CN112416676A - 一种应用于测试芯片的测试工具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种应用于测试芯片的测试工具,其中,包括:一上位机;一测试板,通讯连接上位机,并通过一预定的通讯模式连接一待测试的触摸屏模组的控制芯片;测试板用以下载来自上位机的测试程序,并根据上位机的控制指令对控制芯片进行测试。有益效果:通过测试板下载上位机的测试程序,并根据上位机的控制指令对触摸屏模组的控制芯片进行测试,无需重新修改测试程序,再次下载到控制芯片内,从而提高工程师的调试效率,降低工人的测试难度,以及提高工人的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种应用于测试芯片的测试工具。
背景技术
目前,待测试的触摸屏模组的控制芯片的触摸测试需要安装到对应的设备上才能进行触控测试,这种测试方式的操作步骤繁琐,且效率较低。并且,现有技术中,上位机的工程师操作界面与工人操作界面共用同一种操作界面,容易造成工人操作困难的问题,或着造成无操作修改配置,从而影响生产的准确性与效率的问题。
另外,工程师一旦将测试程序与对应的配置调试好之后,工厂生产的时候可以无限制的生产,并且下载到测试板的测试程序为固定的程序,从而造成对测试程序做修改调整的时候,需要重新修改测试程序并需要再次下载到控制芯片内的问题。因此,针对上述问题,成为本领域技术人员亟待解决的难题。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题,现提供一种应用于测试芯片的测试工具。
具体技术方案如下:
本发明提供一种应用于测试芯片的测试工具,其中,包括:
一上位机;
一测试板,通讯连接所述上位机,并通过一预定的通讯模式连接一待测试的触摸屏模组的控制芯片;
所述测试板用以下载来自所述上位机的测试程序,并根据所述上位机的控制指令对所述控制芯片进行测试。
优选的,所述测试板包括:
一第一通讯模块,用以连接所述上位机;
一第二通讯模块,用以连接所述待测试的所述触摸屏模组的所述控制芯片;
一存储模块,用以存储来自所述上位机下载的所述测试程序及对应的配置;
一处理模块,分别连接所述第一通讯模块、所述第二通讯模块及所述存储模块,用以接收所述上位机发出的指令,将所述测试程序及对应的所述配置解析成测试项目,并根据所述指令对待测试的所述触摸屏模组进行测试,以及将测试结果上传至所述上位机。
优选的,所述上位机包括一第一操作界面,所述第一操作界面包括:
测试项目显示区域,用以显示所述测试板解析的所述测试项目;
测试结果显示区域,用以显示所述测试板根据所述测试项目,对所述待测试的触摸屏模组的控制芯片进行测试的结果;
第一指令发送按钮,用以向所述测试板发送按照所述测试项目自动进行测试的指令。
优选的,所述上位机包括一第二操作界面,所述第二操作界面包括:
加载区域,用以加载需下载至所述测试板的所述测试程序及对应的配置;
调试区域,用以实时调试所述待测试的触摸屏模组的控制芯片的实时配置;
导出按钮,用以将所述实时配置导出至所述测试程序对应的所述配置中;
第二指令发送按钮,用以向所述测试板发送下载所述测试程序及对应的所述配置,以及按照所述测试项目自动进行测试的指令。
优选的,还包括一身份验证单元,所述身份验证单元用以接受操作者输入对应身份的密钥,并在密钥正确时打开所述第二操作界面。
优选的,所述上位机包括一第三操作界面,所述第三操作界面包括:
一测试结果显示区域,用以显示所述待测试的触摸屏模组进行触摸测试时感应触摸的坐标点信息;
一显示屏模拟区域,用以显示根据所述坐标点信息绘制的触摸轨迹;
一测试配置区域,用以接受使用者操作配置所述坐标点信息与所述触摸轨迹之间的比例及显示所述坐标点信息的上传速度。
优选的,所述上位机包括一第四操作界面,所述第四操作界面包括一触摸按键测试区,用以显示将待测试的所述控制芯片的传感器的通道全部作为按键的测试项目的测试结果。
优选的,所述上位机包括一第五操作界面,所述第五操作界面包括:
传感器数据显示区域,用以显示待测试的所述控制芯片的传感器的通道数据;
模板制作区域,用以收集所述传感器数据显示区域显示的所述通道数据,并根据收集的不同待测试的所述控制芯片对应的所述通道数据制作测试数据模板。
优选的,所述第一通讯模块为USB通讯装置;和/或
所述第二通讯模块为TWI协议通讯装置;和/或
所述处理模块为MCU;和/或
所述存储模块为Flash存储器。
优选的,所述存储模块还保存所述测试程序及对应的配置的下载次数;所述上位机预设有所述下载次数的上限值。
上述技术方案具有如下优点或有益效果:通过测试板下载上位机的测试程序,并根据上位机的控制指令对触摸屏模组的控制芯片进行测试,无需重新修改测试程序,再次下载到控制芯片内,从而提高工程师的调试效率,降低工人的测试难度,以及提高工人的测试效率。
附图说明
参考所附附图,以更加充分的描述本发明的实施例。然而,所附附图仅用于说明和阐述,并不构成对本发明范围的限制。
图1为本发明的实施例的测试工具的结构示意图;
图2为本发明的实施例的测试板的内部原理框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,但不作为本发明的限定。
本发明提供一种应用于测试芯片的测试工具,其中,如图1所示,包括:
一上位机1;
一测试板2,通讯连接上位机1,并通过一预定的通讯模式连接一待测试的触摸屏模组的控制芯片3;
测试板2用以下载来自上位机1的测试程序,并根据上位机1的控制指令对控制芯片3进行测试。
具体地,通过测试板2作为载体,通讯连接于上位机1和待测试的触摸屏模组的控制芯片3之间,以下载上位机1的测试程序,从而根据上位机1的控制指令对控制芯片3进行测试,从而无需重新修改测试程序,再次下载到控制芯片内,以提高工程师的调试效率,降低工人的测试难度,以及提高工人的测试效率。
在一种较优的实施例中,如图2所示,测试板2包括:
一第一通讯模块20,用以连接上位机1;
一第二通讯模块21,用以连接待测试的触摸屏模组的控制芯片3;
一存储模块22,用以存储来自上位机1下载的测试程序及对应的配置;
一处理模块23,分别连接第一通讯模块20、第二通讯模块21及存储模块22,用以接收上位机1发出的指令,将测试程序及对应的配置解析成测试项目,并根据指令对待测试的触摸屏模组进行测试,以及将测试结果上传至上位机1。
具体的,上述技术方案中的测试板2中通过第一通讯模块20无线连接上位机1,通过第二通讯模块21无线连接控制芯片3,以及于存储模块22中存储从上位机1下载的测试程序和对应的配置。
本实施例中,还通过处理模块23将上述测试程序及对应的配置解析成测试项目,进而可通过上位机1对触摸屏模组及逆行测试,并且通过对应的配置将控制芯片3采集到的触摸屏模组的数据上报至处理模块23,从而对该数据进行分析后判断出触摸屏模组的好坏。
一种较优的实施例中,上位机1包括一第一操作界面,第一操作界面包括:
测试项目显示区域,用以显示测试板2解析的测试项目;
测试结果显示区域,用以显示测试板2根据测试项目,对待测试的触摸屏模组的控制芯片3进行测试的结果;
第一指令发送按钮,用以向测试板发送按照测试项目自动进行测试的指令。
具体的,上述技术方案中的上位机1具有第一操作界面,为工人操作界面,为了便于工人的测试操作,该第一操作界面设置较简单,即第一操作界面包括测试项目显示区域、测试结果显示区域、以及第一指令发送按钮,其中,测试项目显示区域显示测试板2解析的测试项目,该测试项目为从上位机1下载的测试配置文件进行解析后得到的测试项目,所谓测试配置文件为加载的是由工程师调试好的测试程序与对应的配置之后生成的测试配置文件。
本实施例中,测试结果显示区域显示的是关于控制芯片3的最终测试结果,即测试成功或失败。
本实施例中,工人可直接按下第一指令发送按钮,从而向测试板2发送按照测试项目自动进行测试的指令,进而测试版2根据控制指令对控制芯片3进行测试,无需重新修改测试程序,再次下载到控制芯片内,以提高工程师的调试效率,降低工人的测试难度。
在一种较优的实施例中,上位机1包括一第二操作界面,第二操作界面包括:
加载区域,用以加载需下载至测试板2的测试程序及对应的配置;
调试区域,用以实时调试待测试的触摸屏模组的控制芯片3的实时配置;
导出按钮,用以将实时配置导出至测试程序对应的配置中;
第二指令发送按钮,用以向测试板发送下载测试程序及对应的配置,以及按照测试项目自动进行测试的指令。
具体的,第二操作界面为工程师界面,通过该第二操作界面加载测试程序及对应的配置,并实时调试控制芯片3的实时配置,进一步导出测试程序对应的配置中,便于后续工人同故宫第一操作界面根据配置和调试好的测试程序对控制芯片3进行测试,降低了工人及逆行操作的难度。
在一种较优的实施例中,还包括一身份验证单元,身份验证单元用以接受操作者输入对应身份的密钥,并在密钥正确时打开第二操作界面。
具体的,本实施例中,若需要从其它操作界面切换至第二操作界面时,则需要输入预设的密钥进行登录至界面,以防止测试程序的随意改动。
在一种较优的实施例中,上位机1包括一第三操作界面,第三操作界面包括:
一测试结果显示区域,用以显示待测试的触摸屏模组进行触摸测试时感应触摸的坐标点信息;
一显示屏模拟区域,用以显示根据坐标点信息绘制的触摸轨迹;
一测试配置区域,用以接受使用者操作配置坐标点信息与触摸轨迹之间的比例及显示坐标点信息的上传速度。
具体的,第三操作界面为划线测试界面,通过该操作界面显示触摸屏模组进行触摸测试时感应触摸的坐标点信息以及坐标点信息绘制的触摸轨迹,进一步通过测试配置将坐标点信息按照位置与比例进行显示,同时计算出显示坐标点信息的实时速率。
在一种较优的实施例中,上位机1包括一第四操作界面,第四操作界面包括一触摸按键测试区,用以显示将待测试的控制芯片3的传感器的通道全部作为按键的测试项目的测试结果。
具体的,第四操作界面为触摸按键测试区,是用于显示控制芯片3内所有传感器的通道全作为按键的测试项目的测试结果。
在一种较优的实施例中,上位机1包括一第五操作界面,第五操作界面包括:
传感器数据显示区域,用以显示待测试的控制芯片的传感器的通道数据;
模板制作区域,用以收集传感器数据显示区域现实的通道数据,并根据收集的不同待测试的控制芯片对应的通道数据制作测试数据模板。
具体的,第五操作界面为传感器测试界面,通过该界面读取控制芯片的传感器的通道数据,并进行分析,进一步通过采集预设量的通道数据,进行筛选,将坏屏的通道数据删除,以及计算同一批次所有好屏的通道数据的平均通道数据,以作为测试数据模板,进一步通过该测试数据模板自动筛选出待测试的控制芯片3的良品和不良品。
在一种较优的实施例中,第一通讯模块20为USB通讯装置;和/或
第二通讯模块21为TWI协议通讯装置;和/或
处理模块22为MCU;和/或
存储模块23为Flash存储器。
具体的,第一通讯模块20为USB通讯装置,其包括USB接口以及USB数据线,测试板2通过USB接口和USB数据线与上位机1进行连接。
第二通讯模块21为TWI协议通讯装置,其包括插针和杜邦线,测试板通过该插针和杜邦线连接到待测试的触摸屏模组,并且测试板2与控制芯片3之间的连线包括电源接线,输入电压为2.8V,RST接线、INT接线、SDA接线、SCL接线以及地线。
在一种较优的实施例中,存储模块23还保存测试程序及对应的配置的下载次数;上位机1预设有下载次数的上限值。
具体的,存储模块23为Flash存储器,设置于测试板2上,用于存储下载的测试程序与对应的配置,以及预设的下载限制次数,从而实现工程师通过上位机1将测试程序与对应的配置,以及下载限制次数现在到测试板2内,再仅将该测试板2运送至工厂,进而便于通过工人直接进行测试程序下载对待检测的控制芯片3进行测试,且保证授权的测试程序仅能生产对应的控制芯片3的数量,并用完之后需再次让工程师进行增加授权数量。
以上所述仅为本发明较佳的实施例,并非因此限制本发明的实施方式及保护范围,对于本领域技术人员而言,应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案,均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,包括:
一上位机;
一测试板,通讯连接所述上位机,并通过一预定的通讯模式连接一待测试的触摸屏模组的控制芯片;
所述测试板用以下载来自所述上位机的测试程序,并根据所述上位机的控制指令对所述控制芯片进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述测试板包括:
一第一通讯模块,用以连接所述上位机;
一第二通讯模块,用以连接所述待测试的所述触摸屏模组的所述控制芯片;
一存储模块,用以存储来自所述上位机下载的所述测试程序及对应的配置;
一处理模块,分别连接所述第一通讯模块、所述第二通讯模块及所述存储模块,用以接收所述上位机发出的指令,将所述测试程序及对应的所述配置解析成测试项目,并根据所述指令对待测试的所述触摸屏模组进行测试,以及将测试结果上传至所述上位机。
3.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述上位机包括一第一操作界面,所述第一操作界面包括:
测试项目显示区域,用以显示所述测试板解析的所述测试项目;
测试结果显示区域,用以显示所述测试板根据所述测试项目,对所述待测试的触摸屏模组的控制芯片进行测试的结果;
第一指令发送按钮,用以向所述测试板发送按照所述测试项目自动进行测试的指令。
4.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述上位机包括一第二操作界面,所述第二操作界面包括:
加载区域,用以加载需下载至所述测试板的所述测试程序及对应的配置;
调试区域,用以实时调试所述待测试的触摸屏模组的控制芯片的实时配置;
导出按钮,用以将所述实时配置导出至所述测试程序对应的所述配置中;
第二指令发送按钮,用以向所述测试板发送下载所述测试程序及对应的所述配置,以及按照所述测试项目自动进行测试的指令。
5.根据权利要求4所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,还包括一身份验证单元,所述身份验证单元用以接受操作者输入对应身份的密钥,并在密钥正确时打开所述第二操作界面。
6.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述上位机包括一第三操作界面,所述第三操作界面包括:
一测试结果显示区域,用以显示所述待测试的触摸屏模组进行触摸测试时感应触摸的坐标点信息;
一显示屏模拟区域,用以显示根据所述坐标点信息绘制的触摸轨迹;
一测试配置区域,用以接受使用者操作配置所述坐标点信息与所述触摸轨迹之间的比例及显示所述坐标点信息的上传速度。
7.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述上位机包括一第四操作界面,所述第四操作界面包括一触摸按键测试区,用以显示将待测试的所述控制芯片的传感器的通道全部作为按键的测试项目的测试结果。
8.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述上位机包括一第五操作界面,所述第五操作界面包括:
传感器数据显示区域,用以显示待测试的所述控制芯片的传感器的通道数据;
模板制作区域,用以收集所述传感器数据显示区域显示的所述通道数据,并根据收集的不同待测试的所述控制芯片对应的所述通道数据制作测试数据模板。
9.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述第一通讯模块为USB通讯装置;和/或
所述第二通讯模块为TWI协议通讯装置;和/或
所述处理模块为MCU;和/或
所述存储模块为Flash存储器。
10.根据权利要求2所述的一种应用于测试芯片的测试工具,其特征在于,所述存储模块还保存所述测试程序及对应的配置的下载次数;所述上位机预设有所述下载次数的上限值。
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CN (1) | CN112416676A (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113037401A (zh) * | 2021-03-12 | 2021-06-25 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统 |
CN113567777A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-10-29 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种新型老化测试系统 |
CN117031186A (zh) * | 2023-08-07 | 2023-11-10 | 无锡盛景微电子股份有限公司 | 一种雷管芯片测试系统和方法 |
CN117538672A (zh) * | 2024-01-10 | 2024-02-09 | 深圳市坤巨实业有限公司 | 一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN204631211U (zh) * | 2015-05-29 | 2015-09-09 | 上海鑫皇实业有限公司 | 一种通用fpga测试系统 |
CN106291334A (zh) * | 2015-05-29 | 2017-01-04 | 上海鑫皇实业有限公司 | 一种通用fpga测试系统 |
CN108962105A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-12-07 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种基于fpga的液晶模组触摸屏测试装置及方法 |
CN110716126A (zh) * | 2019-10-14 | 2020-01-21 | 珠海亿智电子科技有限公司 | 芯片老化测试系统、方法及装置 |
-
2020
- 2020-11-18 CN CN202011296151.8A patent/CN112416676A/zh active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN204631211U (zh) * | 2015-05-29 | 2015-09-09 | 上海鑫皇实业有限公司 | 一种通用fpga测试系统 |
CN106291334A (zh) * | 2015-05-29 | 2017-01-04 | 上海鑫皇实业有限公司 | 一种通用fpga测试系统 |
CN108962105A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-12-07 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种基于fpga的液晶模组触摸屏测试装置及方法 |
CN110716126A (zh) * | 2019-10-14 | 2020-01-21 | 珠海亿智电子科技有限公司 | 芯片老化测试系统、方法及装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113037401A (zh) * | 2021-03-12 | 2021-06-25 | 上海磐启微电子有限公司 | 一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统 |
CN113567777A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-10-29 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种新型老化测试系统 |
CN117031186A (zh) * | 2023-08-07 | 2023-11-10 | 无锡盛景微电子股份有限公司 | 一种雷管芯片测试系统和方法 |
CN117538672A (zh) * | 2024-01-10 | 2024-02-09 | 深圳市坤巨实业有限公司 | 一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备 |
CN117538672B (zh) * | 2024-01-10 | 2024-05-24 | 深圳市坤巨实业有限公司 | 一种针对目标电容屏的测试方法、装置以及电子设备 |
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