CN112285171B - 一种应用于电化学试条的阻抗测试方法及电化学测量系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种应用于电化学试条的阻抗测试方法，电化学试条包括至少两个电极，其中，当电化学试条插入到测试仪时，由两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个电极至少可形成一条与待测样本相连通的样本连通回路；该方法包括：获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定电化学试条的校正系数；获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、校正系数和阻抗标定值确定待测样本的目标阻抗值。显然，由于通过此种方法可以将样本连通回路中电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。

Description

一种应用于电化学试条的阻抗测试方法及电化学测量系统

技术领域

本发明涉及医疗器械技术领域，特别涉及一种应用于电化学试条的阻抗测试方法及电化学测量系统。

背景技术

目前，在使用电化学方法对人们的血糖含量进行测量时，测试者通常需要将手指的血液滴到试条的待测样本区域，因为待测样本区域上设置有相关的化学物质，所以，当将血液滴到待测样本区域时就会产生相应的阻抗值。在此过程中，因为试条中的待测样本区域和试条中的电极可以组成一个连通的电气回路，所以，通过测量电气回路的阻抗值就可以获取得到测试者的血糖含量。

但是，如果是按照现有技术中的电化学测量方法，只能是通过测量包含有待测样本区域和电极的电气回路来推算测试者的血糖含量，由于试条中的电极在印刷过程中会产生差异，通过上述的血糖测量方法就会将试条电极所自带的阻抗误差引入到测试者的血糖测量结果中，这样就会导致测试者的血糖测试结果出现不准确、不可靠的现象。目前，针对上述技术问题，还没有较为有效的解决办法。

由此可见，如何避免试条电极在印刷过程中所产生的阻抗差异而对样本测试结果的影响，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种应用于电化学试条的阻抗测试方法及电化学测量系统，以避免试条电极在印刷过程中所产生的阻抗差异而对血样测试结果的影响。其具体方案如下：

一种应用于电化学试条的阻抗测试方法，所述电化学试条包括至少两个电极，其中，当所述电化学试条插入到测试仪时，由两个所述电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个所述电极至少可形成一条与所述待测样本相连通的样本连通回路；该方法包括：

获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数；

获取所述样本连通回路的阻抗值，并根据所述样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定所述待测样本的目标阻抗值。

优选的，当所述电化学试条包括第一电极和第二电极时，所述第一电极呈U形设置于所述电化学试条本体的外周部，且所述第一电极在位于U形弯折处设置有凸起部，所述第二电极为一端具有弯折部的条状电极，所述第二电极设置于所述第一电极的内周部，且所述凸起部伸入到所述第二电极呈弯折部的凹槽中，但所述凸起部与所述第二电极不相接；所述第一电极的两端分别设置有第一电接触点和第二电接触点，所述第二电极呈条状的一端设置有第三电接触点；当所述电化学试条通过所述第一电接触点、所述第二电接触点和所述第三电接触点插入到所述测试仪时，所述第一电极形成第一所述电极连通回路，所述第一电极、所述第二电极和所述待测样本形成第一所述样本连通回路。

优选的，还包括：呈U形的第三电极，所述第三电极设置于所述第一电极的外周部，且所述第三电极的U形弯折部与所述第一电极的U形弯折部位于同一侧，所述第三电极的两端分别设置有第四电接触点和第五电接触点；当所述电化学试条通过所述第一电接触点、所述第二电接触点、所述第三电接触点、所述第四电接触点和所述第五电接触点插入到所述测试仪时，所述第三电极形成第二所述电极连通回路。

优选的，当所述电化学试条包括第四电极、第五电极和第六电极时，所述第四电极呈U形设置于所述电化学试条本体的外周部，所述第五电极为一端具有弯折部的条状电极，所述第五电极设置于所述第四电极的内周部，所述第六电极呈L形设置于所述第四电极的内周部，且所述第六电极呈L形的一端伸入到所述第五电极呈弯折部的凹槽中，但与所述第五电极不相接，所述第四电极的两端分别设置有第六电接触点和第七电接触点，所述第五电极呈条状的一端设置有第八电接触点，所述第六电极呈条状的一端设置有第九电接触点；当所述电化学试条通过所述第六电接触点、所述第七电接触点、所述第八电接触点和所述第九电接触点插入到所述测试仪时，所述第四电极形成第三所述电极连通回路，所述第五电极、所述第六电极和所述待测样本形成第二所述样本连通回路。

优选的，所述获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数的过程，包括：

分别获取第一所述电极连通回路和第二所述电极连通回路的第一阻抗值和第二阻抗值，并根据所述第一阻抗值、所述第二阻抗值和所述阻抗标定值确定所述电化学试条的所述校正系数。

优选的，所根据所述第一阻抗值、所述第二阻抗值和所述阻抗标定值确定所述电化学试条的所述校正系数的过程，包括：

将所述第一阻抗值与所述阻抗标定值比值的一半设定为所述电化学试条的第一校正系数，并将所述第二阻抗值与所述阻抗标定值比值的一半设定为所述电化学试条的第二校正系数。

优选的，所述获取所述样本连通回路的阻抗值，并根据所述样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定所述待测样本所在区域的目标阻抗值的过程，包括：

获取第一所述样本连通回路的第三阻抗值，并将所述第三阻抗值、所述第一校正系数、所述第二校正系数和所述阻抗标定值输入至目标模型，以利用所述目标模型确定所述待测样本所在区域的所述目标阻抗值；

其中，所述目标模型的表达式为：

R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀；

式中，R_w为所述目标阻抗值，R_l3为所述第三阻抗值，K₁为所述第一校正系数，K₂为所述第二校正系数，a为所述第一校正系数的加权系数，b为所述第二校正系数的加权系数，R₀为所述阻抗标定值。

优选的，所述第一校正系数的加权系数小于或等于所述第二校正系数的加权系数，并且，所述第一校正系数的加权系数的取值范围为：0.5≤a≤1，所述第二校正系数的加权系数的取值范围为：1≤b≤1.5。

优选的，还包括：

判断所述第一校正系数和所述第二校正系数之间的差值是否超过预设阈值k；其中，所述预设阈值的取值范围为：0.2≤k≤0.5；

若是，则判定所述电化学试条出现异常。

相应的，本发明还公开了一种电化学测量系统，包括电化学试条和测试仪，所述电化学试条包括至少两个电极，其中，当所述电化学试条插入到所述测试仪中时，由两个所述电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个所述电极至少可形成一条与所述待测样本相连通的样本连通回路；所述测试仪包括用于存储计算机程序的存储器和处理器；所述处理器用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数；

获取所述样本连通回路的阻抗值，并根据所述样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定所述待测样本所在区域的目标阻抗值；

根据所述目标阻抗值分析所述待测样本的浓度。

可见，在本发明所提供的电化学试条中，是包括至少两个电极，其中，当电化学试条插入到测试仪中时，由电化学试条中的两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，以及至少一条与待测样本相连通的样本连通回路，这样当对待测样本的阻抗值进行测量时，就可以首先获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定电化学试条的校正系数，然后，再获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值来确定待测样本的目标阻抗值。显然，由于通过此种方法可以将样本连通回路中电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。相应的，本发明所提供的一种电化学测量系统，同样具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例所提供的一种应用于电化学试条的阻抗测试方法的流程图；

图2为本发明实施例所提供的一种电化学试条的结构图；

图3为本发明实施例所提供的另一种电化学试条的结构图；

图4为本发明实施例所提供与图3所示电化学试条相对应等效电路的模型示意图；

图5为图3所示电化学试条中由各个电极所组成电气回路的示意图；

图6为本发明实施例所提供的又一种电化学试条的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参见图1，图1为本发明实施例所提供的一种应用于电化学试条的阻抗测试方法的流程图，其中，电化学试条包括至少两个电极，其中，当电化学试条插入到测试仪时，由两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个电极至少可形成一条与待测样本相连通的样本连通回路；该方法包括：

步骤S11：获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定电化学试条的校正系数；

步骤S12：获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、校正系数和阻抗标定值确定待测样本的目标阻抗值。

在本实施例中，是提供了一种应用于电化学试条的阻抗测试方法，利用该方法可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。与该阻抗测试方法相适配，在本实施例中，首先是提供了一种电化学试条，其中，电化学试条至少包括两个电极，并且，当电化学试条插入到测试仪时，由电化学试条中的两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，以及至少一条与待测样本相连通的样本连通回路。

具体的，在本实施例中，为了消除试条电极在印刷过程中所产生的阻抗差异而对待测样本测试结果的影响，是预先根据试条的生产批次而设定了电极的阻抗标定值，也即，先获取一定数量同批次生产的试条，计算这些试条电极阻抗的平均值，然后，再将这些试条电极阻抗的平均值设定为电化学试条的阻抗标定值。

可以理解的是，由于同一个电化学试条上的不同电极在印刷过程中基本上会具有相近或相同的阻抗值，所以，通过对电化学试条设定相应的阻抗标定值，就可以利用阻抗标定值来近似表征电化学试条上各个电极所具有的阻抗值。

当设定完试条的阻抗标定值之后，首先是获取电化学试条中电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定电化学试条的校正系数。然后，再获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值来确定待测样本的目标阻抗值。

能够想到的是，因为电化学试条在每一次生产过程中都会产生不同程度的差异，所以，在本实施例中，为了避免电化学试条在印刷过程中所产生阻抗差异而对待测样本测量结果的影响，就可以利用电化学试条的校正系数来对电化学试条中电极本身所具有的阻抗值进行校正。同时，由于样本连通回路的阻抗值包含待测样本的阻抗值和电化学试条中电极的阻抗值，而电极的阻抗值可以通过电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值进行准确表征，所以，当获取得到样本连通回路的阻抗值之后，通过求取电化学试条中样本连通回路与电极本身所具有的阻抗值之差，就可以确定出待测样本的目标阻抗值。

显然，相较于现有技术而言，由于通过本实施例所提供的阻抗测量方法可以将样本连通回路中电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响，由此就可以使得测量得到待测样本的阻抗值更加准确与可靠。

另外，在实际应用中，可以将电化学试条中的电极设置为由金或碳所组成的电极，因为金具有良好的导电性和不易氧化的优点，所以，当将电化学试条中的电极设置为金电极时，就可以使得待测样本的测试过程更加快速与灵敏；而碳电极相比于其它类型的电极而言具有造价成本低廉的优点，所以，当将电化学试条中的电极设置为碳电极时，就可以相对降低本申请所提供电化学试条的测试成本。

可见，在本实施例所提供的电化学试条中，是包括至少两个电极，其中，当电化学试条插入到测试仪中时，由电化学试条中的两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，以及至少一条与待测样本相连通的样本连通回路，这样当对待测样本的阻抗值进行测量时，就可以首先获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定电化学试条的校正系数，然后，再获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值来确定待测样本的目标阻抗值。显然，由于通过此种方法可以将样本连通回路中电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，请参见图2，图2为本发明实施例所提供的一种电化学试条的结构图。作为一种优选的实施方式，当电化学试条包括第一电极11和第二电极12时，第一电极11呈U形设置于电化学试条本体的外周部，且第一电极11在位于U形弯折处设置有凸起部，第二电极12为一端具有弯折部的条状电极，第二电极12设置于第一电极11的内周部，且凸起部伸入到第二电极12呈弯折部的凹槽中，但凸起部与第二电极12不相接；第一电极11的两端分别设置有第一电接触点101和第二电接触点102，第二电极12呈条状的一端设置有第三电接触点103；当电化学试条通过第一电接触点101、第二电接触点102和第三电接触点103插入到测试仪时，第一电极11形成第一电极连通回路，第一电极11、第二电极12和待测样本形成第一样本连通回路。

在图2所示的电化学试条中有两个电极，其中，当该电化学试条通过第一电接触点101、第二电接触点102和第三电接触点103插入到测试仪时，第一电极11会形成一条只含有电极的第一电极连通回路，而由第一电极11、第二电极12和待测样本会形成一条既含有电极又含有待测样本的第一样本连通回路。

在通过该电化学试条来测量待测样本的阻抗值时，可以先获取第一电极连通回路的阻抗值，然后，根据第一电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值来确定电化学试条的校正系数；最后，再获取第一样本连通回路的阻抗值，并根据第一样本连通回路的阻抗值、电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值来确定待测样本的目标阻抗值。

能够想到的是，当计算得到电化学试条的校正系数之后，就可以通过电化学试条的校正系数和测量得到的第一样本连通回路的阻抗值计算得到第一样本连通回路中所包含电极的阻抗值，也即，目标电极阻抗值。在此情况下，通过求取第一样本连通回路的阻抗值与目标电极阻抗值的差值，就可以获取得到待测样本的目标阻抗值。显然，由于通过此种方法可以将第一样本连通回路中第二电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。

请参见图3，图3为本发明实施例所提供的另一种电化学试条的结构图。作为一种优选的实施方式，上述电化学试条还包括：呈U形的第三电极13，第三电极13设置于第一电极11的外周部，且第三电极13的U形弯折部与第一电极11的U形弯折部位于同一侧，第三电极13的两端分别设置有第四电接触点104和第五电接触点105；当电化学试条通过第一电接触点101、第二电接触点102、第三电接触点103、第四电接触点104和第五电接触点105插入到测试仪时，第三电极13形成第二电极12连通回路。

在图3所示的电化学试条中是有三个电极，也即，在图2所示的电化学试条的结构基础上，又在电化学试条本体的外周部添加了一个电极。其中，当该电化学试条通过第一电接触点101、第二电接触点102、第三电接触点103、第四电接触点104和第五电接触点105插入到测试仪时，第一电极11会形成一条只含有电极的第一电极连通回路，第三电极会形成另一条只含有电极的第二电极连通回路，而由第一电极11、第二电极12和待测样本会形成一条既含有电极又含有待测样本的第一样本连通回路。

结合图3所示电化学试条的结构图，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，作为一种优选的实施方式，上述步骤：获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定电化学试条的校正系数的过程，包括：

分别获取第一电极连通回路和第二电极连通回路的第一阻抗值和第二阻抗值，并根据第一阻抗值、第二阻抗值和阻抗标定值确定电化学试条的校正系数。

可以理解的是，相比于图2所示的电化学试条而言，由于图3所示的电化学试条可以在试条中形成两条电极连通回路，所以，在实际应用中就可以计算得到电化学试条的两个校正系数。

能够想到的是，当利用电化学试条的两个校正系数计算待测样本的目标阻抗值时，就可以使得待测样本的目标阻抗值更加准确与可靠。具体的，在图3所示的电化学试条中，可以根据第一电极11确定出电化学试条的一个校正系数，并根据第三电极13确定出电化学试条的另一个校正系数。

具体的，上述步骤：根据第一阻抗值、第二阻抗值和阻抗标定值确定电化学试条的校正系数的过程，包括：

将第一阻抗值与阻抗标定值比值的一半设定为电化学试条的第一校正系数，并将第二阻抗值与阻抗标定值比值的一半设定为电化学试条的第二校正系数。

请参见图4，图4为本发明实施例所提供与图3所示电化学试条相对应等效电路的模型示意图，在该试条等效电路中，可以将电化学试条的阻抗标定值设定为R₀，然后，根据电极的属性特征可以将第一电极的阻抗值等效为R₃和R₄之和，将第二电极的阻抗值等效为R₅，将第三电极的阻抗值等效为R₁和R₂之和，并将待测样本的阻抗值等效为R_w。

请参见图5，图5为图3所示电化学试条中由各个电极所组成电气回路的示意图。其中，回路1即为第一电极连通回路、回路2即为第一样本连通回路、回路3即为第二电极连通回路。其中，第一电极连通回路的阻抗值为：R_l1＝R₃+R₄＝2×R₀，第二电极连通回路的阻抗值为：R_l2＝R₁+R₂＝2×R₀，第一样本连通回路的阻抗值为：R_l3＝R_w+R₄+R₅＝R_w+2×R₀。

因此，在实际应用中，可以将第一校正系数设定为：K₁＝R_l1/(2×R₀)；式中，K₁为第一校正系数，R_l1为第一电极连通回路的阻抗值，R₀为试条的阻抗标定值；将第二校正系数设定为：K₂＝R_l2/(2×R₀)；式中，K₂为第二校正系数，R_l2为第二电极连通回路的阻抗值，R₀为试条的阻抗标定值。

作为一种优选的实施方式，上述步骤：获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、校正系数和阻抗标定值确定待测样本所在区域的目标阻抗值的过程，包括：

获取第一样本连通回路的第三阻抗值，并将第三阻抗值、第一校正系数、第二校正系数和阻抗标定值输入至目标模型，以利用目标模型确定待测样本所在区域的目标阻抗值；

其中，目标模型的表达式为：

R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀；

式中，R_w为目标阻抗值，R_l3为第三阻抗值，K₁为第一校正系数，K₂为第二校正系数，a为第一校正系数的加权系数，b为第二校正系数的加权系数，R₀为阻抗标定值。

根据上述论述可知，待测样本的阻抗值为R_w＝R_l3-2×R₀，而第一校正系数为K₁＝R_l1/(2×R₀)、第二校正系数为K₂＝R_l2/(2×R₀)，因此，待测样本的阻抗值即为：R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀。需要说明的是，在实际应用中，加权系数a和b是根据实际操作经验而设定的值。

由目标模型的数学表达式可知，通过本实施例所提供的方法，由于可以避免试条电极在生产过程中所产生的阻抗差异而对待测样本阻抗值所造成的影响，所以，通过该方法就可以使得测试者的血糖测试结果更加准确与可靠。并且，相较于现有技术而言，本实施例所提供的测试方法简单、易行，降低了相关的工艺设计难度。

作为一种优选的实施方式，第一校正系数的加权系数小于或等于第二校正系数的加权系数，并且，第一校正系数的加权系数的取值范围为：0.5≤a≤1，第二校正系数的加权系数的取值范围为：1≤b≤1.5。

需要说明的是，在实际应用中，a和b的加权系数应该按照电化学试条的生产情况来确定。比如：在图3所示的电化学试条中，因为第三电极位于电化学试条本体的最外圈，所以，在生产过程中进行裁剪分条时，第三电极很有可能会出现被裁剪掉部分导电材料的情况。因此，在本实施例中，是通过对加权系数a和b进行适应性调整来避免上述情况对待测样本阻抗计算值所造成的影响与干扰。

其中，在实际操作过程中，如果第三电极受生产工艺影响比较大，当第三电极被裁剪掉部分时，在上述取值范围内，a的取值会趋于较小值，b的取值会趋于较大值；反之，如果第三电极受生产工艺影响比较小，当第三电极被裁剪掉部分时，a的取值会趋于较大值，b的取值会趋于较小值；如果是在理想生产状态下，第三电极不受生产工艺所影响时，a＝1，b＝1.5。

作为一种优选的实施方式，上述应用于电化学试条的阻抗测试方法还包括：

判断第一校正系数和第二校正系数之间的差值是否超过预设阈值k；其中，预设阈值的取值范围为：0.2≤k≤0.5；

若是，则判定电化学试条出现异常。

可以理解的是，对于同一个试条而言，由于生产工艺的原因，设置在同一个电化学试条上的电极必定会有相同或相近的阻抗值，也就是说，设置在同一个电化学试条上的电极会具有相同或相近的校正系数。因此，鉴于上述因素的考量，在实际应用中，还可以通过第一校正系数和第二校正系数之间的差值来判断电化学试条是否正常。

也即，如果第一校正系数和第二校正系数之间的差值没有超过预设阈值k，则说明电化学试条正常、可用，如果第一校正系数和第二校正系数之间的差值超过预设阈值k，则说明电化学试条异常，此时，就可以暂停使用该电化学试条来对待测样本进行测试，以避免测量结果不准确而给测试者所带来的不良体验。

显然，通过本实施例所提供的技术方案，可以进一步保证电化学试条在使用过程中的安全性与可靠性。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，请参见图6，图6为本发明实施例所提供的又一种电化学试条的结构图。作为一种优选的实施方式，当电化学试条包括第四电极14、第五电极15和第六电极16时，第四电极14呈U形设置于电化学试条本体的外周部，第五电极15为一端具有弯折部的条状电极，第五电极15设置于第四电极14的内周部，第六电极16呈L形设置于第四电极14的内周部，且第六电极16呈L形的一端伸入到第五电极15呈弯折部的凹槽中，但与第五电极15不相接，第四电极14的两端分别设置有第六电接触点106和第七电接触点107，第五电极15呈条状的一端设置有第八电接触点108，第六电极16呈条状的一端设置有第九电接触点109；当电化学试条通过第六电接触点106、第七电接触点107、第八电接触点108和第九电接触点109插入到测试仪时，第四电极14形成第三电极连通回路，第五电极15、第六电极16和待测样本形成第二样本连通回路。

在实际应用中，还可以将电化学试条设置为如图6所示的结构形式，在该电化学试条中是具有一条只含有电极的电极连通回路和一条既含有电极又含有待测样本的样本连通回路。

在测量该电化学试条的阻抗值时，首先是获取第三电极连通回路的阻抗值，并根据第三电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值来确定电化学试条的校正系数；也即，通过第四电极14的阻抗值和试条的阻抗标定值来确定电化学试条的校正系数；然后，再获取第二样本连通回路的阻抗值，并根据第二样本连通回路的阻抗值、电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值来确定待测样本的目标阻抗值。

可以理解的是，当通过第四电极14的阻抗值和试条的阻抗标定值确定出电化学试条的校正系数时，就可以根据电化学试条的校正系数和试条的阻抗标定值大致推测出电化学试条中第五电极15和第六电极16的阻抗值之和。在此情况下，当获取得到第二样本连通回路的阻抗值时，也就相当于获取得到了第五电极15、第六电极16和待测样本的阻抗值之和，此时，通过在第二样本连通回路的阻抗值中减去第五电极15和第六电极16的阻抗值，就可以计算得到待测样本的目标阻抗值。

显然，由于通过此种方法可以将第二样本连通回路中电极所具有的电极阻抗值去除，所以，通过该方法就可以避免试条电极在印刷过程中所产生阻抗差异而对样本测试结果的影响。

相应的，本发明实施例还公开了一种电化学测量系统，包括电化学试条和测试仪，电化学试条包括至少两个电极，其中，当电化学试条插入到测试仪中时，由两个电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个电极至少可形成一条与待测样本相连通的样本连通回路；测试仪包括用于存储计算机程序的存储器和处理器；处理器用于执行计算机程序时实现以下步骤：

获取电极连通回路的阻抗值，并根据电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定电化学试条的校正系数；

获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、校正系数和阻抗标定值确定待测样本所在区域的目标阻抗值；

根据目标阻抗值分析待测样本的浓度。

本发明实施例所提供的一种电化学测量系统，具有前述所公开的一种应用于电化学试条的阻抗测试方法所具有的有益效果。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种应用于电化学试条的阻抗测试方法及电化学测量系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种应用于电化学试条的阻抗测试方法，其特征在于，所述电化学试条包括至少两个电极，其中，当所述电化学试条插入到测试仪时，由两个所述电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个所述电极至少可形成一条与所述待测样本相连通的样本连通回路；该方法包括：

获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和试条的阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数；

获取所述样本连通回路的阻抗值，并根据所述样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定所述待测样本的目标阻抗值；

获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定待测样本所在区域的目标阻抗值的过程，包括：

获取第一样本连通回路的第三阻抗值，并将第三阻抗值、第一校正系数、第二校正系数和阻抗标定值输入至目标模型，以利用目标模型确定待测样本所在区域的目标阻抗值；

其中，目标模型的表达式为：

R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀；

式中，R_w为目标阻抗值，R_l3为第三阻抗值，K₁为第一校正系数，K₂为第二校正系数，a为第一校正系数的加权系数，b为第二校正系数的加权系数，R₀为阻抗标定值。

2.根据权利要求1所述的阻抗测试方法，其特征在于，当所述电化学试条包括第一电极和第二电极时，所述第一电极呈U形设置于所述电化学试条本体的外周部，且所述第一电极在位于U形弯折处设置有凸起部，所述第二电极为一端具有弯折部的条状电极，所述第二电极设置于所述第一电极的内周部，且所述凸起部伸入到所述第二电极呈弯折部的凹槽中，但所述凸起部与所述第二电极不相接；所述第一电极的两端分别设置有第一电接触点和第二电接触点，所述第二电极呈条状的一端设置有第三电接触点；当所述电化学试条通过所述第一电接触点、所述第二电接触点和所述第三电接触点插入到所述测试仪时，所述第一电极形成第一所述电极连通回路，所述第一电极、所述第二电极和所述待测样本形成第一所述样本连通回路。

3.根据权利要求2所述的阻抗测试方法，其特征在于，还包括：呈U形的第三电极，所述第三电极设置于所述第一电极的外周部，且所述第三电极的U形弯折部与所述第一电极的U形弯折部位于同一侧，所述第三电极的两端分别设置有第四电接触点和第五电接触点；当所述电化学试条通过所述第一电接触点、所述第二电接触点、所述第三电接触点、所述第四电接触点和所述第五电接触点插入到所述测试仪时，所述第三电极形成第二所述电极连通回路。

4.根据权利要求1所述的阻抗测试方法，其特征在于，当所述电化学试条包括第四电极、第五电极和第六电极时，所述第四电极呈U形设置于所述电化学试条本体的外周部，所述第五电极为一端具有弯折部的条状电极，所述第五电极设置于所述第四电极的内周部，所述第六电极呈L形设置于所述第四电极的内周部，且所述第六电极呈L形的一端伸入到所述第五电极呈弯折部的凹槽中，但与所述第五电极不相接，所述第四电极的两端分别设置有第六电接触点和第七电接触点，所述第五电极呈条状的一端设置有第八电接触点，所述第六电极呈条状的一端设置有第九电接触点；当所述电化学试条通过所述第六电接触点、所述第七电接触点、所述第八电接触点和所述第九电接触点插入到所述测试仪时，所述第四电极形成第三所述电极连通回路，所述第五电极、所述第六电极和所述待测样本形成第二所述样本连通回路。

5.根据权利要求3所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数的过程，包括：

分别获取第一所述电极连通回路和第二所述电极连通回路的第一阻抗值和第二阻抗值，并根据所述第一阻抗值、所述第二阻抗值和所述阻抗标定值确定所述电化学试条的所述校正系数。

6.根据权利要求5所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述根据所述第一阻抗值、所述第二阻抗值和所述阻抗标定值确定所述电化学试条的所述校正系数的过程，包括：

将所述第一阻抗值与所述阻抗标定值比值的一半设定为所述电化学试条的第一校正系数，并将所述第二阻抗值与所述阻抗标定值比值的一半设定为所述电化学试条的第二校正系数。

7.根据权利要求1所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述第一校正系数的加权系数小于或等于所述第二校正系数的加权系数，并且，所述第一校正系数的加权系数的取值范围为：0.5≤a≤1，所述第二校正系数的加权系数的取值范围为：1≤b≤1.5。

8.根据权利要求7所述的阻抗测试方法，其特征在于，还包括：

判断所述第一校正系数和所述第二校正系数之间的差值是否超过预设阈值k；其中，所述预设阈值的取值范围为：0.2≤k≤0.5；

若是，则判定所述电化学试条出现异常。

9.一种电化学测量系统，包括电化学试条和测试仪，其特征在于，所述电化学试条包括至少两个电极，其中，当所述电化学试条插入到所述测试仪中时，由两个所述电极至少可形成一条与待测样本不连通的电极连通回路，并且，由两个所述电极至少可形成一条与所述待测样本相连通的样本连通回路；所述测试仪包括用于存储计算机程序的存储器和处理器；所述处理器用于执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取所述电极连通回路的阻抗值，并根据所述电极连通回路的阻抗值和阻抗标定值确定所述电化学试条的校正系数；

获取所述样本连通回路的阻抗值，并根据所述样本连通回路的阻抗值、所述校正系数和所述阻抗标定值确定所述待测样本所在区域的目标阻抗值；

根据所述目标阻抗值分析所述待测样本的浓度；

获取样本连通回路的阻抗值，并根据样本连通回路的阻抗值、校正系数和阻抗标定值确定待测样本所在区域的目标阻抗值的过程，包括：

获取第一样本连通回路的第三阻抗值，并将第三阻抗值、第一校正系数、第二校正系数和阻抗标定值输入至目标模型，以利用目标模型确定待测样本所在区域的目标阻抗值；

其中，目标模型的表达式为：

R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀；

式中，R_w为目标阻抗值，R_l3为第三阻抗值，K₁为第一校正系数，K₂为第二校正系数，a为第一校正系数的加权系数，b为第二校正系数的加权系数，R₀为阻抗标定值。

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