CN112326697A - 密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法 - Google Patents

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CN112326697A CN202011179705.6A CN202011179705A CN112326697A CN 112326697 A CN112326697 A CN 112326697A CN 202011179705 A CN202011179705 A CN 202011179705A CN 112326697 A CN112326697 A CN 112326697A
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Abstract

本发明公开了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法，所述密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统包括工作台、轨道和检测组件，设有密封间隙的密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上，轨道设在工作台上，且轨道的至少部分为圆弧形，轨道的圆弧部分所在的圆心位于密封装置的中心线上，检测组件可移动地设在轨道上且包括X射线仪和成像仪，X射线仪和成像仪彼此相对地设在密封装置在第一方向上的两侧，X射线仪发射的X光至少部分可穿过密封间隙并在成像仪上成像，第一方向正交于密封装置的纵截面。本发明实施例的检测系统可以检测任何工作状态下密封间隙内磁性液体的分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。

Description

密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和方法
技术领域
本发明涉及磁性液体密封的技术领域，更具体地，涉及一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统和密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法。
背景技术
磁性液体在工程领域有着广泛的应用，其中，旋转密封是磁性液体的众多应用之一。和传统密封技术相比，磁性液体旋转密封具有零泄漏、可靠性高、磨损低、寿命长等优点。
相关技术中，对于不同工作状态下的密封件内的磁性液体的分布状态，缺少一种有效的检测方法，无法在工作状态下观测磁性液体的密封情况，无法避免危险情况的发生。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的一方面的实施例提出了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，该检测系统可以检测任何工作状态下密封装置内磁性液体的分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
本发明的另一方面的实施例提出了一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法。
根据本发明的第一方面实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述密封装置具有沿其长度方向的中心线，所述检测系统包括：工作台，所述密封装置绕其中心线可转动地设在所述工作台上；轨道，所述轨道设在所述工作台上，且所述轨道的至少部分为圆弧形，所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上；检测组件，所述检测组件可移动地设在所述轨道上且包括X射线仪和成像仪，所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面。
根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，通过在密封装置的外周设置轨道，并将X射线仪和成像仪可移动地设在轨道上，且X射线仪和成像仪彼此相对地位于密封装置在第一方向上的两侧，利用X射线仪发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪上会得到图像，根据该图像即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
在一些实施例中，所述轨道为圆形。
在一些实施例中，所述轨道包括第一轨道和第二轨道，所述第一轨道的圆心和所述第二轨道的圆心重合，所述成像仪设在所述第一轨道上，所述X射线仪设在所述第二轨道上。
在一些实施例中，所述X射线仪包括X射线源和准直器，所述X射线源、所述准直器和所述密封装置沿所述第一方向依次布置，所述准直器接收所述X射线源发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿所述第一方向延伸的X光，以便沿所述第一方向延伸的X光可穿过所述密封间隙。
在一些实施例中，所述成像仪包括X光滤线器和成像板，所述X光滤线器具有第一侧面，所述成像板具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面均垂直于所述第一方向，沿所述第一方向延伸的X光依次穿过所述密封间隙和所述X光滤线器后在所述成像板上成像。
在一些实施例中，所述检测组件沿所述密封装置的长度方向可升降地设在所述轨道上。
在一些实施例中，所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统还包括数据处理器，所述数据处理器和所述成像仪相连，所述成像仪将其获得的图像数据传输到所述数据处理器，所述数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
根据本发明的第二方面实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述密封装置具有沿其长度方向的中心线，所述检测方法包括：
将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上；
将轨道设在所述工作台上，所述轨道的至少部分为圆弧形，所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上；
将X射线仪和成像仪可移动地设在所述轨道上，且所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到图像数据；
通过数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，通过在密封装置的外周设置轨道，并将X射线仪和成像仪可移动地设在轨道上，且X射线仪和成像仪彼此相对地位于密封装置在第一方向上的两侧，利用X射线仪发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪上会得到图像，根据该图像即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
在一些实施例中，所述X射线仪沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上，所述X射线仪相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动，所述密封间隙位于所述第一位置和所述第二位置之间。
在一些实施例中，在将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上之前，所述密封装置静止设置，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到初始数据，通过所述数据处理器对所述初始数据进行处理并输出处理结果。
附图说明
图1是根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统的立体图。
图2是根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统的俯视图。
图3是根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统的正视图。
图4是本发明中密封装置的剖视图。
图5是图4中A的局部放大示意图。
附图标记：
检测系统100，工作台1，轨道2，第一轨道21，第二轨道22，检测组件3，X射线仪31,X射线源32，准直器33，成像仪34，X光滤线器35，成像板36，第一升降件37，第二升降件38，数据处理器4，
密封装置200，密封间隙201，转轴202，极靴203。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
如图1-图5所示，根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统100包括工作台1、轨道2和检测组件3。
密封间隙201设在密封装置200内，密封间隙201内适于填充有磁性液体，密封装置200具有沿其长度方向(如图1所示的上下方向)的中心线。如图1所示，密封装置200包括转轴202和极靴203，极靴203套设在转轴202上，极靴203与转轴202之间的间隙即为密封间隙201，转轴202的轴向即为图1中所示的上下方向，转轴202的轴线即密封装置200的中心线，转轴202可绕其轴向自由旋转。
密封装置200绕其中心线可转动地设在工作台1上。如图3所示，工作台1包括上侧面，工作台1的上侧面正交于上下方向，密封装置200设在工作台1的上侧面上，转轴202的轴线垂直于工作台1的上侧面。
轨道2设在工作台1上，且轨道2的至少部分为圆弧形，轨道2的圆弧部分所在的圆心位于密封装置200的中心线上。如图2所示，轨道2设在工作台1的上侧面上，轨道2位于密封装置200的外周面的外侧，轨道2的至少部分为圆弧形，轨道2的圆弧部分所在的圆心位于密封装置200的中心线上。
检测组件3可移动地设在轨道2上，且检测组件3包括X射线仪31和成像仪34。X射线仪31和成像仪34彼此相对地设在密封装置200在第一方向(如图1所示的左右方向)上的两侧，X射线仪31发射的X光至少部分可穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，第一方向正交于密封装置200的纵截面。
如图1-图3所示，X射线仪31设在密封装置200的左侧，成像仪34设在密封装置200的右侧，在左右方向上X射线仪31和成像仪34彼此相对。X射线仪31发射的X光可穿过密封间隙201并在成像仪34上成像。
根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，通过在密封装置的外周设置轨道，并将X射线仪和成像仪可移动地设在轨道上，且X射线仪和成像仪彼此相对地位于密封装置在第一方向上的两侧，利用X射线仪发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪上会得到图像，根据该图像即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
在一些实施例中，轨道2为圆形。
如图2所示，轨道2为圆形，X射线仪31和成像仪34可移动地设在轨道2上，即X射线仪31和成像仪34可绕密封装置200的中心线进行旋转。由此，当X射线仪31和成像仪34进行移动时，保证X射线仪31和成像仪34之间的距离不变，保证X射线仪31和密封装置200的中心线之间的距离不变，保证成像仪34和密封装置200的中心线之间的距离不变。
在一些实施例中，轨道2包括第一轨道21和第二轨道22，第一轨道21的圆心和第二轨道22的圆心重合，成像仪34设在第一轨道21上，X射线仪31设在第二轨道22上。
如图2所示，第一轨道21和第二轨道22均为圆形轨道，第一轨道21的直径小于第二轨道22的直径，第一轨道21的圆心和第二轨道22的圆心重合。成像仪34设在第一轨道21上，X射线仪31设在第二轨道22上。
在一些实施例中，X射线仪31包括X射线源32和准直器33，X射线源32、准直器33和密封装置沿第一方向依次布置，准直器33接收X射线源32发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿第一方向延伸的X光，以便沿第一方向延伸的X光可穿过密封间隙。
如图1所示，X射线源32向右开口，X射线源32启动时，X射线源32发射出呈圆锥状延伸的X光。准直器33具有相对设置的左端面和右端面，准直器33的左端面设在X射线源32的右侧且邻近X射线源32，准直器33的左端面接收X射线源32发射的沿不同方向延伸的X光。准直器33可以将沿不同方向延伸的X光约束为沿左右方向延伸的X光且沿左右方向延伸的X光可从准直器33的右端面射出，射出的沿左右方向延伸的X光穿过密封间隙201后在成像仪34上成像。
在一些实施例中，成像仪34包括X光滤线器35和成像板36，X光滤线器35具有第一侧面(如图1中X光滤线器35的左侧面)，成像板36具有第二侧面(如图1中成像板36的左侧面)。第一侧面和第二侧面均垂直于第一方向，沿第一方向延伸的X光依次穿过密封间隙201和X光滤线器35后在成像板36上成像。
如图1所示，X光滤线器35设在密封装置200的右侧，X光滤线器35的左侧面垂直于左右方向。对于X光滤线器35来说，只有垂直于X光滤线器35的左侧面射入的X光才能够从X光滤线器35的右侧面射出，成像板36的左侧面垂直于左右方向，沿左右方向延伸的X光依次穿过密封间隙201和X光滤线器35后在成像板36上成像。由此，本发明实施例的检测系统100可以通过X光滤线器35可以过滤掉不是沿左右方向延伸的X光，使得X光在成像板36上成像不会相互干扰，成像效果更好。
在一些实施例中，检测组件3沿密封装置200的长度方向(如图3中所示的上下方向)可升降地设在轨道2上。
如图2和图3所示，检测组件3还包括第一升降件37和第二升降件38。第一升降件37可升降地设在第二轨道22上，第一升降件37的上端和X射线仪31相连，第一升降件37带动X射线仪31沿上下方向进行移动。第二升降件38可升降地设在第一轨道21上，第二升降件38的上端和成像仪34相连，第二升降件38带动成像仪34沿上下方向进行移动。由此，在上下方向上当X射线仪31发出的X光无法完全覆盖密封间隙201时，X射线仪31可沿上下方向移动，以使X射线仪31发出的X光完全覆盖密封间隙201，当X射线仪31沿上下方向移动时。可沿上下方向同时移动成像仪34。
在一些实施例中，密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统100还包括数据处理器4，数据处理器4和成像仪34相连，成像仪34将其获得的图像数据传输到数据处理器4，数据处理器4对图像数据进行处理并输出处理结果。
如图1所示，成像仪34可连续地获得多个图像数据，数据处理器4和成像仪34数据联通，数据处理器4内具有数据处理模块，数据处理器4可对多个图像数据进行处理，并输出多个图像数据的处理结果，根据该处理结果即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。优选地，数据处理器4为计算机。
下面参考附图1-5描述根据本发明的一些具体示例性的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统。
如图1-5所示，根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统100包括工作台1、轨道2、检测组件3和数据处理器4。
密封装置200包括转轴202和极靴203，极靴203套设在转轴202上，极靴203与转轴202之间的间隙即为密封间隙201，转轴202的轴向即为图1中所示的上下方向，转轴202可绕其轴向自由旋转。
工作台1水平设置，工作台1的上侧面正交于上下方向，密封装置200设在工作台1的上侧面上，转轴202的轴线垂直于工作台1的上侧面。
轨道2设在工作台1上，轨道2包括第一轨道21和第二轨道22，第一轨道21和第二轨道22均为圆形轨道，第一轨道21的直径小于第二轨道22的直径，第一轨道21的圆心和第二轨道22的圆心重合，且轨道2的圆心位于转轴202的轴线上。
检测组件3包括X射线仪31、成像仪34、第一升降件37和第二升降件38。
成像仪34通过第二升降件38可升降地设在第一轨道21上，X射线仪31通过第一升降件37可升降地设在第二轨道22上。在左右方向上X射线仪31和成像仪34彼此相对。
X射线仪31包括X射线源32和准直器33，X射线源32向右开口，X射线源32启动时，X射线源32发射出呈圆锥状延伸的X光。准直器33具有相对设置的左端面和右端面，准直器33的左端面设在X射线源32的右侧且邻近X射线源32，准直器33的左端面接收X射线源32发射的沿不同方向延伸的X光。准直器33可以将沿不同方向延伸的X光约束为沿左右方向延伸的X光且沿左右方向延伸的X光可从准直器33的右端面射出，射出的沿左右方向延伸的X光穿过密封间隙201后在成像仪34上成像。
成像仪34包括X光滤线器35和成像板36，X光滤线器35设在密封装置200的右侧，X光滤线器35的左侧面垂直于左右方向。对于X光滤线器35来说，只有垂直于X光滤线器35的左侧面射入的X光才能够从X光滤线器35的右侧面射出，成像板36的左侧面垂直于左右方向，沿左右方向延伸的X光依次穿过密封间隙201和X光滤线器35后在成像板36上成像。
数据处理器4和成像仪34数据联通，数据处理器4内具有数据处理模块，数据处理器4可对多个图像数据进行处理，并输出多个图像数据的处理结果。
如图1-图5所示，根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，密封间隙201设在密封装置200内，密封间隙201内适于填充有磁性液体，密封装置200具有沿其长度方向(如图1中的上下方向)的中心线，检测方法包括：
将密封装置200绕其中心线可转动地设在工作台1上。如图1-图3所示，密封装置200包括转轴202和极靴203，极靴203套设在转轴202上，极靴203与转轴202之间的间隙即为密封间隙201，转轴202的轴向(如图2中所示的上下方向)垂直于工作台1的上表面，转轴202可绕其轴向自由旋转。
将轨道2设在工作台1上，轨道2的至少部分为圆弧形，轨道2的圆弧部分所在的圆心位于密封装置200的中心线上。如图2-图3所示，轨道2设在工作台1上，轨道2包括第一轨道21和第二轨道22，第一轨道21和第二轨道22均为圆形轨道，第一轨道21的直径小于第二轨道22的直径，第一轨道21的圆心和第二轨道22的圆心重合，且轨道2的圆心位于转轴202的轴线上。
将X射线仪31和成像仪34可移动地设在轨道2上，且X射线仪31和成像仪34彼此相对地设在密封装置200在第一方向(如图1中的左右方向)上的两侧，第一方向正交于密封装置200的纵截面。
如图1所示，X射线仪31可移动地设在第二轨道22上，成像仪34可移动地设在第一轨道21，且X射线仪31和成像仪34彼此相对地位于密封装置200的两侧。
启动X射线仪31和成像仪34，X射线仪31发射的X光至少部分可穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，得到图像数据，通过数据处理器对图像数据进行处理并输出处理结果。如图1所示，数据处理器4为计算机，数据处理器4和成像仪34数据联通，成像仪34将多个图像数据传输到数据处理器4，数据处理器4对多个图像数据进行处理并输出处理结果。
根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，通过在密封装置的外周设置轨道，并将X射线仪31和成像仪34可移动地设在轨道上，且X射线仪31和成像仪34彼此相对地位于密封装置在第一方向上的两侧，利用X射线仪31发射的X光在穿过不同材质的物体时的衰减程度不同，X射线仪31发射的X光在穿过密封装置中的密封间隙后在成像仪34上会得到图像，根据该图像即可获得密封间隙内磁性液体分布状态，便于了解磁性液体的密封情况，避免危险情况发生。
在一些实施例中，X射线仪31沿密封装置200的长度方向(如图3中的上下方向)可移动地设在工作台1上，X射线仪31相对于密封装置200在第一位置和第二位置之间可移动，密封间隙201位于第一位置和第二位置之间。
如图2所示，检测组件3还包括第一升降件31，第一升降件37的下端可移动地设在第二轨道22上，第一升降件37的上端和X射线仪31相连，由此，X射线仪31可沿上下方向进行移动。在第一位置时，准直器33的下端与密封装置200的下端处于同一水平线上，在第二位置时，准直器33的上端与密封装置200的上端处于同一水平线上，由此，从准直器33的右端面射出的X光可覆盖密封间隙201。
在一些实施例中，在将密封装置200绕其中心线可转动地设在工作台1上之前，密封装置200静止设置，启动X射线仪31和成像仪34，X射线仪31发射的X光至少部分可穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，得到初始数据，通过数据处理器4对初始数据进行处理并输出处理结果。
如图1-图3所示，密封装置200静止地设在工作台1上，启动X射线仪31和成像仪34，X射线仪31发射的X光穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，得到初始数据，通过数据处理器4对初始数据进行处理并输出处理结果。
根据本发明实施例的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法的具体实施过程如下：
其中，密封装置200的外壳由铝制成，X光可穿透密封装置200的外壳，X光穿过磁性液体后会在成像仪34上留下黑影，可通过该黑影的位置判断目前密封间隙201内磁性液体的分布状态。
具体地，因为密封装置200的外壳材料为密度比较小的铝合金，所以在成像仪34上得到的图像中，密封装置200的外壳最终显现出的像深度较深。
密封装置200内部的空气部分密度最小，所以空气部分最终显现出的像深度最深(为黑色)。
转轴202的材料为不导磁的钢，密度较大，因此转轴202最终显现出的像深度较亮(为白色)。
极靴203的材料为2Cr13等不锈钢导磁材料，密度也较大，极靴203与转轴202密度相似，因此极靴203最终显现出的像深度较亮(为白色)。
磁性液体密度较小，但其密度也远大于空气的密度，所以磁性液体最终显现出的像深度较深，但比空气部分成像的颜色要亮。
综上所述，若在密封间隙201内某处看到的颜色与外界空气颜色一致，则说明此处已无磁性液体存在，密封失效。若在密封间隙内某处看到的颜色相较于外界空气的显色更亮一些，则说明此处尚有磁性液体存在，密封依然有效。
首先，密封装置200未启动时，即转轴202未旋转时，启动X射线仪31和成像仪34，X射线仪31发射的X光穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，得到初始数据，通过数据处理器4对初始数据进行处理并输出处理结果，记录为密封间隙201内磁性液体初始分布状态。
旋转转轴202，使密封装置200启动，此时，磁性液体处于工作状态，启动X射线仪31和成像仪34，X射线仪31发射的X光穿过密封间隙201并在成像仪34上成像，得到工作状态下的图像数据，通过数据处理器4对该图像数据进行处理并输出处理结果，记录为密封间隙201内磁性液体工作分布状态。
根据处理结果，若极靴203的某极齿处存在磁性液体，则通过系统该极齿处的X光将在成像仪34上留下黑影，该极齿处密封未失效。若某极齿处不存在磁性液体，则通过该极齿处的X光将不会在成像仪34上留下黑影，磁性液体密封失效。
其中，X射线仪31和成像仪34即可绕转轴202的轴线进行旋转，X射线仪31和成像仪34也可沿上下方向进行移动。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体状态理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本发明中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的状态下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述密封装置具有沿其长度方向的中心线，其特征在于，所述检测系统包括：
工作台，所述密封装置绕其中心线可转动地设在所述工作台上；
轨道，所述轨道设在所述工作台上，且所述轨道的至少部分为圆弧形，所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上；
检测组件，所述检测组件可移动地设在所述轨道上且包括X射线仪和成像仪，所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面。
2.根据权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述轨道为圆形。
3.根据权利要求2所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述轨道包括第一轨道和第二轨道，所述第一轨道的圆心和所述第二轨道的圆心重合，所述成像仪设在所述第一轨道上，所述X射线仪设在所述第二轨道上。
4.根据权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述X射线仪包括X射线源和准直器，所述X射线源、所述准直器和所述密封装置沿所述第一方向依次布置，所述准直器接收所述X射线源发射的沿不同方向延伸的X光并将沿不同方向延伸的X光约束为沿所述第一方向延伸的X光，以便沿所述第一方向延伸的X光可穿过所述密封间隙。
5.根据权利要求4所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述成像仪包括X光滤线器和成像板，所述X光滤线器具有第一侧面，所述成像板具有第二侧面，所述第一侧面和所述第二侧面均垂直于所述第一方向，沿所述第一方向延伸的X光依次穿过所述密封间隙和所述X光滤线器后在所述成像板上成像。
6.根据权利要求1所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，所述检测组件沿所述密封装置的长度方向可升降地设在所述轨道上。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测系统，其特征在于，还包括数据处理器，所述数据处理器和所述成像仪相连，所述成像仪将其获得的图像数据传输到所述数据处理器，所述数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
8.一种密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，所述密封间隙设在密封装置内，所述密封间隙内适于填充有磁性液体，所述密封装置具有沿其长度方向的中心线，其特征在于，所述检测方法包括：
将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上；
将轨道设在所述工作台上，所述轨道的至少部分为圆弧形，所述轨道的圆弧部分所在的圆心位于所述密封装置的中心线上；
将X射线仪和成像仪可移动地设在所述轨道上，且所述X射线仪和所述成像仪彼此相对地设在所述密封装置在第一方向上的两侧，所述第一方向正交于所述密封装置的纵截面，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到图像数据；
通过数据处理器对所述图像数据进行处理并输出处理结果。
9.根据权利要求8所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，其特征在于，所述X射线仪沿所述密封装置的长度方向可移动地设在所述工作台上，所述X射线仪相对于所述密封装置在第一位置和第二位置之间可移动，所述密封间隙位于所述第一位置和所述第二位置之间。
10.根据权利要求8所述的密封间隙内磁性液体分布状态的检测方法，其特征在于，在将所述密封装置绕其中心线可转动地设在工作台上之前，所述密封装置静止设置，启动所述X射线仪和所述成像仪，所述X射线仪发射的X光至少部分可穿过所述密封间隙并在所述成像仪上成像，得到初始数据，通过所述数据处理器对所述初始数据进行处理并输出处理结果。
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