CN112102426B

CN112102426B - 本底符合事件判选方法、装置、设备及可读存储介质

Info

Publication number: CN112102426B
Application number: CN202010882853.8A
Authority: CN
Inventors: 李俊; 郑威; 孙友军
Original assignee: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd
Current assignee: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd
Priority date: 2020-08-28
Filing date: 2020-08-28
Publication date: 2024-03-26
Anticipated expiration: 2040-08-28
Also published as: CN112102426A

Abstract

本申请涉及一种本底符合事件判选方法、装置、设备及可读存储介质。所述本底符合事件判选方法包括：获取本底事件数据，其中，所述本底事件数据是指所述探测器的晶体发生湮灭事件时，所述晶体探测到的事件数据；确定所述探测器的时间窗的上界值和下界值，所述时间窗的下界值大于零；根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。本申请提供的方法能够提高本底符合事件判选效率。

Description

本底符合事件判选方法、装置、设备及可读存储介质

技术领域

本申请涉及医疗设备技术领域，特别是涉及一种本底符合事件判选方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

PET(Positron Emission Computed Tomography，正电子发射型计算机断层显像)是核医学领域比较先进的临床检查影像技术。

一般的PET设备主要包括探测器、符合判选装置、图像重建装置和控制装置。探测器探测数据后，由符合判选装置根据探测数据，捕获飞行时间差在一定范围内的事件对，将事件对中的两个事件的时间、位置和能量等信息组合成一个数据，并输出到图像重建装置。图像重建装置根据组合的数据进行图像重建。

在PET成像的过程中，探测器的作用至关重要。因此，PET的使用和维护中，探测器的性能和工作状态等的检测也至关重要。本底符合事件是指在探测器晶体上发生的湮灭事件，它是反映探测器性能和工作状态的一项关键数据。然而，本底符合事件的判选是一项难点。

传统技术中，对于本底符合事件的判选，主要是符合判选装置对探测器采集的数据进行初步符合判选后传输至后台软件，由后台软件进行进一步筛选处理，得到需要的本底符合事件。

传统技术中的本底符合事件判选方法后台处理量大，需要耗费大量的时间，存在数据获取效率差的问题。

发明内容

基于此，有必要针对以上问题，提供一种本底符合事件判选方法、装置、设备及可读存储介质。

一种本底符合事件判选方法，应用于探测器，所述探测器包括多个晶体，所述多个晶体围成环形，所述方法包括：

获取本底事件数据，其中，所述本底事件数据是指所述探测器的晶体发生湮灭事件时，所述晶体探测到的事件数据；

确定所述探测器的时间窗的上界值和下界值，所述时间窗的下界值大于零；

根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

在其中一个实施例中，所述确定所述探测器的时间窗的上界值和下界值，包括：

分别获取所述探测器的内径和外径；

根据所述探测器的内径和外径确定所述时间窗的上界值和下界值。

在其中一个实施例中，所述根据所述探测器的内径和外径确定所述时间窗的上界值和下界值，包括：

根据所述探测器的外径与光速的比值确定所述时间窗的上界值；

根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值。

在其中一个实施例中，所述时间窗的上界值大于或等于所述探测器的外径和光速的比值，所述时间窗的下界值小于或等于所述探测器的内径与光速的比值。

在其中一个实施例中，所述时间窗的上界值为10ns-11ns，所述时间窗的下界值为9ns-10ns。

在其中一个实施例中，所述本底事件数据包括所述晶体探测到湮灭事件的时刻值，所述根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件，包括：

根据所述本底事件数据获取第一时刻值和第二时刻值，其中，所述第一时刻值和所述第二时刻值为任意两个所述晶体探测到的湮灭事件的时刻值；

确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值；

根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件。

在其中一个实施例中，所述根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件，包括：

确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值是否介于所述时间窗的上界值和下界值之间；

若是，则所述第一时刻值和所述第二时刻值为本底符合事件；

否则，所述第一时刻值和所述第二时刻值不为本底符合事件。

一种本底符合事件判选装置，应用于探测器，所述探测器包括多个晶体，所述多个晶体围成环形，所述本底符合事件判选装置包括：

数据获取模块，用于获取本底事件数据，其中，所述本底事件数据是指所述探测器的晶体发生湮灭事件时，所述晶体探测到的事件数据；

窗界确定模块，用于确定所述探测器的时间窗的上界值和下界值，所述时间窗的下界值大于零；

判选模块，用于根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。

本申请实施例提供的本底符合事件判选方法、装置、设备和可读存储介质中，时间窗上下界值可根据需求设置，时间窗上界值大于时间窗下界值，且时间窗下界值大于零，这样，判选得到的符合事件发生区域为环形，滤去了大量FOV中的非所需数据信息，即滤去了随机和散射信息，得到的本底符合事件质量高，且节约了数据传输带宽，节省了后台处理的事件和资源，大大提高了判选效率和质量。另外，本申请实施例提供的本底符合事件判选方法、装置、设备和可读存储介质时间窗的上下界值可调，在使用PET对生物体进行检测时，也可以根据需要，设置需要的时间窗上界值和时间窗下界值，使得探测范围灵活可变，减少随机和散射信息，提高检测质量。

附图说明

图1为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法应用场景示意图；

图2为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图3为本申请一个实施例提供的镥元素衰变过程示意图；

图4为本申请一个实施例提供的传统技术中的判选方法得到的符合事件发生区域示意图；

图5为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法得到的符合事件发生区域示意图；

图6为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图7为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图8为本申请一个实施例提供的不同衰变位置的飞行时间差对比示意图；

图9为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图10为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图11为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选方法步骤流程示意图；

图12为本申请一个实施例提供的本底符合事件判选装置结构框图；

图13为本申请一个实施例提供的计算机设备内部结构框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供一种本底符合事件判选方法，所述方法可以应用于如图1所示的PET设备中。PET设备包括探测器102、符合判选装置104、图像重建装置106和控制装置108。探测器102与符合判选装置104通信连接，图像重建装置106与符合判选装置104通信连接。控制装置108与探测器102、符合判选装置104和图像重建装置106均通信连接。其中，探测器102呈环形。具体的，探测器包括多个晶体，多个晶体围成环状。探测器晶体的数量可以根据实际需求选择，本申请实施例不做任何限定。晶体中含有镥(Lu)元素。本申请实施例提供的本底符合事件判选方法即用于判选晶体中镥元素衰变过程中产生的事件数据中的符合数据。所述方法可以具体应用于图1中的符合判选装置104。所述符合判选装置可以为计算机设备，也可以为包含处理器以及存储器的电子设备。处理器可以为中央处理器，可以为微处理器，也可以为FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)等。存储器能够存储数据和计算机程序，处理器能够执行计算机程序以实现本申请实施例提供的本底符合事件判选方法。以下结合具体的实施例对所述本底符合事件判选进行进一步详细说明。

请参见图2，在一个实施例中，所述本底符合事件判选方法包括：

S10，获取本底事件数据，其中，本底事件数据是指探测器的晶体发生湮灭事件时，晶体探测到的事件数据。

请参见图3，探测器的晶体中包含镥(Lu)元素，镥元素衰变过程中，会经历一次β衰变，以及多次γ衰变。β衰变的能量能够被探测器的本底晶体探测识别，而γ衰变后穿过FOV(视场)后，被对面晶体吸收。

因此，在PET设备中未放置放射源的情况下，通过探测器能够探测得到探测器的本底晶体发生单光子湮灭事件产生的事件数据，即本底事件数据。本底事件数据包括探测器的多个晶体采集的多组事件数据，每组事件数据包括时间、位置和能量等信息。符合判选装置可以从探测器直接获取本底事件数据，也可以从存储器中获取本底事件数据。符合判选装置可以从探测器直接获取本底事件数据，也可以从存储器中获取本底事件数据。

S20，确定探测器的时间窗的上界值和下界值，其中，时间窗的上界值大于时间窗的下界值，且时间窗的下界值大于零。

时间窗的上界值和下界值的设置，也即窗宽的设置。本申请实施例中，时间窗的上下界值可以根据需求设置。在一个实施例中，可以通过控制装置输入需要的时间窗的上界值和/或时间窗的下界值，控制装置进一步将时间窗的上界值和时间窗的下界值发送至符合判选装置。符合判选装置根据接收到的值设定时间窗窗宽。本申请实施例中，对于时间窗上下界值的设定要求为，时间窗上界值大于时间窗下界值，同时，时间窗下界值大于0。

S30，根据时间窗和本底事件数据判选本底符合事件。

具体的，可以筛选出本底事件数据中符合时间窗的事件，得到本底符合事件。符合判选装置利用设定后的时间窗对本底事件数据进行筛选，得到时间满足时间窗的两组事件数据，即符合事件。进一步的，可以将符合事件的事件数据进行组合，得到本底符合数据。

请参见图4，传统技术中，利用PET设备进行检测成像时，注射有放射性元素的生物体放置在环形探测器中。一个湮灭事件后发出互为180度的两个γ光子，被探测器的晶体M0和M10捕获到，两个γ光子的飞行时间分别为Ta、Tb。其中，飞行时间是指，光子从产生位置传播至探测器所需的时间。M0和M10间这一条光子飞行的直线叫做响应线(LOR)。两个γ光子的到达时间差就是飞行的路程差。由于需要获取生物体内光子湮灭的符合事件，所以符合判选装置的时间窗的下界值设置为0，且为了防止出现失误，时间窗的下界值不能修改。这样，符合判选装置判选得到的符合事件发生区域呈圆形，如图4所示。

而传统技术中本底数据判选，通过调整时间窗上界值，使得判选得到的符合时间发生区域的半径变大，即可覆盖探测器的晶体。然而，元素衰变发生在FOV外侧的探测器晶体中，这样判选得到的符合事件数据中包含大量的随机及散射信息，数据质量低，需要后期通过后台软件进行筛选和处理，因此，需要消耗大量的带宽进行数据传输，而且后台需要花费大量的时间和资源去处理，效率较低。

请参见图5，本申请实施例提供的本底符合事件判选方法中，时间窗的上下界值均可调，时间窗的上界值大于时间窗的下界值，且时间窗的下界值大于零，这样，判选得到的符合事件发生区域为环形，滤去了大量FOV中的非所需数据信息，非所需数据信息包括随机和散射信息，得到的本底符合事件质量高，且节约了数据传输带宽，节省了后台处理的事件和资源，大大提高了判选效率和质量。

另外，时间窗的上下界值可调，在使用PET对生物体进行检测时，也可以根据需要，设置需要的时间窗的上界值和时间窗的下界值，使得探测范围灵活可变，减少随机和散射信息，提高检测质量。

请参见图6，本实施例涉及根据时间窗和本底事件数据判选本底符合事件的一种可能的实现方式，即S30包括：

S310，根据本底事件数据获取第一事件数据和第二事件数据，其中，第一事件数据和第二事件数据为本底事件数据中任意两个晶体探测到的事件数据；

S320，确定第一事件数据和第二事件数据的飞行时间的时间差绝对值；

S330，根据时间窗和时间差绝对值，确定第一事件数据和第二事件数据是否为本底符合事件。

其中，飞行事件是指光子从发生湮灭事件的位置，飞行至探测到湮灭事件的晶体所需的事件，即，湮灭事件产生的光子从产生至被晶体检测所经历的时间。如上所述，本底事件数据中包含多个晶体探测到的事件数据，即本底事件数据包括多组事件数据。步骤S310至S330是实现任意两组事件数据的符合判定。本底事件数据中所有的事件数据均执行如上S310-S320步骤，即可筛选出本底事件数据中的所有符合事件，从而得到所有的本底符合事件。

请参见图7，在一个实施例中，时间差绝对值可以通过以下步骤确定，S320包括：

S321，分别提取第一事件数据和第二事件数据的飞行时间，得到第一飞行时间和第二飞行时间；

S322，计算第一飞行时间和第二飞行时间的差的绝对值，得到时间差绝对值。

设第一飞行时间为Ta，第二飞行时间为Tb，则，第一事件数据和第二事件数据的飞行时间差记为ΔT，时间差绝对值为|Ta-Tb|。

请参见图8，两个晶体间距为d，如果衰变事件发生在两个晶体的中点位置，ΔT约为0。而当衰变事件发生在晶体的位置，ΔT约为d/c，其中，c为光传播速度。因此，在获取本底符合事件时，通过设置时间窗的上下界，可以方便的识别出本底符合事件，屏蔽掉中心非所需信息，即屏蔽掉随机及散射数据等。

请参见图9，在一个实施例中，根据时间窗和时间差绝对值确定第一事件数据和第二事件数据是否为本底符合事件包括如下步骤，即S330包括：

S331，确定时间差绝对值是否介于时间窗上界值和时间窗下界值之间；

若是，则S332，第一事件数据和第二事件数据为本底符合事件；

若否，则S333，第一事件数据和第二事件数据不为本底符合事件。

设时间窗上界值为Twindow(max)，时间窗下界值为Twindow(min)。若Twindow(min)≤|Ta-Tb|≤Twindow(max)，则第一事件数据和第二事件数据为本底符合事件，否则不为本底符合事件。

当然，也可以为Twindow(min)＜|Ta-Tb|＜Twindow(max)，则第一事件数据和第二事件数据为本底符合事件，否则不为本底符合事件。

如此一来，可以筛选得到环形的符合事件判选区域，使得探测器晶体位于环形的符合事件区域范围内，便于获取到探测器本底的符合数据。

请参见图10，在一个实施例中，本底事件数据包括探测器的晶体探测到湮灭事件的时刻值。则，S30，根据时间窗和本底事件数据判选本底符合事件，也可以包括：

S340，根据本底事件数据获取第一时刻值和第二时刻值，其中，第一时刻值和第二时刻值为任意两个晶体探测到的湮灭事件的时刻值；

S350，确定第一时刻值和第二时刻值的差的绝对值；

S360，根据第一时刻值和第二时刻值的差的绝对值，以及时间窗判选本底符合事件。

由于湮灭事件两个光子的产生事件相同，通过光子被晶体探测到时所对应的时刻值，即可反应光子的飞行时间，时刻值的差值即可快速的确定出两个光子的飞行时间差差值。

对应的，在一个实施例中，根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件，包括：

确定第一时刻值和第二时刻值的差的绝对值是否介于时间窗的上界值和下界值之间；

若是，则第一时刻值和第二时刻值为本底符合事件；

否则，第一时刻值和第二时刻值不为本底符合事件。

请参见图11，在一个实施例中，确定探测器的时间窗的上界值和下界值可以通过如下步骤得到，S20包括：

S210，分别获取探测器的内径和外径；

S220，根据探测器的内径和外径确定时间窗的上界值和下界值。

本实施例中，通过探测器的内径和外径设置合适的时间窗上界值和时间窗下界值，使得判选的本底符合事件中包含所有需要的事件数据，且包含最少的非需要事件数据，即使得所述本底符合事件的质量最高，从而最大程度的提高判选的效率。

在一个实施例中，可以根据探测器的外径与光速的比值确定时间窗的上界值。在一个实施例中，时间窗的上界值大于或等于探测器的外径和光速的比值。在一个具体的实施例中，时间窗的上界值为10ns-11ns。

在一个实施例中，可以根据探测器的内径与光速的比值确定时间窗的下界值。在一个实施例中，时间窗的下界值小于或等于探测器的内径与光速的比值。在一个具体的实施例中，时间窗的下界值为9ns-10ns。

时间窗的上界值大于或等于探测器的外径和光速的比值，时间窗的下界值小于或等于探测器的内径与光速的比值，这样，形成的环形判选区域可以将环形的探测器晶体全部覆盖，避免本底符合事件的遗漏，提高判选准确性。当时间窗的上界值等于或略大约探测器的外径和光速的比值，时间窗的下界值等于或略大于探测器的内径与光速的比值时，形成的环形判选区域正好覆盖环形的探测器晶体，不仅可以避免本底符合事件的遗漏，提高判选准确性，还可以更准确的滤除随机和散射信息，进一步提高判选的准确性以及判选效率。

在一个实施例中，所述方法还进一步包括：

S50，根据本底符合事件确定探测器的性能和/或工作状态。

根据以上得到的本底符合事件，组合得到本底符合数据，根据本底符合数据分析确定探测器的性能和/或工作状态。进一步的，还可以根据本底符合事件或本底符合数据，校正PET设备工作流等，从而提高PET设备的稳定性和可靠性。

可以理解，在一些实施例中，探测器的数目可以为一个，也可以为多个。当PET设备包括两个或两个以上的探测器时，第一探测器上的晶体发生湮灭事件时，所产生的的伽马光子有可能飞行到第二探测器或者第三或者之后的任意一个探测器上。探测器数目为多个时，符合事件判选方法的具体实现过程与上述实施例中相同或相似，在此不再赘述。

应该理解的是，虽然以上流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

请参见图12，本申请一个实施例还提供一种本底符合事件判选装置10，应用于探测器，探测器包括多个晶体，多个晶体围成环形，所述本底符合事件判选装置10包括数据获取模块110、窗界确定模块120和判选模块130，其中：

数据获取模块110，用于获取本底事件数据，其中，所述本底事件数据是指所述探测器的晶体发生湮灭事件时，所述晶体探测到的事件数据；

窗界确定模块120，用于确定所述探测器的时间窗的上界值和下界值，所述时间窗的下界值大于零；

判选模块130，用于根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

在一个实施例中，窗界确定模块120具体用于分别获取所述探测器的内径和外径；根据所述探测器的内径和外径确定所述时间窗的上界值和下界值。

在一个实施例中，窗界确定模块120具体用于根据所述探测器的外径与光速的比值确定所述时间窗的上界值；根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值。

在一个实施例中，所述时间窗的上界值大于或等于所述探测器的外径和光速的比值，所述时间窗的下界值小于或等于所述探测器的内径与光速的比值。

在一个实施例中，所述时间窗的上界值为10ns-11ns，所述时间窗的下界值为9ns-10ns。

在一个实施例中，所述本底事件数据包括所述晶体探测到湮灭事件的时刻值，判选模块130具体用于根据所述本底事件数据获取第一时刻值和第二时刻值，其中，所述第一时刻值和所述第二时刻值为任意两个所述晶体探测到的湮灭事件的时刻值；确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值；根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件。

在一个实施例中，判选模块130具体用于确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值是否介于所述时间窗的上界值和下界值之间；若是，则所述第一时刻值和所述第二时刻值为本底符合事件；否则，所述第一时刻值和所述第二时刻值不为本底符合事件。

关于上述本底符合事件判选装置10的具体限定可以参见上文中对于本底符合事件判选方法的描述，在此不再赘述。上述本底符合事件判选装置10中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

请参见图13，在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图13所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储源数据、报表数据等。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种本底符合事件判选方法。

本领域技术人员可以理解，图13中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

在一个实施例中，该处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：分别获取所述探测器的内径和外径；根据所述探测器的内径和外径确定所述时间窗的上界值和下界值。

在一个实施例中，该处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述探测器的外径与光速的比值确定所述时间窗的上界值；根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值。

在一个实施例中，所述本底事件数据包括所述晶体探测到湮灭事件的时刻值，该处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述本底事件数据获取第一时刻值和第二时刻值，其中，所述第一时刻值和所述第二时刻值为任意两个所述晶体探测到的湮灭事件的时刻值；确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值；根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件。

在一个实施例中，该处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值是否介于所述时间窗的上界值和下界值之间；若是，则所述第一时刻值和所述第二时刻值为本底符合事件；否则，所述第一时刻值和所述第二时刻值不为本底符合事件。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：分别获取所述探测器的内径和外径；根据所述探测器的内径和外径确定所述时间窗的上界值和下界值。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述探测器的外径与光速的比值确定所述时间窗的上界值；根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值。

在一个实施例中，所述本底事件数据包括所述晶体探测到湮灭事件的时刻值，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述本底事件数据获取第一时刻值和第二时刻值，其中，所述第一时刻值和所述第二时刻值为任意两个所述晶体探测到的湮灭事件的时刻值；确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值；根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值是否介于所述时间窗的上界值和下界值之间；若是，则所述第一时刻值和所述第二时刻值为本底符合事件；否则，所述第一时刻值和所述第二时刻值不为本底符合事件。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种本底符合事件判选方法，其特征在于，应用于探测器，所述探测器包括多个晶体，所述多个晶体围成环形，所述方法包括：

分别获取所述探测器的内径和外径，根据所述探测器的外径与光速的比值确定时间窗的上界值，根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值；所述时间窗的下界值大于零；

根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时间窗的上界值大于或等于所述探测器的外径和光速的比值，所述时间窗的下界值小于或等于所述探测器的内径与光速的比值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述时间窗的上界值为10ns-11ns，所述时间窗的下界值为9ns-10ns。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述本底事件数据包括所述晶体探测到湮灭事件的时刻值，所述根据所述时间窗和所述本底事件数据判选本底符合事件，包括：

确定所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值；

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一时刻值和所述第二时刻值的差的绝对值，以及所述时间窗判选本底符合事件，包括：

6.一种本底符合事件判选装置，其特征在于，应用于探测器，所述探测器包括多个晶体，所述多个晶体围成环形，所述本底符合事件判选装置包括：

窗界确定模块，用于分别获取所述探测器的内径和外径，根据所述探测器的外径与光速的比值确定时间窗的上界值；根据所述探测器的内径与光速的比值确定所述时间窗的下界值；所述时间窗的下界值大于零；

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。