CN112082508A - 反光物体的三维测量方法、装置及终端设备 - Google Patents

反光物体的三维测量方法、装置及终端设备 Download PDF

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CN112082508A CN202010797815.2A CN202010797815A CN112082508A CN 112082508 A CN112082508 A CN 112082508A CN 202010797815 A CN202010797815 A CN 202010797815A CN 112082508 A CN112082508 A CN 112082508A
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Abstract

本申请属于三维测量的技术领域，提供了一种反光物体的三维测量方法、装置及终端设备，该方法包括：获取第一拍摄图像，第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；根据第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；根据投影亮度和拍摄亮度，确定反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。本申请实施例解决无法对反光物体进行三维测量的问题。

Description

反光物体的三维测量方法、装置及终端设备
技术领域
本发明涉及三维测量的技术领域，尤其涉及一种反光物体的三维测量方法、装置及终端设备。
背景技术
为实现准确获得物体的三维信息，通常采用结构光三维扫描技术对物体进行三维测量。结构光三维扫描系统通常由投影设备及相机组成，其通过投影设备投射蕴含预定编码信息的图案至待测表面，利用相机记录被待测表面调制的编码图案，通过解码手段解决相机像平面与投影设备像平面之间的全局唯一匹配问题，从而结合光学三角原理及系统标定参数计算出待测表面的三维信息。然而对于具有镜面反射、全局反射及局部多次反射等特性反光表面，容易在图像中形成饱和区和低对比度暗区，使得特征信息模糊或缺失，导致无法获取该区域的三维信息，进而严重影响了三维重建的精度。在现有技术中常用的解决方法是预先对待测表面进行喷涂消反光处理，即通过在待测表面喷涂一层白粉，使得待测表面不再反光，进而获取满意的测量结果。显然，这种繁琐的工序以及喷涂和清洗可能带来腐蚀等影响，使其难以满足大批量生产和检测的需要，特别是对于表面测量精度要求较高的金属零部件、文物及艺术品等物体的三维重建，更不具备可行性。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种反光物体的三维测量方法、装置及设备，以解决无法对反光物体进行三维测量的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种反光物体的三维测量方法，包括：
获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。
在一个实施示例中，在根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标之前，还包括：
获取第三拍摄图像，所述第三拍摄图像是将预设的条纹图像投影至所述待测量物体的表面后拍摄所得；所述条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹；
对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到横竖两向的绝对相位；
根据所述横竖两向的绝对相位得到投影坐标与拍摄坐标之间的映射关系。
在一个实施示例中，所述根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，包括：
对所述第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像，确定所述二值化图像中像素点对应的数值超出预设阈值的区域为所述表面上的反光区域；
根据所述映射关系确定所述反光区域对应的投影坐标。
在一个实施示例中，所述根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数，包括：
获取N个第四拍摄图像，所述N个第四拍摄图像是将N幅不同亮度的均值图像轮流投影至所述表面后拍摄所得；
根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；其中，N≥M+1。
在一个实施示例中，在获取第二拍摄图像之前，还包括：
获取所述第二拍摄图像满足预设清晰条件时所述反光区域对应的预期亮度值；
根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；
将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像。
在一个实施示例中，所述预设清晰条件为所述第二拍摄图像为不饱和图像。
在一个实施示例中，所述测量图像为条纹图像；
所述对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像，包括：
根据所述映射关系对所述第二拍摄图像进行相位计算，得到相位信息；
根据所述相位信息得到所述待测量物体的三维图像。
本发明实施例的第二方面提供了一种反光物体的三维测量装置，包括：
第一拍摄图像获取模块，用于获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
投影坐标确定模块，用于根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
亮度调节函数确定模块，用于根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
第二拍摄图像获取模块，用于获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
三维重建模块，用于对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。
本发明实施例的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面的所述反光物体的三维测量方法的步骤。
本发明实施例提供的一种反光物体的三维测量方法、装置及终端设备，获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，从而得到待测量物体的反光表面的反光区域对应在投影坐标系的坐标位置；根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；由于预设的测量图像已根据亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域进行亮度调整，使得拍摄得到的第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度，得到高信噪比的第二拍摄图像；对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像；实现对待测量物体的三维测量，提高根据第二拍摄图像对待测量物体进行三维重建的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的反光物体的三维测量方法的流程示意图；
图2是本发明实施例一提供的反光物体的三维测量系统的结构示意图；
图3是本发明实施例一提供的第一拍摄图像中的反光区域的示意图；
图4是本发明实施例一提供的反光区域在投影坐标系的示意图；
图5是本发明实施例一提供的拍摄得到第二拍摄图像的示意图；
图6是本发明实施例一提供的生成的待测量物体的三维图像的示意图；
图7是本发明实施例二提供的反光物体的三维测量装置的结构示意图；
图8是本发明实施例三提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。
现有技术中通常需要预先在反光物体表面喷涂消光物质，进行反光物体的消反光处理后才能对该反光物体进行三维检测。但消反光预处理可能对反光物体带来腐蚀等影响且工序繁杂，无法实现快速有效的对反光物体进行三维测量。为解决这一问题，本申请实施例根据投影坐标系与拍摄坐标系之间的映射关系，确定对反光物体进行拍摄后得到的拍摄图像中的反光区域的投影坐标；经过亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后得到预设的测量图像，使得拍摄得到的第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度，能够根据第二拍摄图像完整的获取到待测量物体的三维信息，从而实现对待测量物体的三维测量。
下面结合具体实施例对本申请提供的反光物体的三维测量方法进行实例性的说明。
实施例一
如图1所示，是本发明实施例一提供的反光物体的三维测量方法的流程示意图。本实施例可适用于对反光物体进行三维测量的应用场景，该方法可以由反光物体的三维测量装置执行，该装置可为控制设备或终端平板、PC或服务器等；在本申请实施例中以反光物体的三维测量装置作为执行主体进行说明，该方法具体包括如下步骤：
S110、获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得。
为实现对表面反光的待测量物体进行三维测量，通常采用结构光三维扫描技术对物体进行三维测量。如图2所示，为采用结构光扫描的反光物体的三维测量系统，该系统包括拍摄装置10、投影装置20和反光物体的三维测量装置30；反光物体的三维测量装置30与拍摄装置10以及投影装置20通信连接。在正常三维测量过程中，反光物体的三维测量装置控制投影装置20将蕴含预定编码信息的预设图像投影至待测量物体的表面，然后控制拍摄装置对待测量物体进行拍摄得到被待测量物体的表面调制后的预设图像；反光物体的三维测量装置根据拍摄装置采集到的图像对待测量物体进行三维重建。
然而，由于待测量物体具有反射特性的非漫反射表面，造成拍摄装置拍摄得到的图像出现图像饱和区以及低对比暗区，从而导致反光物体的三维测量装置根据拍摄装置采集到的图像对待测量物体进行三维重建时出现计算偏差，降低三维重建的精确度。为解决这一问题，可以预先通过反光物体的三维测量装置控制反光物体的三维测量系统中的投影装置将测试图像投影至待测量物体表面，然后控制拍摄装置对被投影的待测量物体进行拍摄得到拍摄图像，以根据该拍摄图像确定经拍摄装置采集的图像的反光区域。具体的，该测试图像为第一均值亮度图像；反光物体的三维测量装置控制投影装置将预设均值图像投影至待测量物体表面，并控制拍摄装置对待测量物体进行拍摄得到第一拍摄图像。可选的，为确保采集到的拍摄图像中黑暗区域保持高信噪比，第一均值亮度图像可为一幅亮度为255的均值图像。
S120、根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标。
在对被投影第一均值亮度图像的待测量物体进行拍摄得到第一拍摄图像后，能够根据第一拍摄图像中的反光区域确定经拍摄装置采集的图像的反光区域。由于投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标具有一定的映射关系，当确定经拍摄装置采集的图像的反光区域后，可以根据投影装置的投影坐标系与拍摄装置的拍摄坐标系之间的映射关系，将第一拍摄图像中的反光区域映射至投影图像上，得到待测量物体表面上的反光区域的投影坐标。其中，投影装置的投影坐标系为投影装置投影的图像所在的坐标系，投影装置的投影坐标为投影坐标系中的坐标位置；拍摄装置的拍摄坐标系为拍摄装置拍摄得到的图像所在的坐标系，拍摄装置的拍摄坐标为拍摄坐标系中的坐标位置。
在一个实施示例中，投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系可以根据包含条纹的投影图像与拍摄被投影包含条纹的投影图像的待测量物体表面得到的第三拍摄图像之间的条纹相移关系计算得到。在根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标之前，还包括获取投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系，其具体步骤包括步骤11至步骤13：
步骤11、获取第三拍摄图像，所述第三拍摄图像是将预设的条纹图像投影至所述待测量物体的表面后拍摄所得；所述条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹；
为获取投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系，需将包含条纹的投影图像投影至待测量物体表面以及拍摄被投影包含条纹的投影图像的待测量物体表面得到的第三拍摄图像，以根据包含条纹的投影图像与对应的第三拍摄图像之间的条纹相移计算得到投影坐标与拍摄坐标之间的映射关系。具体的，反光物体的三维测量装置控制投影装置将条纹图像投影至待测量物体表面，并控制拍摄装置对待测量物体进行拍摄得到第三拍摄图像。为实现对条纹图像与第三拍摄图像之间的条纹相移关系的准确计算，该条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹。其中，条纹图像中的横竖两向代表条纹图像的横坐标方向以及纵坐标方向；如图4所示，条纹图像中包含若干黑白相间的光栅条纹，由于将条纹图像投影至待测量物体的表面后，条纹图像中的各个光栅条纹在拍摄装置的拍摄坐标系中对应的坐标位置与各个光栅条纹在投影装置的投影坐标系中对应的坐标位置相比相位发生移动，因此，条纹图像中包含的各个光栅条纹称为相移条纹。
步骤12、对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到所述第三拍摄图像横竖两向的绝对相位；
具体的，通过移相算法对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到横竖两向的绝对相位，即得到条纹图像的横坐标方向以及纵坐标方向上各个相移条纹对应的绝对相位。详细举例说明，设经投影装置投影的条纹图像的像素坐标为(xp，yp)，以In(xp，yp)表示投影的条纹图像的N步相移条纹亮度，则In(xp，yp)可表示为：
Figure BDA0002626297200000101
其中，Imax为投影装置的最大输入亮度。根据上式进行条纹分析和计算得到第三拍摄图像中各个像素(xc，yc)的卷绕相位
Figure BDA0002626297200000102
与投影的条纹图像的N步相移条纹亮度之间的关系，从而得到第三拍摄图像中各个像素(xc，yc)的卷绕相位
Figure BDA0002626297200000103
Figure BDA0002626297200000104
其中，第三拍摄图像中各个像素(xc，yc)的卷绕相位
Figure BDA0002626297200000105
的范围为[-π，+π]，具有2π的非连续性，对第三拍摄图像中各个像素(xc，yc)的卷绕相位
Figure BDA0002626297200000106
进行解卷绕计算得到第三拍摄图像横竖两向的绝对相位。
步骤13、根据所述横竖两向的绝对相位得到所述投影坐标与所述拍摄坐标之间的映射关系。
由于拍摄装置得到的第三拍摄图像的横竖两向的绝对相位与投影装置投影的条纹图像具有对应关系，则根据第三拍摄图像的横竖两向的绝对相位可以得到投影坐标与所述拍摄坐标之间的映射关系。
在对被投影第一均值亮度图像的待测量物体进行拍摄得到第一拍摄图像后，可以根据第一拍摄图像中像素点的亮度确定第一拍摄图像中的反光区域，从而根据第一拍摄图像中的反光区域确定经拍摄装置采集的图像的反光区域，如图3所示。由于投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标具有映射关系，当确定经拍摄装置采集的图像的反光区域后，可以根据投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系，将拍摄图像中的反光区域映射至投影坐标系上，得到确定的反光区域在投影坐标系的投影坐标，如图4所示。
在一个实施示例中，根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标的具体过程包括：对所述第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像，确定所述二值化图像中像素点对应的数值超出预设阈值的区域为所述表面上的反光区域；根据所述映射关系确定所述反光区域对应的投影坐标。
由于反光物体的三维测量装置控制投影装置投影至待测量物体表面的第一均值亮度图像，可为一幅亮度为255的均值图像，使得拍摄装置采集被投影第一均值亮度图像的待测量物体得到的第一拍摄图像中待测量物体的表面的反光高亮区域已经出现图像饱和现象，确保拍摄图像中黑暗区域保持高信噪比。可以通过对第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像，确定二值化图像中像素点对应的数值超出预设阈值的区域为反光区域，实现对拍摄图像中反光区域的确定。具体的，由于图像中像素点的亮度值大于254时，该像素点确定为饱和像素。将第一拍摄图像中亮度值大于254的饱和像素点赋值为1，将第一拍摄图像中亮度值小于或等于254的像素点赋值为0，以实现对第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像Mc(xc，yc)。
Figure BDA0002626297200000111
当二值化图像中任一像素点的值为1时，该像素点在第一拍摄图像上的亮度被确认为饱和状态。得到的二值化图像Mc(xc，yc)为一幅饱和区域图像，第一拍摄图像的反光区域对应为二值化图像中饱和像素点聚集的区域，因此通过检测区域边缘可以获得每个饱和像素簇的外轮廓，即确定二值化图像中超出预设阈值的区域为反光区域；由于饱和像素点对应的值为1，则设定该预设阈值为0。
确定第一拍摄图像中的反光区域后，可以得到反光区域在第一拍摄图像中的坐标位置，从而根据投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系计算反光区域在拍摄图像中的坐标位置在投影坐标系对应的投影坐标，得到反光区域在投影坐标系中的投影坐标。详细举例说明，对于第一拍摄图像中确定的反光区域中的一个像素点Mc＝(xc，yc)，其绝对像素值可沿横竖方向进行线性插值而获得，分别表示为ωver(xc，yc)与ωhor(xc，yc)，那么其在投影装置的投影坐标系的对应点坐标Mp＝(xp，yp)可通过下式计算而得：
Figure BDA0002626297200000121
Figure BDA0002626297200000122
其中，V与H是投影装置需投影的投影图像的宽与高，T是投影图像中条纹周期的最大整数，因此，确定第一拍摄图像中的反光区域后根据投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系计算反光区域在拍摄图像中的坐标位置在投影坐标系对应的投影坐标，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，如图4所示。
S130、根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数。
在得到反光区域在投影坐标系中的投影坐标后，为避免待测量物体的表面反光造成拍摄装置拍摄得到的图像出现图像饱和区以及低对比暗区，导致反光物体的三维测量装置根据拍摄装置采集到的图像对待测量物体进行三维重建时出现计算偏差，可以根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数，根据亮度调节函数确定当拍摄图像的亮度为满足预设清晰条件时的亮度值时投影坐标所需的投影亮度，即投影装置投影的图像所需的投影亮度。其中，投影亮度为投影装置对图像进行投影时图像所呈现的亮度；拍摄亮度为拍摄装置拍摄得到的图像对应的亮度。
在一个实施示例中，根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数的具体过程包括步骤21至步骤22：
步骤21、获取N个第四拍摄图像，所述N个第四拍摄图像是将N幅不同亮度的均值图像轮流投影至所述表面后拍摄所得；
由于在投影光照射至待测量物体表面，物体表面反射投影光至相机拍摄记录的过程中，投影光受到环境光、物体表面反射率、及相机敏感度等因素影响，投影坐标系的投影亮度与拍摄坐标系的拍摄亮度之间的函数关系并不是线性关系，而是为非线性关系。为获得投影坐标系的投影亮度与拍摄坐标系的拍摄亮度之间的函数关系，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数，需将N幅亮度不同的均值图像轮流投影至所述待测量物体表面，采集每幅所述均值图像投影至所述待测量物体表面后所述待测量物体的第四拍摄图像。
步骤22、根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；其中，N≥M+1。
根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，得到投影坐标系的投影亮度与拍摄坐标系的拍摄亮度之间的函数关系。具体的，通过最小二乘法对各幅均值图像的亮度以及各幅均值图像对应的第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，得到投影坐标系的投影亮度与拍摄坐标系的拍摄亮度之间的函数关系，即亮度调节函数。经多次拟合验证，确定当M等于7时，投影坐标系的投影亮度与拍摄坐标系的拍摄亮度之间的函数关系最佳。
详细说明，以M＝7为例，当M等于7时，亮度调节函数式为：
Ip(up，vp)＝a0(Ic(uc，vc))7+a1(Ic(uc，vc))6+a2(Ic(uc，vc))5+a3(Ic(uc，vc))4+a4(Ic(uc，vc))3+a5(Ic(uc，vc))2+a6Ic(uc，vc)+a7；
其中，a0，a1，a2，a3，a4，a5，a6，a7为亮度调节函数式的系数，通过最小二乘法对各幅均值图像的亮度以及各幅均值图像对应的第四拍摄图像的亮度进行7次项的函数拟合计算得到上述系数。
S140、获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得。
反光物体的三维测量装置控制投影装置20将预设的蕴含预定编码信息的测量图像投影至待测量物体的表面，然后控制拍摄装置对待测量物体进行拍摄得到被待测量物体的表面调制后的第二拍摄图像，如图5所示。所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得。由于预设的测量图像已根据亮度调节函数以避免拍摄坐标系的图像过饱和为目标进行亮度调整，使得拍摄得到的第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度，避免第二拍摄图像包含的待测量物体的三维特征信息模糊或缺失，提高根据第二拍摄图像对待测量物体进行三维重建的准确度。
在一个实施示例中，在获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得之前，还包括：获取所述第二拍摄图像满足预设清晰条件时所述反光区域对应的预期亮度值；根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像。
根据亮度调节函数确定第二拍摄图像满足预设清晰条件时反光区域对应的预期亮度值后，根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像。具体的，由于已知拍摄图像中的反光区域映射至投影坐标系上时对应的投影坐标，可以将原有测量图像中投影坐标所在的区域的亮度值设置为投影亮度，避免第二拍摄坐标的图像过饱和。
在一个实施示例中，所述预设清晰条件为所述第二拍摄图像为不饱和图像。由于拍摄图像出现图像饱和区以及低对比暗区等情况会导致三维测量不准确，则预设的清晰条件可以为第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度暗区。
由于图像中像素点的亮度值大于254时，该像素点确定为饱和像素。为避免第二拍摄图像出现饱和现象，第二拍摄图像满足预设清晰条件时的亮度值需小于或等于254。当第二拍摄图像的亮度值等于254时，第二拍摄图像的清晰度最佳，则根据亮度调节函数确定当第二拍摄图像的亮度为满足预设清晰条件时反光区域对应的预期亮度值，根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度，投影坐标所需的投影亮度可由下述公式计算得到：Ibest＝2547a0+2546a1+2545a2+2544a3+2543a4+2542a5+254a6+a7。
S150、对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。
反光物体的三维测量装置根据拍摄装置采集到的第二拍摄图像进行三维重建，得到待测量物体的三维图像，实现对待测量物体的三维测量。
在一个实施示例中，所述测量图像为条纹图像；根据所述第二拍摄图像对所述待测量物体进行三维重建，得到三维图像的具体过程包括：根据投影装置的投影坐标与拍摄装置的拍摄坐标之间的映射关系对第二拍摄图像进行相位计算，得到相位信息；结合光学三角原理根据相位信息进行三维重建，得到待测量物体的三维图像，如图6所示。
本发明实施例提供的一种反光物体的三维测量方法，获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，从而得到待测量物体的反光表面的反光区域对应在投影坐标系的坐标位置；根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；由于预设的测量图像已根据亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域进行亮度调整，使得拍摄得到的第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度，得到高信噪比的第二拍摄图像；对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像；实现对待测量物体的三维测量，提高根据第二拍摄图像对待测量物体进行三维重建的准确度。
实施例二
如图7所示的是本发明实施例二提供的反光物体的三维测量装置。在实施例一的基础上，本发明实施例还提供了一种反光物体的三维测量装置7，该装置包括：
第一拍摄图像获取模块701，用于获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
投影坐标确定模块702，用于根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
亮度调节函数确定模块703，用于根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
第二拍摄图像获取模块704，用于获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
三维重建模块705，用于根据所述第二拍摄图像对所述待测量物体进行三维重建，得到三维图像。
在一个实施示例中，所述装置还包括：
第三拍摄图像获取模块，用于获取第三拍摄图像，所述第三拍摄图像是将预设的条纹图像投影至所述待测量物体的表面后拍摄所得；所述条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹；
相移计算模块，用于对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到横竖两向的绝对相位；
映射关系确定模块，用于根据所述横竖两向的绝对相位得到投影坐标与拍摄坐标之间的映射关系。
在一个实施示例中，投影坐标确定模块702包括：
图像二值化单元，用于对所述第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像，确定所述二值化图像中超出预设阈值的区域为所述表面上的反光区域；
坐标位置计算单元，用于根据所述映射关系确定所述反光区域对应的投影坐标。
在一个实施示例中，亮度调节函数确定模块703包括：
第四拍摄图像获取单元，用于获取N个第四拍摄图像，所述N个第四拍摄图像是将N幅不同亮度的均值图像轮流投影至所述表面后拍摄所得；
亮度调节函数确定单元，用于根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；其中，N≥M+1；M等于7。
在一个实施示例中，所述装置还包括：
预期亮度值获取模块，用于获取所述第二拍摄图像满足预设清晰条件时所述反光区域对应的预期亮度值；
投影亮度确定模块，用于根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；
亮度调整模块，用于将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像。
本发明实施例提供的一种反光物体的三维测量装置，获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，从而得到待测量物体的反光表面的反光区域对应在投影坐标系的坐标位置；根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；由于预设的测量图像已根据亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域进行亮度调整，使得拍摄得到的第二拍摄图像为不饱和图像且具有高对比度，得到高信噪比的第二拍摄图像；对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像；实现对待测量物体的三维测量，提高根据第二拍摄图像对待测量物体进行三维重建的准确度。
实施例三
图8是本发明实施例四提供的终端设备的结构示意图。该终端设备包括：处理器81、存储器82以及存储在所述存储器82中并可在所述处理器81上运行的计算机程序83，例如用于反光物体的三维测量方法的程序。所述处理器81执行所述计算机程序83时实现上述反光物体的三维测量方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤S110至S170。
示例性的，所述计算机程序83可以被分割成一个或多个模块，所述一个或者多个模块被存储在所述存储器82中，并由所述处理器81执行，以完成本申请。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序83在所述终端设备中的执行过程。例如，所述计算机程序83可以被分割成第一拍摄图像获取模块、投影坐标确定模块、亮度调节函数确定模块、第二拍摄图像获取模块和三维重建模块，各模块具体功能如下：
第一拍摄图像获取模块，用于获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
投影坐标确定模块，用于根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
亮度调节函数确定模块，用于根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
第二拍摄图像获取模块，用于获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
三维重建模块，用于根据所述第二拍摄图像对所述待测量物体进行三维重建，得到三维图像。
所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器81、存储器82以及存储在所述存储器82中的计算机程序83。本领域技术人员可以理解，图8仅仅是终端设备的示例，并不构成对终端设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所述处理器81可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器82可以是所述终端设备的内部存储单元，例如终端设备的硬盘或内存。所述存储器82也可以是外部存储设备，例如反光物体的三维测量装置上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器82还可以既包括反光物体的三维测量装置的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器82用于存储所述计算机程序以及反光物体的三维测量方法所需的其他程序和数据。所述存储器82还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种反光物体的三维测量方法，其特征在于，包括：
获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。
2.如权利要求1所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，在根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标之前，还包括：
获取第三拍摄图像，所述第三拍摄图像是将预设的条纹图像投影至所述待测量物体的表面后拍摄所得；所述条纹图像包含若干条横竖两向的相移条纹；
对所述第三拍摄图像中所述相移条纹的相移进行计算，得到横竖两向的绝对相位；
根据所述横竖两向的绝对相位得到投影坐标与拍摄坐标之间的映射关系。
3.如权利要求2所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，所述根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标，包括：
对所述第一拍摄图像进行二值化处理得到二值化图像，确定所述二值化图像中像素点对应的数值超出预设阈值的区域为所述表面上的反光区域；
根据所述映射关系确定所述反光区域对应的投影坐标。
4.如权利要求1所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，所述根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数，包括：
获取N个第四拍摄图像，所述N个第四拍摄图像是将N幅不同亮度的均值图像轮流投影至所述表面后拍摄所得；
根据各幅所述均值图像的亮度以及各幅所述均值图像对应的所述第四拍摄图像的亮度进行M次项的函数拟合，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；其中，N≥M+1。
5.如权利要求1所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，在获取第二拍摄图像之前，还包括：
获取所述第二拍摄图像满足预设清晰条件时所述反光区域对应的预期亮度值；
根据所述亮度调节函数确定所述预期亮度值对应的投影亮度；
将原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度调整为所述投影亮度，得到所述预设的测量图像。
6.如权利要求5所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，所述预设清晰条件为所述第二拍摄图像为不饱和图像。
7.如权利要求2所述的反光物体的三维测量方法，其特征在于，所述测量图像为条纹图像；
所述对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像，包括：
根据所述映射关系对所述第二拍摄图像进行相位计算，得到相位信息；
根据所述相位信息得到所述待测量物体的三维图像。
8.一种反光物体的三维测量装置，其特征在于，包括：
第一拍摄图像获取模块，用于获取第一拍摄图像，所述第一拍摄图像是将预设的第一均值亮度图像投影至待测量物体的表面后拍摄所得；
投影坐标确定模块，用于根据所述第一拍摄图像，确定所述表面上的反光区域的投影坐标；
亮度调节函数确定模块，用于根据投影亮度和拍摄亮度，确定所述反光区域中的每个投影坐标位置的亮度调节函数；
第二拍摄图像获取模块，用于获取第二拍摄图像，所述第二拍摄图像是将预设的测量图像投影至所述表面后拍摄所得；所述预设的测量图像为经过所述亮度调节函数对原有测量图像中所述投影坐标所在区域的亮度进行调节后所得；
三维重建模块，用于对所述第二拍摄图像进行三维重建，得到所述待测量物体的三维图像。
9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述反光物体的三维测量方法的步骤。
10.一种终端设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述反光物体的三维测量方法的步骤。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113596423A (zh) * 2021-09-29 2021-11-02 深圳市纵维立方科技有限公司 一种亮度校正方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN114998409A (zh) * 2022-05-05 2022-09-02 四川大学 一种自适应结构光测量方法、装置、电子设备及介质
WO2023000595A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102937425A (zh) * 2012-10-18 2013-02-20 北京航空航天大学 一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统
US20150116582A1 (en) * 2013-10-30 2015-04-30 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
CN104697469A (zh) * 2015-03-30 2015-06-10 四川大学 利用谐波幅值判定饱和的高动态三维测量方法
CN108195313A (zh) * 2017-12-29 2018-06-22 南京理工大学 一种基于光强响应函数的高动态范围三维测量方法
CN108519064A (zh) * 2018-04-20 2018-09-11 天津工业大学 一种应用于多频率三维测量的反光抑制方法
CN109341589A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 深圳市华汉伟业科技有限公司 一种光栅图像投影方法、三维重建方法及三维重建系统
CN109916336A (zh) * 2019-02-03 2019-06-21 武汉斌果科技有限公司 基于光谱调制与多光谱成像的高动态范围三维测量方法
CN110057319A (zh) * 2019-02-20 2019-07-26 西安理工大学 一种大范围反射率变化物体的高速三维测量方法
CN110702034A (zh) * 2019-10-25 2020-01-17 湖北工业大学 高反光表面三维面形测量方法、服务器及系统

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102937425A (zh) * 2012-10-18 2013-02-20 北京航空航天大学 一种基于高动态条纹投射器的强反射表面三维形貌测量系统
US20150116582A1 (en) * 2013-10-30 2015-04-30 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus and image processing method
CN104697469A (zh) * 2015-03-30 2015-06-10 四川大学 利用谐波幅值判定饱和的高动态三维测量方法
CN108195313A (zh) * 2017-12-29 2018-06-22 南京理工大学 一种基于光强响应函数的高动态范围三维测量方法
CN108519064A (zh) * 2018-04-20 2018-09-11 天津工业大学 一种应用于多频率三维测量的反光抑制方法
CN109341589A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 深圳市华汉伟业科技有限公司 一种光栅图像投影方法、三维重建方法及三维重建系统
CN109916336A (zh) * 2019-02-03 2019-06-21 武汉斌果科技有限公司 基于光谱调制与多光谱成像的高动态范围三维测量方法
CN110057319A (zh) * 2019-02-20 2019-07-26 西安理工大学 一种大范围反射率变化物体的高速三维测量方法
CN110702034A (zh) * 2019-10-25 2020-01-17 湖北工业大学 高反光表面三维面形测量方法、服务器及系统

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023000595A1 (zh) * 2021-07-19 2023-01-26 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于曲面屏的相位偏折测量方法、系统及终端
CN113596423A (zh) * 2021-09-29 2021-11-02 深圳市纵维立方科技有限公司 一种亮度校正方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN114998409A (zh) * 2022-05-05 2022-09-02 四川大学 一种自适应结构光测量方法、装置、电子设备及介质
CN114998409B (zh) * 2022-05-05 2024-03-26 四川大学 一种自适应结构光测量方法、装置、电子设备及介质

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