CN112213627A - 一种应用于集成电路的芯片测试系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 106
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种应用于集成电路的芯片测试系统，包括上位机和由上位机控制的测试仪，测试仪上安装测试芯片，上位机上安装有上位机软件系统；上位机软件系统包括用户界面模块、数据库模块、通讯模块和测试仪连接模块，上位机通过通讯模块与测试仪信号连接；测试仪包括通讯单元、测试仪电压源、测量单元和电压电流源，电压电流源为测试芯片供电并通过测量单元对测试信号进行提取与处理并显示出来；本发明的应用于集成电路的芯片测试系统，能够实现将整批次的芯片的测试数据进行保存并进行对比，实现判断本批次芯片的测数数据范围，实现判断本批次芯片的整体数值范围，根据测试结果判断芯片的优良，并作出相应的生产数据参数调整。
Description
技术领域
本发明属于集成电路制造领域，更具体的说涉及一种应用于集成电路的芯片测试系统。
背景技术
集成电路的芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
由于集成电路芯片如此复杂的结构，因此集成电路芯片在出厂前，必须经过严格测试，确认其运行性能。测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等等。在现有技术中，芯片测试均是针对一个芯片进行测试，没有对比项，测试后根据测试获得的数据判断其合格否，在数值范围内为合格，反之为不合格，这样不能对一批芯片整体进行判断，不能很好的掌握一批次芯片的生产情况。
发明内容
本发明的目的在于提供一种应用于集成电路的芯片测试系统，能够实现将整批次的芯片的测试数据进行保存并进行对比，实现判断本批次芯片的测数数据范围，实现判断本批次芯片的整体数值范围，根据测试结果判断芯片的优良，并作出相应的生产数据参数调整。
本发明技术方案一种应用于集成电路的芯片测试系统，包括上位机和由上位机控制的测试仪，所述测试仪上安装测试芯片，所述上位机上安装有上位机软件系统；所述上位机软件系统包括用户界面模块、数据库模块、通讯模块和测试仪连接模块，所述上位机通过通讯模块与测试仪信号连接；所述测试仪包括通讯单元、测试仪电压源、测量单元和电压电流源，所述电压电流源为测试芯片供电并通过测量单元对测试信号进行提取与处理并显示出来。
优选地，所述用户界面模块包括用户登录界面、调试模式界面和测试模式界面。
优选地，所述调试模式界面完成测试工程建立和工程参数设置和配置，调试模式界面包括管理界面、测试参数设置界面、调试界面、切换模式界面和系统维护界面。
优选地，所述测试模式界面用于正常测试芯片的测试工作，完成测试数据显示和保存；所述测试模式界面包括测试控制模块和显示模块，所述测试控制模块包括启动按钮、暂停按钮、继续测试按钮和保存按钮，所述显示模块包括对比界面、实时显示界面以及不合格显示界面。
优选地，所述电压电流源包括驱动源选择单元、电压采集单元和限压单元，所述驱动源选择单元上连接有电压源和电流源；所述驱动源选择单元分别驱动电压源或电流源工作，分别为测试芯片供电；所述电压采集单元采集测试芯片上电压，所述限压单元实现对测试芯片上电压进行限压。
优选地，所述测量单元包括信号处理单元、引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元；所述信号处理单元分别与引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元信号连接，所述信号处理单元控制电压电流源工作，控制引脚选择单元动作，接收测试芯片信号并将信号进行处理和转化，在显示单元和对比单元上显示，最后将信号传递给上位机的用户界面模块上。
本发明技术方案的一种应用于集成电路的芯片测试系统的有益效果是：通过设置对比单元和显示模块中的对比界面，将本批次全部芯片的测试结果进行显示，根据显示的结果判断本批次芯片的数值范围，判断本批次芯片在正常数值范围中是偏上还是偏下等，掌握本批次芯片或本公司近期生产的芯片正常值范围，根据检测的数据对芯片的生产参数今年实时调整，确保生产出更标准的芯片。
附图说明
图1本发明技术方案的一种应用于集成电路的芯片测试系统原理图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。本发明的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本发明限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本发明的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本发明从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
如图1，本发明技术方案一种应用于集成电路的芯片测试系统，包括上位机1和由上位机1控制的测试仪2，上位机1与测试仪2之间通过线缆连接，根据不同的芯片可以选用不用型号或功能的测试仪。测试仪2上安装测试芯片，上位机1上安装有上位机软件系统，利用上位机软件系统实现对测试仪2以及测试过程的控制。
上位机软件系统包括用户界面模块14、数据库模块11、通讯模块12和测试仪连接模块13。用户界面模块14用于用户登录，根据需要进入测试系统或调试系统。数据库模块11用于存储历史测试数据和各个型号标准芯片数据数值范围，为后续查阅以及在测试中对同批次的芯片测量数据进行对比并生成对比图提供依据。通讯模块12通过连接上位机和测试仪的线缆与测试仪中的通讯单元进行信号连接，实现数据信号的传输。测试仪连接模块13时间匹配不同的信号的测试仪，实现对测试仪自身进行检测，确保测试仪的正常工作。
上位机1通过通讯模块12与测试仪2信号连接。测试仪2包括通讯单元24、测试仪电压源23、测量单元21和电压电流源22。电压电流源22为测试芯片供电并通过测量单元21对测试信号进行提取与处理并显示出来。测试仪电压源23为测试仪自身工作供电，提供恒定的电压，确保测试仪2进行正常工作。通讯单元24通过连接上位机与测试仪的线缆与上位机之间进行信号传输。电压电流源22向测试芯片进行加压或加流，驱动芯片，使得芯片工作，然后通过测量单元21实现对芯片上信号进行提取，实现芯片的测试。
基于上述技术方案，本发明的应用于集成电路的芯片测试系统，测量单元21对芯片进行测试，并将本批次测量过的所有数据进行收集和对比，将新对比信息显示在显示单元中，最终将信息在上位机的显示模块1432中进行显示，使得测试人员能够对本批次的所有芯片的测试结构进行判断，对本批次的芯片的测试数据数值范围进行判断和分析，实时分析和调整芯片的生产参数，确保能够加工生产出更接近标准的芯片。改变现有技术中，芯片的测试中仅仅能判断芯片是否合格的单一测试功能问题。本发明中将芯片的测试和芯片的生产结合，利用芯片的测试保障芯片的生产，降低生产中芯片的不合格率，进一步的确保生产出更接近标准的芯片，提高本司芯片生产的合格率以及在合格范围内芯片的更接近标准芯片。
用户界面模块14包括用户登录界面141、调试模式界面142和测试模式界面143。调试模式界面143完成测试工程建立和工程参数设置和配置。调试模式界面142包括管理界面、测试参数设置界面、调试界面、切换模式界面和系统维护界面。管理界面完成打开过着新建芯片测试工程的功能。测试参数设置界面中具有需要设置的信号，包括引脚定义、站点选择、测试项目选择、测试项目对应参数加载或设置，且设置完成后能够进行保存。调试界面中能够设置测试循环次数、下载测试参数、调试芯片并能够显示测试结果。切换模式界面实现调试模式界面142和测试模式界面143的切换。系统维护界面实现对测试系统和测试仪进行维护，后自动进入测试仪硬件测试状态，并返回每一功能模块的基本运行状况。
测试模式界面143用于正常测试芯片的测试工作，完成测试数据显示和保存；测试模式界面包括测试控制模块和显示模块，测试控制模块包括启动按钮、暂停按钮、继续测试按钮和保存按钮，显示模块包括对比界面、实时显示界面以及不合格显示界面。对比界面上将同批次的芯片检测数据进行显示，并通过柱状图、点分布图等显示，使得检测者能够一目了然的观察到本批次合格的芯片数据范围，用以判断本批次芯片在正常范围内的大致范围，使得能够根据芯片的数据数值范围进行实时调整生产芯片的参数，使得能够生产出更加标准的芯片。
电压电流源22包括驱动源选择单元221、电压采集单元222和限压单元223。驱动源选择单元221上连接有电压源和电流源。驱动源选择单元221分别驱动电压源或电流源工作，分别为测试芯片供电。电压采集单元222采集测试芯片上电压，限压单元223实现对测试芯片上电压进行限压。
测量单元包括信号处理单元、引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元；信号处理单元分别与引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元信号连接，信号处理单元控制电压电流源工作，控制引脚选择单元动作，接收测试芯片信号并将信号进行处理和转化，在显示单元和对比单元上显示，最后将信号传递给上位机的用户界面模块上。
显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域及相关领域的普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应属于本发明保护的范围。本发明中未具体描述和解释说明的结构、装置以及操作方法，如无特别说明和限定，均按照本领域的常规手段进行实施。
Claims (6)
1.一种应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，包括上位机和由上位机控制的测试仪，所述测试仪上安装测试芯片，所述上位机上安装有上位机软件系统；所述上位机软件系统包括用户界面模块、数据库模块、通讯模块和测试仪连接模块，所述上位机通过通讯模块与测试仪信号连接；所述测试仪包括通讯单元、测试仪电压源、测量单元和电压电流源，所述电压电流源为测试芯片供电并通过测量单元对测试信号进行提取与处理并显示出来。
2.根据权利要求1所述的应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，所述用户界面模块包括用户登录界面、调试模式界面和测试模式界面。
3.根据权利要求2所述的应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，所述调试模式界面完成测试工程建立和工程参数设置和配置，调试模式界面包括管理界面、测试参数设置界面、调试界面、切换模式界面和系统维护界面。
4.根据权利要求2所述的应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，所述测试模式界面用于正常测试芯片的测试工作，完成测试数据显示和保存；所述测试模式界面包括测试控制模块和显示模块，所述测试控制模块包括启动按钮、暂停按钮、继续测试按钮和保存按钮，所述显示模块包括对比界面、实时显示界面以及不合格显示界面。
5.根据权利要求1所述的应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，所述电压电流源包括驱动源选择单元、电压采集单元和限压单元，所述驱动源选择单元上连接有电压源和电流源；所述驱动源选择单元分别驱动电压源或电流源工作，分别为测试芯片供电；所述电压采集单元采集测试芯片上电压，所述限压单元实现对测试芯片上电压进行限压。
6.根据权利要求5所述的应用于集成电路的芯片测试系统，其特征在于，所述测量单元包括信号处理单元、引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元；所述信号处理单元分别与引脚选择单元、显示单元、报警单元和对比单元信号连接，所述信号处理单元控制电压电流源工作，控制引脚选择单元动作，接收测试芯片信号并将信号进行处理和转化，在显示单元和对比单元上显示，最后将信号传递给上位机的用户界面模块上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011092558.9A CN112213627A (zh) | 2020-10-13 | 2020-10-13 | 一种应用于集成电路的芯片测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011092558.9A CN112213627A (zh) | 2020-10-13 | 2020-10-13 | 一种应用于集成电路的芯片测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112213627A true CN112213627A (zh) | 2021-01-12 |
Family
ID=74053922
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202011092558.9A Pending CN112213627A (zh) | 2020-10-13 | 2020-10-13 | 一种应用于集成电路的芯片测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN112213627A (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN113189467A (zh) * | 2021-04-21 | 2021-07-30 | 苏州英嘉通半导体有限公司 | GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法 |
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