CN112394271A - 一种小尺寸半导体三极管电极检测装置 - Google Patents
一种小尺寸半导体三极管电极检测装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,包括机体,所述机体内设有开口向上的连接腔,所述连接腔内能上下滑动的设有固定块,所述连接腔上侧左右壁分别连通设有开口向上的定位槽,所述固定块左右两端面上分别固定设有能在所述定位槽内滑动的定位块,所述固定块内设有固定腔,所述固定腔内能上下滑动的设有压板,所述压板上端面与所述固定腔上壁之间左右对称的分别固定设有压板弹簧,本发明能够将小尺寸的半导体三极管夹紧固定,然后通过巧妙的结构自动定位不同尺寸的半导体三极管引脚的位置,并且使引脚与测试电极柱之间导通,本发明操作简单,避免了直接对小尺寸元件的人工操作,减少了测试过程中造成引脚损坏的情况。
Description
技术领域
本发明涉及半导体相关领域,具体为一种小尺寸半导体三极管电极检测装置。
背景技术
半导体三极管是一种控制电流的半导体器件,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件,在三极管使用过程中,需要对三极管进行电极检测,来确定三极管的参数,而一些三极管的尺寸较小,人工操作比较不方便,一些测试工具的接头又比较大,难以直接和小尺寸的三极管引脚连接,且容易在测试过程中弯折引脚,造成损坏等,影响三极管的使用。本发明阐述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,能够解决上述问题。
发明内容
为解决上述问题,本例设计了一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,本例的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,包括机体,所述机体内设有开口向上的连接腔,所述连接腔内能上下滑动的设有固定块,所述连接腔上侧左右壁分别连通设有开口向上的定位槽,所述固定块左右两端面上分别固定设有能在所述定位槽内滑动的定位块,所述固定块内设有固定腔,所述固定腔内能上下滑动的设有压板,所述压板上端面与所述固定腔上壁之间左右对称的分别固定设有压板弹簧,所述固定腔下侧连通设有夹紧腔,所述压板下端面上放置设有半导体三极管,所述半导体三极管下端面左右均匀分布的固定设有三个引脚,所述夹紧腔前后对称分别设有能前后滑动的夹紧板,所述夹紧腔下侧连通设有开口向下的开口,所述引脚穿过夹紧腔和开口延伸至所述固定块下侧,所述连接腔左右两侧且在所述固定块下侧分别连通设有移动杆腔,所述移动杆腔内能左右滑动的设有移动杆,左右两侧所述移动杆相对一端面上分别固定设有连接板,左右两侧所述连接板相对一端面内分别固定设有侧接触电极,所述连接腔下侧连通设有升降板收纳腔,所述机体内且在所述升降板收纳腔下侧设有转盘腔,所述转盘腔下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧,所述升降板收纳腔下壁左右两侧与所述转盘腔上壁之间分别连通设有升降杆腔,所述升降杆腔内能上下滑动的设有升降杆,左右两侧所述升降杆上端面共同固定设有升降板,所述升降板下端面左右两侧与所述升降板收纳腔下壁之间分别固定连接有绕于所述升降杆外圆面的升降复位弹簧,所述升降板内设有上下贯通的定位腔,所述升降板上下两端面上分别能左右滑动的设有滑动板,上下两侧所述滑动板内上下贯通的且能够上下滑动的设有升降柱,所述定位腔内且在所述升降柱左右两侧分别能左右滑动的设有定位块,所述定位块靠近所述升降柱一端面与所述升降柱之间固定连接有定位弹簧,所述定位块靠近所述升降柱一端面内与所述升降柱内分别固定设有复位电磁铁,所述升降柱内设有开口向上的电极升降杆腔,所述电极升降杆腔内能上下滑动的设有电极升降杆,所述电极升降杆上端面固定设有电极底板,所述电极底板上端面内固定设有底接触电极,所述机体下端面内左右均匀分布的固定设有三个测试电极柱,左侧所述侧接触电极左端面、底接触电极右端面、右侧所述侧接触电极右端面分别依次与左中右三个所述测试电极柱上端面之间电性连接有连接导线。
可优选的,前后两侧所述夹紧板相对一端面内分别固定设有可变形的绝缘橡胶,所述夹紧板内在所述绝缘橡胶左右两侧分别设有开口朝向所述引脚的夹紧弹簧腔,前后两侧所述夹紧弹簧腔相对一侧壁之间固定连接有夹紧弹簧,所述夹紧腔左侧连通设有推动杆腔,所述推动杆腔前后两侧分别设有能够前后滑动的推动杆,所述推动杆右端面下侧与所述夹紧板左端面之间固定连接有连接柱,所述推动杆腔前后两侧分别连通设有开口向外的按压柱腔,前侧所述按压柱腔在后侧所述按压柱腔的下侧,前后两侧所述推动杆相对一端面分别固定设有按压柱,所述按压柱贯穿对面的所述推动杆并且穿过所述按压柱腔延伸至所述固定块外侧。
可优选的,左右两侧所述移动杆腔相互远离一侧壁内分别转动设有移动螺杆,所述移动螺杆与所述移动杆之间螺纹连接,所述机体内左右两侧且在所述移动杆腔远离所述引脚一侧分别设有带轮腔,所述移动螺杆远离所述引脚一端延伸至所述带轮腔内且外圆面固定设有从动带轮,所述带轮腔左右壁之间且在所述后侧转动设有主动轴,所述主动轴外圆面固定设有连接板,所述连接板与所述从动带轮之间绕设有传动皮带,所述机体内且在所述连接腔后侧和左右两侧所述带轮腔之间固定设有动力驱动机构,左侧所述主动轴右端动力连接于所述动力驱动机构左端面,右侧所述主动轴左端动力连接于所述动力驱动机构右端面。
可优选的,所述电极升降杆腔下壁内转动设有升降螺杆,所述升降螺杆与所述电极升降杆之间螺纹连接,所述升降柱内且在所述电极升降杆腔左侧设有开口向上的升降导杆腔,所述电极底板下端面且在所述电极升降杆左侧固定设有能在所述升降导杆腔内上下滑动的升降导杆,所述升降柱内且在所述电极升降杆腔下侧设有开口向下的转轴腔,所述升降螺杆下端延伸至所述转轴腔内。
可优选的,所述转盘腔下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧,所述升降复位弹簧内上下贯通的设有通孔,所述升降复位弹簧上端面前后两侧分别固定设有平面块,所述升降复位弹簧上端面左右两侧分别固定设有斜面块,左侧所述斜面块与下侧所述平面块之间和右侧所述斜面块与上侧所述平面块之间均固定连接,左右两侧所述升降杆下端面分别与左右两侧所述斜面块上端面相抵。
可优选的,所述转盘腔下侧且在所述通孔正下方连通设有传动滑块腔,所述传动滑块腔内能左右滑动的设有传动滑块,所述传动滑块上端面内转动设有锥齿轮轴,所述锥齿轮轴上端延伸至所述电极升降杆内且与所述升降螺杆之间花键连接,所述转盘腔下侧且在所述通孔右侧连通设有转动锥齿轮腔,所述升降复位弹簧下端面内固定设有固定锥齿圈,所述转动锥齿轮腔左右壁之间转动设有动力轴,所述动力轴外圆面固定设有与所述固定锥齿圈啮合的转动锥齿轮。
可优选的,所述传动滑块内设有锥齿轮腔,所述锥齿轮腔左右壁之间转动设有花键套筒,所述花键套筒外圆面固定设有主动锥齿轮,所述锥齿轮轴下端延伸至所述锥齿轮腔内且下端面固定设有与所述主动锥齿轮啮合的从动锥齿轮,所述动力轴左端穿过所述锥齿轮腔延伸至所述传动滑块腔左壁内且与所述花键套筒之间花键连接,所述转动锥齿轮腔右壁内固定设有动力电机,所述动力轴右端动力连接于所述动力电机左端面。
本发明的有益效果是:本发明能够将小尺寸的半导体三极管夹紧固定,然后通过巧妙的结构自动定位不同尺寸的半导体三极管引脚的位置,并且使引脚与测试电极柱之间导通,本发明操作简单,避免了直接对小尺寸元件的人工操作,减少了测试过程中造成引脚损坏的情况。
附图说明
为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的整体结构示意图。
图2是图1中A-A的结构示意图。
图3是图1中B的放大结构示意图。
图4是图3中C-C的结构示意图。
图5是图3中D-D的结构示意图。
图6是图1中E的放大结构示意图。
图7是图6中F-F的结构示意图。
图8是图6中G的放大结构示意图。
具体实施方式
下面结合图1-8对本发明进行详细说明,其中,为叙述方便,现对下文所说的方位规定如下:下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
本发明所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,包括机体11,所述机体11内设有开口向上的连接腔12,所述连接腔12内能上下滑动的设有固定块26,所述连接腔12上侧左右壁分别连通设有开口向上的定位槽33,所述固定块26左右两端面上分别固定设有能在所述定位槽33内滑动的定位块34,所述固定块26内设有固定腔28,所述固定腔28内能上下滑动的设有压板29,所述压板29上端面与所述固定腔28上壁之间左右对称的分别固定设有压板弹簧79,所述固定腔28下侧连通设有夹紧腔35,所述压板29下端面上放置设有半导体三极管30,所述半导体三极管30下端面左右均匀分布的固定设有三个引脚31,所述夹紧腔35前后对称分别设有能前后滑动的夹紧板36,所述夹紧腔35下侧连通设有开口向下的开口32,所述引脚31穿过夹紧腔35和开口32延伸至所述固定块26下侧,所述连接腔12左右两侧且在所述固定块26下侧分别连通设有移动杆腔13,所述移动杆腔13内能左右滑动的设有移动杆14,左右两侧所述移动杆14相对一端面上分别固定设有连接板23,左右两侧所述连接板23相对一端面内分别固定设有侧接触电极24,所述连接腔12下侧连通设有升降板收纳腔25,所述机体11内且在所述升降板收纳腔25下侧设有转盘腔44,所述转盘腔44下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧48,所述升降板收纳腔25下壁左右两侧与所述转盘腔44上壁之间分别连通设有升降杆腔76,所述升降杆腔76内能上下滑动的设有升降杆47,左右两侧所述升降杆47上端面共同固定设有升降板45,所述升降板45下端面左右两侧与所述升降板收纳腔25下壁之间分别固定连接有绕于所述升降杆47外圆面的升降复位弹簧48,所述升降板45内设有上下贯通的定位腔46,所述升降板45上下两端面上分别能左右滑动的设有滑动板66,上下两侧所述滑动板66内上下贯通的且能够上下滑动的设有升降柱64,所述定位腔46内且在所述升降柱64左右两侧分别能左右滑动的设有定位块63,所述定位块63靠近所述升降柱64一端面与所述升降柱64之间固定连接有定位弹簧73,所述定位块63靠近所述升降柱64一端面内与所述升降柱64内分别固定设有复位电磁铁72,所述升降柱64内设有开口向上的电极升降杆腔69,所述电极升降杆腔69内能上下滑动的设有电极升降杆78,所述电极升降杆78上端面固定设有电极底板67,所述电极底板67上端面内固定设有底接触电极68,所述机体11下端面内左右均匀分布的固定设有三个测试电极柱19,左侧所述侧接触电极24左端面、底接触电极68右端面、右侧所述侧接触电极24右端面分别依次与左中右三个所述测试电极柱19上端面之间电性连接有连接导线27。
有益地,前后两侧所述夹紧板36相对一端面内分别固定设有可变形的绝缘橡胶37,所述夹紧板36内在所述绝缘橡胶37左右两侧分别设有开口朝向所述引脚31的夹紧弹簧腔41,前后两侧所述夹紧弹簧腔41相对一侧壁之间固定连接有夹紧弹簧42,所述夹紧腔35左侧连通设有推动杆腔38,所述推动杆腔38前后两侧分别设有能够前后滑动的推动杆39,所述推动杆39右端面下侧与所述夹紧板36左端面之间固定连接有连接柱43,所述推动杆腔38前后两侧分别连通设有开口向外的按压柱腔75,前侧所述按压柱腔75在后侧所述按压柱腔75的下侧,前后两侧所述推动杆39相对一端面分别固定设有按压柱40,所述按压柱40贯穿对面的所述推动杆39并且穿过所述按压柱腔75延伸至所述固定块26外侧。
有益地,左右两侧所述移动杆腔13相互远离一侧壁内分别转动设有移动螺杆15,所述移动螺杆15与所述移动杆14之间螺纹连接,所述机体11内左右两侧且在所述移动杆腔13远离所述引脚31一侧分别设有带轮腔16,所述移动螺杆15远离所述引脚31一端延伸至所述带轮腔16内且外圆面固定设有从动带轮17,所述带轮腔16左右壁之间且在所述12后侧转动设有主动轴21,所述主动轴21外圆面固定设有连接板23,所述连接板23与所述从动带轮17之间绕设有传动皮带18,所述机体11内且在所述连接腔12后侧和左右两侧所述带轮腔16之间固定设有动力驱动机构22,左侧所述主动轴21右端动力连接于所述动力驱动机构22左端面,右侧所述主动轴21左端动力连接于所述动力驱动机构22右端面。
有益地,所述电极升降杆腔69下壁内转动设有升降螺杆65,所述升降螺杆65与所述电极升降杆78之间螺纹连接,所述升降柱64内且在所述电极升降杆腔69左侧设有开口向上的升降导杆腔70,所述电极底板67下端面且在所述电极升降杆78左侧固定设有能在所述升降导杆腔70内上下滑动的升降导杆71,所述升降柱64内且在所述电极升降杆腔69下侧设有开口向下的转轴腔80,所述升降螺杆65下端延伸至所述转轴腔80内。
有益地,所述转盘腔44下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧48,所述升降复位弹簧48内上下贯通的设有通孔51,所述升降复位弹簧48上端面前后两侧分别固定设有平面块50,所述升降复位弹簧48上端面左右两侧分别固定设有斜面块49,左侧所述斜面块49与下侧所述平面块50之间和右侧所述斜面块49与上侧所述平面块50之间均固定连接,左右两侧所述升降杆47下端面分别与左右两侧所述斜面块49上端面相抵。
有益地,所述转盘腔44下侧且在所述通孔51正下方连通设有传动滑块腔77,所述传动滑块腔77内能左右滑动的设有传动滑块52,所述传动滑块52上端面内转动设有锥齿轮轴62,所述锥齿轮轴62上端延伸至所述电极升降杆78内且与所述升降螺杆65之间花键连接,所述转盘腔44下侧且在所述通孔51右侧连通设有转动锥齿轮腔54,所述升降复位弹簧48下端面内固定设有固定锥齿圈61,所述转动锥齿轮腔54左右壁之间转动设有动力轴58,所述动力轴58外圆面固定设有与所述固定锥齿圈61啮合的转动锥齿轮55。
有益地,所述传动滑块52内设有锥齿轮腔53,所述锥齿轮腔53左右壁之间转动设有花键套筒57,所述花键套筒57外圆面固定设有主动锥齿轮56,所述锥齿轮轴62下端延伸至所述锥齿轮腔53内且下端面固定设有与所述主动锥齿轮56啮合的从动锥齿轮59,所述动力轴58左端穿过所述锥齿轮腔53延伸至所述传动滑块腔77左壁内且与所述花键套筒57之间花键连接,所述转动锥齿轮腔54右壁内固定设有动力电机60,所述动力轴58右端动力连接于所述动力电机60左端面。
以下结合图1至图8对本文中的使用步骤进行详细说明:
初始状态,固定块26未放入至连接腔12内,半导体三极管30未放入之固定腔28内,压板29位于下极限位置,前后两侧夹紧板36相互靠近至最近,前后两侧推动杆39相互靠近至最近,左右两侧连接板23相互远离至最远距离,升降板45位于下极限位置,电极升降杆78最大程度收纳于电极升降杆腔69内,复位电磁铁72通电,左右两侧定位块63相互靠近至最近,定位弹簧73处于压缩状态。
工作时,手动按住前后两侧按压柱40,带动前侧按压柱40向后移动并带动后侧按压柱40向前移动,进而带动前后两侧推动杆39相互远离并带动前后两侧连接柱43相互远离,进而带动前后两侧夹紧板36相互远离并带动夹紧弹簧42拉伸,进而带动前后两侧绝缘橡胶37相互远离,将半导体三极管30放入至固定腔28内,半导体三极管30上端面与压板29下端面相抵,半导体三极管30向上移动带动压板29向上移动并压缩压板弹簧79,引脚31移动至前后来揣测绝缘橡胶37之间,此时松开前后两侧按压柱40,由于夹紧弹簧42的弹力作用带动前后两侧夹紧板36相互靠近并带动前后两侧绝缘橡胶37相互靠近,从而将引脚31前后夹紧,然后将固定块26放入至连接腔12内并且使定位块34卡入至定位槽33内,此时启动动力驱动机构22,通过动力连接分别带动左右两侧主动轴21转动,进而主动轴21转动带动连接板23转动并通过传动皮带18带动从动带轮17转动,进而带动移动螺杆15转动并通过螺纹连接带动移动杆14朝靠近引脚31方向移动,进而带动连接板23朝靠近引脚31方向移动并带动侧接触电极24朝靠近引脚31方向移动,通过动力驱动机构22分别控制左右两侧侧接触电极24移动至靠近引脚31一端面与引脚31相接触后停止,此时通过侧接触电极24和左右两侧连接导线27将左右两侧引脚31和左右两侧测试电极柱19导通,然后启动动力电机60,通过动力连接带动动力轴58转动并带动转动锥齿轮55转动,进而通过齿轮啮合带动固定锥齿圈61转动并带动升降复位弹簧48转动,进而带动斜面块49和平面块50转动,斜面块49转动带动升降杆47向上移动并带动升降板45向上移动,升降板45向上移动拉伸升降复位弹簧48,进而带动滑动板66向上移动并带动升降柱64向上移动,进而带动升降螺杆65向上移动,然后当升降复位弹簧48转动至升降杆47下端与平面块50上端面相抵时,升降复位弹簧48继续转动,升降杆47不再向上移动,升降板45向上移动至上极限位置,此时左右两侧连接板23下端伸入至定位腔46内,然后将复位电磁铁72断开,由于定位弹簧73的弹力作用带动定位块63向远离升降柱64方向移动,左右两侧定位块63移动至与连接板23靠近升降柱64一端面相抵,此时由于左右两侧定位弹簧73的弹力作用,带动升降柱64左右移动至左右两侧连接板23之间的中点位置,进而带动升降螺杆65左右移动并带动锥齿轮轴62左右移动,进而带动传动滑块52左右移动,升降螺杆65左右移动带动电极底板67左右移动并带动底接触电极68左右移动,当升降柱64停止移动时,底接触电极68位于中间的引脚31正下方,同时动力轴58转动带动花键套筒57转动,进而带动主动锥齿轮56转动并通过齿轮啮合带动从动锥齿轮59转动,进而带动锥齿轮轴62转动并带动升降螺杆65转动,进而通过螺纹连接带动电极升降杆78向上移动,进而带动电极底板67向上移动并带动底接触电极68向上移动,进而带动升降导杆71向上移动,当底接触电极68上端面与中间的引脚31相接触后停止移动,停止动力电机60,此时通过底接触电极68和中间的连接导线27将中间的引脚31和中间的测试电极柱19导通,然后通过测试电极柱19能够对半导体三极管30进行测试。
本发明的有益效果是:本发明能够将小尺寸的半导体三极管夹紧固定,然后通过巧妙的结构自动定位不同尺寸的半导体三极管引脚的位置,并且使引脚与测试电极柱之间导通,本发明操作简单,避免了直接对小尺寸元件的人工操作,减少了测试过程中造成引脚损坏的情况。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本发明内容并加以实施,并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (7)
1.一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,包括机体,其特征在于:所述机体内设有开口向上的连接腔,所述连接腔内能上下滑动的设有固定块,所述连接腔上侧左右壁分别连通设有开口向上的定位槽,所述固定块左右两端面上分别固定设有能在所述定位槽内滑动的定位块,所述固定块内设有固定腔,所述固定腔内能上下滑动的设有压板,所述压板上端面与所述固定腔上壁之间左右对称的分别固定设有压板弹簧,所述固定腔下侧连通设有夹紧腔,所述压板下端面上放置设有半导体三极管,所述半导体三极管下端面左右均匀分布的固定设有三个引脚,所述夹紧腔前后对称分别设有能前后滑动的夹紧板,所述夹紧腔下侧连通设有开口向下的开口,所述引脚穿过夹紧腔和开口延伸至所述固定块下侧,所述连接腔左右两侧且在所述固定块下侧分别连通设有移动杆腔,所述移动杆腔内能左右滑动的设有移动杆,左右两侧所述移动杆相对一端面上分别固定设有连接板,左右两侧所述连接板相对一端面内分别固定设有侧接触电极,所述连接腔下侧连通设有升降板收纳腔,所述机体内且在所述升降板收纳腔下侧设有转盘腔,所述转盘腔下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧,所述升降板收纳腔下壁左右两侧与所述转盘腔上壁之间分别连通设有升降杆腔,所述升降杆腔内能上下滑动的设有升降杆,左右两侧所述升降杆上端面共同固定设有升降板,所述升降板下端面左右两侧与所述升降板收纳腔下壁之间分别固定连接有绕于所述升降杆外圆面的升降复位弹簧,所述升降板内设有上下贯通的定位腔,所述升降板上下两端面上分别能左右滑动的设有滑动板,上下两侧所述滑动板内上下贯通的且能够上下滑动的设有升降柱,所述定位腔内且在所述升降柱左右两侧分别能左右滑动的设有定位块,所述定位块靠近所述升降柱一端面与所述升降柱之间固定连接有定位弹簧,所述定位块靠近所述升降柱一端面内与所述升降柱内分别固定设有复位电磁铁,所述升降柱内设有开口向上的电极升降杆腔,所述电极升降杆腔内能上下滑动的设有电极升降杆,所述电极升降杆上端面固定设有电极底板,所述电极底板上端面内固定设有底接触电极,所述机体下端面内左右均匀分布的固定设有三个测试电极柱,左侧所述侧接触电极左端面、底接触电极右端面、右侧所述侧接触电极右端面分别依次与左中右三个所述测试电极柱上端面之间电性连接有连接导线。
2.如权利要求1所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:前后两侧所述夹紧板相对一端面内分别固定设有可变形的绝缘橡胶,所述夹紧板内在所述绝缘橡胶左右两侧分别设有开口朝向所述引脚的夹紧弹簧腔,前后两侧所述夹紧弹簧腔相对一侧壁之间固定连接有夹紧弹簧,所述夹紧腔左侧连通设有推动杆腔,所述推动杆腔前后两侧分别设有能够前后滑动的推动杆,所述推动杆右端面下侧与所述夹紧板左端面之间固定连接有连接柱,所述推动杆腔前后两侧分别连通设有开口向外的按压柱腔,前侧所述按压柱腔在后侧所述按压柱腔的下侧,前后两侧所述推动杆相对一端面分别固定设有按压柱,所述按压柱贯穿对面的所述推动杆并且穿过所述按压柱腔延伸至所述固定块外侧。
3.如权利要求1所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:左右两侧所述移动杆腔相互远离一侧壁内分别转动设有移动螺杆,所述移动螺杆与所述移动杆之间螺纹连接,所述机体内左右两侧且在所述移动杆腔远离所述引脚一侧分别设有带轮腔,所述移动螺杆远离所述引脚一端延伸至所述带轮腔内且外圆面固定设有从动带轮,所述带轮腔左右壁之间且在所述后侧转动设有主动轴,所述主动轴外圆面固定设有连接板,所述连接板与所述从动带轮之间绕设有传动皮带,所述机体内且在所述连接腔后侧和左右两侧所述带轮腔之间固定设有动力驱动机构,左侧所述主动轴右端动力连接于所述动力驱动机构左端面,右侧所述主动轴左端动力连接于所述动力驱动机构右端面。
4.如权利要求1所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:所述电极升降杆腔下壁内转动设有升降螺杆,所述升降螺杆与所述电极升降杆之间螺纹连接,所述升降柱内且在所述电极升降杆腔左侧设有开口向上的升降导杆腔,所述电极底板下端面且在所述电极升降杆左侧固定设有能在所述升降导杆腔内上下滑动的升降导杆,所述升降柱内且在所述电极升降杆腔下侧设有开口向下的转轴腔,所述升降螺杆下端延伸至所述转轴腔内。
5.如权利要求1所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:所述转盘腔下侧圆周壁上转动设有升降复位弹簧,所述升降复位弹簧内上下贯通的设有通孔,所述升降复位弹簧上端面前后两侧分别固定设有平面块,所述升降复位弹簧上端面左右两侧分别固定设有斜面块,左侧所述斜面块与下侧所述平面块之间和右侧所述斜面块与上侧所述平面块之间均固定连接,左右两侧所述升降杆下端面分别与左右两侧所述斜面块上端面相抵。
6.如权利要求5所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:所述转盘腔下侧且在所述通孔正下方连通设有传动滑块腔,所述传动滑块腔内能左右滑动的设有传动滑块,所述传动滑块上端面内转动设有锥齿轮轴,所述锥齿轮轴上端延伸至所述电极升降杆内且与所述升降螺杆之间花键连接,所述转盘腔下侧且在所述通孔右侧连通设有转动锥齿轮腔,所述升降复位弹簧下端面内固定设有固定锥齿圈,所述转动锥齿轮腔左右壁之间转动设有动力轴,所述动力轴外圆面固定设有与所述固定锥齿圈啮合的转动锥齿轮。
7.如权利要求6所述的一种小尺寸半导体三极管电极检测装置,其特征在于:所述传动滑块内设有锥齿轮腔,所述锥齿轮腔左右壁之间转动设有花键套筒,所述花键套筒外圆面固定设有主动锥齿轮,所述锥齿轮轴下端延伸至所述锥齿轮腔内且下端面固定设有与所述主动锥齿轮啮合的从动锥齿轮,所述动力轴左端穿过所述锥齿轮腔延伸至所述传动滑块腔左壁内且与所述花键套筒之间花键连接,所述转动锥齿轮腔右壁内固定设有动力电机,所述动力轴右端动力连接于所述动力电机左端面。
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CN202011382614.2A CN112394271A (zh) | 2020-12-01 | 2020-12-01 | 一种小尺寸半导体三极管电极检测装置 |
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CN202011382614.2A CN112394271A (zh) | 2020-12-01 | 2020-12-01 | 一种小尺寸半导体三极管电极检测装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115144717A (zh) * | 2022-06-17 | 2022-10-04 | 先之科半导体科技(东莞)有限公司 | 一种适用范围广的二极管高温反偏实验设备 |
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2020
- 2020-12-01 CN CN202011382614.2A patent/CN112394271A/zh not_active Withdrawn
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