CN112213608A - 一种半导体器件故障检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公布了一种半导体器件故障检测装置,包括底座,底座的顶部连接有壳体,壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯,壳体的内壁连接有绝缘层,壳体的内腔上部横向设有线芯,线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯,线芯的外部套设有保护套,保护套内安装有感应线圈,壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒,收纳盒前端开口设置,收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管,两组活动管相靠近的一端对称连接有金属板,活动管内贯穿有导线;本发明结构设计合理,操作简单,降低了检测难度,提高了装置的适用性,易于掌握,提高了检测效率,延长了装置的使用寿命。

Description

一种半导体器件故障检测装置
技术领域
本发明涉及半导体相关装置技术领域,尤其涉及一种半导体器件故障检测装置。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件。
无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
半导体器件在使用过程中常常会发生短路故障。短路故障是指因电压过高或导通电流过大,使PN结击穿或烧成一团,造成二极管正、负电极双向导通,正、反电阻均为0欧米茄。
然而,半导体器件在进行短路检测时一般需要通过专业的检测设备进行检测,其花费成本较高,检测效率相对较低,为此,我们提出了一种半导体器件故障检测装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种半导体器件故障检测装置,以克服现有技术中存在的技术问题。
为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本发明提供如下技术方案:
一种半导体器件故障检测装置,包括底座,所述底座的顶部连接有壳体,所述壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯,所述壳体的内壁连接有绝缘层,所述壳体的内腔上部横向设有线芯,所述线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯,所述线芯的外部套设有保护套,所述保护套内安装有感应线圈,所述壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒,所述收纳盒前端开口设置,所述收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管,两组所述活动管相靠近的一端对称连接有金属板,所述活动管内贯穿有导线,左侧所述导线两端分别连接感应线圈和金属板,右侧所述导线两端分别连接故障指示灯和金属板,所述故障指示灯的另一端与感应线圈电连接。
优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述收纳盒的左右两侧壁对称开设有滑孔,所述滑孔内连接有密封圈,所述密封圈内壁贴合活动管外壁。
优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述活动管伸出收纳盒一端的底部连接有限位挡块,所述限位挡块与收纳盒外壁之间连接有拉伸弹簧。
优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述壳体的内腔右侧壁连接有支撑管,所述支撑管套于保护管外部,所述支撑管外壁套设有高阻圈,所述高阻圈端部与感应线圈电连接。
优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述壳体的顶部连接有提手,所述壳体的各侧面连接处设有倒角。
优选的,一种半导体器件故障检测装置中,所述底座的底部四角连接有橡胶吸盘。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明结构设计合理,通过将半导体器件放置于收纳盒内检测,操作简单,降低了检测难度;
2、本发明中两组金属板之间的间距可调,便于不同尺寸的半导体器件检测使用,提高了装置的适用性;
3、本发明通过设置感应线圈、导线、金属板、故障指示灯等装置,当半导体器件完好无损时,回路处于断路状态,故障指示灯不亮,当半导体器件出现短路故障时,故障指示灯亮起,工作人员只需观察指示灯即可判断器件是否故障,易于掌握,提高了检测效率;
4、本发明中利用绝缘层对壳体进行保护,利用保护套对线芯进行保护,安全可靠,线芯通电时高阻圈能够发热,从而防止壳体内部受潮,延长了装置的使用寿命。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对具体实施方式描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的整体结构示意图;
图2为本发明中壳体的内部结构示意图;
图3为本发明中感应线圈的连接关系示意图。
图中:1、底座;2、壳体;3、故障指示灯;4、绝缘层;5、线芯;6、电接头;7、工作指示灯;8、保护套;9、感应线圈;10、收纳盒;11、活动管;12、金属板;13、导线;
101、橡胶吸盘;201、支撑管;202、高阻圈;203、提手;1001滑孔;1002、密封圈;1101、限位挡块;1102、拉伸弹簧。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
请参阅图1-3所示,本实施例为一种半导体器件故障检测装置,包括底座1,底座1的顶部连接有壳体2,壳体2的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯3,壳体2的内壁连接有绝缘层4,壳体1的内腔上部横向设有线芯5,线芯5的左右两端分别连接有电接头6和工作指示灯7,线芯5的外部套设有保护套8,保护套8内安装有感应线圈9,壳体2的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒10,收纳盒10前端开口设置,收纳盒10的左右两侧壁均贯穿有活动管11,两组活动管11相靠近的一端对称连接有金属板12,活动管11内贯穿有导线13,左侧导线13两端分别连接感应线圈9和金属板12,右侧导线13两端分别连接故障指示灯3和金属板12,故障指示灯3的另一端与感应线圈9电连接。
本实施例的具体实施方式为:
本装置在使用时,底座1置于平台,将待检测半导体器件置于壳体2的收纳盒10内,器件两端分别接通金属板12,通过电接头6向线芯5接入交流电,工作指示灯7亮起,根据电流的磁效应可知,通电导线周围会有磁场产生,因为流经线芯5的电流为高压交流电,所以线芯5周围会出现方向不断变化的磁场,根据法拉第电磁感应定律可知,闭合回路中的磁通量发生变化会使闭合回路中出现感应电流,因此线芯5周围交变的磁场会激发感应线圈9内出现感应电流,从而对半导体器件施加一个反向电流,当半导体器件完好无损时,感应线圈9、导线13、金属板12、半导体器件及故障指示灯3形成的回路处于断路状态,故障指示灯3不亮,当半导体器件出现短路故障时,回路处于通路状态,故障指示灯3亮起,工作人员只需观察指示灯即可判断器件是否故障,易于掌握,提高了检测效率。
实施例二
本实施例为一种半导体器件故障检测装置,包括底座1,底座1的顶部连接有壳体2,壳体2的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯3,壳体2的内壁连接有绝缘层4,壳体1的内腔上部横向设有线芯5,线芯5的左右两端分别连接有电接头6和工作指示灯7,线芯5的外部套设有保护套8,保护套8内安装有感应线圈9,壳体2的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒10,收纳盒10前端开口设置,收纳盒10的左右两侧壁均贯穿有活动管11,两组活动管11相靠近的一端对称连接有金属板12,活动管11内贯穿有导线13,左侧导线13两端分别连接感应线圈9和金属板12,右侧导线13两端分别连接故障指示灯3和金属板12,故障指示灯3的另一端与感应线圈9电连接。
收纳盒10的左右两侧壁对称开设有滑孔1001,滑孔1001内连接有密封圈1002,密封圈1002内壁贴合活动管11外壁,活动管11伸出收纳盒10一端的底部连接有限位挡块1101,限位挡块1101与收纳盒10外壁之间连接有拉伸弹簧1102,壳体2的内腔右侧壁连接有支撑管201,支撑管201套于保护管4外部,支撑管201外壁套设有高阻圈202,高阻圈202端部与感应线圈9电连接,壳体2的顶部连接有提手203,壳体2的各侧面连接处设有倒角,底座1的底部四角连接有橡胶吸盘101。
本实施例中:
半导体器件在安装时,通过挤压金属板12能够调整间距,活动管11沿滑孔1001移动,利用密封圈1002进行密封保护,利用拉伸弹簧1102带动限位挡块1101进行弹性复位,能够使得金属板12贴紧器件端部,便于对不同尺寸的半导体器件进行检测,适用性高,利用高阻圈202接通感应线圈9,当半导体器件完好无损时,感应电流通过高阻圈202,能够产生部分热量,对壳体2内腔进行除湿,从而防止壳体2内部组件受潮,延长了装置的使用寿命,通过提手203提拉装置,携带方便,利用橡胶吸盘101吸附工作面,稳定可靠。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然,根据本说明书的内容,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (6)

1.一种半导体器件故障检测装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部连接有壳体(2),所述壳体(2)的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯(3),所述壳体(2)的内壁连接有绝缘层(4),所述壳体(1)的内腔上部横向设有线芯(5),所述线芯(5)的左右两端分别连接有电接头(6)和工作指示灯(7),所述线芯(5)的外部套设有保护套(8),所述保护套(8)内安装有感应线圈(9),所述壳体(2)的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒(10),所述收纳盒(10)前端开口设置,所述收纳盒(10)的左右两侧壁均贯穿有活动管(11),两组所述活动管(11)相靠近的一端对称连接有金属板(12),所述活动管(11)内贯穿有导线(13),左侧所述导线(13)两端分别连接感应线圈(9)和金属板(12),右侧所述导线(13)两端分别连接故障指示灯(3)和金属板(12),所述故障指示灯(3)的另一端与感应线圈(9)电连接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件故障检测装置,其特征在于:所述收纳盒(10)的左右两侧壁对称开设有滑孔(1001),所述滑孔(1001)内连接有密封圈(1002),所述密封圈(1002)内壁贴合活动管(11)外壁。
3.根据权利要求1所述的一种半导体器件故障检测装置,其特征在于:所述活动管(11)伸出收纳盒(10)一端的底部连接有限位挡块(1101),所述限位挡块(1101)与收纳盒(10)外壁之间连接有拉伸弹簧(1102)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体器件故障检测装置,其特征在于:所述壳体(2)的内腔右侧壁连接有支撑管(201),所述支撑管(201)套于保护管(4)外部,所述支撑管(201)外壁套设有高阻圈(202),所述高阻圈(202)端部与感应线圈(9)电连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体器件故障检测装置,其特征在于:所述壳体(2)的顶部连接有提手(203),所述壳体(2)的各侧面连接处设有倒角。
6.根据权利要求1所述的一种半导体器件故障检测装置,其特征在于:所述底座(1)的底部四角连接有橡胶吸盘(101)。
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201255751Y (zh) * 2008-08-29 2009-06-10 上海千驰电力设备有限公司 零序电流指示器
CN105932403A (zh) * 2016-06-23 2016-09-07 福建南安市泉盛电子有限公司 一种带有指示灯的对讲机天线
CN205582835U (zh) * 2016-03-04 2016-09-14 朱佳豪 一种高安全性集成电路继电器
CN109164353A (zh) * 2018-09-27 2019-01-08 国网湖南省电力有限公司电力科学研究院 一种用于配电网上的故障指示器
CN208384044U (zh) * 2018-07-20 2019-01-15 无锡其诺电气有限公司 线圈电气性能波形检测装置
CN209418143U (zh) * 2019-07-06 2019-09-20 兴化市华讯达电子有限公司 一种具有故障检测功能的电子蜂鸣器
CN110275100A (zh) * 2019-08-01 2019-09-24 天台卫冕智能科技有限公司 一种半导体导电性能测试系统
CN210465601U (zh) * 2019-08-09 2020-05-05 贵州永兴建设工程质量检测有限公司 用于半导体测试的夹持装置
CN211235934U (zh) * 2019-11-11 2020-08-11 芯创(湖北)半导体科技有限公司 一种二极管生产检测装置
CN211404462U (zh) * 2020-02-11 2020-09-01 厦门晶星电子材料有限公司 一种发光二极管的连接检测装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201255751Y (zh) * 2008-08-29 2009-06-10 上海千驰电力设备有限公司 零序电流指示器
CN205582835U (zh) * 2016-03-04 2016-09-14 朱佳豪 一种高安全性集成电路继电器
CN105932403A (zh) * 2016-06-23 2016-09-07 福建南安市泉盛电子有限公司 一种带有指示灯的对讲机天线
CN208384044U (zh) * 2018-07-20 2019-01-15 无锡其诺电气有限公司 线圈电气性能波形检测装置
CN109164353A (zh) * 2018-09-27 2019-01-08 国网湖南省电力有限公司电力科学研究院 一种用于配电网上的故障指示器
CN209418143U (zh) * 2019-07-06 2019-09-20 兴化市华讯达电子有限公司 一种具有故障检测功能的电子蜂鸣器
CN110275100A (zh) * 2019-08-01 2019-09-24 天台卫冕智能科技有限公司 一种半导体导电性能测试系统
CN210465601U (zh) * 2019-08-09 2020-05-05 贵州永兴建设工程质量检测有限公司 用于半导体测试的夹持装置
CN211235934U (zh) * 2019-11-11 2020-08-11 芯创(湖北)半导体科技有限公司 一种二极管生产检测装置
CN211404462U (zh) * 2020-02-11 2020-09-01 厦门晶星电子材料有限公司 一种发光二极管的连接检测装置

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