CN112397422B - 一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,首先将晶圆放置于载具内,并将载具搬运到密闭的装置内;进而将密闭的装置内的气体全部抽走;进一步的向装置内通一定量的水;进而振动装置工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;保持一段时间后开始破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,保持一段时间后再次进行抽真空工序:将密闭的装置内的气体全部抽走;再然后振动装置再次工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;当振动工序再次结束后再次进行破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内。本发明提供一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,提高了硅晶圆的润湿效果,提高了后段电镀的品质。
Description
技术领域
本发明涉及晶圆电镀前处理领域,具体涉及一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法。
背景技术
硅晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅,在生产过程中需要对硅晶圆进行电镀工序,在电镀工序前需要将硅晶圆上的孔润湿,方便药水进入孔内,最终确保在孔内电镀上铜,从而保证硅晶圆可以正常使用。
现在在对硅晶圆直接进行电镀工艺之前首先需要对硅晶圆进行润湿,现在通常采用喷淋的方式对晶圆进行润湿,但是硅晶圆上面有几十万个孔,在喷淋过程中由于水的本身特性,水不能进入部分孔内,尤其是晶圆上的深孔水很难浸入,对硅晶圆的润湿效果差,影响了后续电镀工艺的品质。
发明内容
本发明的目的是:提供一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,解决以上问题。
为了实现上述目的,本发明提供如下的技术方案:
一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,其特征在于:其制作方法为:
a)首先将晶圆放置于载具内,并将载具搬运到密闭的装置内;
b)进而将密闭的装置内的气体全部抽走,使晶圆处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序;
c)进一步的向装置内通一定量的水,且加入的水为常温状态,确保加入的水的深度高于晶圆的高度;
d)进而振动装置工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;
e)保持一段时间后开始破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同;
f)保持一段时间后再次进行抽真空工序:将密闭的装置内的气体全部抽走,使位于水中的晶圆和其外部的水处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序;
g)再然后振动装置再次工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;
h)当振动工序再次结束后再次进行破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同;
i)随后将密闭装置内的水排出;
j)最后将密闭装置内的被润湿后的晶圆取走。
进一步的,所述抽真空的时间具体为150秒到300秒,所述振动装置的振动频率具体为10到20次/分钟。
进一步的,所述加水的时间具体为20秒到35秒,向装置内加的所述水具体为清水。
本发明的有益效果为:提供一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,通过在电镀前采用抽真空的方式将晶圆上深孔内的气体抽走,再加水并振动的方式润湿晶圆上深孔的效果,提高了硅晶圆的润湿效果,提高了后段电镀的品质。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下对本发明作进一步的详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,其特征在于:其制作方法为:
a)首先将晶圆放置于载具内,并将载具搬运到密闭的装置内;
b)进而将密闭的装置内的气体全部抽走,使晶圆处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序,使晶圆处于真空环境内,方便水进入晶圆上的深孔内对深孔进行润湿;
c)进一步的向装置内通一定量的水,且加入的水为常温状态,确保加入的水的深度高于晶圆的高度,用于确保所有的深孔的外侧都有水,进而保证所有的深孔都可以被润湿;
d)进而振动装置工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动,用于确保润湿的彻底性;
e)保持一段时间后开始破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同,用于将水压入深孔内;
f)保持一段时间后再次进行抽真空工序:将密闭的装置内的气体全部抽走,使位于水中的晶圆和其外部的水处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序;
g)再然后振动装置再次工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;
h)当振动工序再次结束后再次进行破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同,用于确保润湿的彻底性;
i)随后将密闭装置内的水排出;
j)最后将密闭装置内的被润湿后的晶圆取走。
所述抽真空的时间具体为150秒到300秒,所述振动装置的振动频率具体为10到20次/分钟。
所述加水的时间具体为20秒到35秒,向装置内加的所述水具体为清水。
本发明的工作原理为:当开始润湿工作前,将清洁后的晶圆放置于载具内,进而将载具放置于密闭装置内,进一步的开始抽真空工序将晶圆周围和其上深孔内的气体抽走,此时晶圆处于真空环境内,且气压小于负1.0MP,然后向密闭装置内通常温状态的清水,由于晶圆处于真空环境内,所以清水非常容易的进入晶圆上的深孔内,进而振动装置带动密闭装置和其上的载具、晶圆以及清水一起振动,进一步的振动装置停止工作后,进行破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同,进一步的再次进行抽真空工序,再次抽真空工序结束后保持一段时间后振动装置再次带动载具、晶圆以及清水一起振动,再然后再次进行破真空工序,此时完成对晶圆的润湿工序,最后将润湿后的晶圆取走并将清水抽走,重复上述工序直到工作结束。
上述实施例用于对本发明作进一步的说明,但并不将本发明局限于这些具体实施方式。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应理解为在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,其特征在于:其制作方法为:
a)首先将晶圆放置于载具内,并将载具搬运到密闭的装置内;
b)进而将密闭的装置内的气体全部抽走,使晶圆处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序;
c)进一步的向装置内通一定量的水,且加入的水为常温状态,确保加入的水的深度高于晶圆的高度;
d)进而振动装置工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;
e)保持一段时间后开始破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同;
f)保持一段时间后再次进行抽真空工序:将密闭的装置内的气体全部抽走,使位于水中的晶圆和其外部的水处于真空环境内,此时装置内的气压小于负1.0MP,进而抽气装置关闭停止抽气工序;
g)再然后振动装置再次工作带动密闭装置与其内的水和晶圆一起振动;
h)当振动工序再次结束后再次进行破真空工序:抽气装置打开使外部的气体进入密闭装置内,此时密闭装置内的气压与外部大气压相同;
i)随后将密闭装置内的水排出;
j)最后将密闭装置内的被润湿后的晶圆取走。
2.根据权利要求1所述的一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,其特征在于:所述抽真空的时间具体为150秒到300秒,所述振动装置的振动频率具体为10到20次/分钟。
3.根据权利要求1所述的一种晶圆深孔电镀前处理润湿方法,其特征在于:所述加水的时间具体为20秒到35秒,向装置内加的所述水具体为清水。
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