CN112362581A - 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔 - Google Patents

一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔 Download PDF

Info

Publication number
CN112362581A
CN112362581A CN202011168718.3A CN202011168718A CN112362581A CN 112362581 A CN112362581 A CN 112362581A CN 202011168718 A CN202011168718 A CN 202011168718A CN 112362581 A CN112362581 A CN 112362581A
Authority
CN
China
Prior art keywords
magnetic
optical
field effect
magnetic field
sample chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011168718.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112362581B (zh
Inventor
马东阁
乔现锋
代岩峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
South China University of Technology SCUT
Original Assignee
South China University of Technology SCUT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by South China University of Technology SCUT filed Critical South China University of Technology SCUT
Priority to CN202011168718.3A priority Critical patent/CN112362581B/zh
Publication of CN112362581A publication Critical patent/CN112362581A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112362581B publication Critical patent/CN112362581B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/1717—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/1717—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
    • G01N2021/1727—Magnetomodulation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08—Optical fibres; light guides

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔，包括耦合套筒，所述耦合套筒设置四个光路进行光纤传输，四个光路交汇在一点，该点设置样品。本发明密封性好，兼容性高，通过光纤与其他仪器集成，可放置再电磁铁中固定待测样品，具有电激发和光激发双重功能。

Description

一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔
技术领域
本发明涉及光电磁器件检测领域，具体涉及一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔。
背景技术
磁场效应是指外磁场可以改变非磁性材料的本征特性，定义为材料特性被外磁场改变的值与无磁场时本征值的比值，通常用百分比来表示。测量时需要将样品放置在电磁铁中，测试材料的发光和电流磁场效应。首先，发光磁场效应需要封闭光路，这样才能降低环境光的干扰获得准确的测试结果；其次，电学测量需要屏蔽环境电磁干扰，具有非磁性导线及引线；最后，整个测试需要样品置于磁场环境中，样品架须要非磁性设计。总之，整个样品腔需要封闭光路、屏蔽电磁干扰和非磁性材质，同时满足光学、电学和光电转换测试要求。
此外，有机材料和薄膜样品是附着在衬底上的样品，对样品腔和样品架有特殊的要求。首先，电学测量需要设计特殊的探针与样品接触，并采用非磁性材质固定样品；其次，光学测量要满足发射和透射两种测量模式。针对以上需求，我们设计了一种用于磁场效应测试的非磁性样品腔。
发明内容
为了克服现有技术存在的缺点与不足，本发明提供一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔，主要针对有机薄膜材料与器件磁场效应测量，用于固定样品和耦合外光路。
本发明采用如下技术方案：
一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔,设置在两块磁铁之间，包括耦合套筒，所述耦合套筒设置四个光路进行光纤传输，四个光路交汇在一点，该点设置样品。
进一步，四个光路呈平放的K字形，呈直线排列的两个光路实现透射测试，另外两个呈夹角的光路实现发射测试。
进一步，所述耦合套筒呈圆柱形。
进一步，所述非磁性样品腔由非磁性材料制成。
进一步，两个呈夹角的光路的夹角在15-60度之间。
进一步，四个光路的光学孔尺寸与光纤匹配，直径在2mm和11mm之间。
本发明的有益效果：
(1)非磁性样品腔采用非磁性材料，光学密封，排除环境光干扰；
(2)本发明设置四路光纤耦合光路，通过光纤与其他仪器集成，避免激发光对发射强度的影响。
(3)四个光路根据测试，任意组合实现发射及透射测试需求。
附图说明
图1是本发明的样品腔主视图；
图2是图1的实物示意图。
图3是本发明实施例样品腔工作设置图。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，对本发明作进一步地详细说明，但本发明的实施方式不限于此。
实施例
如图1及图2所示，一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔,由非磁性材料制成，主要作用是固定和密封光路，同时和外光路耦合，实现测试要求。
具体包括耦合套筒1，所述耦合套筒设置四个光学孔2，形成四个光路，四个光路呈平方的K字型，四个光路在套筒内交汇在一点，垂直中心线之间，该点是样品所在的位置。
在K字型中，上下呈一条直线排列的两个光路可以满足透射测试需求，另外两个呈一定夹角的光路可满足发射测试，激发光和发射光分别从两个光路射入，呈一定角度，可以避免激发光对发射强度的影响。
本实施例位于同侧的呈一定夹角的两个光路在15度和60度之间，由耦合套筒和中间样品腔尺寸决定；
光学孔尺寸与光纤匹配，无特殊定值要求，直径在2mm和11mm之间；大小孔与光线尺寸匹配，长度和直径比例无特殊定值要求。
所述光学套筒的四个光路根据测试需要打开密封盖，可任意组合使用。
所述光学套筒的光路采用内径变化的设计，前段孔径大，兼容光纤尺寸；后端内径变小，可以固定光纤。
所述光学套筒的光路采用螺丝固定的方法，在光路外侧加装可旋螺丝，放入光纤时，可旋转螺丝顶住光纤，固定光路。
本实施例中光学套筒优选铝、铜或者聚四氟乙烯。
本实施例非磁性样品腔，整体光学密封，排除环境光干扰。
如图3所示，本发明的仪器旨在设计一个封闭的光学磁场效应测试样品腔，用于固定样品和耦合外光路，测量发光磁场效应，将样品支架放置在样品腔内部，通过光纤将光导出，样品腔放在电磁铁中间，
上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受所述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔,设置在两块磁铁之间，其特征在于，包括耦合套筒，所述耦合套筒设置四个光路进行光纤传输，四个光路交汇在一点，该点设置样品。
2.根据权利要求1所述的非磁性样品腔，其特征在于，四个光路呈平放的K字形，呈直线排列的两个光路实现透射测试，另外两个呈夹角的光路实现发射测试。
3.根据权利要求1所述的非磁性样品腔，其特征在于，所述耦合套筒呈圆柱形。
4.根据权利要求1所述的非磁性样品腔，其特征在于，所述非磁性样品腔由非磁性材料制成。
5.根据权利要求1所述的非磁性样品腔，其特征在于，两个呈夹角的光路的夹角在15-60度之间。
6.根据权利要求1所述的非磁性样品腔，其特征在于，四个光路的光学孔尺寸与光纤匹配，直径在2mm和11mm之间。
CN202011168718.3A 2020-10-28 2020-10-28 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔 Active CN112362581B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011168718.3A CN112362581B (zh) 2020-10-28 2020-10-28 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011168718.3A CN112362581B (zh) 2020-10-28 2020-10-28 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112362581A true CN112362581A (zh) 2021-02-12
CN112362581B CN112362581B (zh) 2022-02-15

Family

ID=74510848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011168718.3A Active CN112362581B (zh) 2020-10-28 2020-10-28 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112362581B (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241489A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Nec Corp 磁界測定装置
CN105510282A (zh) * 2016-01-13 2016-04-20 中国科学院上海技术物理研究所 一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统
CN106768900A (zh) * 2017-01-16 2017-05-31 南京工业大学 一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置及方法
CN109690288A (zh) * 2016-09-13 2019-04-26 巴斯夫涂料有限公司 用于几乎同时测量液体样品的透射和/或前向散射和/或再发射以及用于同时测量液体样品的透射和前向散射或透射和再发射的传感器
CN110333191A (zh) * 2019-07-03 2019-10-15 山东大学 一种旋转补偿器的光谱磁光椭偏分析装置及其应用
CN110907411A (zh) * 2019-11-20 2020-03-24 华南理工大学 一种稳态发光磁场效应测试仪
CN110987887A (zh) * 2019-12-10 2020-04-10 中国科学技术大学 一种微型高温odmr测量样品腔
CN111089851A (zh) * 2019-12-31 2020-05-01 洛阳师范学院 一种磁光测试装置
JP2020165833A (ja) * 2019-03-29 2020-10-08 Ｔｉａｎｍａ Ｊａｐａｎ株式会社 ガス検知装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241489A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Nec Corp 磁界測定装置
CN105510282A (zh) * 2016-01-13 2016-04-20 中国科学院上海技术物理研究所 一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统
CN109690288A (zh) * 2016-09-13 2019-04-26 巴斯夫涂料有限公司 用于几乎同时测量液体样品的透射和/或前向散射和/或再发射以及用于同时测量液体样品的透射和前向散射或透射和再发射的传感器
CN106768900A (zh) * 2017-01-16 2017-05-31 南京工业大学 一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置及方法
JP2020165833A (ja) * 2019-03-29 2020-10-08 Ｔｉａｎｍａ Ｊａｐａｎ株式会社 ガス検知装置
CN110333191A (zh) * 2019-07-03 2019-10-15 山东大学 一种旋转补偿器的光谱磁光椭偏分析装置及其应用
CN110907411A (zh) * 2019-11-20 2020-03-24 华南理工大学 一种稳态发光磁场效应测试仪
CN110987887A (zh) * 2019-12-10 2020-04-10 中国科学技术大学 一种微型高温odmr测量样品腔
CN111089851A (zh) * 2019-12-31 2020-05-01 洛阳师范学院 一种磁光测试装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHANGYOU LUO等: "Enhanced and Tunable Goos-Hanchen Shift in a Cavity Containing Colloidal Ferrofluids", 《IEEE PHOTONICS JOURNAL》 *
费振乐等: "利用磁光玻璃光纤测大电流的光纤电流传感器的设计", 《激光与光电子学进展》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112362581B (zh) 2022-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN206672892U (zh) 一种多电极透射电子显微镜原位电学功能样品杆
US3346736A (en) Electron probe apparatus having an objective lens with an aperture for restricting fluid flow
CN108398420B (zh) 发光材料力致发光性能的检测装置
CN101806725B (zh) 基于悬挂芯光纤的气体吸收谱线参考装置
CN101661000B (zh) 一种基于分光镜的应用于单离子微束装置的新型离子探测系统
CN110749425A (zh) 一种led多角度光学测试装置及测试方法
CN112362581B (zh) 一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔
Curtis et al. Schlieren visualization of fluid dynamics effects in direct analysis in real time mass spectrometry
CN201034951Y (zh) 用于原油及石油产品的x荧光测硫仪
CN101865961A (zh) 电火工品电磁脉冲危害的测试装置
US8638433B1 (en) Visual spectrophotometer
KR20110035574A (ko) 광/전기 프루브를 이용한 광학 검사 방법 및 장치
WO2020189329A1 (ja) ホルダおよび荷電粒子線装置
CN109742006B (zh) 适用于高频信号传输的原位低温透射电子显微镜样品杆
US5038045A (en) Composite electromagnetic lens with variable focal distance
CN106501561B (zh) 一种低温测试探杆
TW201348727A (zh) 磁場檢測裝置
CN108226737A (zh) 具有用于电子束操作的局部抽空容积的集成电路分析系统和方法
CN201107113Y (zh) 紫外线转可见光的紫外线强度测量装置
CN200993639Y (zh) 法拉第效应测试仪
CN110907411A (zh) 一种稳态发光磁场效应测试仪
CN109580623B (zh) 机械式气象能见度测量仪
CN104897705B (zh) 一种识别液体种类的x射线衍射谱仪与方法
CN118010837A (zh) 量子探头、无损探头、磁力计及漏磁检测仪
CN219224572U (zh) 便携式libs系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant