CN112382224A - 一种模组的老化测试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种模组的老化测试方法及系统，其通过设置与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元；获取测试数据以生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和测试图像，生成对应通道的模组工作电压、上电时序、第一封装数据包和串化后的第二封装数据包发送给信号组装单元，并将其整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口，从而可以减少显示设备的老化测试过程所需设备的占地面积，同时增加参与检测的模组个数。

Description

一种模组的老化测试方法及系统

技术领域

本发明属于模组老化测试技术领域，具体涉及一种模组的老化测试方法及系统。

背景技术

模组有一定的失效概率，其失效概率与使用次数之间的关系符合浴缸曲线的特性，开始使用时模组的失效概率高，当经过一定使用次数后失效概率大幅降低，直到接近或达到其使用寿命后，模组的失效概率又会升高。一般通过老化测试（Test During burn-in，TDBI）来加速模组失效概率的出现，直接让其进入产品稳定期来解决该问题。

基于模组的老化点灯测试通常是在产品试产或者产品批量时进行，用以验证产品的稳定性和可靠性，由于该老化点灯设备多用于批量测试，因此对检测设备在单位时间内完成的检测数量需求是越多越好，以检测mipi液晶模组为示例，而目前市面上用于检测mipi液晶模组的老化测试装置只能同时检测八块液晶模组，若要同时检测更多液晶显示模组，则需要购置多台检测设备，这种方式不仅增加测试成本，同时多台检测设备占地大不利于工厂布局及操作，多台检测设备间交互控制复杂影响检测效率。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种模组的老化测试方法及系统，以解决现有显示设备的老化测试过程中所需设备存在占地面积过大、且能同时参与检测的模组个数有限的技术问题。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种模组的老化测试方法，该方法包括：

设置与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元；

获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像参数数据，生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令；

解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元，提取参数控制指令中的有效字段，依据预设协议进行组包封装以得到第一封装数据包，将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

依据图像测试指令获取对应的图像数据，处理图像数据以得到第二封装数据包，将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元；

通过信号组装单元将模组工作电压、上电时序、第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口。

作为本发明的进一步改进，多个待测试模组的lane口个数相同，多个待测试模组对应的图像数据也相同。

作为本发明的进一步改进，处理图像数据以得到第二封装数据包包括：

按照测试需求进行图像数据进行预处理后，依据预设协议进行组包封装、复用以得到第二封装数据包。

作为本发明的进一步改进，按照测试需求进行图像数据进行预处理包括：从测试图像参数数据中直接获取图像数据，或者通过测试图像参数数据中的图像标记从对应的图片存储库中调用得到对应的图像数据。

作为本发明的进一步改进，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元包括：

依据模组对应的物理lane接口将第二封装数据包数据划分为多个lane分数据包，依据每个lane分数据包的最小数据单元进行串化输出。

作为本发明的进一步改进，测试图像参数数据包括测试图像序号、测试图像分辨率和测试图像尺寸中的一种或多种。

为实现上述目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种模组的老化测试系统，该系统包括人机交互单元、主控单元、电源单元、图像处理单元，以及与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元，其中，

人机交互单元用于获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像参数数据，生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令发送给主控单元；

主控单元用于将电压配置指令和通道选通指令发送给电源单元，还用于将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元，还用于依据图像测试指令获取对应的图像数据并发送给图像处理单元；

电源单元用于解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

控制命令生成单元用于提取参数控制指令中的有效字段，依据预设协议进行组包封装以得到第一封装数据包，将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

图像处理单元用于处理图像数据以得到第二封装数据包，将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元；

信号组装单元用于模组工作电压、上电时序、第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口。

作为本发明的进一步改进，人机交互单元和主控单元利用SOPC搭建嵌入式系统实现，图像处理单元、控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元利用FPGA实现。

作为本发明的进一步改进，人机交互单元利用PC实现，主控单元利用嵌入式软核或者嵌入式硬核或者ARM芯片实现，图像处理单元、控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元利用FPGA实现。

作为本发明的进一步改进，人机交互单元利用PC实现，主控单元利用嵌入式软核或者嵌入式硬核或者ARM芯片实现，图像处理单元、控制命令生成单元和物理层数据发送单元利用FPGA实现，信号组装单元利用硬件电路实现。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：

本发明的一种模组的老化测试方法及系统，其通过设置不同的模块来处理模组测试过程中所需的参数控制指令、电压配置指令和测试图像，同时利用通道选通指令将不同的待测试模组所需的指令有序地发送给对应的待测试模组，从而可以减少显示设备的老化测试过程所需设备的占地面积，同时增加参与检测的模组个数，其能适应不同应用需求，可应用性及适应性强，能满足市场各种老化测试要求。

本发明的一种模组的老化测试方法及系统，其通过依据预设的协议需求进行组包封装，依据模组的个数生成多个相同的第二封装数据包，结合通道选通指令将第二封装数据包发送给对应的物理层数据发送单元，依据模组对应的物理lane接口将第二封装数据包数据划分为多个lane分数据包，依据每个lane分数据包的最小数据单元进行串化输出，从而在处理器内部可以多bit并行处理，从而提高数据的传输效率。

本发明的一种模组的老化测试方法及系统，对于通过同一批次具有相同测试需求的液晶模组来说，只需要一个小芯片如FPGA芯片来实现图像处理单元、控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元，从而可以充分利用FPGA（现场可编程门阵列）的并行流水处理特性，通过设计多通道显示接口信号检测系统，达到最大限度的减少FPGA（现场可编程门阵列）逻辑资源占有，缩小FPGA资源的占用面积，降低FPGA芯片的成本及功耗的目的，因此该装置具有容易实现、成本低、小型化、可扩展性强、实用性高等特点，即系统架构简单、接口扩展方便，维护成本低，同时系统体积小、成本低，一台设备就能支持10个及以上液晶模组同步老化测试。

附图说明

图1为本发明技术方案的一种模组的老化测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面结合具体实施方式对本发明进一步详细说明。

本申请所涉及的专业术语解释如下：

MIPI协议：Mobile Industry Processor Interface，移动行业处理器接口，是MIPI联盟发起的为移动应用处理器制定的开放标准。

Lane数据：对多个数据用同一条命令并行处理，能被同一条命令处理的每个数据就是一个lane，数据的个数就是lane的个数。打个比方来说，一条高速公路上的车道就是lane，车道数就是lane的个数，有多少lane就表示有多少车可以并排同时开，一个Lane对应的位宽是由单个任务中涉及到的输入、临时变量和返回值所需的精度来决定的。

SOPC：System On Programmable Chip，可编程片上系统。一种特殊的嵌入式系统，首先它是片上系统，即由单个芯片完成整个系统的主要逻辑功能；其次，它是可编程系统，具有灵活的设计方式，可裁减、可扩充、可升级，并具备软硬件在系统可编程的功能。

在一个实施例中，提供了一种模组的老化测试方法，具体包括如下步骤：

设置与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元；

获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像参数数据，优选的，通过人机交互图像界面单元的定制化操作界面进行参数配置，参数配置包括但不限于与待测试模组一一对应的通道配置参数、控制参数数据和测试图像参数数据，控制参数数据包括但不限于驱动模组工作的初始化参数、电源配置参数等，通过人机交互得到的输入数据生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令，可以通过人机交互的操作界面获得输入数据，还可以依据客户需要定制图形化操作界面，在操作界面中配置模组对应的控制参数数据和测试图像参数数据，这里的测试图像参数数据包括但不限于测试图像序号、测试图像分辨率和测试图像尺寸中的一种或多种；

将通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令传送给下一个处理单元以进行下一步地处理，具体地，

将电压配置指令和通道选通指令发送给电源单元，解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

解析通道选通指令，依据解析结果将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元，通过控制命令生成单元提取参数控制指令中的有效字段，有效字段指的是与待控制模组对应的控制参数数据，譬如发送命令参数（如b、b1、b2……）给与某个地址a对应的模组，使得该模组可以识别该命令参数且实现某种功能或某几种功能，对于不同批次的模组，对应的测试要求不同，发送给其命令的个数和内容也是不一样的，这里提取方式按照传送单元与接收单元定义好的方式，可以是自定义的也可以是公开的方式，比如发送端通过网口把这些内容发送出去，那发送端在发送的时候需要按网口协议先把有效字段打包好再发，那么接收端就参照网口协议从包里提取有效字段。如果是用自定义的方式，那就按双方约定好的方式发送和接收即可，依据预设的协议需求进行组包封装以得到第一封装数据包，结合通道选通指令将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

处理图像数据以得到第二封装数据包，解析通道选通指令，依据解析结果将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，其中，以基于MIPI协议的图像测试为示例，由于进行协议封装之前的测试图像是根据分辨率及前后肩参数生成TTL标准格式的RGB数据，测试图像数据的数值可以是逻辑画面也可以是风景画面，如果是风景画则通过人机交互界面把风景图传送出来，如果是逻辑画面则根据分辨率等参数由FPGA内部通过算法自己生成；

测试图像的处理过程包括按照测试需求将获取到的图像数据进行预处理后，依据预设的协议需求（MIPI协议）进行组包封装、复用，其中，获取到的图像数据过程可以从测试图像参数数据中直接获取（测试图像参数数据已包括图像数据），也可以通过测试图像参数数据从对应的图片存储库中调用得到对应的图像数据，另外，预处理过程还包括特殊图像画面处理，比如在人机交互界面下发的图像基础上再叠加另一数字或者进行画面移动等，这些完成后再发送给下一级模块进行组包分装，将图像数据作为组包的主数据并依据MIPI协议需求嵌入包头数据和包尾数据，复用即为依据模组的个数生成多个相同的第二封装数据包，结合通道选通指令将第二封装数据包发送给对应的物理层数据发送单元，通过物理层数据发送单元依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元，将第二封装数据包转换为多lane数据具体包括依据模组对应的物理lane接口划分协议层对应的数据包，比如模组为4lane接口，则每个lane上都要分配数据，按照lane0-byte0，lane1-byte1，lane2-byte2，lane3-byte3顺序依次排列，如果模组对应的是2lane接口，则数据只分布在lane0和lane1上，其他lane上的数据是0。由于FPGA内部是多bit并行处理的，往每个lane分数据包时的最小数据单元还是byte即8bit，需要把这8bit在相同的时间内串化成1bit依次输出到物理链路上，此时这1bit的传输速率提高了8倍，相当于时间换空间的方式，该预设的发送时序依据物理层协议要求和/或模组的测试需求得到，其中，模组的测试需求指依据模组测试要求来设置的各类参数，模组测试要求包括模组的接口个数等。

通过信号组装单元将第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口，例如，将第一封装数据包与串化后的第二封装数据包按照时分复用的原则一一进行整合，比如，与信号组装单元对应的液晶模组对应2lane的物理接口，则收到的一路第一封装数据包（控制指令）lane0与一路第二封装数据包（物理数据）lane0经过信号组装单元按照时分复用的原则整合成一路lane0输出，同理将收到的另一路第一封装数据包（控制指令）lane1与另一路第二封装数据包（物理数据）lane1经过信号组装单元按照时分复用的原则整合成一路输出；与信号组装单元对应的液晶模组对应的是4lane物理接口则按类似的方式对上述数据进行整合得到4lane数据，使信号组装单元输出的有效数据与液晶模组的lane数是一一对应的；同时信号组装单元将收到的液晶模组电压信号与整合后的物理信号都送到实际物理接口，通过该物理接口与液晶模组相连，达到交互的目的，以实现模组的测试。通过上述方式，可以在小芯片中集成上述功能，从而可以通过一套测试设备实现同一个批次的多个模组的测试。

图1为本发明技术方案的一种模组的老化测试系统的结构示意图。如图1所示，与上述老化测试方法相对应地，本发明还公开了一种模组的老化测试系统，该系统包括人机交互单元、主控单元、电源单元、图像处理单元，以及与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元，其中，

人机交互单元用于获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像数据，优选的，通过人机交互图像界面单元的定制化操作界面进行参数配置，参数配置包括但不限于与待测试模组一一对应的通道配置参数、控制参数数据和测试图像数据，控制参数数据包括但不限于驱动模组工作的初始化参数、电源配置参数等，通过人机交互得到的输入数据生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数初始化指令、电压配置指令和测试图像，可以通过人机交互的操作界面获得输入数据，还可以依据客户需要定制图形化操作界面，在操作界面中配置模组对应的控制参数数据和测试图像数据；人机交互单元将通道选通指令、参数初始化指令、电压配置指令和测试图像传送给主控单元以进行下一步地处理；

主控单元用于将电压配置指令和通道选通指令发送给电源单元；还用于解析通道选通指令，依据解析结果将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元；还用于依据预设的分辨率启动图像数据并发送给图像处理单元；

图像处理单元用于处理图像数据以得到第二封装数据包，解析通道选通指令，依据解析结果将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，以基于MIPI协议的图像测试为示例，测试图像的处理过程包括按照测试需求进行图像数据分进行预处理后，依据预设的协议需求（MIPI协议）进行组包封装、复用，即将图像数据作为组包的主数据并依据MIPI协议需求嵌入包头数据和包尾数据，复用即为依据模组的个数生成多个相同的第二封装数据包，结合通道选通指令将第二封装数据包发送给对应的物理层数据发送单元；

电源单元用于解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

控制命令生成单元用于提取参数控制指令中的有效字段，依据预设的协议需求进行组包封装以得到第一封装数据包，结合通道选通指令将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

物理层数据发送单元用于依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元，该预设的发送时序依据物理层协议要求和/或模组的测试需求得到，其中，模组的测试需求指依据模组测试要求来设置的各类参数，模组测试要求包括模组的接口个数等；

信号组装单元用于将第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口，例如，将第一封装数据包与串化后的第二封装数据包按照时分复用的原则一一进行整合，比如，与第一个信号组装单元对应的液晶模组1对应2lane的物理接口，则收到的一路第一封装数据包（控制指令）lane0与一路第二封装数据包（物理数据）lane0经过信号组装单元按照时分复用的原则整合成一路lane0输出，同理将收到的另一路第一封装数据包（控制指令）lane1与另一路第二封装数据包（物理数据）lane1经过信号组装单元按照时分复用的原则整合成一路输出；与第二个信号组装单元对应的液晶模组2对应的是4lane物理接口则按类似的方式对上述数据进行整合得到4lane数据，使信号组装单元输出的有效数据与液晶模组的lane数是一一对应的，信号组装单元将收到的液晶模组电压信号与整合后的物理信号都送到实际物理接口，通过该物理接口与液晶模组相连，达到交互的目的。其中，该系统的实现原理、技术效果与上述方法类似，此处不再赘述。

优选的，上述系统可以利用基于SOPC（可编程片上系统）实现，这样整个系统只需要一块单板，具有体积小，功耗低、易操作及维护的特点，具体实施步骤如下：人机交互图像界面单元和主控单元基于sopc搭建嵌入式系统，利用系统函数一方面搭建图像界面并根据用户需求定制界面风格，另一方面构造和FPGA的通信传输接口，约定好通信流程，FPGA按照约定的通信机制进行命令解析与数据获取。利用嵌入式系统的好处是在硬件不变的情况下可以灵活应对客户需求，达到定制化目的，剩下的控制命令生成单元、图像处理单元（图示中的协议层图像组包单元和图像数据复用单元）、物理层数据发送单元、信号组装单元均基于FPGA实现，采用FPGA的好处是FPGA能够并行流水处理，很容易对选通通道进行扩展，达到一拖10甚至更多液晶模组的目的；

作为另一个实施例，上述系统可以采用PC+FPGA实现，与SOPC的方案比较，区别在于，人机交互图像界面单元在PC端实现，主控单元基于嵌入式软核/硬核或者ARM芯片实现，主控端与PC端多了一个通信接口，可以通过网口、或者其他通信接口进行数据通信。剩下的控制命令生成单元、图像处理单元（图示中的协议层图像组包单元和图像数据复用单元）、物理层数据发送单元、信号组装单元均基于FPGA实现。采用这种方式的好处是基于pc端能实现更丰富的功能；

作为另一个实施例，上述系统可以采用PC+FPGA+硬件电路实现，与SOPC的方案比较，区别在于，人机交互图像界面单元在pc端实现，主控单元基于嵌入式软核/硬核或者arm芯片实现，控制命令生成单元、图像处理单元（图示中的协议层图像组包单元和图像数据复用单元）、物理层数据发送单元基于FPGA实现，信号组装单元可以基于硬件电路实现，信号组装单元主要完成控制信号、物理层图像数据及电源信号的合成，利用硬件电路实现可以采用低端的FPGA芯片，这样芯片成本会稍许降低，增加硬件电路单板面积会有一点增加。

当然以上实现方式仅为一个示例，还可以依据需求选择其他方式，如利用上述三种实现方式的部分进行两两组合实现，具体实施方式可以灵活应用。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种模组的老化测试方法，其特征在于，该方法包括：

设置与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元；

获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像参数数据，生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令；

解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元，提取参数控制指令中的有效字段，依据预设协议进行组包封装以得到第一封装数据包，将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

依据图像测试指令获取对应的图像数据，处理图像数据以得到第二封装数据包，将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元；

通过信号组装单元将模组工作电压、上电时序、第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口。

2.根据权利要求1所述的一种模组的老化测试方法，其中，所述多个待测试模组的lane口个数相同，所述多个待测试模组对应的图像数据也相同。

3.根据权利要求2所述的一种模组的老化测试方法，其中，处理图像数据以得到第二封装数据包包括：

按照测试需求进行图像数据进行预处理后，依据所述预设协议进行组包封装、复用以得到第二封装数据包。

4.根据权利要求3所述的一种模组的老化测试方法，其中，按照测试需求进行图像数据进行预处理包括：从测试图像参数数据中直接获取图像数据，或者通过测试图像参数数据中的图像标记从对应的图片存储库中调用得到对应的图像数据。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的一种模组的老化测试方法，其中，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元包括：

依据模组对应的物理lane接口将第二封装数据包数据划分为多个lane分数据包，依据每个lane分数据包的最小数据单元进行串化输出。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的一种模组的老化测试方法，其中，所述测试图像参数数据包括测试图像序号、测试图像分辨率和测试图像尺寸中的一种或多种。

7.一种模组的老化测试系统，其特征在于，该系统包括人机交互单元、主控单元、电源单元、图像处理单元，以及与多个待测试模组一一对应的控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元，其中，

所述人机交互单元用于获取多个待测试模组的控制参数数据和测试图像参数数据，生成与待测试模组一一对应的通道选通指令、参数控制指令、电压配置指令和图像测试指令发送给主控单元；

所述主控单元用于将电压配置指令和通道选通指令发送给电源单元，还用于将对应的通道选通指令和参数控制指令分发给对应的控制命令生成单元，还用于依据图像测试指令获取对应的图像数据并发送给图像处理单元；

所述电源单元用于解析通道选通指令和电压配置指令以生成对应通道的模组工作电压和上电时序，发送给对应的信号组装单元；

所述控制命令生成单元用于提取参数控制指令中的有效字段，依据预设协议进行组包封装以得到第一封装数据包，将第一封装数据包发送给对应的信号组装单元；

所述图像处理单元用于处理图像数据以得到第二封装数据包，将对应的通道选通指令和第二封装数据包分发给对应的物理层数据发送单元，依据预设的发送时序将第二封装数据包转换为多lane数据后串化输出给对应的信号组装单元；

所述信号组装单元用于模组工作电压、上电时序、第一封装数据包和串化后的第二封装数据包整合成多lane数据发送给对应模组的多lane接口。

8.根据权利要求7所述的一种模组的老化测试系统，其中，所述人机交互单元和主控单元利用SOPC搭建嵌入式系统实现，所述图像处理单元、控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元利用FPGA实现。

9.根据权利要求7所述的一种模组的老化测试系统，其中，所述人机交互单元利用PC实现，所述主控单元利用嵌入式软核或者嵌入式硬核或者ARM芯片实现，所述图像处理单元、控制命令生成单元、物理层数据发送单元和信号组装单元利用FPGA实现。

10.根据权利要求7所述的一种模组的老化测试系统，其中，所述人机交互单元利用PC实现，所述主控单元利用嵌入式软核或者嵌入式硬核或者ARM芯片实现，所述图像处理单元、控制命令生成单元和物理层数据发送单元利用FPGA实现，所述信号组装单元利用硬件电路实现。

Images