CN112311471B - 一种等光程差处理方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种等光程差处理方法和装置，其中，所述方法包括：将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。本发明公开的等光程差处理方法，能够准确地测试出I路光纤与Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对较长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等。

Description

一种等光程差处理方法和装置

技术领域

本发明属于通信技术领域，尤其涉及一种等光程差处理方法和装置。

背景技术

激光BPSK(Binary Phase Shift Keying，二进制相移键控)相干解调通信系统中，相干解调模块框图如图1所示。光混频器是相干解调模块的核心部件，它的功能是将偏振方向一致、频率相近或相同的本振光与信号光进行混合，以得到信号光相位信息的一种光无源器件。一路光信号与本振光信号从光混频器进入，采用移相法进行光信号解调，光混频器输出两组I、Q路光信号，Q路信号是将光信号进行相移90°，要求到达平衡探测器4路光信号I1、I2为差分信号两路相差180°，Q1、Q2为差分信号两路相差180°，I路与Q路相差90°，光混频器输出的光信号经过两路探测器，探测器将光功率检波转换为光电流，到达接收机。为了达到精确的相位差，需要4路光信号从光混频器到探测器的光纤等长。而相干解调模块系统性能直接影响接收机灵敏度，因此为确保接收机灵敏度，需要4路光信号从光混频器到探测器的光纤等长。

要实现高精度等光程差的I、Q路达到相位相差90°，需要使I路与Q路光信号从混频器到探测器的光纤等长熔接。实际生产中由于光纤较细，直接通过人工比对四路光纤长度直接熔接，整个链路会产生以下误差：人工比对长度误差、熔接本身的长度误差、器件内部光纤长度误差，造成两组之间的长度有7～8mm的误差，灵敏度下降不满足要求。

目前所采用的等长测试的方法，主要是矢量网络分析仪进行直接连接、交叉连接方法测试，测试方法包括如下步骤：

步骤一：按照图2连接测试系统，首先按照直接连接(实线)的方式进行连接；

步骤二：设置矢量网络分析仪的输入端口设置；

步骤三：设置被测模块的正向偏置电压和反向偏置电压；

步骤四：调节光源输出功率；

步骤五：设置矢量网络分析仪的输出端口设置；

步骤六：从矢量网络分析仪测出被测模块的频率响应曲线1，如图3所示；

步骤七：按照图2交叉连接(虚线)的方式进行连接；

步骤八：从矢量网络分析仪测出被测模块的频率响应曲线2，如图3所示；

步骤九：分别测量两次曲线的自由光谱范围为△F1和△F2；

步骤十：通过公式计算出被测模块的通道时延。

上述直接、交叉连接测试的方法适用于两路信号的连接可以进行互相交换时的测量方法。但是对于光通信中光器件通过光纤熔接的方法进行互联，熔接后光纤的熔接点就不能断开，不能进行交叉连接测试。若断开后交叉再熔接测试，光纤的长度就发生变化没有基准点，因此，不能按照上述直接、交叉连接后测试，只能通过新的测量方法进行测试。

发明内容

本发明要解决的技术问题为：提供一种有效地确保光混频器到探测器的各路光纤等长的方法。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种等光程差处理方法，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其中，所述方法包括：

将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

优选的，将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接的步骤，包括：

将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；

将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

优选的，所述采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差的步骤，包括：

采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速。

优选的，所述采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值的步骤，包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

优选的，所述依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接的步骤，包括：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

本发明实施例又公开了一种等光程差处理装置，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其中，所述等光程差处理装置包括：

第一熔接模块，用于将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

测量模块，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

第二熔接模块，用于依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

优选的，所述第一熔接模块包括：

第一裁剪子模块，用于将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

第二裁剪子模块，用于将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

处理子模块，用于将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

优选的，所述测量模块包括：

第一子模块，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

第二子模块，用于将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速。

优选的，所述第一子模块具体用于包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

优选的，所述第二熔接模块具体用于：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

本申请实施例提供的等光程差处理方法，将光混频器的四根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤和第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的光程差；依据光程差对两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接。由于光信号频率很高，使用矢量网络分析仪不能分辨出频段范围，本申请实施例中将测试仪器更改为示波器进行直接连接测试，能够准确地测试出I路光纤与Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对较长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等，达到Q路光纤与I路光纤等光程差的目的。

附图说明

图1为相干解调模块框图；

图2为交换法测试相位差框图；

图3为通道延时测试结果示意图；

图4本发明实施例的一种等光程差处理方法的步骤流程图；

图5为通道延时影响曲线；

图6为本发明实施例的一种等光程差处理装置的结构框图。

具体实施方式

下面根据具体的实施例，结合附图针对本发明进行详细说明。应当理解，此处所述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明中通过对相干光解调的原理进行研究，依据研究结果进行等光程差处理。

光混频器将本振光信号进行90°光相移，从而实现对接收信号的正交解调，本振光在90°相移时的分光比为1/2，信号光的分光比为1/2，平衡输出时分光比皆为1:1。探测器将光功率检波转换为光电流，定义探测器响应度参数R为1，定义接收光差损系数为α＝0.794(差损为1db)，本振光差损系数为β＝0.794(差损为1db)，探测器的输出为：

其中P_s为接收光功率，P_LO为本振光功率，N_sI为散粒噪声，N_t为热噪声，θ_sig(t)＝2πf_LOt+Ф为为信号光相位，θ_LO(t)＝2πf_LOt+Ф为本振光相位，

其中设

对

进行归一化

I_I1＝A₀+sin[2πf(t)]……(7)

同样，I_I2＝A₀+sin[2πf(t)+π]……(8)

引入光程差，I_I2＝A₀+sin[2πf(t+δt)+π]……(9)

从上式可以看出，由于I、Q路光纤路径有差别，两路光路之间存在光程差。为了使两路相位保持一致，必须要求两路光纤等长。

考虑极端情况，对于25GHz探测器来说，取其极端频率25GHz做分析。假设探测器的正端输入为I₁＝A₀+sin(2πft)；负端输入为I₂＝A₀+sin[2πf(t+δt)+π]，假设平衡探测器的CMRR(Common Mode Rejection Ratio，共模抑制比)为无穷大，则探测器输出为I＝I₁–I₂＝2sin[2πf(t+δt/2)]cos(πfδt)。从而探测器输出幅度为2cos(πfδt)。因此，从上式可以看出，探测器实际输出幅度与δt相关。由于cos函数为偶函数，δt产生的正负延迟均会影响输出幅度。如图5所示，在25GHz时，当δt为1ps时，由于通道延迟引入的损失为0.12dB，当δt为2ps时，损失为0.25dB，当δt为5ps时，损失为1.6dB，当δt为10ps时(10ps对应2mm，也就是说通信速率在25GHz时，2mm不等长造成的损失为3dB，对于导航来说，通信速率在1GHz,要求不等长可以放宽到2mm～5mm)，损失为3dB。考虑25GHz探测器的带宽性能(25GHz时3dB损失)，通道延迟引入的附加损失在0.1dB以下较为合适。如果进一步放宽通道延时，其实际平衡3dB带宽将受到影响。

从上述分析可以看出，为了达到光程差小于10ps的技术要求，要求光混频器两路输出光纤与探测器两路输入光程差严格等长，误差精度控制在±2mm以内。

由于光信号频率很高，使用矢量网络分析仪不能分辨出频段范围，本申请实施例中将测试仪器更改为示波器，进行直接连接测试，相位差方法为通过示波器测量不同频率下拍频信号0°和90°相位差。

相位差如下式所示：

△θ＝bias-2×f×△L×180/C (10)

式中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差(近似认为小于10MHz时的相位差)，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速。I、Q差分通道相位差与光程差和载波频率相关，当光程差确定时，相位差随载波频率变化，通过测量多个载波频率下相位差可以估算出两路的光程差，精度达到0.2mm。

将探测器I路两路、Q路两路、I与Q路分别三次连接示波器两通道，设置示波器计算两通道相位差。调整本振激光器工作温度，将本振光和信号光拍频信号频率调整到10MHz，记录两通道相位差平均值；依次调整拍频信号频率如100MHz、200MHz、500MHz、1GHz，分别记录相位差平均值，通过公式(10)可以计算光程差ΔL。

依据估计的测试结果，重新将长的一路光纤从熔点处断开进行重新熔接，达到高精度的相位差，实现光纤通道间的延迟同步，延迟小于10ps，保证接收光信号的幅度、相位一致，提高系统的接收灵敏度。

基于上述研究结果，设计的等光程差处理方法步骤流程如图4所示。

本发明实施例的等光程差处理方法包括以下步骤：

步骤101：将光混频器的四根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤和第二探测器的两根Q路光纤熔接。

本发明实施例提供的等光程差处理方法，应用于相干解调模块，如图1所示，相干解调模块包括：光混频器、第一探测器即探测器1和第二探测器即探测器2。

光混频器与第一探测器之间待熔接两根I路光纤，光混频器与第二探测器之间待熔接两根Q路光纤。

在一种可选地实施例中，将光混频器的四根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤和第二探测器的两根Q路光纤熔接的步骤包括以下子步骤：

子步骤一：将第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

两根I路光纤长度相同，在实际实现过程中，可手工比对两根I路光纤。

子步骤二：将第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；

其中，第二预设长度与第一预设长度的差值大于第一长度值，第一长度值为固定值，可参照切割设备与光纤夹持处的宽度设置。第二预设长度与第一预设长度的差值可由本领域技术人员依据切割设备的型号灵活确定。例如：第二预设长度与第一预设长度的差值可设置为25mm、20mm或者30mm等。

子步骤三：将光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤熔接；将光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与第二探测器的两根Q路光纤熔接。

步骤102：采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的光程差。

一种可选地采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差的方式为：

采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的相位差平均值；将相位差平均值代入光程差计算公式，得到I路光纤与Q路光纤的光程差；

光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速。

在一种可选地实施例中，采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的相位差平均值的步骤，包括：

首先，将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将第一探测器的一根Q路光纤第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

第一预设频率可以由本领域技术人员灵活设置，例如：10MHz、100MHz等。

其次，通过调整不同预设频率记录相位差；

最后，计算记录的各相位差的平均值，得到相位差平均值。

需要说明的是，该种可选地实施例中仅是以进行两次信号光拍频信号频率调整为例进行说明，在具体实现过程中看进行多次信号光拍频信号频率调整，将各次调整信号光拍频信号频率后示波器测得的两通道相位差取均值，得到I路光纤与Q路光纤的相位差平均值。

供调整的信号光拍频信号频率可由本领域技术人员灵活设置，本申请实施例中对此不做具体限制。例如：100MHz、200MHz、500MHz、10MHz或者1GHz等。

步骤103：依据光程差对两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接。

二次熔接后Q路光纤的长度与I路光纤的长度差值在误差范围内。

在一种可选地实施例中，依据光程差对两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接的步骤，包括以下子步骤：

子步骤一：将两根Q路光纤从熔点处断开；

子步骤二：将两根Q路光纤均裁减掉光程差指示的长度；

例如：光程差为18mm，则确定将两根Q路光纤均裁减掉18mm。

子步骤三：将裁剪后的两根Q路光纤分别与光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使Q路光纤的长度与I路光纤的长度差值在误差范围内。

将Q路光纤从熔点处断开，将光程差指示的长度剪掉后重新熔接，可消除器件内部光纤不等长、熔接误差，可满足设计要求误差在2mm以内。

本申请实施例提供的等光程差处理方法，可应用于北斗三号导航卫星激光处理机设备的研制，北斗全球卫星导航系统首次搭载激光通信终端，实现星间1Gbps速率BPSK相干解调任务。

本发明中利用有源测试与光纤熔接相结合的方法，解决了激光卫星通信系统中多路光接收机中对不同路之间的幅度相位一致性问题，实现了光延时满足系统指标要求，实用性很强，具有广阔的应用前景。本发明可应用于BD-3号激光卫星通信系统中，对后续激光载荷的实现应用具有重要价值。

本申请实施例提供的等光程差处理方法，将光混频器的四根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤和第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的光程差；依据光程差对两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接。由于光信号频率很高，使用矢量网络分析仪不能分辨出频段范围，本申请实施例中将测试仪器更改为示波器进行直接连接测试，能够准确地测试出I路光纤与所述Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对偏长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等，达到Q路光纤与I路光纤等光程差的目的。

图6为本发明实施例提供的等光程差处理装置的结构框图。

本发明实施例的等光程差处理装置应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其中，所述等光程差处理装置包括：

第一熔接模块601，用于将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

测量模块602，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

第二熔接模块603，用于依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

优选的，所述第一熔接模块包括：

第一裁剪子模块，用于将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

第二裁剪子模块，用于将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

处理子模块，用于将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

优选的，所述测量模块包括：

第一子模块，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

第二子模块，用于将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速。

优选的，所述第一子模块具体用于包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差平均值；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

优选的，所述第二熔接模块具体用于：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

本发明实施例提供的等光程差处理装置，将光混频器的四根光纤，分别与第一探测器的两根I路光纤和第二探测器的两根Q路光纤熔接；采用示波器测量I路光纤与Q路光纤的光程差；依据光程差对两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接。由于光信号频率很高，使用矢量网络分析仪不能分辨出频段范围，本申请实施例中将测试仪器更改为示波器进行直接连接测试，能够准确地测试出I路光纤与所述Q路光纤的光程差，在计算出光程差后采用二次熔接工艺对偏长的Q路光纤进行处理，使Q路光纤的长度与I路光纤的长度基本相等，达到Q路光纤与I路光纤等光程差的目的。

对于方法实施例而言，由于其与装置实施例相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见装置实施例部分的说明即可。

需要说明的是，以上说明仅是本发明的优选实施方式，应当理解，对于本领域技术人员来说，在不脱离本发明技术构思的前提下还可以做出若干改变和改进，这些都包括在本发明的保护范围内。

本说明中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

以上所述，仅为本发明最佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域技术人员的公知技术。

Claims (6)

1.一种等光程差处理方法，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其特征在于，所述方法包括：

将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内；

采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速；

所述采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值的步骤，包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接的步骤，包括：

将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；

将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接的步骤，包括：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

4.一种等光程差处理装置，应用于光相干解调模块，所述光相干解调模块包括：光混频器、第一探测器和第二探测器，所述光混频器与所述第一探测器之间待熔接两根I路光纤，所述光混频器与所述第二探测器之间待熔接两根Q路光纤，其特征在于，所述等光程差处理装置包括：

第一熔接模块，用于将所述光混频器的四根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤和所述第二探测器的两根Q路光纤熔接；

第二熔接模块，用于依据所述光程差对所述两根Q路光纤进行裁剪后进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内；

测量模块包括：

第一子模块，用于采用示波器测量所述I路光纤与所述Q路光纤的相位差平均值；

第二子模块，用于将所述相位差平均值代入光程差计算公式，得到所述I路光纤与所述Q路光纤的光程差；

所述光程差计算公式为：△θ＝bias-2×f×△L×180/C；

其中，Δθ为相位差，bias为载波为0Hz时的相位差，f为载波频率,ΔL为光程差，C为光速；

所述第一子模块具体用于包括：

将输入的本振光和信号光拍频信号频率调整为第一预设频率，拍频信号0°和90°相位差，先后将所述第一探测器的两根I路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第二探测器的两根Q路光纤分别连接示波器的两通道，将所述第一探测器的一根Q路光纤所述第二探测器的一根Q路光纤分别连接示波器的两通道，记录第一预设频率下的相位差；

通过调整不同预设频率记录相位差；

计算记录的各所述相位差的平均值，得到相位差平均值。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第一熔接模块包括：

第一裁剪子模块，用于将所述第一探测器的两根I路光纤裁剪为第一预设长度；

第二裁剪子模块，用于将所述第二探测器的两根Q路光纤裁剪为第二预设长度；其中，所述第二预设长度与所述第一预设长度的差值大于第一长度值；

处理子模块，用于将所述光混频器的第一根光纤、第二根光纤，分别与所述第一探测器的两根I路光纤熔接；将所述光混频器的第三根光纤、第四根光纤，分别与所述第二探测器的两根Q路光纤熔接。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第二熔接模块具体用于：

将所述两根Q路光纤从熔点处断开；

将所述两根Q路光纤均裁减掉所述光程差指示的长度；

将裁剪后的所述两根Q路光纤分别与所述光混频器的两根光纤进行二次熔接，以使所述Q路光纤的长度与所述I路光纤的长度差值在误差范围内。

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