CN112229305A - 一种磁环生产加工用检测装置及使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种磁环生产加工用检测装置及使用方法，属于磁环检测技术领域，该磁环生产加工用检测装置及使用方法包括测量板，测量板的上端固定连接有两个连接柱，两个连接柱的上端固定连接有放置板，测量板的上端固定连接有测量箱，放置板的下端固定连接有调节箱，测量板的上端转动连接有内径测量杆，内径测量杆的下端贯穿至测量板的下侧，内径测量杆的上端通过测量箱贯穿至调节箱内，放置板的上端开凿有两个滑槽，旨在解决现有技术中的难以将磁环夹紧固定，不方便对磁环的外径进行检测，大部分检测装置只能够单独的对磁环的外径与内径进行测量，难以对磁环外径与内径长度进行同时检测，使磁环测量结果的呈现不够直观的问题。
Description
技术领域
本发明属于磁环检测技术领域，具体涉及一种磁环生产加工用检测装置及使用方法。
背景技术
在现有技术中，磁环是一块环状的导磁体，磁环是电子电路中常用的抗干扰元件，对于高频噪声有很好的抑制作用，电子设备辐射和泄漏的电磁波严重干扰其他电子设备正常工作，导致设备功能紊乱、传输错误。因此降低电子设备的电磁干扰(EMI)已经是必须考虑的问题，吸收磁环，又称铁氧体磁环，简称磁环。它是电子电路中常用的抗干扰元件，对于高频噪声有很好的抑制作用，一般使用铁氧体材料(Mn-Zn)制成。磁环在不同的频率下有不同的阻抗特性，一般在低频时阻抗很小，当信号频率升高磁环表现的阻抗急剧升高。
磁环在进行生产的过程中，为了防止磁环生产时尺寸发生误差，需要对磁环的尺寸进行检测，工作人员经常会利用游标卡尺对磁环的外形尺寸进行检测，由于大部分的磁环的形状为圆环状，而且部分磁环表面进行光滑打磨处理，在利用游标卡尺进行磁环检测时，游标卡尺难以将磁环夹住，不方便对磁环的外径进行检测，而且在进行测量时，游标卡尺只能够单独的对磁环的外径与内径进行测量，难以对磁环外径与内径长度进行同时检测，使磁环测量结果的呈现不够直观。
发明内容
本发明的目的在于提供一种磁环生产加工用检测装置及使用方法，旨在解决现有技术中的难以将磁环夹紧固定，不方便对磁环的外径进行检测，大部分检测装置只能够单独的对磁环的外径与内径进行测量，难以对磁环外径与内径长度进行同时检测，使磁环测量结果的呈现不够直观的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种磁环生产加工用检测装置，包括测量板，所述测量板的上端固定连接有两个连接柱，两个所述连接柱的上端固定连接有放置板，所述测量板的上端固定连接有测量箱，所述放置板的下端固定连接有调节箱，所述测量板的上端转动连接有内径测量杆，所述内径测量杆的下端贯穿至测量板的下侧，所述内径测量杆的上端通过测量箱贯穿至调节箱内，所述放置板的上端开凿有两个滑槽，两个所述滑槽内均滑动连接有滑块，两个所述滑块的上端均固定连接有内径测量片，两个所述内径测量片位于放置板的上侧，所述内径测量杆的上部表面螺纹连接有第一上螺母，所述第一上螺母位于调节箱内，所述第一上螺母的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一上连杆，两个所述第一上连杆的上端分别通过铰轴活动铰接于两个滑块，所述内径测量杆的下部表面螺纹连接有第一下螺母，所述第一下螺母位于测量箱内，所述测量板的上端开凿有两个第一T型滑槽，两个所述第一T型滑槽内均滑动连接有第一T型滑块，所述测量箱的前后两端均开凿有第一开口槽，所述第一下螺母的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一下连杆，两个所述第一下连杆分别贯穿两个第一开口槽通过铰轴活动铰接于两个第一T型滑块，所述测量板的上端设置有内径刻度标，位于前侧所述第一T型滑块的右端固定连接有第一指块，所述第一指块与内径刻度标相对应，所述测量板的上侧设置有外测机构。
作为本发明一种优选的方案，所述外测机构包括外径测量管，所述外径测量管转动连接于内径测量杆的表面，且外径测量管位于第一上螺母与第一下螺母之间，所述外径测量管的上部表面螺纹连接有第二上螺母，所述第二上螺母位于调节箱内，所述放置板的上端开凿有两个第二T型滑槽，两个所述第二T型滑槽内均滑动连接有第二T型滑块，两个所述第二T型滑块的上端均固定连接有外径测量片，两个所述外径测量片位于放置板的上侧，所述调节箱的左右两端均开凿有第二开口槽，所述第二上螺母的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二上连杆，两个所述第二上连杆分别贯穿两个第二开口槽通过铰轴活动铰接于两个第二T型滑块，所述外径测量管的下部表面螺纹连接有第二下螺母，所述第二下螺母位于测量箱内，所述测量板的上端开凿有两个第三T型滑槽，两个所述第三T型滑槽内均滑动连接有第三T型滑块，所述测量箱的左右两端均开凿有第三开口槽，所述第二下螺母的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二下连杆，两个所述第二下连杆分别贯穿两个第三开口槽通过铰轴活动铰接于两个第三T型滑块，所述测量板的上端设置有外径刻度标，位于左侧所述第三T型滑块的前端固定连接有第二指块，所述第二指块与外径刻度标相对应，所述外径测量管的表面固定连接有转动圈，所述转动圈位于测量箱和调节箱之间。
作为本发明一种优选的方案，两个所述滑槽的左右内壁均开凿有滑道，两个所述滑块的左右两端均固定连接有滑轮，多个所述滑轮分别滑动连接于多个滑道内。
作为本发明一种优选的方案，所述内径测量杆的中部表面开凿环形槽，所述外径测量管的内壁固定连接有环形块，所述环形块转动连接于环形槽内。
作为本发明一种优选的方案，所述测量板的上端转动连接有限位圈，所述限位圈的下端贯穿至测量板的下侧，所述限位圈的内壁与内径测量杆的表面固定连接。
作为本发明一种优选的方案，所述测量板的下端固定连接有四个支撑杆，四个所述支撑杆的下端均固定连接有万向轮。
作为本发明一种优选的方案，所述放置板的右端固定连接有推动把手。
作为本发明一种优选的方案，所述内径测量杆的下端固定连接有内径调节把手，所述内径调节把手位于测量板的下侧。
作为本发明一种优选的方案，所述转动圈的表面固定连接有外径调节把手。
作为本发明一种优选的方案，包括以下步骤；
步骤S1：通过将磁环套设于两个内径测量片的表面，然后转动内径调节把手带动内径测量杆转动，内径测量杆使第一上螺母向上移动，第一上螺母通过两个第一上连杆使两个滑块分别在两个滑槽内滑动，从而使两个内径测量片远离，两个内径测量片与磁环的内侧接触，同时第一下螺母向下移动，第一下螺母通过两个第一下连杆使两个第一T型滑块分别在两个第一T型滑槽内滑动，使两个第一T型滑块相远离，此时第一指块指向内径刻度标相对应的刻度，通过内径刻度标与第一指块进行比对，从而得出磁环的内径长度。
步骤S2：通过转动转动圈，使外径测量管进行转动，外径测量管使第二上螺母向下移动，第二上螺母通过两个第二上连杆使两个第二T型滑块分别在两个第二T型滑槽内滑动，两个第二T型滑块带动两个外径测量片相靠近，两个外径测量片对磁环进行夹紧，在第二上螺母移动的同时，第二下螺母会向下移动，第二下螺母通过两个第二下连杆使两个第三T型滑块分别在两个第三T型滑槽内滑动，位于左侧的第三T型滑块带动第二指块进行移动，此时第二指块与外径刻度标对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本方案中，将磁环套设于两个内径测量片的表面，通过转动内径调节把手使内径测量杆转动，内径测量杆使第一上螺母和第一下螺母相远离，第一上螺母通过两个第一上连杆使两个滑块分别在两个滑槽内滑动，两个滑块使两个内径测量片远离并与磁环的内侧接触，同时第一下螺母通过两个第一下连杆使两个第一T型滑块分别在两个第一T型滑槽内滑动，位于前侧的第一T型滑槽带动第一指块向前移动，此时第一指块指向内径刻度标相对应的刻度，通过内径刻度标与第一指块进行比对，从而得出磁环的内径长度，然后转动转动圈，使外径测量管进行转动，外径测量管使第二上螺母向下移动，第二上螺母通过两个第二上连杆使两个第二T型滑块分别在两个第二T型滑槽内滑动，两个第二T型滑块带动两个外径测量片相靠近，两个外径测量片对磁环进行夹紧，在第二上螺母移动的同时，第二下螺母会向下移动，第二下螺母通过两个第二下连杆使两个第三T型滑块分别在两个第三T型滑槽内滑动，位于左侧的第三T型滑块带动第二指块进行移动，此时第二指块与外径刻度标对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
2、每两个滑轮会分别跟随一个滑块的移动在两个滑道内进行滑动，通过滑轮滑动与滑道内，使两个滑块的移动更加顺畅，同时能够对滑块进行一定的限制，防止滑块从滑槽内掉落，使滑块的移动更加稳定，在外径测量管进行转动时，环形块会在环形槽内转动，环形块与环形槽之间的摩擦力较小，外径测量管转动时不会带动内径测量杆的转动，内径测量杆在进行转动时会带动限位圈进行转动，限位圈能够防止内径测量杆掉落，同时保证内径测量杆转动时的稳定性，限位圈增加了内径测量杆的摩擦力，防止外径测量管转动时带动内径测量杆的转动，通过四个支撑杆下端的四个万向轮，使整个装置能够进行移动，通过推动把手使装置的移动更加方便，通过内径调节把手使内径测量杆的转动更加方便，通过外径调节把手使转动圈的转动更加方便。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明的立面图；
图2为本发明中图1的A处放大图；
图3为本发明中的剖视图；
图4为本发明中图3的B处放大图；
图5为本发明中的侧剖图；
图6为本发明中图5的C处放大图。
图中：1-测量板；2-连接柱；3-放置板；4-测量箱；5-调节箱；6-内径测量杆；7-滑槽；8-滑块；9-内径测量片；10-第一上螺母；11-第一上连杆；12-第一下螺母；13-第一T型滑槽；14-第一T型滑块；15-第一开口槽；16-第一下连杆；17-内径刻度标；18-第一指块；19-外径测量管；20-第二上螺母；21-第二T型滑槽；22-第二T型滑块；23-外径测量片；24-第二开口槽；25-第二上连杆；26-第二下螺母；27-第三T型滑槽；28-第三T型滑块；29-第三开口槽；30-第二下连杆；31-外径刻度标；32-第二指块；33-转动圈；34-滑道；35-滑轮；36-环形槽；37-环形块；38-限位圈；39-支撑杆；40-万向轮；41-推动把手；42-内径调节把手；43-外径调节把手。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例1
请参阅图1-6，本发明提供以下技术方案：
一种磁环生产加工用检测装置，包括测量板1，测量板1的上端固定连接有两个连接柱2，两个连接柱2的上端固定连接有放置板3，测量板1的上端固定连接有测量箱4，放置板3的下端固定连接有调节箱5，测量板1的上端转动连接有内径测量杆6，内径测量杆6的下端贯穿至测量板1的下侧，内径测量杆6的上端通过测量箱4贯穿至调节箱5内，放置板3的上端开凿有两个滑槽7，两个滑槽7内均滑动连接有滑块8，两个滑块8的上端均固定连接有内径测量片9，两个内径测量片9位于放置板3的上侧，内径测量杆6的上部表面螺纹连接有第一上螺母10，第一上螺母10位于调节箱5内，第一上螺母10的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一上连杆11，两个第一上连杆11的上端分别通过铰轴活动铰接于两个滑块8，内径测量杆6的下部表面螺纹连接有第一下螺母12，第一下螺母12位于测量箱4内，测量板1的上端开凿有两个第一T型滑槽13，两个第一T型滑槽13内均滑动连接有第一T型滑块14，测量箱4的前后两端均开凿有第一开口槽15，第一下螺母12的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一下连杆16，两个第一下连杆16分别贯穿两个第一开口槽15通过铰轴活动铰接于两个第一T型滑块14，测量板1的上端设置有内径刻度标17，位于前侧第一T型滑块14的右端固定连接有第一指块18，第一指块18与内径刻度标17相对应，测量板1的上侧设置有外测机构。
在本发明的具体实施例中，测量板1的作用是使磁环内径与外径检测的尺寸进行呈现，两个连接柱2起到连接测量板1和放置板3的作用，同时两个连接柱2起到支撑放置板3的作用，放置板3的上端用于放置磁环，将磁环套设于两个内径测量片9的表面，两个内径测量片9为圆弧状，能够更好的与磁环的内侧贴合，在测量板1的下侧转动内径测量杆6，内径测量杆6使第一上螺母10和第一下螺母12相远离，内径测量杆6的上下两部为相反方向的螺纹，通过转动内径测量杆6，第一上螺母10和第一下螺母12会向相反的方向移动，第一上螺母10通过两个第一上连杆11使两个滑块8分别在两个滑槽7内滑动，两个滑块8使两个内径测量片9远离并与磁环的内侧接触，同时第一下螺母12通过两个第一下连杆16使两个第一T型滑块14分别在两个第一T型滑槽13内滑动，两个第一开口槽15使两个第一下连杆16能够有一定的展开空间，方便两个第一下连杆16进行展开，位于前侧的第一T型滑槽13带动第一指块18向前移动，此时第一指块18指向内径刻度标17相对应的刻度，当两个内径测量片9与磁环的内侧接触时，两个第一T型滑块14移动的距离为磁环的内环直径，由于内径刻度标17只有一个，因此内径刻度标17的刻度是正常刻度的两倍，因此通过内径刻度标17与第一指块18进行比对，从而得出磁环的内径长度，后侧第一T型滑块14与后侧的第一T型滑槽13滑动连接，能够使前侧的第一T型滑槽13与前侧第一T型滑块14的移动更加稳定。
具体的，请参阅图1-5，外测机构包括外径测量管19，外径测量管19转动连接于内径测量杆6的表面，且外径测量管19位于第一上螺母10与第一下螺母12之间，外径测量管19的上部表面螺纹连接有第二上螺母20，第二上螺母20位于调节箱5内，放置板3的上端开凿有两个第二T型滑槽21，两个第二T型滑槽21内均滑动连接有第二T型滑块22，两个第二T型滑块22的上端均固定连接有外径测量片23，两个外径测量片23位于放置板3的上侧，调节箱5的左右两端均开凿有第二开口槽24，第二上螺母20的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二上连杆25，两个第二上连杆25分别贯穿两个第二开口槽24通过铰轴活动铰接于两个第二T型滑块22，外径测量管19的下部表面螺纹连接有第二下螺母26，第二下螺母26位于测量箱4内，测量板1的上端开凿有两个第三T型滑槽27，两个第三T型滑槽27内均滑动连接有第三T型滑块28，测量箱4的左右两端均开凿有第三开口槽29，第二下螺母26的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二下连杆30，两个第二下连杆30分别贯穿两个第三开口槽29通过铰轴活动铰接于两个第三T型滑块28，测量板1的上端设置有外径刻度标31，位于左侧第三T型滑块28的前端固定连接有第二指块32，第二指块32与外径刻度标31相对应，外径测量管19的表面固定连接有转动圈33，转动圈33位于测量箱4和调节箱5之间。
在本发明的具体实施例中，转动圈33能够使外径测量管19的转动更加方便，通过转动转动圈33，使外径测量管19进行转动，外径测量管19使第二上螺母20与第二下螺母26同时向下移动，第二上螺母20通过两个第二上连杆25使两个第二T型滑块22分别在两个第二T型滑槽21内滑动，两个第二开口槽24为两个第二上连杆25的移动提供一定的空间，使两个第二上连杆25的移动不受到限制，两个第二T型滑块22带动两个外径测量片23相靠近，两个外径测量片23对磁环进行夹紧，在第二上螺母20移动的同时，第二下螺母26会向下移动，第二下螺母26通过两个第二下连杆30使两个第三T型滑块28分别在两个第三T型滑槽27内滑动，位于左侧的第三T型滑块28带动第二指块32进行移动，两个外径测量片23移动的距离相当于两个第三T型滑块28移动的距离，由于磁环的限制，两个外径测量片23无法移动至中心点，两个第三T型滑块28也无法移动至两个第三T型滑槽27的槽底端，外径刻度标31的零点位置与位于左侧第二T型滑槽21的左内壁对应，一个第三T型滑块28移动的距离相当于磁环的外径的半径，由于外径刻度标31只有一个，因此外径刻度标31的刻度是正常刻度的两倍，此时第二指块32与外径刻度标31对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板1上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
具体的，请参阅图4，两个滑槽7的左右内壁均开凿有滑道34，两个滑块8的左右两端均固定连接有滑轮35，多个滑轮35分别滑动连接于多个滑道34内。
在本发明的具体实施例中，每两个滑轮35会分别跟随一个滑块8的移动在两个滑道34内进行滑动，通过滑轮35滑动与滑道34内，使两个滑块8的移动更加顺畅，同时能够对滑块8进行一定的限制，防止滑块8从滑槽7内掉落，使滑块8的移动更加稳定。
具体的，请参阅图6，内径测量杆6的中部表面开凿环形槽36，外径测量管19的内壁固定连接有环形块37，环形块37转动连接于环形槽36内。
在本发明的具体实施例中，在外径测量管19进行转动时，环形块37会在环形槽36内转动，环形块37与环形槽36之间的摩擦力较小，外径测量管19转动时不会带动内径测量杆6的转动。
具体的，请参阅图3，测量板1的上端转动连接有限位圈38，限位圈38的下端贯穿至测量板1的下侧，限位圈38的内壁与内径测量杆6的表面固定连接。
在本发明的具体实施例中，内径测量杆6在进行转动时会带动限位圈38进行转动，限位圈38能够防止内径测量杆6掉落，同时保证内径测量杆6转动时的稳定性，限位圈38增加了内径测量杆6的摩擦力，防止外径测量管19转动时带动内径测量杆6的转动。
具体的，请参阅图1，测量板1的下端固定连接有四个支撑杆39，四个支撑杆39的下端均固定连接有万向轮40。
在本发明的具体实施例中，通过四个支撑杆39下端的四个万向轮40，使整个装置能够进行移动。
具体的，请参阅图1，放置板3的右端固定连接有推动把手41。
在本发明的具体实施例中，通过推动把手41使装置的移动更加方便。
具体的，请参阅图3，内径测量杆6的下端固定连接有内径调节把手42，内径调节把手42位于测量板1的下侧。
在本发明的具体实施例中，通过内径调节把手42使内径测量杆6的转动更加方便。
具体的，请参阅图1，转动圈33的表面固定连接有外径调节把手43。
在本发明的具体实施例中，通过外径调节把手43使转动圈33的转动更加方便。
具体的，请参阅图1-6，包括以下步骤；
步骤S1：通过将磁环套设于两个内径测量片9的表面，然后转动内径调节把手42带动内径测量杆6转动，内径测量杆6使第一上螺母10向上移动，第一上螺母10通过两个第一上连杆11使两个滑块8分别在两个滑槽7内滑动，从而使两个内径测量片9远离，两个内径测量片9与磁环的内侧接触，同时第一下螺母12向下移动，第一下螺母12通过两个第一下连杆16使两个第一T型滑块14分别在两个第一T型滑槽13内滑动，使两个第一T型滑块14相远离，此时第一指块18指向内径刻度标17相对应的刻度，通过内径刻度标17与第一指块18进行比对，从而得出磁环的内径长度。
步骤S2：通过转动转动圈33，使外径测量管19进行转动，外径测量管19使第二上螺母20向下移动，第二上螺母20通过两个第二上连杆25使两个第二T型滑块22分别在两个第二T型滑槽21内滑动，两个第二T型滑块22带动两个外径测量片23相靠近，两个外径测量片23对磁环进行夹紧，在第二上螺母20移动的同时，第二下螺母26会向下移动，第二下螺母26通过两个第二下连杆30使两个第三T型滑块28分别在两个第三T型滑槽27内滑动，位于左侧的第三T型滑块28带动第二指块32进行移动，此时第二指块32与外径刻度标31对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板1上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
本发明的工作原理及使用流程：将磁环套设于两个内径测量片9的表面，通过转动内径调节把手42使内径测量杆6转动，内径测量杆6使第一上螺母10和第一下螺母12相远离，第一上螺母10通过两个第一上连杆11使两个滑块8分别在两个滑槽7内滑动，两个滑块8使两个内径测量片9远离并与磁环的内侧接触，同时第一下螺母12通过两个第一下连杆16使两个第一T型滑块14分别在两个第一T型滑槽13内滑动，位于前侧的第一T型滑槽13带动第一指块18向前移动，此时第一指块18指向内径刻度标17相对应的刻度，通过内径刻度标17与第一指块18进行比对，从而得出磁环的内径长度，然后转动转动圈33，使外径测量管19进行转动，外径测量管19使第二上螺母20向下移动，第二上螺母20通过两个第二上连杆25使两个第二T型滑块22分别在两个第二T型滑槽21内滑动，两个第二T型滑块22带动两个外径测量片23相靠近，两个外径测量片23对磁环进行夹紧，在第二上螺母20移动的同时，第二下螺母26会向下移动，第二下螺母26通过两个第二下连杆30使两个第三T型滑块28分别在两个第三T型滑槽27内滑动，位于左侧的第三T型滑块28带动第二指块32进行移动，此时第二指块32与外径刻度标31对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板1上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种磁环生产加工用检测装置，包括测量板(1)，其特征在于：所述测量板(1)的上端固定连接有两个连接柱(2)，两个所述连接柱(2)的上端固定连接有放置板(3)，所述测量板(1)的上端固定连接有测量箱(4)，所述放置板(3)的下端固定连接有调节箱(5)，所述测量板(1)的上端转动连接有内径测量杆(6)，所述内径测量杆(6)的下端贯穿至测量板(1)的下侧，所述内径测量杆(6)的上端通过测量箱(4)贯穿至调节箱(5)内，所述放置板(3)的上端开凿有两个滑槽(7)，两个所述滑槽(7)内均滑动连接有滑块(8)，两个所述滑块(8)的上端均固定连接有内径测量片(9)，两个所述内径测量片(9)位于放置板(3)的上侧，所述内径测量杆(6)的上部表面螺纹连接有第一上螺母(10)，所述第一上螺母(10)位于调节箱(5)内，所述第一上螺母(10)的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一上连杆(11)，两个所述第一上连杆(11)的上端分别通过铰轴活动铰接于两个滑块(8)，所述内径测量杆(6)的下部表面螺纹连接有第一下螺母(12)，所述第一下螺母(12)位于测量箱(4)内，所述测量板(1)的上端开凿有两个第一T型滑槽(13)。
2.根据权利要求1所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：两个所述第一T型滑槽(13)内均滑动连接有第一T型滑块(14)，所述测量箱(4)的前后两端均开凿有第一开口槽(15)，所述第一下螺母(12)的前后两端均通过铰轴活动铰接有第一下连杆(16)，两个所述第一下连杆(16)分别贯穿两个第一开口槽(15)通过铰轴活动铰接于两个第一T型滑块(14)，所述测量板(1)的上端设置有内径刻度标(17)，位于前侧所述第一T型滑块(14)的右端固定连接有第一指块(18)，所述第一指块(18)与内径刻度标(17)相对应，所述测量板(1)的上侧设置有外测机构。
3.根据权利要求2所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述外测机构包括外径测量管(19)，所述外径测量管(19)转动连接于内径测量杆(6)的表面，且外径测量管(19)位于第一上螺母(10)与第一下螺母(12)之间，所述外径测量管(19)的上部表面螺纹连接有第二上螺母(20)，所述第二上螺母(20)位于调节箱(5)内，所述放置板(3)的上端开凿有两个第二T型滑槽(21)，两个所述第二T型滑槽(21)内均滑动连接有第二T型滑块(22)，两个所述第二T型滑块(22)的上端均固定连接有外径测量片(23)，两个所述外径测量片(23)位于放置板(3)的上侧，所述调节箱(5)的左右两端均开凿有第二开口槽(24)，所述第二上螺母(20)的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二上连杆(25)，两个所述第二上连杆(25)分别贯穿两个第二开口槽(24)通过铰轴活动铰接于两个第二T型滑块(22)，所述外径测量管(19)的下部表面螺纹连接有第二下螺母(26)，所述第二下螺母(26)位于测量箱(4)内，所述测量板(1)的上端开凿有两个第三T型滑槽(27)，两个所述第三T型滑槽(27)内均滑动连接有第三T型滑块(28)，所述测量箱(4)的左右两端均开凿有第三开口槽(29)，所述第二下螺母(26)的左右两端均通过铰轴活动铰接有第二下连杆(30)，两个所述第二下连杆(30)分别贯穿两个第三开口槽(29)通过铰轴活动铰接于两个第三T型滑块(28)，所述测量板(1)的上端设置有外径刻度标(31)，位于左侧所述第三T型滑块(28)的前端固定连接有第二指块(32)，所述第二指块(32)与外径刻度标(31)相对应，所述外径测量管(19)的表面固定连接有转动圈(33)，所述转动圈(33)位于测量箱(4)和调节箱(5)之间。
4.根据权利要求3所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：
两个所述滑槽(7)的左右内壁均开凿有滑道(34)，两个所述滑块(8)的左右两端均固定连接有滑轮(35)，多个所述滑轮(35)分别滑动连接于多个滑道(34)内；
所述内径测量杆(6)的中部表面开凿环形槽(36)，所述外径测量管(19)的内壁固定连接有环形块(37)，所述环形块(37)转动连接于环形槽(36)内。
5.根据权利要求4所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述测量板(1)的上端转动连接有限位圈(38)，所述限位圈(38)的下端贯穿至测量板(1)的下侧，所述限位圈(38)的内壁与内径测量杆(6)的表面固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述测量板(1)的下端固定连接有四个支撑杆(39)，四个所述支撑杆(39)的下端均固定连接有万向轮(40)。
7.根据权利要求6所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述放置板(3)的右端固定连接有推动把手(41)。
8.根据权利要求7所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述内径测量杆(6)的下端固定连接有内径调节把手(42)，所述内径调节把手(42)位于测量板(1)的下侧。
9.根据权利要求8所述的一种磁环生产加工用检测装置，其特征在于：所述转动圈(33)的表面固定连接有外径调节把手(43)。
10.根据权利要求9所述的一种磁环生产加工用检测装置的使用方法，其特征在于：包括以下步骤；
步骤S1：通过将磁环套设于两个内径测量片(9)的表面，然后转动内径调节把手(42)带动内径测量杆(6)转动，内径测量杆(6)使第一上螺母(10)向上移动，第一上螺母(10)通过两个第一上连杆(11)使两个滑块(8)分别在两个滑槽(7)内滑动，从而使两个内径测量片(9)远离，两个内径测量片(9)与磁环的内侧接触，同时第一下螺母(12)向下移动，第一下螺母(12)通过两个第一下连杆(16)使两个第一T型滑块(14)分别在两个第一T型滑槽(13)内滑动，使两个第一T型滑块(14)相远离，此时第一指块(18)指向内径刻度标(17)相对应的刻度，通过内径刻度标(17)与第一指块(18)进行比对，从而得出磁环的内径长度。
步骤S2：通过转动转动圈(33)，使外径测量管(19)进行转动，外径测量管(19)使第二上螺母(20)向下移动，第二上螺母(20)通过两个第二上连杆(25)使两个第二T型滑块(22)分别在两个第二T型滑槽(21)内滑动，两个第二T型滑块(22)带动两个外径测量片(23)相靠近，两个外径测量片(23)对磁环进行夹紧，在第二上螺母(20)移动的同时，第二下螺母(26)会向下移动，第二下螺母(26)通过两个第二下连杆(30)使两个第三T型滑块(28)分别在两个第三T型滑槽(27)内滑动，位于左侧的第三T型滑块(28)带动第二指块(32)进行移动，此时第二指块(32)与外径刻度标(31)对应的刻度为磁环的外径长度，磁环的内径与外径长度均呈现在测量板(1)上，使磁环尺寸的检测结果更加直观。
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