CN112165614A - Cmos图像传感器测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种CMOS图像传感器测试系统及方法，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

Description

CMOS图像传感器测试系统及方法

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其是涉及一种CMOS图像传感器测试系统及方法。

背景技术

CMOS图像传感器(CIS，CMOS Image Sensor)是一种典型的固体成像传感器，与CCD(Charge-Coupled Device，电荷耦合元件)有着共同的历史渊源。CMOS图像传感器通常由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序控制逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、控制接口等几部分组成,这几部分通常都被集成在同一块硅片上。其工作过程一般可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。由于CMOS图像传感器具有随机窗口读取能力、抗辐射能力强、系统复杂程度低和可靠性高等相对优越的性能，使得CMOS图像传感器在数码相机、CMOS数字摄像机、X光机市场等其它领域得到了广泛的应用。

目前，CMOS图像传感器芯片最终出厂测试时，需要经过不同的测试项目。每个测试项目需要不同的CMOS图像传感器配置，并进行不同的数据计算。传统的工厂测试，大都使用集中式测试机台，仅能串行或有限并行对CMOS图像传感器进行测试，其扩展性不足。测试过程中，测试机台一旦发生故障需要整体停线，导致整个测试过程效率低下。

发明人发现，现有技术中应用于CMOS图像传感器的出厂测试技术方案，一般可分为自动测试机台或人工测试。自动测试机台通常是串行测试或有限的并行测试，测试机台无法灵活增减。且测试机台一旦故障，则可能导致测试线停滞，影响产品测试效率。人工测试虽然可灵活增减测试节点，但因为人工操作，很难达到完全一致的出厂标准。

因此，需要提出一种可以提高测试效率的方案。

发明内容

本发明的目的在于提供一种CMOS图像传感器测试系统及方法，用于解决现有技术中测试过程效率低下的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提出一种CMOS图像传感器测试系统，包括：

中央处理节点，其被配置为提供测试项目给对应的测试节点；

测试节点，其被配置为获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行数据处理以得到测试结果；

所述测试节点的数量为多个。

可选地，根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行所述数据处理。

可选地，若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述中央处理节点；

若所述图像处理数据在所述中央处理节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述测试节点。

可选地，所述图像数据处理包括对所述图像数据进行打包处理。

可选地，所述打包处理包括在所述图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称或测试结果。

可选地，所述测试节点包括测试夹具以及图像数据处理装置；

所述测试夹具用于固定所述CMOS图像传感器，并与所述图像数据处理装置通信连接；

所述图像数据处理装置用于获取所述CMOS图像传感器在不同测试项目下的所述图像数据，并对所述图像数据进行所述图像处理；

若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理，则所述图像数据处理装置还用于对所述图像处理数据进行数据处理，将所述测试结果传输给所述中央处理节点。

可选地，所述图像数据处理装置包括相互之间通信连接的配置接口、数据接收模块、数据处理模块以及数据输出模块；

所述配置接口与所述测试夹具连接，并用于配置所述CMOS图像传感器的参数；

所述数据接收模块与所述测试夹具连接，并用于接收所述图像数据；

所述数据处理模块用于对所述图像数据进行所述图像处理，或对所述图像处理数据进行数据处理；

所述数据输出模块用于传输所述图像处理数据或所述测试结果。

可选地，所述图像数据处理装置还包括通信接口，所述通信接口与所述配置接口、所述数据接收模块、所述数据处理模块以及所述数据输出模块通信连接；

所述通信接口用于与所述中央处理节点进行通信连接。

可选地，所述通信接口包括USB接口或以太网接口。

可选地，所述测试节点还包括本地存储装置；

所述本地存储装置与所述图像数据处理装置通信连接，并用于存储所述图形处理数据和所述测试结果。

可选地，所述测试节点还包括一反馈装置；

所述反馈装置与所述图像数据处理装置通信连接，并用于反馈所述CMOS图像传感器的测试结果。

可选地，所述反馈装置包括LED显示设备或LCD显示设备。

基于同一发明构思，本发明还提出一种CMOS图像传感器测试方法，包括以下步骤：

提供测试项目给对应的测试节点，所述测试节点的数量为多个；

获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

对所述图像处理数据进行数据处理以得到测试结果。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

1、本发明提出的CMOS图像传感器测试系统，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

2、可根据对应的测试项目选择图像处理数据是在所述中央处理节点处进行数据处理还是在测试节点处进行数据处理，例如，可将较为简单的测试项目对应的图像处理数据放到测试节点的本地进行数据处理，或是那些对于测试速度要求较高的测试项目放到测试节点的本地进行数据处理，这样可以保证测试项目的测试速度较快。可将较为复杂的测试项目对应的图像处理数据放到中央处理节点处进行数据处理，这样可以降低测试节点处的对于数据处理能力的要求，可以简化测试节点的结构，节省了测试成本。进一步地提高调整测试成本的灵活性及测试速度，可以灵活调整测试任务，提高了鲁棒性。

3、测试节点处还可设置本地存储装置，用以将图像处理数据、测试结果以及测试过程中的一些其它数据存储在测试节点的本地，方便和中央处理节点的测试结果相对应，可以进行结果追溯，在一定程度上提高了测试的精确度和可信性。

本发明提出的CMOS图像传感器测试方法，与所述CMOS图像传感器测试系统属于同一发明构思，因此具有相同的有益效果。

附图说明

图1为本发明一实施例提出的一种CMOS图像传感器测试系统的逻辑结构示意图；

图2为本发明一实施例提出的一种CMOS图像传感器测试系统的具体结构示意图；

图3为本发明另一实施例提出的一种CMOS图像传感器测试方法的流程示意图；

图4为本发明另一实施例提出的另一种CMOS图像传感器测试方法的流程示意图；

图5为数据分布统计的一个示例；

图6为数据分布统计的另一个示例；

其中，图1和图2中：100-中央处理节点，200-测试节点，201-测试夹具，202-图像数据处理装置，2020-配置接口，2021-数据接收模块，2022-数据处理模块，2023-数据输出模块，2024-通信接口，203-本地存储装置，204-反馈装置。

具体实施方式

下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

请参考图1，本发明实施例提出一种CMOS图像传感器测试系统，包括中央处理节点100以及测试节点200，所述测试节点200的数量为多个，所述中央处理节点100被配置为提供测试项目给对应的测试节点200。所述测试节点200被配置为获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；所述图像处理数据在所述中央处理节点100或所述测试节点200处进行数据处理以得到测试结果。

所述中央处理节点100还可以识别各个所述测试节点200的通断。当所述测试节点200连接时，所述中央处理节点100可以根据预设程序，自动执行测试。每个所述测试节点200的测试项目的内容可以分别设置。所述测试节点200负责采集CMOS图像传感器在各个测试项目下的图像数据，并进行实时图像处理，然后还可发送回所述中央处理节点100。所述图像处理包括但不限于对图像数据的封包，也即加入节点名称、时间戳、测试项目名称、测试结果等信息。而对图像处理数据的数据处理可以在所述测试节点200的本地完成，也可在所述中央处理节点100完成。如果数据处理在所述测试节点200的本地进行，则所述中央处理节点100会统计测试结果，并控制启动下一个测试项目。如果数据处理在所述中央处理节点100处进行，则所述中央处理节点100会向对应的测试节点200反馈测试结果，并启动下一个测试项目。可以理解的是，在本发明实施例中，所述测试节点200的数量为多个，通过图1可以看出，所述测试节点200的数量为n个，n可以是任何正整数，具体数量在此不做限制，可根据实际需要来选择调整。另外，本领域技术人员应当理解的是，所述测试节点200可以设置为测试台，所述中央处理节点100可以设置为上位机或智能电脑或智能终端或其它具有数据获取和处理功能的智能芯片/设备/器件，在此不做限制，具体可根据实际需要来选择。所述中央处理节点100与多个所述测试节点200间的通信连接方式包括但不限于总线方式、USB连接方式、以太网连接方式或无线通信连接方式，具体通信连接方式可根据实际需要来选择。例如，如果选择总线方式通信连接，那么可选用但不限于MODBUS总线或CAN总线方式，如果选用MODBUS总线连接，又可选择但不限于485接口或232接口来连接。可以理解的是，在选择不同通信连接方式时，只要所述中央处理节点100和所述测试节点200均按照对应的通信协议进行通信即可。在本发明实施例中，所述中央处理节点100和所述测试节点200间的通信方式优选为USB方式或以太网连接方式。

与现有技术不同之处在于，本发明提出的CMOS图像传感器测试系统，包括中央处理节点100和多个测试节点200，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点100灵活配置每个测试节点200的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点200实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点200发生故障时，不会影响其它测试节点200的测试过程。可以灵活加减测试节点200的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

优选地，根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在所述中央处理节点100或所述测试节点200处进行所述数据处理。具体地，若所述图像处理数据在所述测试节点200处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述中央处理节点100；若所述图像处理数据在所述中央处理节点100处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述测试节点200。

可根据对应的测试项目选择图像处理数据是在所述中央处理节点100处进行数据处理还是在测试节点200处进行数据处理，例如，可将较为简单的测试项目对应的图像处理数据放到测试节点200的本地进行数据处理，或是那些对于测试速度要求较高的测试项目放到测试节点200的本地进行数据处理，这样可以保证测试项目的测试速度较快。可将较为复杂的测试项目对应的图像处理数据放到中央处理节点100处进行数据处理，这样可以降低测试节点200处的数据处理能力要求，可以简化测试节点200的结构，节省了测试成本。进一步地提高调整测试成本的灵活性及测试速度，可以灵活调整测试任务，提高了鲁棒性。例如，所述测试项目包括但不限于电气测试和图像质量测试，其中，所述电气测试一般包括I/O耐受电压、电流等，可通过中央处理节点100实时配置测试要求，由测试节点200的本地完成测试，并将测试通过与否的结果回传中央处理节点100。对于所述图像质量测试，可通过中央处理节点100配置测试要求，测试节点200的本地完成图像采集。对图像质量的分析，可以由测试节点200的本地完成，或者由中央处理节点100完成。计算任务的分配可以随时通过中央处理节点100调节。图像质量分析中，对于比较简单、实时性要求高的计算，比如单帧的行、列、随机噪声的分布等，可以直接由测试节点200的本地完成计算，符合要求的芯片可以判定为通过。如多帧计算，一致性计算(多个节点或者多颗芯片的一致性要求测试)等数据量较大，非实时测试要求，可以将数据传输回中央处理节点100，依靠中央处理节点100的较强的计算能力完成，并判断是否通过测试。

可选地，所述图像数据处理包括对所述图像数据进行打包处理。具体地，所述打包处理包括但不限于在所述图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称或测试结果。所述数据处理一般包括数据分布统计，拍摄均匀光环境数据，统计数据分布，通过单帧或多帧分布，判断CIS图像质量是否符合要求。请参考图5和图6，图5中数据分布呈现高斯分布，分布宽度符合预期，CIS图像质量符合要求；而图6中，数据分布存在双峰及拖尾，CIS图像出现缺陷，不符合要求。所述数据处理还包括行列分布，计算行、列均值并考察分布，若满足一定分布要求，则CIS通过测试。当列分布出现明显单列数据异常，则判断出现坏列，且列均匀性较差，若左侧数据同右侧数据差异达到20个数值，差异较大，因此芯片不能通过测试。而若行随机在5个数值之内，根据测试需求，可以通过测试。通过边缘收集数据，可以进行噪声分析，数据分布分析，像素指标分析等数据处理，也可根据失效模型设计数据处理，根据数据处理的结果挑出失效芯片，不再一一列举。可以理解的是，以上的判断方式仅为示例，并非是对于测试过程的任何限制。

进一步地，请参考图2，所述测试节点200包括测试夹具201以及图像数据处理装置202；所述测试夹具201用于固定所述CMOS图像传感器，并与所述图像数据处理装置202通信连接。所述图像数据处理装置202用于获取所述CMOS图像传感器在不同测试项目下的所述图像数据，并对所述图像数据进行所述图像处理。若所述图像处理数据在所述测试节点200处进行所述数据处理，则所述图像数据处理装置202还用于对所述图像处理数据进行数据处理，将所述测试结果传输给所述中央处理节点100。可以理解的是，可通过机器手臂或者人工操作，将待测CMOS图像传感器的芯片安装到所述测试夹具201上。

需要注意的是，在本发明实施例中，所述测试夹具201可以根据CMOS图像传感器的型号进行更换，所述测试夹具201可以固定在特定的测试环境下，比如不同的测试光源，或者测试图卡。对于所述测试夹具201的具体结构类型，在此不做限制，可根据实际需要来选择。另外，所述图像数据处理装置202可为带有图像数据获取和处理能力的智能芯片/器件/设备，例如，所述图像数据处理装置202可利用FPGA(Field Programmable GateArray，现场可编程门阵列)实现，FPGA内部带有数据获取模块和数据处理模块2022等其它功能模块，或者FPGA带有相应的接口可以连接外部数据获取模块和数据处理模块2022等其它功能模块，或者是这两种方式的组合。也即FPGA可为集成有多个功能模块的器件，也可以是外接有多个功能模块的器件，在此不做赘述。本领域技术人员可以理解的是，所述图像数据处理装置202还可以利用MCU(Micro Control Unit，微处理器)、MPU(Micro ProcessorUnit，微处理器单元)或DSP(Digital Signal Processing/Processor，数字信号处理)等智能芯片来实现，在此不一一赘述。

可选地，所述图像数据处理装置202包括通信连接的配置接口2020、数据接收模块2021、数据处理模块2022以及数据输出模块2023。所述配置接口2020与所述测试夹具201连接，并用于配置所述CMOS图像传感器的参数。所述数据接收模块2021与所述测试夹具201连接，并用于接收所述图像数据。所述数据处理模块2022用于对所述图像数据进行所述图像处理，或对所述图像处理数据进行数据处理。所述数据输出模块2023用于传输所述图像处理数据或所述测试结果。通过前面对于所述图像数据处理装置202的描述可知，所述数据处理模块2022可为FPGA中一个带有数据处理能力的模块，除此之外，为了可以更好的实现对图像数据的处理，所述图像数据处理装置202内可包括多个具有数据处理能力的模块，例如，可参考图2，通过另外设置一MCU来配合所述数据处理模块2022进行数据处理。

可以理解的是，所述CMOS图像传感器的参数包括但不限于暗信号、暗信号非均匀性、读出噪声、响应非线性、满阱电荷数、动态范围、信噪比、光响应非均匀性、灵敏度、缺陷参数、量子效率、光谱响应度、峰值响应波长、光谱响应范围等。另外，所述CMOS图像传感器的配置参数可通过所述中央处理节点100分配还可是所述测试节点200自带的配置，在此不做限制。

进一步地，所述图像数据处理装置202还包括通信接口2024，所述通信接口2024与所述配置接口2020、所述数据接收模块2021、所述数据处理模块2022以及所述数据输出模块2023通信连接。所述通信接口2024用于与所述中央处理节点100进行通信连接。通过前述分析可知，多个所述测试节点200与所述中央处理节点100间的通信连接方式包括但不限于总线方式、USB连接方式、以太网连接方式、无线连接方式，具体通信连接方式可根据实际需要来选择。例如，如果选择总线方式通信连接，那么可选用但不限于MODBUS总线或CAN总线方式，如果选用MODBUS总线连接，那么所述通信接口2024可选择但不限于485接口或232接口来连接。优选地，所述通信接口2024包括USB接口或以太网接口。

优选地，所述测试节点200还包括本地存储装置203，所述本地存储装置203与所述图像数据处理装置202通信连接，并用于存储所述图形处理数据和所述测试结果。在所述测试节点200的本地设置本地存储装置203，以将图像处理数据、测试结果以及测试过程中的一些其它数据存储在测试节点200的本地，方便和中央处理节点100的测试结果相对应，可以进行结果追溯，在一定程度上提高了测试的精确度。所述本地存储装置203包括但不限于软盘存储器、硬盘存储器、移动存储器、闪存盘、移动硬盘、固态硬盘、光盘存储器等，只要带有数据存储功能的器件均可用于实现，还有很多其它类型的本地存储装置203，在此不一一赘述。

进一步地，所述测试节点200还包括一反馈装置204。所述反馈装置204与所述图像数据处理装置202通信连接，并用于反馈所述CMOS图像传感器的测试结果。所述反馈装置204优选为LED显示设备或LCD显示设备。

需要注意的是，在本发明实施例中，所述反馈装置204设置为LED显示设备，所述测试节点200具备测试通过与否的反馈界面，例如，可使用不同颜色的LED提醒灯，如果当前的测试项目未通过，则触发测试台提醒，点亮红色LED灯。如果当前的测试项目通过，则进入下一个测试项目。若所有测试项目通过，则触发测试台测试完成提醒，可点亮绿色LED灯。可以理解的是，所述反馈装置204除了可利用LED显示识别或LCD显示设备外，还可利用具有声音提醒功能的设备来实现，例如，可利用蜂鸣器来实现提醒功能。在此不对所述反馈装置204的类型进行限制，可根据实际需要来选择。另外，所述中央处理节点100处也可设置类似的反馈装置204来反馈各个测试节点200的测试结果情况。

为了便于理解本发明提出的CMOS图像传感器测试系统，以下提供一种更为具体的技术方案：

本发明提出的一种CMOS图像传感器测试系统，包括中央处理节点100以及多个测试节点200，通过以太网接口或USB接口将各测试节点200与中央处理节点100连接成星型网络，请参考图1。中央处理节点100可以识别各个测试节点200的通断，当测试节点200连接时，中央处理节点100可以根据预设程序，自动执行测试。每个测试节点200的测试项目内容可以分别设置。请参考图2，测试节点200由CIS测试夹具201、带嵌入式MCU的图像数据采集装置以及通信接口2024构成。测试夹具201可以根据CMOS图像传感器的型号进行更换，测试夹具201可以固定在特定的测试环境下，比如不同的测试光源或者测试图卡。测试节点200通过以太网或者USB或者任意远程通信方式，和中央处理节点100相连接。测试台负责采集各个测试项目的图像数据，并实时图像处理，然后发送给中央处理节点100。图像处理包括对图像数据的封包，具体为在图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称、测试结果等信息。测试项目的数据处理可以在测试节点200的本地完成或者由中央处理节点100完成。如果数据处理在本地进行，则中央处理节点100统计测试结果，控制启动下一个测试项目。如果数据处理在中央处理节点100进行，则中央处理节点100向对应的测试节点200反馈测试结果，并启动下一个测试项目。每个测试节点200均具备提醒测试通过与否的反馈界面，比如使用不同颜色的LED提醒灯，或者通过LCD、LED等显示设备提醒。整个测试过程中的各项测试数据可以在测试台本地保存，方便和中央处理节点100的测试结果相对应，可以进行结果追溯。在具体应用时，首先，通过机器手臂或者人工操作，将待测的CMOS图像传感器的芯片安装到对应的测试夹具201上。CMOS图像传感器安装完成后，测试节点200从中央处理节点100加载需要测试的测试项目，中央处理节点100分发测试项目和支持该项目的有关CMOS图像传感器的配置。测试节点200启动测试项目，配置CMOS图像传感器，并获得该配置下的图像数据。测试节点200将获取的图像数据进行处理，执行测试并打包数据。测试节点200通过USB或以太网等高速通信接口2024将测试结果或原始图像数据(所述图像处理数据)传输给中央处理节点100。中央处理节点100执行结果分析或者计算，并反馈测试结果给各测试节点200。如果测试项目未通过，则触发测试节点200提醒，比如点亮红色LED灯。若测试项目通过，则进入下一个测试项目。若所有测试项目通过，则触发测试节点200测试完成提醒，比如点亮绿色LED灯。测试完成后，机器手臂或者人工将测试完成的CMOS图像传感器更换为下一个待测CMOS图像传感器，启动新一轮测试。本发明提出的CMOS图像传感器测试系统，支持测试节点200的设置，可以有效的提高测试效率，每个测试节点200的故障不影响完整的测试过程。中央处理节点100也可以设置备份节点。可以灵活加减测试节点200的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

基于同一发明构思，本发明另一实施例还提出一种CMOS图像传感器测试方法，利用上述描述中的CMOS图像传感器测试系统进行测试，请参考图3，包括以下步骤：

S1：提供测试项目给对应的测试节点200，所述测试节点200的数量为多个；

S2：获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

S3：对所述图像处理数据进行数据处理以得到测试结果。

本发明另一实施例提出的CMOS图像传感器测试方法，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点100灵活配置每个测试节点200的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点200实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点200发生故障时，不会影响其它测试节点200的测试过程。可以灵活加减测试节点200的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

为了便于理解本发明提出的CMOS图像传感器测试方法，以下提供一种更为具体的技术方案：

请参考图4，第一步：通过机器手臂或者人工操作，将待测的CMOS图像传感器的芯片安装到对应的测试夹具201上。

第二步：CMOS图像传感器安装完成后，测试节点200从中央处理节点100加载需要测试的测试项目，中央处理节点100分发测试项目和支持该项目的有关CMOS图像传感器的配置。

第三步：根据测试项目，通过FPGA的配置接口2020配置CMOS传感器的参数，也即测试节点200启动测试项目，配置CMOS图像传感器。

第四步：获得该配置下的图像数据，并将获取的图像数据进行处理，执行测试并打包数据。

第五步：测试节点200通过USB或以太网等高速通信接口2024将测试结果或原始图像数据(所述图像处理数据)传输给中央处理节点100。

第六步：中央处理节点100执行结果分析或者计算，并反馈测试结果给各测试节点200。

第七步：判断当前测试项目是否通过，如果测试项目未通过，则触发测试节点200提醒，比如点亮红色LED灯；如果测试项目通过，则进入第八步。

第八步：判断所有测试项目是否均完成，则触发测试节点200测试完成提醒，比如点亮绿色LED灯。测试完成后，机器手臂或者人工将测试完成的CMOS图像传感器更换为下一个待测CMOS图像传感器，启动新一轮测试；若当前CMOS图像传感器还有测试项目尚未完成，则返回第二步，进行下一项测试项目的测试。

本发明提出的CMOS图像传感器测试方法，支持测试节点的设置，可以有效的提高测试效率，每个测试节点的故障不影响完整的测试过程。中央处理节点也可以设置备份节点。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

综上所述，本发明具有以下有益效果：

1、本发明提出的CMOS图像传感器测试系统，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

2、可根据对应的测试项目选择图像处理数据是在所述中央处理节点处进行数据处理还是在测试节点处进行数据处理，例如，可将较为简单的测试项目对应的图像处理数据放到测试节点的本地进行数据处理，或是那些对于测试速度要求较高的测试项目放到测试节点的本地进行数据处理，这样可以保证测试项目的测试速度较快。可将较为复杂的测试项目对应的图像处理数据放到中央处理节点处进行数据处理，这样可以降低测试节点处的数据处理能力要求，可以简化测试节点的结构，节省了测试成本。进一步地提高调整测试成本的灵活性及测试速度，可以灵活调整测试任务，提高了鲁棒性。

3、测试节点处还可设置本地存储装置，以将图像处理数据、测试结果以及测试过程中的一些其它数据存储在测试节点的本地，方便和中央处理节点的测试结果相对应，可以进行结果追溯，在一定程度上提高了测试的精确度。

本发明提出的CMOS图像传感器测试方法，与所述CMOS图像传感器测试系统属于同一发明构思，因此具有相同的有益效果。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”或“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行接合和组合。

上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，包括：

中央处理节点，其被配置为提供测试项目给对应的测试节点；

测试节点，其被配置为获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行数据处理以得到测试结果；

所述测试节点的数量为多个。

2.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行所述数据处理。

3.如权利要求2所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述中央处理节点；

若所述图像处理数据在所述中央处理节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述测试节点。

4.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述图像数据处理包括对所述图像数据进行打包处理。

5.如权利要求4所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述打包处理包括在所述图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称或测试结果。

6.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述测试节点包括测试夹具以及图像数据处理装置；

所述测试夹具用于固定所述CMOS图像传感器，并与所述图像数据处理装置通信连接；

所述图像数据处理装置用于获取所述CMOS图像传感器在不同测试项目下的所述图像数据，并对所述图像数据进行所述图像处理；

若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理，则所述图像数据处理装置还用于对所述图像处理数据进行数据处理，将所述测试结果传输给所述中央处理节点。

7.如权利要求6所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述图像数据处理装置包括相互之间通信连接的配置接口、数据接收模块、数据处理模块以及数据输出模块；

所述配置接口与所述测试夹具连接，并用于配置所述CMOS图像传感器的参数；

所述数据接收模块与所述测试夹具连接，并用于接收所述图像数据；

所述数据处理模块用于对所述图像数据进行所述图像处理，或对所述图像处理数据进行数据处理；

所述数据输出模块用于传输所述图像处理数据或所述测试结果。

8.如权利要求7所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述图像数据处理装置还包括通信接口，所述通信接口与所述配置接口、所述数据接收模块、所述数据处理模块以及所述数据输出模块通信连接；

所述通信接口用于与所述中央处理节点进行通信连接。

9.如权利要求8所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述通信接口包括USB接口或以太网接口。

10.如权利要求6所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述测试节点还包括本地存储装置；

所述本地存储装置与所述图像数据处理装置通信连接，并用于存储所述图形处理数据和所述测试结果。

11.如权利要求6所述的CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述测试节点还包括一反馈装置；

所述反馈装置与所述图像数据处理装置通信连接，并用于反馈所述CMOS图像传感器的测试结果。

12.如权利要求11所述得CMOS图像传感器测试系统，其特征在于，所述反馈装置包括LED显示设备或LCD显示设备。

13.一种CMOS图像传感器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供测试项目给对应的测试节点，所述测试节点的数量为多个；

获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

对所述图像处理数据进行数据处理以得到测试结果。

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