连，并将两级输出分别送入MCU的两个ADC通道进行转换，通过MCU程序将两路信号的转换输出合二为一，这样输入范围既得到扩大，且直到第一级输出到达饱和前，采样精度都不会损失，达到提高交流信号采样精度的目的。

2)在不增加硬件成本的情况下，实现交流采样精度的提高。

3)尤其，对于交流小信号或输入信号范围较大且精度有要求的场景，本发明中交流信号的采样方法效果明显。

4)本发明可以应用于对打印机步进电机的反馈式精准调节中，用霍尔电流传感器对步进电机转轴运动的感应进行采样，经所述装置进行处理后计算出交流有效值，通过有效值变化趋势和平稳度与预期值比较，对步进电机反馈调节来达到精准控制打印机的目的。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明：

图1是本发明中一种交流信号的采样装置的一个实施例的示意图；

图2是本发明中一种交流信号的采样装置的另一个实施例的示意图；

图3是本发明中一种交流信号的采样方法的一个实施例的示意图；

图4是本发明中一种交流信号的采样方法的一个实施例的示意图；

图5是本发明中一种交流信号的采样方法的一个实施例的示意图；

图6是本发明中交流输入的模拟信号的波形示意图；

图7是本发明中第一交流模拟信号的波形示意图；

图8是本发明中第二级放大后出现饱和失真时输出的模拟信号的示意图；

图9是本发明中两级未饱和失真部分数字信号的叠加示意图；

图10是本发明中失真时、ADC采样后、经MCU处理电路合并后还原的数字信号的波形示意图；

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

在本文中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

实施例一

本发明提供一种交流信号的采样装置的一个实施例，如图1所示，包括：

第一级运放电路、第二级运放电路和MCU处理电路。

所述第一级运放电路，与所述第二级运放电路、所述MCU处理电路连接，用于接收并缩小交流信号为第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述第二级运放电路和所述MCU处理电路。

所述第二级运放电路，与所述MCU处理电路连接，用于对所述第一交流模拟信号进行放大，输出第二交流模拟信号。

所述MCU处理电路，用于接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以提高交流采样精度。

具体的，第一级运放电路和第二级运放电路作为两级交流信号的调理电路，第一级运放电路包括第一级用于缩小交流输入信号的运放电路，第二级运放电路包括第二级用于放大交流输入信号的运放电路。

示例性的，两级交流信号的调理电路和MCU程序对两级ADC转换后值的合并处理，如图2所示，具体包括：

两级调理电路中的第一级为：输入为待采样的交流信号S0，经运放电路缩小(系数A1)后输出S1。

两级调理电路中的第二级为：输入为第一级电路的输出S1，经运放电路放大(系数A2)后输出S2。

其中，MCU电路即MCU处理电路包含ADC硬件及相关处理程序，ADC用于对交流输入信号进行采样，并将交流模拟信号转换为交流数字信号。

在本实施例中，通过把第一级用于缩小交流输入信号的运放电路和第二级用于放大交流输入信号的运放电路串连，并将两级输出分别送入MCU的两个ADC通道进行转换，通过MCU程序将两路信号的转换输出合二为一，这样输入范围既得到扩大，且直到第一级输出到达饱和前，采样精度都不会损失，达到提高交流信号采样精度的目的。

实施例二

本发明提供一种交流信号的采样方法的一个实施例，如图3所示，包括：

S100将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号。

具体的，通过将输入的待采样的交流信号经过运放缩小一定的倍数，输出为第一交流模拟信号作为一路ADC采样的输入信号。

S200将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号。

具体的，将第一交流模拟信号放大一定的倍数输出第二交流模拟信号，作为另一路ADC采样的输入信号。

S300基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

通过对两路ADC采样的输入的模拟信号进行转换，将其转换为对应的数字信号，然后对数字信号进行合并处理，即对两路采样后合二为一，超越了ADC采样输入的限制，相当于扩大了ADC采样的采样位数即采样范围。

实施例三

基于上述实施例，在本实施例中与上述实施例相同的部分就不一一赘述了，本实施例提供一种交流信号的采样方法的一个实施例，如图4所示，包括：

所述S100将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号，包括步骤：

S101通过交流信号的采样装置中的第一级运放电路接收并缩小所述交流信号为所述第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路，并输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

具体的，可以通过上述实施例的交流信号的采样装置进行交流信号的采样处理，首先通过其中的第一级运放电路对交流信号进行缩小输出缩小后的第一交流模拟信号至MCU处理电路的第一采样道通，并且由于第一级运放电路和第一级运放电路相串联，使得第一级运放电路会将第一交流模拟信号输出至第二级运放电路的输入端，作为第二级运放电路的待处理信号。

其中，第一交流模拟信号作为第一通道信号以及第二级运放电路的待处理信号。

优选地，S200将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号，包括步骤：

S201通过所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路对所述第一交流模拟信号进行放大，输出所述第二交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

具体的，当第二级运放接收了第一级运放电路输出的第一交流模拟信号时，对第一交流模拟信号做放大处理得到第二交流模拟信号，并输出第二交流模拟信号至MCU处理电路，通过MCU处理电路中ADC采样模块对其进行采样。

优选地，S300基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率,包括步骤：

S301通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

具体的，通过将输入的待采样的交流信号经过运放缩小一定的倍数，输出为第一交流模拟信号作为一路ADC采样的输入信号。并且将第一交流模拟信号放大一定的倍数输出第二交流模拟信号，作为另一路ADC采样的输入信号。

通过对两路ADC采样的输入的模拟信号进行转换，将其转换为对应的数字信号，然后对数字信号进行合并处理，即对两路采样后合二为一，超越了ADC采样输入的限制，相当于扩大了ADC采样的采样位数即采样范围。

实施例四

基于上述实施例，在本实施例中与上述实施例相同的部分就不一一赘述了，本实施例提供一种交流信号的采样方法的一个实施例，如图5所示，包括：

S100将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号。

具体的，通过将输入的待采样的交流信号经过运放缩小一定的倍数，输出为第一交流模拟信号作为一路ADC采样的输入信号。

S200将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号。

具体的，将第一交流模拟信号放大一定的倍数输出第二交流模拟信号，作为另一路ADC采样的输入信号。

优选地，在步骤S301所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率之前，还包括步骤：

S001根据所述待采样的交流信号的固定频率，确定采样频率，所述采样频率包括每一个采样周期内采样点的个数。

具体的，每一个待采样的交流信号都有对应的固定频率，通过此固定频率确定对此待采样的交流信号进行采样时的采样频率，以在交流信号的频率上，完整的对交流信号进行采样。

S002基于所述采样频率，对所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号进行采样，将所述第一交流模拟信号转换为第一交流数字信号，以及将所述第一交流模拟信号转换第二交流数字信号。

优选地，步骤S301所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率，包括步骤：

S3011当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理。

优选地，步骤S3011所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，具体包括步骤：

S3011A当所述第一交流数字信号均小于预设采样值时，将所述第一交流数字信号作为每个所述交流信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号。

S3011B当存在大于所述预设采样值的第一交流数字信号时，将所述第二交流数字信号与放大系数的乘积，作为所述大于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号；将所述第一交流数字信号作为所述小于或等于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点输出的目标交流数字信号。

优选地，步骤S3011所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，还包括步骤：

S3011C当输出的所述目标交流数字信号与所述待采样的交流模拟信号一致时，通过叠加所述第一交流数字信号和所述第一交流数字信号，以扩展所述交流信号的采样装置的采样位数。

示例性的，如图2所示，当一个采样周期完成后，对两组转换值做后续处理。

当IN_1在一个采样周期内所有的ADC转换后的值Data_n_IN_1都小于ADC最大值(例如ADC为12bit,最大值为2^12＝4096-1)时,说明此时的交流输入S0，还未增加大到使第二级输出出现饱和失真，此时合二为一的所有输出直接使用IN_1的转换值即：Data_n_S2-1＝Data_n_IN_1。

当IN_1在一个采样周期内有任一ADC转换值大于ADC最大值(即最大值>4095)时，说明S0的增大使第二级出现了饱和失真的情况，此时当前点的合二为一输出应取：Data_n_S2-1＝Data_n_IN_2*A2。其它值仍然使用此信号作为输出：Data_n_S2-1＝Data_n_IN_1。

在本实施例中，ADC采样后，经MCU处理合并后还原的数字信号与输入模拟信号高度一致，通过数字信号的叠加，使幅值得到了极大提高，超越了ADC输入的限制，相当于拓展了ADC的采样位数，从而达到提高采样分辨率的目的。

实施例五

基于上述实施例，在本实施例中与上述实施例相同的部分就不一一赘述了，本实施例提供一种交流信号的采样方法的一个实施例，包括：

1)本发明包含两级交流信号的调理电路和MCU程序对两级ADC转换后值的合并处理，如图2所示。

2)两级调理电路中的第一级为：输入为待采样的交流信号S0，经运放电路缩小(系数A1)后输出S1。

3)两级调理电路中的第二级为：输入为第一级电路的输出S1，经运放电路放大(系统A2)后输出S2。

4)MCU电路包含ADC硬件及相关处理程序。

5)将上面步骤2)中的电路的输出S1与步骤3)中的电路的输入相串连。

6)将步骤5)中所述得到的电路的输出S2作为第二通道信号连接步骤4)中电路的一路ADC输入,标记为IN_2。

7)将步骤2)中所述得到的电路的第一级的输出S1作为第一通道信号连接4)中电路的另一路ADC输入,标记为IN_1。

8)关于步骤4)中将对IN_1和IN_2处理及产生S2-1，最终处理完成后输出S2-2。

其中，步骤4)中MCU对两路采样后合二为一的处理流程描述：

当第一、第二级运放的最大可输出电压和MCU中ADC的参考电压设计为一致时(例如2V)，可保证ADC的分辨率为最大利用率时；

当输入交流为固定频率(例如50Hz),当采样点取为N(例如128点)时；

当一个采样周期完成后，对两组转换值做后续处理。

当IN_1在一个采样周期内所有的ADC转换后的值Data_n_IN_1都小于ADC最大值(例如ADC为12bit,最大值为2^12＝4096-1)时,说明此时的交流输入S0，还未增加大到使第二级输出出现饱和失真，此时合二为一的所有输出直接使用IN_1的转换值即：

Data_n_S2-1＝Data_n_IN_1。

当IN_1在一个采样周期内有任一ADC转换值大于ADC最大值(即最大值>4095)时，说明S0的增大使第二级出现了饱和失真的情况，

此时当前点的合二为一输出应取：Data_n_S2-1＝Data_n_IN_2*A2。

其它值仍然使用：Data_n_S2-1＝Data_n_IN_1。

如图6所示为交流输入的模拟信号。

如图7所示为经第一级缩小后输出的模拟信号。

如图8所示为当输入S0足够大时，第二级放大后出现饱和失真时输出的模拟信号。

如图9所示为失真时，ADC采样后，两级未饱和失真部分数字信号的叠加效果。

如图10所示为失真时，ADC采样后，经MCU处理合并后还原的数字信号。此时的数字信号与输入模拟信号高度一致，通过数字信号的叠加，使幅值得到了极大提高，超越了ADC输入的限制，相当于拓展了ADC的采样位数，从而达到提高采样分辨率的目的。

实施例六

基于上述实施例，在本实施例中与上述实施例相同的部分就不一一赘述了，本实施例提供一种手持式扫码打印机的一个实施例，包括：所述交流信号的采样装置、霍尔电流传感器。

所述霍尔电流传感器，用于采集步进电机的转轴运动的交流信号，并传输至所述交流信号的采样装置。

所述述交流信号的采样装置，与所述霍尔电流传感器连接，用于接收所述交流信号并计算出所述交流信号的交流有效值，利用所述交流有效值与预设交流有效值的比较结果对所述步进电机反馈调节，以控制所述手持式扫码打印机。

示例性的，手持式扫码打印机系统通过应用上述交流信号的采样方法，可以应用到对打印机步进电机的反馈式精准调节中。

具体的，用霍尔电流传感器对步进电机转轴运动的感应进行采样，经所述装置进行处理后计算出交流有效值，通过有效值变化趋势和平稳度与预期值比较，对步进电机反馈调节来达到精准控制打印机的目的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述或记载的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/电子设备和方法，可以通过其他的方式实现。示例性的，以上所描述的装置/电子设备实施例仅仅是示意性的，示例性的，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，示例性的，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性、机械或其他的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可能集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种交流信号的采样装置，其特征在于，包括：第一级运放电路、第二级运放电路和MCU处理电路；

所述第一级运放电路，与所述第二级运放电路、所述MCU处理电路连接，用于接收并缩小交流信号为第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述第二级运放电路和所述MCU处理电路；

所述第二级运放电路，与所述MCU处理电路连接，用于对所述第一交流模拟信号进行放大，输出第二交流模拟信号；

所述MCU处理电路，用于接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以提高交流采样精度。

2.一种交流信号的采样方法，其特征在于，包括：

将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号；

将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号；

基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

3.根据权利要求2所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述将待采样的交流信号缩小为第一交流模拟信号，包括步骤：

通过交流信号的采样装置中的第一级运放电路接收并缩小所述交流信号为所述第一交流模拟信号，输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路，并输出所述第一交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

4.根据权利要求2所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述将所述第一交流模拟信号放大为第二交流模拟信号，包括步骤：

通过所述交流信号的采样装置中的第二级运放电路对所述第一交流模拟信号进行放大，输出所述第二交流模拟信号至所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路。

5.根据权利要求2所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述基于所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率，包括步骤：

通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率。

6.根据权利要求5所述交流信号的采样方法，其特征在于，在所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率之前，还包括步骤：

根据所述待采样的交流信号的固定频率，确定采样频率，所述采样频率包括每一个采样周期内采样点的个数；

基于所述采样频率，对所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号进行采样，将所述第一交流模拟信号转换为第一交流数字信号，以及将所述第一交流模拟信号转换第二交流数字信号。

7.根据权利要求6所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述通过所述交流信号的采样装置中的MCU处理电路接收并合并所述第一交流模拟信号和所述第二交流模拟信号，以调整交流采样的分辨率，包括步骤：

当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理。

8.根据权利要求7所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，具体包括步骤：

当所述第一交流数字信号均小于预设采样值时，将所述第一交流数字信号作为每个所述交流信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号；

当存在大于所述预设采样值的第一交流数字信号时，将所述第二交流数字信号与放大系数的乘积，作为所述大于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点的最终合并输出的目标交流数字信号；将所述第一交流数字信号作为所述小于或等于所述预设采样值的第一交流数字信号对应采样点输出的目标交流数字信号。

9.根据权利要求8所述交流信号的采样方法，其特征在于，所述当完成一个所述采样周期后，对所述第一交流数字信号和所述第二交流数字信号进行合并处理，还包括步骤：

当输出的所述目标交流数字信号与所述待采样的交流模拟信号一致时，通过叠加所述第一交流数字信号和所述第一交流数字信号，以扩展所述交流信号的采样装置的采样位数。

10.一种手持式扫码打印机，其特征在于，包括：如权利要求1所述交流信号的采样装置、霍尔电流传感器；

所述霍尔电流传感器，用于采集步进电机的转轴运动的交流信号，并传输至所述交流信号的采样装置；

所述述交流信号的采样装置，与所述霍尔电流传感器连接，用于接收所述交流信号并计算出所述交流信号的交流有效值，利用所述交流有效值与预设交流有效值的比较结果对所述步进电机反馈调节，以控制所述手持式扫码打印机。

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