CN112184788B - 一种四步相移的主值相位提取方法 - Google Patents
一种四步相移的主值相位提取方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112184788B CN112184788B CN202010970058.4A CN202010970058A CN112184788B CN 112184788 B CN112184788 B CN 112184788B CN 202010970058 A CN202010970058 A CN 202010970058A CN 112184788 B CN112184788 B CN 112184788B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- phase shift
- stripe
- image
- fringe
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 title claims abstract description 87
- 238000000605 extraction Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 3
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000011160 research Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000011840 criminal investigation Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/40—Analysis of texture
- G06T7/41—Analysis of texture based on statistical description of texture
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
- G06F17/10—Complex mathematical operations
- G06F17/11—Complex mathematical operations for solving equations, e.g. nonlinear equations, general mathematical optimization problems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/40—Analysis of texture
- G06T7/41—Analysis of texture based on statistical description of texture
- G06T7/44—Analysis of texture based on statistical description of texture using image operators, e.g. filters, edge density metrics or local histograms
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/90—Determination of colour characteristics
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Probability & Statistics with Applications (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Algebra (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Software Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
针对已有四步相移算法的不足,本发明提出一种四步相移的主值相位提取方法,包括四帧正/余弦条纹模板生成数学模型和对应的主值相位计算公式。研究中,根据实际需求设置条纹模板生成参数,采用四帧条纹图像数学模型生成条纹模板,经过数字投影仪投射到被测物体表面,同时用工业相机捕获经被测物体调制变形的条纹图像,进而将获取的四帧变形条纹图像代入主值相位计算公式中,提取主值相位。本发明除了不等于π(i‑1)/2,i=1,2,3,…的特殊相移量外,可以实现任意互补相移量的条纹图像生成,扩展了四步相移算法的研究广度;并探索了相移量互补且相移步长任意设计的一般情形,填补了当前四步相移算法的缺陷,使其更完整与科学。
Description
技术领域
本发明属于光学三维测量相关领域,涉及数字条纹投影三维测量中的主值相位提取,尤其是涉及一种四步相移的主值相位提取方法,该方法可设计任意互补相移量的四帧数字正余弦条纹图像,并实现主值相位的准确计算。
背景技术
随着计算机视觉测量技术、信息光学及微电子技术的交叉融合快速发展,数字条纹投影三维测量技术的非接触、易操作、高精度和高效率等诸多优势越来越突出,已广泛渗透到工业检测、医学治疗、人体测量、文物数字化、刑事侦查、法庭取证等众多行业中。该技术的关键之一是基于相移法进行标准的数字正弦条纹模板快速生成与变形正弦条纹图像的主值相位准确提取,即基于正(余)弦函数通过计算机编程生成多幅有一定相移差规律的标准数字条纹模板,依次投影到目标表面经其调制成变形的条纹图像,并被工业相机采集,然后利用每一幅图像上同一像素点对应的灰度值计算该像素点的相位值,从而提取出全场相位分布在[-π,π]区间的截断相位(主值相位)。
理论上,设计并投影多幅数字正弦条纹模板,采用多步相移法可以削弱甚至消除因数字设备输入-输出产生的非线性相移误差和因强反光造成的光强饱和误差。然而,为了兼容测量效率问题,四步(四帧)相移法常被用于实际研究中。目前,已存在的四步相移算法,有:
(1)标准四步相移算法:等相移步长且固定,即Δδ=π/2;相移量为δi=2π(i-1)/N,i=1,2,3,4;N=4。条纹图像的数学表述可写为:
式中:
(x,y)—图像中水平和垂直方向上的像素坐标,x=1,2,…,Width,y=1,2,…,Height;
Ii(x,y)—像素坐标(x,y)处的条纹强度值;
a(x,y)—像素坐标(x,y)处条纹背景强度;
b(x,y)—像素坐标(x,y)处条纹调制度;
—像素坐标(x,y)处条纹主值相位值。
利用标准四步相移技术,提取的主值相位值为:
(2)Schmit和Creath的扩展平均法:等相移步长且固定,即Δδ=π/2;相移量为δi=-(i-1)π/2,i=1,2,3,4。条纹图像的数学表述可写为:
依据扩展平均法原理,提取主值相位的Class B类4B算法公式与标准4步相移相同;Class A类4A算法公式为:
(3)Carré算法:任意等相移步长,即Δδ=2α,相移量为δi=-3α,-α,α,3α,i=1,2,3,4。条纹图像的数学表述可写为:
δi=-3α,-α,α,3α
提取的主值相位值为:
纵观这三类方法,在标准四步相移和Class A类4A这两类固定相移步长的算法基础上,虽然Carré算法将相移量和相移步长扩展到了一般情形,可以实现任意相移量的设计,但是这些算法并没有完全考虑到相移量互补且相移步长任意设计的一般情形。往往在科学实验方面,将相移步长作为变量处理是非常有用的,有助于探索相移过程中的一般情形。然而,标准四步相移算法和Class 4A算法是相移步长仅均在π/2时,条纹图像I1和I3,I2和I4的相移量互补的特殊情形。Carré算法虽将相移步长看作是未知量,能够任意设计,但是仅存在当α=π/4时,I1和I3,I2和I4的相移量互补;当α=π/2时,存在I1和I2,I3和I4的相移量互补。
发明内容
为解决现有方法存在的问题,填补四步相移算法理论的不完整缺陷,本发明提出一种四步相移的主值相位提取方法,将相移量互补且相移步长任意设计推广到了一般情形。
本发明的技术方案为:
所述一种四步相移的主值相位提取方法,包括以下步骤:
步骤1:设计四步相移且相移量互补的条纹图像,其数学模型为:
式中:
In(x,y)为第n帧光栅条纹图像在像素(x,y)处的光强分布,n=1,2,3,4;
(x,y)为第x列第y行的像素坐标,x=1,2,…,Width,y=1,2,…,Height;Width为设定的图像像素列数,Height为设定的图像像素行数;
A为条纹图像的平均灰度;B为条纹图像的调制灰度;
λ为一个条纹周期内的像素数;
α为不等于π(i-1)/2的任意相移量,i=1,2,…;
str为条纹方向参数:若为横坐标x,条纹垂直;若为横坐标y,条纹水平;
sincos为正余弦函数符号:若生成余弦条纹,则选择cos;若生成正弦条纹,则选择sin;
步骤2:将步骤1中设计的四帧正弦或余弦条纹图像依次投影到被测物体表面,并同步采集经物体表面调制变形的条纹图像
步骤3:对步骤2中捕获的四帧变形条纹图像提取主值相位:
当捕获的是变形正弦条纹图像时,主值相位计算公式为:
当捕获的是变形余弦条纹图像,主值相位计算公式为:
有益效果
本发明的有益效果与现有技术相比在于:
1)除了不等于π(i-1)/2,i=1,2,…的特殊相移量外,可以实现任意互补相移量的条纹图像生成,扩展了四步相移算法的研究广度。
2)所述的算法探索了相移量互补且相移步长任意设计的一般情形,填补了当前四步相移算法的缺陷,使其更完整与科学。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1相移量互补的四步相移方法原理流程图;
图2五种不同相移量的第一帧正弦水平条纹模板;
图3变形的第一帧正弦水平条纹图像;
图4不同相移量的主值相位图像。
具体实施方式
本发明目的是填补四步相移算法理论的不完整缺陷,将相移量互补且相移步长任意设计的研究推广到了一般情形。
首先设计四步相移,且相移量互补的条纹图像,其数学模型为:
式中:
In(x,y)—第n帧光栅条纹图像在像素(x,y)处的光强分布,n=1,2,3,4;
(x,y)—第x列第y行的像素坐标,x=1,2,…,Width,y=1,2,…,Height;
A—条纹图像的平均灰度;B—条纹图像的调制灰度;
λ—一个条纹周期内的像素数,即波长;
α—不等于π(i-1)/2,i=1,2,…的任意相移量;
str—条纹方向参数:若为横坐标x,条纹垂直;若为横坐标y,条纹水平;
sincos—正余弦函数符号:若生成余弦条纹,则选择cos;若生成正弦条纹,则选择sin。
其次是采用投影仪将步骤1中设计的四帧正弦或余弦条纹图像依次投影到被测物体表面,并同步用摄像机捕获经物体表面调制变形的条纹图像,其数学模型为:
式中:
c—表示摄像机;
—像素坐标(x,y)处条纹主值相位值,为待计算值;
a(x,y)—像素坐标(x,y)处的条纹背景强度;
b(x,y)—像素坐标(x,y)处的调制度。
第三步对捕获的四帧变形条纹图像提取主值相位。
根据上述数学模型,解算得到当捕获的是变形正弦条纹图像时,主值相位计算公式为:
当捕获的是变形余弦条纹图像,主值相位计算公式为:
式中为了书写简洁,均省略了像素坐标(x,y)。
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
Step1:生成五种相移量的正弦水平条纹模板
设计编码,经过4步相移,生成相同条纹波长的五种相移量正弦水平条纹模板各4幅;
上述Step1的具体实现方法是:
1.1设计五种任意的相移量αi,i=1,2,3,4,5;水平条纹的纵坐标为y=1,2,…,Height;条纹波长为λ;条纹图像的平均灰度A和调制灰度B;
1.2基于发明的四步相移正弦水平条纹图像数学模型,生成相同条纹波长的五种相移量条纹模板,其第i种相移量的条纹模板光强分布可表示为:
本实施例中,设置生成正弦水平条纹模板的参数见表1,并将表1中的参数分别代入式(1)中,在Matlab编程环境下生成五种相移量的条纹模板,其每种相移量的第一帧模板见附图2所示。
表1四种相移量的正弦水平条纹图像设计参数一览表
Step2:投射并采集变形的不同相移量正弦水平条纹图像
选用DLP LightCrafterTM 4500投影仪和DFK 33UP1300工业相机组成的投射采集系统。投影仪和工业相机的参数设置见表2。
表2投影仪和工业相机的参数设置一览表
采用该投影仪将Step1中生成的正弦水平条纹模板依次投射到纸杯子表面,并用上述的工业相机采集经纸杯子调制变形的正弦水平条纹图像五种相移量的第一帧图像见附图3所示。
Step3:变形的正弦水平条纹图像预处理
对Step2中变形的正弦水平条纹图像逐一进行高斯平滑滤波。
Step4:计算主值相位
将Step3预处理得到的变形正弦水平条纹图像代入发明的相移量互补四步相移公式中,计算得到相移量αi对应的主值相位
正弦条纹的相移量互补四步相移公式为:
本实施例中,采用公式(2)在Matlab中选取四象限反正切函数atan2编程计算不同相移量αi对应的主值相位见附图4。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (2)
1.一种四步相移的主值相位提取方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:设计四步相移且相移量互补的条纹图像,其数学模型为:
式中:
In(x,y)为第n帧光栅条纹图像在像素(x,y)处的光强分布,n=1,2,3,4;
(x,y)为第x列第y行的像素坐标,x=1,2,…,Width,y=1,2,…,Height;Width为设定的图像像素列数,Height为设定的图像像素行数;
A为条纹图像的平均灰度;B为条纹图像的调制灰度;
λ为一个条纹周期内的像素数;
α为不等于π(i-1)/2的任意相移量,i=1,2,…;
str为条纹方向参数:若为横坐标x,条纹垂直;若为横坐标y,条纹水平;
sincos为正余弦函数符号:若生成余弦条纹,则选择cos;若生成正弦条纹,则选择sin;
步骤2:将步骤1中设计的四帧正弦或余弦条纹图像依次投影到被测物体表面,并同步采集经物体表面调制变形的条纹图像n=1,2,3,4;
步骤3:对步骤2中捕获的四帧变形条纹图像提取主值相位:
当捕获的是变形正弦条纹图像时,主值相位计算公式为:
当捕获的是变形余弦条纹图像,主值相位计算公式为:
2.根据权利要求1所述一种四步相移的主值相位提取方法,其特征在于:步骤2采集得到经物体表面调制变形的条纹图像后,对图像进行高斯平滑滤波,在步骤3中对滤波后的四帧变形条纹图像提取主值相位。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010970058.4A CN112184788B (zh) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 一种四步相移的主值相位提取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010970058.4A CN112184788B (zh) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 一种四步相移的主值相位提取方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112184788A CN112184788A (zh) | 2021-01-05 |
CN112184788B true CN112184788B (zh) | 2023-11-07 |
Family
ID=73921257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010970058.4A Active CN112184788B (zh) | 2020-09-16 | 2020-09-16 | 一种四步相移的主值相位提取方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112184788B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114322843A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-04-12 | 江苏集萃碳纤维及复合材料应用技术研究院有限公司 | 一种基于数字条纹投影三维测量条纹主值相位提取方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6577383B1 (en) * | 1999-02-18 | 2003-06-10 | Maehner Bernward | Method of determining structural features of test pieces having a randomly scattering surface |
CN101881605A (zh) * | 2010-06-02 | 2010-11-10 | 南京航空航天大学 | 基于相位编码技术的光学三维测量方法 |
CN102155924A (zh) * | 2010-12-17 | 2011-08-17 | 南京航空航天大学 | 基于绝对相位恢复的四步相移方法 |
CN102425988A (zh) * | 2011-11-20 | 2012-04-25 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法 |
CN106461380A (zh) * | 2016-08-31 | 2017-02-22 | 深圳大学 | 一种基于自适应条纹的投影仪镜头畸变校正方法及其系统 |
CN106595522A (zh) * | 2016-12-15 | 2017-04-26 | 东南大学 | 一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法 |
CN107798698A (zh) * | 2017-09-25 | 2018-03-13 | 西安交通大学 | 基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法 |
CN108168464A (zh) * | 2018-02-09 | 2018-06-15 | 东南大学 | 针对条纹投影三维测量系统离焦现象的相位误差校正方法 |
CN110401827A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-11-01 | 易思维(杭州)科技有限公司 | 一种正弦条纹图像的快速投影系统 |
-
2020
- 2020-09-16 CN CN202010970058.4A patent/CN112184788B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6577383B1 (en) * | 1999-02-18 | 2003-06-10 | Maehner Bernward | Method of determining structural features of test pieces having a randomly scattering surface |
CN101881605A (zh) * | 2010-06-02 | 2010-11-10 | 南京航空航天大学 | 基于相位编码技术的光学三维测量方法 |
CN102155924A (zh) * | 2010-12-17 | 2011-08-17 | 南京航空航天大学 | 基于绝对相位恢复的四步相移方法 |
CN102425988A (zh) * | 2011-11-20 | 2012-04-25 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种用于移相干涉条纹图的相位提取方法 |
CN106461380A (zh) * | 2016-08-31 | 2017-02-22 | 深圳大学 | 一种基于自适应条纹的投影仪镜头畸变校正方法及其系统 |
CN106595522A (zh) * | 2016-12-15 | 2017-04-26 | 东南大学 | 一种光栅投影三维测量系统的误差校正方法 |
CN107798698A (zh) * | 2017-09-25 | 2018-03-13 | 西安交通大学 | 基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法 |
CN108168464A (zh) * | 2018-02-09 | 2018-06-15 | 东南大学 | 针对条纹投影三维测量系统离焦现象的相位误差校正方法 |
CN110401827A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-11-01 | 易思维(杭州)科技有限公司 | 一种正弦条纹图像的快速投影系统 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
基于光栅相位法三维重构技术研究;颜国霖;林琳;;机电技术(第05期);全文 * |
基于单频四步相移条纹投影的不连续物体三维形貌测量;杨福俊;耿敏;戴美玲;何小元;;光电子.激光(第08期);全文 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112184788A (zh) | 2021-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Feng et al. | Robust dynamic 3-D measurements with motion-compensated phase-shifting profilometry | |
WO2022052313A1 (zh) | 3d结构光系统的标定方法、电子设备及存储介质 | |
Pan et al. | Real-time, non-contact and targetless measurement of vertical deflection of bridges using off-axis digital image correlation | |
US10584963B2 (en) | System and methods for shape measurement using dual frequency fringe pattern | |
CN103649674B (zh) | 测量设备以及信息处理设备 | |
CN103400366B (zh) | 基于条纹结构光的动态场景深度获取方法 | |
CN109945802B (zh) | 一种结构光三维测量方法 | |
CN107346040B (zh) | 裸眼3d显示设备的光栅参数的确定方法、装置及电子设备 | |
EP3394830B1 (en) | Data processing apparatus and method of controlling same | |
CN104111038A (zh) | 利用相位融合算法修复饱和产生的相位误差的方法 | |
CN112184788B (zh) | 一种四步相移的主值相位提取方法 | |
CN103942802A (zh) | 基于随机模板的结构光动态场景深度获取方法 | |
TWI388797B (zh) | Three - dimensional model reconstruction method and its system | |
Wijenayake et al. | Dual pseudorandom array technique for error correction and hole filling of color structured-light three-dimensional scanning | |
Liao et al. | Digital image correlation assisted absolute phase unwrapping | |
RU2573767C1 (ru) | Устройство трехмерного сканирования сцены с неламбертовыми эффектами освещения | |
Huang et al. | Defocusing rectified multi-frequency patterns for high-precision 3D measurement | |
CN114234850B (zh) | 一种调制级次相位于周期边缘的三维测量方法 | |
CN112037273B (zh) | 深度信息获取方法、装置、可读存储介质及计算机设备 | |
Wijenayake et al. | An error correcting 3D scanning technique using dual pseudorandom arrays | |
TW201913574A (zh) | 應用於物件檢測之攝影機與雷射測距儀的數據融合方法 | |
Setti et al. | Shape measurement system for single point incremental forming (SPIF) manufacts by using trinocular vision and random pattern | |
JP2006064453A (ja) | 3次元形状入力装置および方法 | |
CN110360952A (zh) | 一种相移轮廓术三维测量方法、系统、设备及其存储介质 | |
Chen et al. | Multi-dimensional information sensing of complex surfaces based on fringe projection profilometry |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |