CN112310231A - 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法 - Google Patents

具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112310231A
CN112310231A CN202011318826.4A CN202011318826A CN112310231A CN 112310231 A CN112310231 A CN 112310231A CN 202011318826 A CN202011318826 A CN 202011318826A CN 112310231 A CN112310231 A CN 112310231A
Authority
CN
China
Prior art keywords
layer
passivation
silicon
tunneling
solar cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202011318826.4A
Other languages
English (en)
Inventor
陈姝
冯志强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Trina Solar Changzhou Technology Co ltd
Trina Solar Co Ltd
Original Assignee
Trina Solar Changzhou Technology Co ltd
Trina Solar Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Trina Solar Changzhou Technology Co ltd, Trina Solar Co Ltd filed Critical Trina Solar Changzhou Technology Co ltd
Priority to CN202011318826.4A priority Critical patent/CN112310231A/zh
Publication of CN112310231A publication Critical patent/CN112310231A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • H01L31/0682Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells back-junction, i.e. rearside emitter, solar cells, e.g. interdigitated base-emitter regions back-junction cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1864Annealing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1868Passivation
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/546Polycrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

本发明属于晶体硅太阳能电池技术领域,涉及一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池及其制备方法,包括P型衬底,其特征在于,所述的P型衬底正面由内到外依次设有选择性发射极、超薄隧穿氧化硅层、磷掺杂多晶硅层、正面氧化硅钝化层和正面氮化硅钝化层,所述的P型衬底背面由内到外依次背面氧化铝钝化层和背面氮化硅化层,正面氮化硅钝化层上设有正面金属银栅线,P型衬底背面设有背面金属铝栅线,所述的背面金属铝栅线贯穿背面氧化铝钝化层和背面氮化硅化层。本发明结构非常薄,在解决硅片光吸收的同时,有效地降低了电池的表面复合速率,提高电池的正面钝化,提升电池性能。

Description

具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池及其制备方法
技术领域
本发明属于晶体硅太阳能电池技术领域,涉及一种图形化的钝化接触太阳能电池及其制造方法。
背景技术
近年来,光伏产业化技术发展迅速,各个制造环节均有技术更新。新技术、新工艺带来的是更低的成本及更优的产品性能。最近几年国内晶体硅太阳电池技术的进展仍旧主要集中在PERC电池的产业导入上,虽然P-型PERC电池的产能一直在增长,但是其产业化效率增长或许已接近饱和,因此迫切需要开发下一代的PERC电池,希望能在原有产线的基础上,尽量减少工艺改动而实现产品性能及成本的突破。
发明内容
本发明的目的是针对上述问题,提供一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池。
本发明的另一目的是提供一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法。
为达到上述目的,本发明采用了下列技术方案:
一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池,包括P型衬底,其特征在于,所述的P型衬底正面由内到外依次设有选择性发射极、超薄隧穿氧化硅层、磷掺杂多晶硅层、正面氧化硅钝化层和正面氮化硅钝化层,所述的P型衬底背面由内到外依次背面氧化铝钝化层和背面氮化硅化层,正面氮化硅钝化层上设有正面金属银栅线,P型衬底背面设有背面金属铝栅线,所述的背面金属铝栅线贯穿背面氧化铝钝化层和背面氮化硅化层,在背面金属铝栅线与P型衬底的连接处具有背面局部背场。
进一步的,超薄隧穿氧化硅层厚度为0.5nm-5nm,磷掺杂多晶硅层、正面氧化硅钝化层和正面氮化硅钝化层的厚度和为30nm-300nm,背面氧化铝钝化层和背面氮化硅化层的厚度和为10nm-300nm。
一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,包括以下步骤:
1)硅片经过制绒后,在其正面进行磷扩散,
2)对正面进行激光PSG重掺杂,形成选择性发射极层,
3)去除PSG后,硅片正面依次制备超薄隧穿氧化硅层和非晶硅层,
4)对硅片进行高温处理,非晶硅转化为掺杂多晶硅,
5)去除背面磷硅玻璃层,
6)背面进行抛光或制绒处理,
7)正面生长正面氧化硅钝化层和正面氮化硅钝化层,
8)背面沉积钝化膜,
9)背面激光开孔,
10)印刷正面和背面浆料,
11)烧结。
进一步的,在步骤1中,磷扩散运用低压或常压扩散,方阻在100ohm/sq-300ohm/sq之间。
进一步的,在步骤2中,激光PSG重掺杂后方阻与原来方阻差值在30ohm/sq-150ohm/sq之间。
进一步的,在步骤3中,非晶硅层为原位掺磷的非晶硅薄膜或本征非晶硅薄膜。
进一步的,当非晶硅层为本征非晶硅薄膜时,后续从外部引入掺杂源,当非晶硅层为原位掺杂的非晶硅薄膜时,后续高温退火,以激活掺杂原子,退火温度为800-1050度,时间1-300min,高温处理后,非晶硅薄膜转化为多晶硅薄膜,多晶硅薄膜的厚度在2nm-20nm之间;
超薄隧穿氧化硅层为高温热氧化生长、为湿法或者强氧化气体氧化法,超薄隧穿氧化硅层厚度为0.5nm-5nm。
进一步的,在步骤7)中,生长方式为ALD或PECVD,磷掺杂多晶硅层、正面氧化硅钝化层和正面氮化硅钝化层的厚度和为30nm-300nm。
进一步的,在步骤8)中,沉积的背面钝化膜为叠层SiNx薄膜、SiNx/SiOx叠层、SiNx/AlOx叠层、SiNx/SiNO叠层或为四种薄膜组合,钝化膜整体厚度为10nm-300nm。
进一步的,在步骤9)中,背面激光图形是连续的线条或间断式的线条,
在步骤10)中,正面浆料和背面浆料的类型为烧穿型或非烧穿型,当浆料为非烧穿型时,则用激光、刻蚀浆料或者阻挡线浆料方式将相应钝化膜打开,烧结后形成接触。
与现有的技术相比,本发明的优点在于:
通过在电池结构正面采用由隧穿氧化硅层与掺杂磷的多晶硅层组成的TopCon结构钝化技术,在原有单纯的氮化硅表面钝化的基础上,增加了钝化隧穿层。由于该结构非常薄,在解决硅片光吸收的同时,有效地降低了电池的表面复合速率,提高电池的正面钝化,提升电池性能。
本发明的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现,部分还将通过对本发明的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
图1为本发明太阳能电池的结构示意图。
图中:P型衬底1、选择性发射极2、超薄隧穿氧化硅层3、磷掺杂多晶硅层4、正面氧化硅钝化层5、正面氮化硅钝化层6、背面氧化铝钝化层7、背面氮化硅化层8、正面金属银栅线9、背面金属铝栅线10、背面局部背场11。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好的理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。
实施例1
如图1所示,本实施例提供了一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池,包括P型衬底1,其特征在于,所述的P型衬底1正面由内到外依次设有选择性发射极2、超薄隧穿氧化硅层3、磷掺杂多晶硅层4、正面氧化硅钝化层5和正面氮化硅钝化层6,所述的P型衬底1背面由内到外依次背面氧化铝钝化层7和背面氮化硅化层8,正面氮化硅钝化层6上设有正面金属银栅线9,P型衬底1背面设有背面金属铝栅线10,所述的背面金属铝栅线10贯穿背面氧化铝钝化层7和背面氮化硅化层8,在背面金属铝栅线10与P型衬底1的连接处具有背面局部背场11。
超薄隧穿氧化硅层3厚度为0.5nm-5nm,磷掺杂多晶硅层4、正面氧化硅钝化层5和正面氮化硅钝化层6的厚度和为30nm-300nm,背面氧化铝钝化层7和背面氮化硅化层8的厚度和为10nm-300nm。
通过在电池结构正面采用由超薄隧穿氧化硅层和磷掺杂多晶硅层组成的TopCon结构钝化技术,在原有单纯的氮化硅表面钝化的基础上,增加了钝化隧穿层,由于该结构非常薄,在解决硅片光吸收的同时,有效地降低了电池的表面复合速率,提高电池的正面钝化,提升电池性能。
实施例2
如图1所示,一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,包括以下步骤:
1)硅片经过制绒后,在其正面进行磷扩散,磷扩散运用低压或常压扩散,方阻在100ohm/sq-300ohm/sq之间,
2)对正面进行激光PSG重掺杂,形成选择性发射极层,激光PSG重掺杂后方阻与原来方阻差值在30ohm/sq-150ohm/sq之间,
3)去除PSG后,硅片正面依次制备超薄隧穿氧化硅层3和非晶硅层,非晶硅层为原位掺磷的非晶硅薄膜或本征非晶硅薄膜。当非晶硅层为本征非晶硅薄膜时,后续从外部引入掺杂源,当非晶硅层为原位掺杂的非晶硅薄膜时,后续高温退火,以激活掺杂原子,退火温度为800-1050度,时间1-300min,高温处理后,非晶硅薄膜转化为多晶硅薄膜,多晶硅薄膜的厚度在2nm-20nm之间;超薄隧穿氧化硅层3为高温热氧化生长、为湿法或者强氧化气体氧化法,超薄隧穿氧化硅层3厚度为0.5nm-5nm,
4)对硅片进行高温处理,在不低于830摄氏度的条件下完成退火晶化过程,非晶硅转化为掺杂多晶硅,
5)去除背面磷硅玻璃层,具体的说,对硅片的背面进行单面HF清洗,去除背面的磷硅玻璃层,
6)背面进行抛光形成抛光面或制绒处理,
7)正面生长正面氧化硅钝化层5和正面氮化硅钝化层6,
在步骤7)中,生长的钝化膜及减反射薄膜可以为多层SiNx薄膜,也可以先生长热SiO2薄膜,然后在沉积多层SiNx薄膜,形成多层钝化减反膜。可以为SiOx薄膜,可以为AlOx薄膜,或者三种薄膜的任意组合薄膜。生长方式为ALD或PECVD,磷掺杂多晶硅层4、正面氧化硅钝化层5和正面氮化硅钝化层6的厚度和为30nm-300nm。本实施例中,背面由内到外依次背面氧化铝钝化层7和背面氮化硅化层8,
8)背面沉积钝化膜,沉积的背面钝化膜为叠层SiNx薄膜、SiNx/SiOx叠层、SiNx/AlOx叠层或为三种薄膜组合,钝化膜整体厚度为10nm-300nm,
9)背面激光开孔,背面激光图形是连续的线条或间断式的线条,
10)印刷正面和背面浆料,正面浆料和背面浆料的类型为烧穿型或非烧穿型,当浆料为非烧穿型时,则用激光、刻蚀浆料或者阻挡线浆料方式将相应钝化膜打开,烧结后形成接触,
11)烧结。
通过在电池结构正面采用由超薄隧穿氧化硅层和磷掺杂多晶硅层组成的TopCon结构钝化技术,在原有单纯的氮化硅表面钝化的基础上,增加了钝化隧穿层,由于该结构非常薄,在解决硅片光吸收的同时,有效地降低了电池的表面复合速率,提高电池的正面钝化,提升电池性能。
实施例3
一种有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,具体如下:
将P型单晶硅作为衬底,在有KOH和制绒添加剂溶液中进行常规的制绒。经过氢氟酸和RCA清洗后,硅片正面进行磷扩散,方阻约为150ohm/sq。硅片正面进行常规激光PSG重掺杂,方阻为65-75ohm/sq。由于非晶硅厚度很薄,丝网烧结时浆料很容易烧穿,所以发射极是与激光PSG重掺杂接触,即正面实际为选择性发射极,金属化后具有更好的开压和接触。经过氢氟酸和RCA清洗后,在硅衬底的正面和背面同时或只有正面制备一层厚度为1nm-3nm的超薄隧穿氧化硅,再采用LPCVD设备在硅衬底的正面和背面同时或只有正面沉积一层厚度为5nm-10nm的磷掺杂的非晶硅层。在不低于830摄氏度的条件下完成退火晶化过程。对硅片的背面进行单面HF清洗,去除背面的磷硅玻璃层。接着对背面进行抛光处理,去除背面的扩散层并形成抛光面。然后在正面依次制备氧化硅、氮化硅钝化膜,在背面依次制备氧化铝、氮化硅钝化膜。正面叠加一层氧化层,即通过600-850度的氧化,可以对激光PSG重掺杂进行损伤修复,从而提高开压和电流。最后用激光烧蚀打开背面的氧化铝和氮化硅钝化层,进行常规的丝网印刷和烧结,即正面银浆背面铝浆,以便形成电学接触。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本发明的精神。

Claims (10)

1.一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池,包括P型衬底(1),其特征在于,所述的P型衬底(1)正面由内到外依次设有选择性发射极(2)、超薄隧穿氧化硅层(3)、磷掺杂多晶硅层(4)、正面氧化硅钝化层(5)和正面氮化硅钝化层(6),所述的P型衬底(1)背面由内到外依次背面氧化铝钝化层(7)和背面氮化硅化层(8),正面氮化硅钝化层(6)上设有正面金属银栅线(9),P型衬底(1)背面设有背面金属铝栅线(10),所述的背面金属铝栅线(10)贯穿背面氧化铝钝化层(7)和背面氮化硅化层(8)。
2.根据权利要求1所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池,其特征在于,超薄隧穿氧化硅层(3)厚度为0.5nm-5nm,磷掺杂多晶硅层(4)、正面氧化硅钝化层(5)和正面氮化硅钝化层(6)的厚度和为30nm-300nm,背面氧化铝钝化层(7)和背面氮化硅化层(8)的厚度和为10nm-300nm。
3.一种具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)硅片经过制绒后,在其正面进行磷扩散,
2)对正面进行激光PSG重掺杂,形成选择性发射极层,
3)去除PSG后,硅片正面依次制备超薄隧穿氧化硅层(3)和非晶硅层,
4)对硅片进行高温处理,非晶硅转化为磷掺杂多晶硅层(4),
5)去除背面磷硅玻璃层,
6)背面进行抛光或制绒处理,
7)正面生长正面氧化硅钝化层(5)和正面氮化硅钝化层(6),
8)背面沉积钝化膜,
9)背面激光开孔,
10)印刷正面和背面浆料,
11)烧结。
4.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤1)中,磷扩散运用低压或常压扩散,方阻在100ohm/sq-300ohm/sq之间。
5.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤2)中,激光PSG重掺杂后方阻与原来方阻差值在30ohm/sq-150ohm/sq之间。
6.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤3)中,非晶硅层为原位掺磷的非晶硅薄膜或本征非晶硅薄膜。
7.根据权利要求6所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,当非晶硅层为本征非晶硅薄膜时,后续从外部引入掺杂源,当非晶硅层为原位掺杂的非晶硅薄膜时,后续高温退火,以激活掺杂原子,退火温度为800-1050度,时间1-300min,高温处理后,非晶硅薄膜转化为多晶硅薄膜,多晶硅薄膜的厚度在2nm-20nm之间;
超薄隧穿氧化硅层(3)为高温热氧化生长、为湿法或者强氧化气体氧化法,超薄隧穿氧化硅层(3)厚度为0.5nm-5nm。
8.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤7)中,生长方式为ALD或PECVD,磷掺杂多晶硅层(4)、正面氧化硅钝化层(5)和正面氮化硅钝化层(6)的厚度和为30nm-300nm。
9.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤8)中,沉积的背面钝化膜为叠层SiNx薄膜、SiNx/SiOx叠层、SiNx/AlOx叠层、SiNx/SiNO叠层或为四种薄膜组合,钝化膜整体厚度为10nm-300nm。
10.根据权利要求3所述的具有隧穿钝化的P型晶体硅太阳能电池的制备方法,其特征在于,在步骤9)中,背面激光图形是连续的线条或间断式的线条,
在步骤10)中,正面浆料和背面浆料的类型为烧穿型或非烧穿型,当浆料为非烧穿型时,则用激光、刻蚀浆料或者阻挡线浆料方式将相应钝化膜打开,烧结后形成接触。
CN202011318826.4A 2020-11-23 2020-11-23 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法 Pending CN112310231A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011318826.4A CN112310231A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011318826.4A CN112310231A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112310231A true CN112310231A (zh) 2021-02-02

Family

ID=74335410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011318826.4A Pending CN112310231A (zh) 2020-11-23 2020-11-23 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112310231A (zh)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112701168A (zh) * 2021-02-03 2021-04-23 安徽东昇新能源有限公司 一种perc太阳能电池及其制备方法
CN113611756A (zh) * 2021-08-10 2021-11-05 东方日升(常州)新能源有限公司 一种N型TOPCon电池及其制备方法
CN113972302A (zh) * 2021-10-26 2022-01-25 通威太阳能(眉山)有限公司 TOPCon电池及其制备方法和电器设备
CN114188431A (zh) * 2021-10-22 2022-03-15 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种太阳能电池及其制备方法
CN114447156A (zh) * 2022-01-27 2022-05-06 环晟光伏(江苏)有限公司 一种适用于电镀电池片正表面激光开槽方法
CN114678446A (zh) * 2022-03-25 2022-06-28 江苏润阳世纪光伏科技有限公司 一种低成本接触钝化全背电极太阳能电池及其制备方法
CN114744054A (zh) * 2022-03-15 2022-07-12 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 一种TOPCon电池及其制备方法
CN115101621A (zh) * 2022-05-24 2022-09-23 中南大学 一种P-topcon电池及其制备方法
CN115241326A (zh) * 2022-07-26 2022-10-25 拉普拉斯(无锡)半导体科技有限公司 一种太阳能电池钝化结构、其制备方法、制备装置和用途
DE102021133039A1 (de) 2021-12-14 2023-06-15 "International Solar Energy Research Center Konstanz", ISC e.V. Solarzelle mit passivierten Kontakten und Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle mit passivierten Kontakten
CN117276414A (zh) * 2023-11-23 2023-12-22 苏州腾晖光伏技术有限公司 P型高效钝化接触电池的制备方法及制造系统
CN117352566A (zh) * 2023-12-04 2024-01-05 天合光能股份有限公司 杂化异质结太阳能电池及电池组件和制备方法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112701168A (zh) * 2021-02-03 2021-04-23 安徽东昇新能源有限公司 一种perc太阳能电池及其制备方法
CN113611756A (zh) * 2021-08-10 2021-11-05 东方日升(常州)新能源有限公司 一种N型TOPCon电池及其制备方法
CN114188431A (zh) * 2021-10-22 2022-03-15 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种太阳能电池及其制备方法
CN113972302A (zh) * 2021-10-26 2022-01-25 通威太阳能(眉山)有限公司 TOPCon电池及其制备方法和电器设备
DE102021133039A1 (de) 2021-12-14 2023-06-15 "International Solar Energy Research Center Konstanz", ISC e.V. Solarzelle mit passivierten Kontakten und Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle mit passivierten Kontakten
CN114447156A (zh) * 2022-01-27 2022-05-06 环晟光伏(江苏)有限公司 一种适用于电镀电池片正表面激光开槽方法
CN114744054A (zh) * 2022-03-15 2022-07-12 西安隆基乐叶光伏科技有限公司 一种TOPCon电池及其制备方法
CN114678446A (zh) * 2022-03-25 2022-06-28 江苏润阳世纪光伏科技有限公司 一种低成本接触钝化全背电极太阳能电池及其制备方法
CN115101621A (zh) * 2022-05-24 2022-09-23 中南大学 一种P-topcon电池及其制备方法
CN115101621B (zh) * 2022-05-24 2023-12-12 中南大学 一种P-topcon电池及其制备方法
CN115241326A (zh) * 2022-07-26 2022-10-25 拉普拉斯(无锡)半导体科技有限公司 一种太阳能电池钝化结构、其制备方法、制备装置和用途
CN117276414A (zh) * 2023-11-23 2023-12-22 苏州腾晖光伏技术有限公司 P型高效钝化接触电池的制备方法及制造系统
CN117276414B (zh) * 2023-11-23 2024-01-26 苏州腾晖光伏技术有限公司 P型高效钝化接触电池的制备方法及制造系统
CN117352566A (zh) * 2023-12-04 2024-01-05 天合光能股份有限公司 杂化异质结太阳能电池及电池组件和制备方法
CN117352566B (zh) * 2023-12-04 2024-02-27 天合光能股份有限公司 杂化异质结太阳能电池及电池组件和制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112310231A (zh) 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池及其制备方法
WO2023178918A1 (zh) 一种低成本接触钝化全背电极太阳能电池及其制备方法
CN115621333B (zh) 双面隧穿氧化硅钝化的背接触太阳能电池及其制备方法
CN112490304A (zh) 一种高效太阳能电池的制备方法
CN112186049A (zh) 正面栅线钝化接触的perc太阳能电池及其制备方法
CN213520011U (zh) 具有隧穿钝化接触的高效p型晶体硅太阳能电池
CN112599636B (zh) 一种晶体硅太阳能电池的制备方法及晶体硅太阳能电池
CN112951927A (zh) 太阳能电池的制备方法
CN113644142A (zh) 一种具有钝化接触的太阳能电池及其制备方法
CN115995502A (zh) 发射极、选择性发射极电池的制备方法及选择性发射极电池
CN218414591U (zh) 太阳能电池
CN217881546U (zh) 具有选择性发射极的钝化接触太阳电池及组件和系统
CN115394863A (zh) 一种太阳电池及其制备方法
CN115084314A (zh) 一种TOPCon钝化接触结构的IBC太阳能电池制备方法
CN113284982B (zh) 一种具有钝化接触结构的ibc电池的加工工艺
CN114256385A (zh) 一种tbc背接触太阳能电池及其制备方法
CN214203699U (zh) 具有隧穿钝化的p型晶体硅太阳能电池
CN116666479B (zh) 一种双面发电的高效选择性发射极晶硅电池及其制备方法
WO2024060933A1 (zh) 太阳电池及其制备方法
CN116130558B (zh) 一种新型全背电极钝化接触电池的制备方法及其产品
CN117238998A (zh) 一种N型TOPCon电池及新型背面结构制备方法
CN218160392U (zh) 一种太阳能电池
CN116613226A (zh) 太阳能电池及其制备方法
CN116469948A (zh) 一种TOPCon电池及其制备方法
CN115692516A (zh) 一种新型topcon电池及其制作方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination