CN112291913A - 一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本公开的一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置及方法,通过包括探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动和定位所述探针2的移动位置;数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。该装置操作简单,空间分辨率高,对离子推力器放电室等离子体干扰小,可以快速获取离子推力器等离子体的诊断数据信息,且提高等离子体诊断数据的可信度。

Description

一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置及方法
技术领域
本公开属于等离子体诊断技术领域,特别涉及一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置及方法。
背景技术
离子电推进技术以其独有的大比冲、高效率、长寿命、工质利用率高、推力稳定等特点,成为世界各国争相研究的科研领域。从离子推力器的工作原理看,放电室等离子体参数直接影响着推力器的宏观性能。等离子体特性的深入研究,将为进一步了解推力器放电室的工质电离过程和离子引出机理、优化离子推力器结构、提高离子推力器的工作性能提供一定的指导依据。
目前,对于电推力器放电室等离子体特性的研究,主要是通过数值计算方法,进行等离子体参数的数值模拟计算或在地面模拟设备中进行等离子体参数的诊断。在文献“氙离子推力器放电室等离子体参数测量,真空与低温,10(1),2004”中介绍了一种离子推力器放电室内部等离子体诊断方法。该方法采用朗缪尔双探针,探针安装在机械臂上实现径向移动和水平旋转,实现不同位置等离子体的诊断。由于受朗缪尔双探针尺寸等因素影响,空间分辨率低,同时移动机构采用旋转方式,对放电室等离子体的干扰较大。
因此,需要发明一种操作简单,空间分辨率高,对离子推力器放电室等离子体干扰小,能够对离子推力器放电室不同位置等离子体进行诊断的方法,以提高等离子体测试数据的可信度。
发明内容
有鉴于此,本公开提出了一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置及方法,操作简单,空间分辨率高,对离子推力器放电室等离子体干扰小,可以快速获取离子推力器等离子体的诊断数据信息,且提高等离子体诊断数据的可信度。
根据本公开的一方面,提出了一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置,所述装置包括:
探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;
探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;
移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动和定位所述探针2的移动位置;
数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;
上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
在一种可能的实现方式中,所述探针导引组件包括:导引槽3和导引管5;
其中,所述导引槽3,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的轴向移动;
所述导引管5,通过连接件与所述移动定位组件6相连接,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的径向移动。
在一种可能的实现方式中,所述探针导引组件还包括等离子体密封挡板,用于密封所述离子推力器放电室内部的等离子体。
在一种可能的实现方式中,所述探针2为朗缪尔单探针。
在一种可能的实现方式中,所述等离子体的诊断信息包括:等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息。
根据本公开的另一方面,提出了一种离子推力器放电室内部等离子体诊断方法,所述方法应用于上述的诊断装置,所述方法包括:
S11:在真空室安装离子推力器1和放电室内部等离子体诊断装置,并抽真空;当真空度达到预设条件时,启动离子推力器1;
S12:利用探针2探测所述离子推力器1放电室内部的等离子体,通过所述数据采集组件8采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据,传输所述测试数据到上位机9;
S13:上位机9处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
在一种可能的实现方式中,所述等离子体的诊断信息包括:等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息。
本公开提出的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置,通过包括探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动,及定位所述探针2的移动位置;数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。该装置操作简单,空间分辨率高,对离子推力器放电室等离子体干扰小,可以快速获取离子推力器等离子体的诊断数据信息,且提高等离子体诊断数据的可信度。
根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明,本公开的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面,并且用于解释本公开的原理。
图1示出根据本公开一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置的原理框图。
图2示出根据本公开一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置的原理图。
图3示出根据本公开另一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置的原理图。
图4示出根据本公开另一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断方法的流程图。
具体实施方式
以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面,但是除非特别指出,不必按比例绘制附图。
在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
另外,为了更好的说明本公开,在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解,没有某些具体细节,本公开同样可以实施。在一些实例中,对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述,以便于凸显本公开的主旨。
图1示出根据本公开一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置的原理图。如图1所示,该等离子体诊断装置可以包括:探针2,探针导引组件,移动定位组件6,数据采集组件8和上位机9。其中,
探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;
探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;
移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动和定位所述探针2的移动位置;
数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;
上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
其中,上位机9可以为PC机、移动计算机等、用于承载各种测控软件。等离子体的诊断信息可以包括:等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息等信息。
图2、图3示出根据本公开一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置的原理图。
在一示例中,如图2、图3所示,该装置可以包括探针2,探针导引组件(导引槽3、等离子体密封挡板4和导引管5),移动定位组件6,阳极7,数据采集组件8,上位机9,阴极10和栅极组件11。探针2安装在导引管内,导引管5通过连接板或连接件与移动定位组件6相连接,同时导引管5被安装在导引槽3中,移动定位组件6通过有线电缆或无线电缆与数据采集组件8和上位机电连接,通过控制移动定位组件6的径向或轴向移动,可以带动探针2在离子推力器1放电室内部的径向移动和轴向移动。该装置还可以包括电源模块(图中未示出),用于向离子推力器1放电室内部等离子体诊断装置供电。
通过包括探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动和定位所述探针2的移动位置;数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。该装置操作简单,空间分辨率高,对离子推力器放电室等离子体干扰小,可以快速获取离子推力器等离子体的诊断数据信息,且提高等离子体诊断数据的可信度。
在一种可能的实现方式中,所述探针2为朗缪尔单探针。能够提高离子推力器放电室内部等离子体的空间分标率。
在一种可能的实现方式中,如图1和图2所示,探针导引组件可以包括:导引槽3和导引管5;
其中,所述导引槽3,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的轴向移动;
所述导引管5,通过连接件与所述移动定位组件6相连接,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的径向移动。
在一种可能的实现方式中,所述探针导引组件还包括等离子体密封挡板4,用于密封所述离子推力器放电室内部的等离子体。
通过导引槽3、等离子体密封挡板4和导引管5组成的探针导引组件,能够导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的径向移动和轴向移动,减少对离子推力器放电室内部等离子体的干扰。
图4示出根据本公开另一实施例的离子推力器放电室内部等离子体诊断方法的流程图。该方法能够应用于上述的离子推力器放电室内部等离子体诊断装置,如图4所示,该方法可以包括:
S11:在真空室安装离子推力器1和放电室内部等离子体诊断装置,并抽真空;当真空度达到预设条件时,启动离子推力器1。
其中,在真空室安装离子推力器1之后,连接离子推力器1的电路和气路。然后安装朗缪尔单探针(2)和探针导引组件(通过导引槽3、等离子体密封挡板4和导引管5),并连接电缆,打开电源和上位机(9),检查朗缪尔单探针(2)的移动定位。关闭真空室并抽真空,当真空度达到预设条件(离子推力器试验工况)时,点火启动离子推力器1。
S12:利用探针2探测所述离子推力器1放电室内部的等离子体,通过所述数据采集组件8采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据,传输所述测试数据到上位机9。
S13:上位机9处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
其中,可以利用上位机9上安装的等离子体的测控软件对等离子体的测试数据进行分析,计算到所述离子推力器1放电室内部等离子体的等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息等诊断信息。
通过在真空室安装离子推力器1和放电室内部等离子体诊断装置,并抽真空;当真空度达到预设条件时,启动离子推力器1;利用探针2探测所述离子推力器1放电室内部的等离子体,通过所述数据采集组件8采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据,传输所述测试数据到上位机9;上位机9处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。能够快速获取离子推力器等离子体的诊断数据信息,提高等离子体诊断数据的可信度。
以上已经描述了本公开的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。

Claims (7)

1.一种离子推力器放电室内部等离子体诊断装置,其特征在于,所述装置包括:
探针2,用于探测所述离子推力器1放电室内部等离子体;
探针导引组件,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的移动;
移动定位组件6,用于驱动所述探针2的移动和定位所述探针2的移动位置;
数据采集组件8,用于采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据;
上位机9,用于处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
2.根据权利要求1所述的等离子体诊断装置,其特征在于,所述探针导引组件包括:导引槽3和导引管5;
其中,所述导引槽3,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的轴向移动;
所述导引管5,通过连接件与所述移动定位组件6相连接,用于导引所述探针2在所述离子推力器1放电室内部的径向移动。
3.根据权利要求2所述的等离子体诊断装置,其特征在于,所述探针导引组件还包括等离子体密封挡板4,用于密封所述离子推力器放电室内部的等离子体。
4.根据权利要求1所述的等离子体诊断装置,其特征在于,所述探针2为朗缪尔单探针。
5.根据权利要求1所述的等离子体探测装置,其特征在于,所述等离子体的诊断信息包括:等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息。
6.一种离子推力器放电室内部等离子体诊断方法,其特征在于,所述方法应用于权利要求1-4任一项所述的诊断装置,所述方法包括:
S11:在真空室内部安装离子推力器1和放电室内部等离子体诊断装置,并抽真空;当真空度达到预设条件时,启动离子推力器1;
S12:利用探针2探测所述离子推力器1放电室内部的等离子体,通过所述数据采集组件8采集所述探针2探测的所述离子推力器1放电室内部等离子体的测试数据,传输所述测试数据到上位机9;
S13:上位机9处理所述等离子体的测试数据,计算得到所述离子推力器1放电室内部等离子体的诊断信息。
7.根据权利要求6所述的等离子体探测方法,其特征在于,所述等离子体的诊断信息包括:等离子体密度、等离子体温度、等离子体电势和等离子体分布信息。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114401578A (zh) * 2021-12-10 2022-04-26 西安电子科技大学 一种探针的位置标定方法、系统、存储介质、设备及应用

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104135811A (zh) * 2014-08-13 2014-11-05 哈尔滨工业大学 一种可在三自由度运动的多探针支架
CN105067274A (zh) * 2015-07-20 2015-11-18 兰州空间技术物理研究所 一种电推进航天器羽流参数获取方法
CN106604512A (zh) * 2016-12-07 2017-04-26 兰州空间技术物理研究所 离子推力器等离子体参数诊断静电探针定位系统及定位方法
CN206422965U (zh) * 2017-01-04 2017-08-18 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 等离子体空间特性诊断装置
CN107680897A (zh) * 2017-10-10 2018-02-09 中国科学技术大学 一种精密移动且侧面引线的介入式诊断装置
CN110618443A (zh) * 2019-08-26 2019-12-27 北京控制工程研究所 一种等离子体推力器稳态离子流场测量装置及测量方法
CN111432542A (zh) * 2020-03-02 2020-07-17 辽宁工业大学 一种焊接电弧内部放电状态的双探针检测装置及检测方法
CN111654966A (zh) * 2020-06-05 2020-09-11 北京东方计量测试研究所 一种等离子体测量装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104135811A (zh) * 2014-08-13 2014-11-05 哈尔滨工业大学 一种可在三自由度运动的多探针支架
CN105067274A (zh) * 2015-07-20 2015-11-18 兰州空间技术物理研究所 一种电推进航天器羽流参数获取方法
CN106604512A (zh) * 2016-12-07 2017-04-26 兰州空间技术物理研究所 离子推力器等离子体参数诊断静电探针定位系统及定位方法
CN206422965U (zh) * 2017-01-04 2017-08-18 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 等离子体空间特性诊断装置
CN107680897A (zh) * 2017-10-10 2018-02-09 中国科学技术大学 一种精密移动且侧面引线的介入式诊断装置
CN110618443A (zh) * 2019-08-26 2019-12-27 北京控制工程研究所 一种等离子体推力器稳态离子流场测量装置及测量方法
CN111432542A (zh) * 2020-03-02 2020-07-17 辽宁工业大学 一种焊接电弧内部放电状态的双探针检测装置及检测方法
CN111654966A (zh) * 2020-06-05 2020-09-11 北京东方计量测试研究所 一种等离子体测量装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张尊等: "氙气离子推力器束流等离子体特征参数的Langmuir单探针诊断", 《高电压技术》 *
杨涓等: "电子回旋共振离子推力器放电室等离子体静电探针诊断", 《机械科学与技术》 *
白耀忠等: "Langmuir双探针测量Hall推力器羽流特性", 《推进技术》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114401578A (zh) * 2021-12-10 2022-04-26 西安电子科技大学 一种探针的位置标定方法、系统、存储介质、设备及应用
CN114401578B (zh) * 2021-12-10 2023-01-20 西安电子科技大学 一种探针的位置标定方法、系统、存储介质、设备及应用

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