CN112346147A - 一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法,通过处理测井数据得到电阻率曲线、补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线,获取目标储层的电阻率、中子孔隙度、密度孔隙度值,计算得到视地层水电阻率数值,用中子孔隙度与密度孔隙度之差表征泥质含量,并将其与表征地层含油特性的视地层水电阻率Rwa数据构建交会图,并根据地层特性划分储层评价图版。提出的中子‑密度孔隙度差结合视地层水电阻率法,提高了储层分类精度,减少了以往储层评价工作中,是用人工确定参数导致的评价尺度不均问题。本方法仅使用常规测井曲线,且设计参数较为简单,能快速准确地进行储层评价。
Description
技术领域:
本发明涉及一种地球物理测井方法,尤其是改进视地层水电阻率法,利用电阻率测井资料,补偿中子孔隙度测井资料及补偿密度孔隙度测井资料等多种测井资料结合,从而对储层进行高效准确评价的方法。
背景技术:
目前,在储层评价方面,比较常用的方法是视地层水电阻率法(《新疆石油天然气》,2006年第2卷第3期,《视地层水电阻率法在测井解释中的应用》),该方法利用Ariche公式计算得到视地层水电阻率,并用视地层水电阻率来求取储层含油气饱和度,并通过视地层水电阻率-孔隙度交会图,对储层的含油气性进行评价。
视地层水电阻率法为测井定量解释提供了依据:如果岩层含油时,仍能保持地层孔隙空间大小及分布结构不变,这时孔隙空间中就不完全是地层水,而是油和水的混合体,我们将这种油和水混合体的电阻率定义为视地层水电阻率,可以认为岩层含油之后电阻率升高是由于油和水混合体电阻率的升高引起的,因此我们可根据视地层水电阻率的相对大小对储层的含油气性进行定量评价。
视地层水电阻率法进行储层分类时,仅仅利用了视地层水电阻率及孔隙度,虽然可以对中高孔渗储层的流体性质进行判断,但是没有考虑泥质含量,导致对低孔低渗储层判断出现失误。同时,视地层水电阻率法对于孔隙度的精度要求十分高,需要使用声波时差和补偿密度分别计算,进而消除由于孔隙度计算误差对解释结果的影响。最后,视地层水电阻率法只能对于储层类型进行分类,并不能有效地进行储层评价。
发明内容:
本发明的目的就是针对上述现有技术的不足,提供一种改进视地层水电阻率法的高效、准确的基于中子密度孔隙度差的储层评价方法。
本发明的思想是:中子孔隙度的测量本质是测量地层中的含氢量,当地层中存在泥质时,因为黏土矿物的吸附特性,所以存在束缚水。,因此中子孔隙度的结果中也包含了泥质束缚水的含量。与此同时,密度孔隙度能够准确反映地层孔隙度。因此,中子孔隙度与密度孔隙度的差可以准确的反映泥质含量。通过两种孔隙度求差结合视地层水电阻率法,可以在提高表征地层含油特性精度的同时,准确地进行储层评价,该方法既适用于常规储层评价,又适用于低孔低渗复杂储层评价。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
首先通过处理测井数据得到电阻率曲线、补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线,然后获取目标储层的电阻率、中子孔隙度、密度孔隙度值,使用阿尔奇公式计算得到视地层水电阻率数值,并用中子孔隙度与密度孔隙度之差表征泥质含量,并将其与表征地层含油特性的视地层水电阻率Rwa数据构建相关性,可以快速准确地进行储层评价。
一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法,包括以下步骤:
a、安装CIFLog测井解释平台,要求采用CIFLog 2.1及以上版本,并且已配备JAVA运行环境及VC运行环境;
b、收集符合标准的常规测井资料及录井资料,进行资料预处理,包括深度校正、平滑滤波、井眼校正;
c、计算并绘制电阻率曲线,补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线;
d、对目标储层的深度进行屏幕取值,记录对应储层深度的电阻率,密度及中子孔隙度;
e、利用补偿密度孔隙度资料计算出密度孔隙度,计算公式为:
ФDEN=(2.65-ρ)÷1.65×100% (1)
式中ФDEN为密度孔隙度,单位为%;ρ为密度测井所测密度值,单位为g/cm3;
f、将中子孔隙度值与密度孔隙度值求差,获得密度-中子孔隙度差。计算公
式为:
Ф=ФCNL-ФDEN (2)
式中Ф为中子-密度孔隙度差,单位为%;ФCNL为中子孔隙度,单位为
%,如中子孔隙度测井资料单位为1,则将其单位转化为%后进行计算;
g、计算目标储层视地层水电阻率数值,计算公式为:
h、将计算得到的中子—密度孔隙度差及视地层水电阻率进行交会处理,绘制视地层水电阻率—中子—密度孔隙度差交会图。
i、根据图版对交会图中对应储层进行评价,具体评价标准根据地层类型有所区分。
有益效果:本发明通过中子-密度孔隙度差结合视地层水电阻率法,提高了储层分类精度,并可进一步对储层进行评价,形成了一种快速准确的地层评价方法。
有以下优点:1.用束缚水含量表征地层中黏土矿物的含量,进一步反应了泥质含量,并通过补偿中子测井孔隙度与补偿密度孔隙度数值,求取得到中子-密度孔隙度差用以反应泥质含量。2.本发明提出的中子-密度孔隙度差结合视地层水电阻率法,提高了储层分类精度,并可进一步对储层进行评价,减少了以往储层评价工作中,用人工确定参数导致的评价尺度不均问题。3.本方法仅使用常规测井曲线,且设计参数较为简单,可以做到快速高效地评价储层。
附图说明:
图1为基于中子密度孔隙度差的储层评价方法的流程图。
图2为视地层水电阻率-中子密度孔隙度差交会图版。
具体实施方式:
下面结合附图和实例对本发明进行进一步的详细说明。
a、在Windos7或Windos10系统下安装CIFLog测井解释平台,要求采用CIFLog 2.1及以上版本,并且已配备JAVA运行环境(要求采用8.0.1440.1及以上版本)及VC运行环境(要求采用12.0.21005.1及以上版本);
b、收集符合标准的常规测井资料及录井资料,再进行资料预处理,包括深度校正、平滑滤波、井眼校正。对电阻率曲线、补偿中子孔隙度测井曲线及补偿密度孔隙度测井曲线进行归一化处理,降低采用不同测井系列对同一区块地层进行测量所造成的误差。;
c、计算并绘制电阻率曲线,补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线;
d、对多个目标储层的对应的深度段分别进行屏幕取值,记录对应储层深度的电阻率,密度及中子孔隙度;
e、利用补偿密度孔隙度资料计算出密度孔隙度。在CIFLog软件中编制以
下列公式计算密度孔隙度的程序,计算公式为:
ФDEN=(2.65-ρ)÷1.65×100% (1)
式中ФDEN为密度孔隙度,单位为%;ρ为密度测井所测密度值,单位为g/cm3。
f、将中子孔隙度值与密度孔隙度值求差,获得密度-中子孔隙度差。计算公
式为:
Ф=ФCNL-ФDEN (2)
式中Ф为中子-密度孔隙度差,单位为%;ФCNL为中子孔隙度,单位为%,如中子孔隙度测井资料单位为1,则将其单位转化为%后进行计算。
g、计算目标储层视地层水电阻率数值。计算公式为:
h、在CIFLog中,将计算得到的中子-密度孔隙度差及视地层水电阻率进行交会处理,绘制视地层水电阻率-中子-密度孔隙度差交会图。
i、根据图版对交会图中对应储层进行评价,具体评价标准根据地层类型有所区分。
实施例1:
本发明在国内某砂砾岩储层应用实例,如图2所示。图中四个关键点及其坐标分别是A(4.2,0.39),B(10.6,0.05),C(9.6,0),D(12,0)。图中,Ⅰ所示区域对应Ⅰ类储层,Ⅱ所示区域对应Ⅱ类储层,Ⅲ所示区域对应Ⅲ类储层,其他区域为无效储层。
该储层利用视地层水电阻率法进行分类,虽然可以大致划分储层的含油气性,但是无法做到精确的储层评价。
利用本方法并结合实际生产资料可以较为清楚地看到,中子-密度孔隙度差低于10.6%的区间,图版很好地区分了油层及水层干层,而在视地层水电阻率为0.05Ω·m附近,准确定位了含油水层。又通过中子-密度孔隙度的范围,准确界定了Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ类储层,可见本发明使用的基于中子密度孔隙度差的储层评价方法,准确度高,总体效果明显好于视地层水电阻率法。
Claims (1)
1.一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法,其特征在于,包括以下步骤:
a、安装CIFLog测井解释平台,要求采用CIFLog 2.1及以上版本,并且已配备JAVA运行环境及VC运行环境;
b、收集符合标准的常规测井资料及录井资料,进行资料预处理,包括深度校正、平滑滤波、井眼校正;
c、计算并绘制电阻率曲线,补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线;
d、对目标储层的深度进行屏幕取值,记录对应储层深度的电阻率,密度及中子孔隙度;
e、利用补偿密度孔隙度资料计算出密度孔隙度,计算公式为:
ФDEN=(2.65-ρ)÷1.65×100% (1)
式中ФDEN为密度孔隙度,单位为%;ρ为密度测井所测密度值,单位为g/cm3;
f、将中子孔隙度值与密度孔隙度值求差,获得密度-中子孔隙度差,计算公式为:
Ф=ФCNL-ФDEN (2)
式中Ф为中子-密度孔隙度差,单位为%;ФCNL为中子孔隙度,单位为%,如中子孔隙度测井资料单位为1,则将其单位转化为%后进行计算;
g、计算目标储层视地层水电阻率数值,计算公式为:
h、将计算得到的中子—密度孔隙度差及视地层水电阻率进行交会处理,绘制视地层水电阻率—中子—密度孔隙度差交会图;
i、根据图版对交会图中对应储层进行评价,具体评价标准根据地层类型进行区分。
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