CN112285450A - 线损点检方法、装置、计算设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种线损点检方法、装置、计算设备及存储介质，采用综测仪做信号源和功率测量终端，使用功率计做辅助功率测量终端。该方案能够准计算出每一个实际连接部件在每一个使用频率点的对应损耗，从而可以精确地计算出整个链路在该频率点的损耗，做到每个频率点损耗都校验。该方案不依赖于金机，不依赖于平台，更好地保证了线损的准确性；同时该方案可以自动化实现，不需要用户人工记录和计算，容易重复且不会出错。
Description
技术领域
本申请涉及射频技术领域，特别是涉及一种线损点检方法、装置、计算设备及存储介质。
背景技术
目前的线损点检大多以金机为基础，通过与金机对比的差值来计算实际环境线损。该方法首先准备已知线损的射频线，并把该已知线损根据不同的频率设置到线损文件中；然后使用该已知线损去测试金机，得到金机在当前环境下各待测频点的功率，并视之为该金机的真正功率，保存于线损文件中；最后把金机置于实际待测环境，设置待测环境线损为已知线损，测试各待测频点功率，算出此时各点功率与之前保存的对应功率的差值，再加上之前保存的对应已知线损，作为实际环境的线损值，重新保存到线损文件中。
上述线损点检方法得到的线损值，其精确度依赖于已知线损的准确性、金机的稳定性，且不同仪器的射频接口输入输出的内损各不相同，此内损并没有补偿进线损文件中去，将会存在一定的误差，加上这已知线损的数据来源，并非采用精确的方法校准得到，导致最终得到的线损值准确定差。
发明内容
基于此，有必要针对传统的线损点检方法得到的线损值准确性差的问题，提供一种线损点检方法、装置、计算设备及存储介质。
一种线损点检方法，包括：当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值；当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值；根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗；所述夹具连接所述综测仪的射频端口，金机小板设置于所述夹具，所述金机小板通过所述射频线连接所述功率计。
在一个实施例中，所述射频端口包括第一射频端口和第二射频端口，所述当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：当功率计接入所述第一射频端口时，遍历所述第一射频端口需要使用的频率点，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当功率计接入所述第二射频端口时，遍历所述第二射频端口需要使用的频率点，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，所述当功率计接入所述第一射频端口时，遍历所述第一射频端口需要使用的频率点，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：当功率计接入所述第一射频端口时，控制所述第一射频端口输出与所述第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各所述频率点下对应的第一功率测量值；根据所述第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，所述当功率计接入所述第二射频端口时，遍历所述第二射频端口需要使用的频率点，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：当功率计接入所述第二射频端口时，控制所述第二射频端口输出与所述第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各所述频率点下对应的第二功率测量值；根据所述第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，所述当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值的步骤之后，所述根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗的步骤之前，还包括：当所述射频线连接所述第一射频端口和所述第二射频端口时，根据所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及所述线损值进行分析，得到所述第一射频端口在各所述述频率点下对应的上行内损值；所述根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗的步骤，包括：根据所述下行内损值、所述上行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
在一个实施例中，所述综测仪为CMW500综测仪，所述第一射频端口为RF1COM端口，所述第二射频端口为RF1OUT端口。
在一个实施例中，所述当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值的步骤之前，还包括：对功率计进行清零校准。
一种线损点检装置，包括：下行内损值分析模块，用于当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值；射频线线损分析模块，用于当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值；上下行损耗分析模块，用于根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗；所述夹具连接所述综测仪的射频端口，金机小板设置于所述夹具，所述金机小板通过所述射频线连接所述功率计。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
上述线损点检方法、装置、计算设备及存储介质，采用综测仪做信号源和功率测量终端，使用功率计做辅助功率测量终端，首先在功率计接入综测仪的射频端口时，测量分析得到各个频率点下射频端口对应的下行内损值；然后在射频线接入射频端口与功率计之间时，分析得到射频线的线损值；最终在夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，并且金机小板通过射频线连接功率计的状态下，结合下行内损值以及线损值得到夹具到综测仪的上下行损耗。该方案能够准计算出每一个实际连接部件在每一个使用频率点的对应损耗，从而可以精确地计算出整个链路在该频率点的损耗，做到每个频率点损耗都校验。该方案不依赖于金机，不依赖于平台，更好地保证了线损的准确性；同时该方案可以自动化实现，不需要用户人工记录和计算，容易重复且不会出错。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一实施例中线损点检方法流程示意图；
图2为另一实施例中线损点检方法流程示意图；
图3为一实施例中第一射频端口下行内损值分析流程示意图；
图4为一实施例中第二射频端口下行内损值分析流程示意图；
图5为又一实施例中线损点检方法流程示意图；
图6为再一实施例中线损点检方法流程示意图；
图7为一实施例中线损点检装置结构示意图；
图8为另一实施例中线损点检装置结构示意图；
图9为再一实施例中线损点检装置结构示意图；
图10为一实施例中计算机设备内部结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。
请参阅图1，一种线损点检方法，包括步骤S200、步骤S300和步骤S500。
步骤S200，当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历射频端口对应需要使用的频率点，得到射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
具体地，本申请以实际使用环境一路射频线连接到综测仪的第一射频端口，一路连接到综测仪的第二射频端口进行相似的点检方案分析。功率计接入综测仪的射频端口，即为功率计直接与综测仪的射频端口连接。此时综测仪输出的射频信号的功率可由功率计直接测量得到，而综测仪在发送射频信号时，该信号本身具备一定大小的发射功率，控制器根据功率计测量得到的功率值与发射功率进行作差，即可以得到射频信号在射频端口处的损耗，也即下行内损值。综测仪在使用过程中，射频端口接收或者发送的信号的频率大小不是唯一的，在不同的信号频率大小下，对应的下行内损值也会有所区别。因此，在本实施例中，控制器将会遍历射频端口所需要使用的所有频率点，在每一频率点下均测量分析得到对应的下行内损值。
应当指出的是，在一个实施例中，功率计接入综测仪可以是通过控制器发送的开关信号，使得相应线路导通实现。在另一个实施例中，该部分接入操作可以是通过用户手动操作。控制器在检测到综测仪的射频端口接入功率计这一操作之后，将会根据器内部程序实现遍历射频端口对应需要使用的频率点，得到射频端口在各频率点下对应的下行内损值的操作。
可以理解，综测仪的类型并不是唯一的，只要是具备射频信号输入与输出功能的测量仪器均可。例如在一个实施例中，综测仪采用CMW500型号综测仪器。同样的，功率计的类型也并不是唯一的，在一个实施例中，可以采用NRP型号功率计实现。对应的，当综测仪采用CMW500型号综测仪器时，射频端口将会有三个，包括RF1COM端口、RF2COM端口和RF1OUT端口，均可输出、调整连续正弦波或者输入信号进行测试。为了便于理解本申请的各个实施例，在一个较为详细的实施例中，综测仪均采用CMW500型号综测仪器，功率计也均采用NRP型号功率计，同时综测仪的射频端口采用RF1COM端口作为第一射频端口，采用RF1OUT端口作为第二射频端口，实现线损点检。
步骤S300，当射频线接入射频端口与功率计之间时，根据下行内损值分析得到射频线的线损值。
具体地，当射频线接入射频端口和功率计之间，也即射频端口输出的射频信号将会经历射频端口的内损以及射频线的损耗，最终才会被功率计测量得到。故在上述步骤已经测量分析得到下行内损值的基础上，此时只需要获取功率计的功率测量值进行分析，即可以得到射频信号经过射频线的衰减，也即线损值。同样的，由于综测仪的射频端口使用的频率点有多个，对于每一频率点，均根据该频率点对应的下行内损值以及功率计测量得到的功率值进行分析，得到对应的线损值。具体分析方式为控制器获取功率计测量得到的功率值C，然后采用该频率点时的发射功率A减去该频率点对应的下行内损值B，再减去功率值C，即可以得到该频率点对应的线损值X，即X＝A-B-C。
步骤S500，根据下行内损值和线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
具体地，夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，金机小板通过射频线连接功率计。夹具到综测仪的上下行损耗即为夹具到综测仪的上行损耗和夹具到综测仪的下行损耗，针对不同的射频端口，所需要测量的损耗值类型也会有所区别。对于RF1COM信号端口，由于其既可以发射射频信号，也可以接收射频信号，对应的需要使用的频率点既包括下行频率，也包括上行频率。故此时测量得到的夹具到综测仪的损耗值同时包括夹具到综测仪的上行损耗和夹具到综测仪的下行损耗。而对于RF1COM信号端口，其需要使用的频率只有下行频率，对应的夹具到综测仪的损耗值即为夹具到综测仪的下行损耗。
可以理解，本实施例中，将金机小板看作一端射频线，金机小板的线损值可以事先采用网络分析仪测试得到，以预设的形式预存于控制器中，控制器在根据下行内损值和线损值进行夹具到综测仪的上下行损耗分析时，为了进一步保证损耗分析的准确性，将会引入金机小板的线损值，在进行分析过程中去除金机小板的线损值，得到更为准确的夹具到综测仪的上下行损耗。
故在一个实施例中，步骤S500之前，该方法还包括获取金机小板的线损值的步骤。金机小板的线损值通过网络分析仪S21测量得到。具体测量方式为：首先采用标准件进行网络分析仪双端口的校准操作；然后设置网络分析start、stop频率覆盖所有的频率点，接入金机小板进行S21校准，读取各个频率点的插损，也即金机小板的线损值。
请参阅图2，在一个实施例中，射频端口包括第一射频端口和第二射频端口，步骤S200包括步骤S210和步骤S220。
步骤S210，当功率计接入第一射频端口时，遍历第一射频端口需要使用的频率点，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；步骤S220，当功率计接入第二射频端口时，遍历第二射频端口需要使用的频率点，得到第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
具体地，如上述实施例所示，综测仪采用CMW500型号综测仪器，对应的第一射频端口为RF1COM端口，第二射频端口为RF1OUT端口。此时分别采用功率计与RF1COM端口和RF1OUT端口连接，遍历各个端口所需使用的所有频率点，在根据各种情形下功率计采集并发送的功率值，以及各种情形下综测仪发射射频信号的发射功率，即可以得到RF1COM端口或RF1OUT端口在各个频率点时对应的下行频率。
应当刚指出的是，在一个实施例中，由于测试分析第一射频端口的上行内损时，需要使用第二射频端口的输出信号，因此，需要保证第一射频端口的射频点中各个上行频率，也要在第二射频端口下行内损值测试中进行对应下行内损值的计算，以便后续进行第一射频端口的上行内损值分析计算。
请参阅图3，在一个实施例中，步骤S210包括步骤S211、步骤S212和步骤S213。
步骤S211，当功率计接入第一射频端口时，控制第一射频端口输出与第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；步骤S212，获取各频率点下对应的第一功率测量值；步骤S213，根据第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
具体地，此时将第一射频端口作为射频信号发射端口，遍历第一射频端口需要使用的所有频率点，即为根据各个频率点分别控制射频端口输出相应发射功率(或频率)的射频信号。本实施例中，控制综测仪输出各个频率点相匹配的正弦信号，该信号经过第一射频端口的衰减到达功率计，功率计将会测量得到第一功率测量值，只需要将该信号的发射功率与第一功率测量值相减，即可以得到该信号经过第一射频端口时的衰减量，也即对应的下行内损值。采用相同的方法，控制器依次输出频率点相对应大小的连续正弦波形进行分析计算，即可以完成第一射频端口的下行内损值分析操作。
请参阅图4，在一个实施例中，步骤S220包括步骤S221、步骤S222和步骤S223。
步骤S221，当功率计接入第二射频端口时，控制第二射频端口输出与第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；步骤S222，获取各频率点下对应的第二功率测量值；步骤S223，根据第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
具体地，与上述第一射频端口的下行内损值分析操作相类似，此时将第二射频端口作为射频信号的输出端口，只需要计算射频信号的发射功率与功率计测量得到的第二功率测量值之间的差值，即可以得到对应频率点下第二射频端口的下行内损值。控制综测仪输出各个频率点相匹配的正弦信号，该信号经过第二射频端口的衰减到达功率计，功率计将会测量得到第二功率测量值，只需要将该信号的发射功率与第二功率测量值相减，即可以得到该信号经过第二射频端口时的衰减量，也即对应的下行内损值。采用相同的方法，控制器依次输出频率点相对应大小的连续正弦波形进行分析计算，即可以完成第二射频端口的下行内损值分析操作。
请参阅图5，在一个实施例中，步骤S300之后，步骤S500之前，该方法还包括步骤S400。步骤S500包括步骤S510。
步骤S400，当射频线连接第一射频端口和第二射频端口时，根据第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及线损值进行分析，得到第一射频端口在各述频率点下对应的上行内损值。
步骤S510，根据下行内损值、上行内损值和线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
具体地，本实施例中，将第一射频端口作为信号接收端口，第二射频端口作为信号发送端，进行第一射频端口的上行内损值分析，也即第一射频端口接收射频信号时，对造成的信号衰减量。具体操作为利用射频线将第一射频端口与第二射频端相连接，控制综测仪的第二射频端口输出相应发射功率大小的射频信号之后，该射频信号将会经过第二射频端口的下行损耗、射频线的线损以及第一射频端口的上行损耗之后，得到一个相应大小的射频信号。此时对应的下行内损值即为第二射频端口的下行内损值，综测仪本身具备射频信号接收功能，当综测仪接收到射频信号之后能够同时检测该信号的实测功率，控制器只需要将发射功率减去实测功率、第二射频端口的下行内损值以及射频线的线损值，最终得到的值即为第一射频端口的上行内损值。
对应的，本实施例在分析得到第一射频端口的上行内损值之后，后续操作中，夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，金机小板通过射频线连接功率计时，即可以结合该上行内损值实现夹具到综测仪的上行损耗分析。具体分析方式与上述类似，只需要利用射频信号的发射功率减去信号传输过程中夹具到综测仪之外的损耗值，以及最终测量得到时功率实测值，即可以夹具到综测仪的上行损耗值。
可以理解，采用类似的方式，将夹具连接到不同的射频端口，将可以分析得到夹具到综测仪第一射频端口的下行损耗，以及夹具到综测仪第二射频端口的下行损耗。以测量综测仪第一射频端口的下行损耗为例，此时将第一射频端口作为信号发射端，该端口发送的射频信号依次经过第一射频端口的下行内损、夹具到综测仪第一射频端口的下行损耗、金机小板的线损(如上述实施例所示，可通过网络分析仪得到)、射频线线损，最终通过功率计测量得到一个功率实测值，在该过程中，只有夹具到综测仪第一射频端口的下行损耗未知，利用发射功率减去其余部分的损耗，即为夹具到综测仪第一射频端口的下行损耗。
进一步地，在一个实施例中，请参阅图6，在一个实施例中，步骤S200之前，该方法还包括步骤S100。
步骤S100，对功率计进行清零校准。该实施例中在进行各处线损点检时，首先将功率计进行清零校准，能够有效保证功率实测值的准确性，进而保证最终线损点检得到的各个线损值的精确的。
通过上述方案得到各个部位在所需要的各个频率点下的损耗值之后，若需要对射频线的线损进行点检，只需要将夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，金机小板通过待测射频线连接功率计，由于通过上述实施例将夹具到综测仪的上下行损耗、射频端口的下行内损值、金机小板的线损值均分析得到，功率计同样能实现最终接受的射频信号的功率测量操作，而各个频率点对应的发射功率也是已知的，利用发射功率减去综测仪的上下行损耗、射频端口的下行内损值、金机小板的线损值以及功率实测值，即可以得到待测射频线的线损值。通过该方案，只需要调整输出射频信号的频率遍历各个待测频率点，即可以实现对待测射频线的点检操作。
上述线损点检方法，采用综测仪做信号源和功率测量终端，使用功率计做辅助功率测量终端，首先在功率计接入综测仪的射频端口时，测量分析得到各个频率点下射频端口对应的下行内损值；然后在射频线接入射频端口与功率计之间时，分析得到射频线的线损值；最终在夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，并且金机小板通过射频线连接功率计的状态下，结合下行内损值以及线损值得到夹具到综测仪的上下行损耗。该方案能够准计算出每一个实际连接部件在每一个使用频率点的对应损耗，从而可以精确地计算出整个链路在该频率点的损耗，做到每个频率点损耗都校验。该方案不依赖于金机，不依赖于平台，更好地保证了线损的准确性；同时该方案可以自动化实现，不需要用户人工记录和计算，容易重复且不会出错。
请参阅图7，一种线损点检装置，包括下行内损值分析模块200、射频线线损分析模块300和上下行损耗分析模块500。
下行内损值分析模块200用于当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历射频端口对应需要使用的频率点，得到射频端口在各频率点下对应的下行内损值；射频线线损分析模块300用于当射频线接入射频端口与功率计之间时，根据下行内损值分析得到射频线的线损值；上下行损耗分析模块500用于根据下行内损值和线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
下行内损值分析模块200还用于当功率计接入第一射频端口时，遍历第一射频端口需要使用的频率点，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当功率计接入第二射频端口时，遍历第二射频端口需要使用的频率点，得到第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
下行内损值分析模块200还用于当功率计接入第一射频端口时，控制第一射频端口输出与第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第一功率测量值；根据第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
下行内损值分析模块200还用于当功率计接入第二射频端口时，控制第二射频端口输出与第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第二功率测量值；根据第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
请参阅图8，在一个实施例中，射频线线损分析模块300之后，上下行损耗分析模块500之前，该装置还包括上行线损分析模块400。上行线损分析模块400用于当射频线连接第一射频端口和第二射频端口时，根据第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及线损值进行分析，得到第一射频端口在各述频率点下对应的上行内损值。
请参阅图9，在一个实施例中，下行内损值分析模块200之前，该装置还包括清零校准模块100。清零校准模块100用于对功率计进行清零校准。
关于线损点检装置的具体限定可以参见上文中对于线损点检方法的限定，在此不再赘述。上述线损点检装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
上述线损点检装置，采用综测仪做信号源和功率测量终端，使用功率计做辅助功率测量终端，首先在功率计接入综测仪的射频端口时，测量分析得到各个频率点下射频端口对应的下行内损值；然后在射频线接入射频端口与功率计之间时，分析得到射频线的线损值；最终在夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，并且金机小板通过射频线连接功率计的状态下，结合下行内损值以及线损值得到夹具到综测仪的上下行损耗。该方案能够准计算出每一个实际连接部件在每一个使用频率点的对应损耗，从而可以精确地计算出整个链路在该频率点的损耗，做到每个频率点损耗都校验。该方案不依赖于金机，不依赖于平台，更好地保证了线损的准确性；同时该方案可以自动化实现，不需要用户人工记录和计算，容易重复且不会出错。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图10所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种线损点检方法。
本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历射频端口对应需要使用的频率点，得到射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当射频线接入射频端口与功率计之间时，根据下行内损值分析得到射频线的线损值；根据内损值和线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当功率计接入第一射频端口时，遍历第一射频端口需要使用的频率点，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当功率计接入第二射频端口时，遍历第二射频端口需要使用的频率点，得到第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当功率计接入第一射频端口时，控制第一射频端口输出与第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第一功率测量值；根据第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当功率计接入第二射频端口时，控制第二射频端口输出与第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第二功率测量值；根据第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当射频线连接第一射频端口和第二射频端口时，根据第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及线损值进行分析，得到第一射频端口在各述频率点下对应的上行内损值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：对功率计进行清零校准。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历射频端口对应需要使用的频率点，得到射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当射频线接入射频端口与功率计之间时，根据下行内损值分析得到射频线的线损值；根据下行内损值和线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当功率计接入第一射频端口时，遍历第一射频端口需要使用的频率点，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；当功率计接入第二射频端口时，遍历第二射频端口需要使用的频率点，得到第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当功率计接入第一射频端口时，控制第一射频端口输出与第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第一功率测量值；根据第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当功率计接入第二射频端口时，控制第二射频端口输出与第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；获取各频率点下对应的第二功率测量值；根据第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当射频线连接第一射频端口和第二射频端口时，根据第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及线损值进行分析，得到第一射频端口在各述频率点下对应的上行内损值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：对功率计进行清零校准。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
上述计算设备及存储介质，采用综测仪做信号源和功率测量终端，使用功率计做辅助功率测量终端，首先在功率计接入综测仪的射频端口时，测量分析得到各个频率点下射频端口对应的下行内损值；然后在射频线接入射频端口与功率计之间时，分析得到射频线的线损值；最终在夹具连接综测仪的射频端口，金机小板设置于夹具，并且金机小板通过射频线连接功率计的状态下，结合下行内损值以及线损值得到夹具到综测仪的上下行损耗。该方案能够准计算出每一个实际连接部件在每一个使用频率点的对应损耗，从而可以精确地计算出整个链路在该频率点的损耗，做到每个频率点损耗都校验。该方案不依赖于金机，不依赖于平台，更好地保证了线损的准确性；同时该方案可以自动化实现，不需要用户人工记录和计算，容易重复且不会出错。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种线损点检方法，其特征在于，包括：
当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值；
当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值；
根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗；所述夹具连接所述综测仪的射频端口，金机小板设置于所述夹具，所述金机小板通过所述射频线连接所述功率计。
2.根据权利要求1所述的线损点检方法，其特征在于，所述射频端口包括第一射频端口和第二射频端口，所述当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：
当功率计接入所述第一射频端口时，遍历所述第一射频端口需要使用的频率点，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值；
当功率计接入所述第二射频端口时，遍历所述第二射频端口需要使用的频率点，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
3.根据权利要求2所述的线损点检方法，其特征在于，所述当功率计接入所述第一射频端口时，遍历所述第一射频端口需要使用的频率点，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：
当功率计接入所述第一射频端口时，控制所述第一射频端口输出与所述第一射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；
获取各所述频率点下对应的第一功率测量值；
根据所述第一功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到所述第一射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
4.根据权利要求2所述的线损点检方法，其特征在于，所述当功率计接入所述第二射频端口时，遍历所述第二射频端口需要使用的频率点，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值的步骤，包括：
当功率计接入所述第二射频端口时，控制所述第二射频端口输出与所述第二射频端口需要使用的频率点相匹配的连续正弦波；
获取各所述频率点下对应的第二功率测量值；
根据所述第二功率测量值和相应连续正弦波的发射功率进行分析，得到所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值。
5.根据权利要求2所述的线损点检方法，其特征在于，所述当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值的步骤之后，所述根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗的步骤之前，还包括：
当所述射频线连接所述第一射频端口和所述第二射频端口时，根据所述第二射频端口在各频率点下对应的下行内损值以及所述线损值进行分析，得到所述第一射频端口在各所述述频率点下对应的上行内损值；
所述根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗的步骤，包括：
根据所述下行内损值、所述上行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗。
6.根据权利要求2-5任一项所述的线损点检方法，其特征在于，所述综测仪为CMW500综测仪，所述第一射频端口为RF1COM端口，所述第二射频端口为RF1OUT端口。
7.根据权利要求1所述的线损点检方法，其特征在于，所述当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值的步骤之前，还包括：
对功率计进行清零校准。
8.一种线损点检装置，其特征在于，包括：
下行内损值分析模块，用于当功率计接入综测仪的射频端口时，遍历所述射频端口对应需要使用的频率点，得到所述射频端口在各所述频率点下对应的下行内损值；
射频线线损分析模块，用于当射频线接入所述射频端口与所述功率计之间时，根据所述下行内损值分析得到所述射频线的线损值；
上下行损耗分析模块，用于根据所述下行内损值和所述线损值进行分析得到夹具到综测仪的上下行损耗；所述夹具连接所述综测仪的射频端口，金机小板设置于所述夹具，所述金机小板通过所述射频线连接所述功率计。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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| CN202010920514.4A CN112285450A (zh) | 2020-09-04 | 2020-09-04 | 线损点检方法、装置、计算设备及存储介质 |
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