CN112073712B - 图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括:将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像;在图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。
Description
技术领域
本发明涉及图像传感器检测技术领域,尤其涉及一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质。
背景技术
图像传感器是利用半导体(多为硅)光电器件的光电转换功能将入射的光子转换为电信号读出的器件。常见的图像传感器包括CCD(Charge Coupled Device,电荷耦合器件)和CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体器件)等。图像传感器广泛应用于工业、科研、安防等领域,有着广泛的市场应用基础。
图像传感器在工作时,如果入射光斑足够小,仅投射并覆盖图像传感器感光阵列中的单个像素,这一像素受光后产生电信号。该像素周边的像素因未受到光斑的照射,理论上应当无电信号输出。但实际上由于可见光子在介质中被散射到周围像素、光电转换产生的电子在收集过程中移动到周围像素等诸多因素的作用,邻近受光像素的周边像素同样会产生微小信号输出。这种现象被称为图像传感器的串扰。
由于工艺的提升,图像传感器的像素越来越小,其电子学耦合的串扰会影响图像传感器的性能。严重的串扰会使得图像传感器图像模糊,分辨率变差。
现有技术中的串扰测试方法主要是将可见光约束到亚像素大小后对传感器进行测试。例如在遮光板上设置小孔或将激光光斑约束在微米量级。现有技术中的方法对测试装置要求较高,测试成本高,易于受到光学衍射的影响。
发明内容
针对现有技术中的缺陷,本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质。
本发明实施例第一方面提供一种图像传感器的串扰测试方法,包括:
将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;
采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像;
在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;
根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
上述技术方案中,所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值,包括:
在所述图像传感器的多幅感光图像中得到所述第一像素的多个亮度值以及任一第二像素的多个亮度值;
根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;
根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值。
上述技术方案中,在所述根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值的步骤之前,所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值还包括:
将所述任一第二像素的串扰值与预设的阈值进行比较,若所述任一第二像素的串扰值小于或等于所述阈值,将所述任一第二像素的串扰值清零。
上述技术方案中,所述根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值,包括:
将所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值代入第一公式进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;其中,所述第一公式为:
Y=a+b×X;
其中,X表示所述第一像素的亮度值,Y表示所述任一第二像素的亮度值,a和b均为线性拟合时的参数,且b表示所述任一第二像素的串扰值。
上述技术方案中,所述根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值,包括:
将所述多个第二像素的串扰值相加,得到所述图像传感器的串扰值。
上述技术方案中,所述指定频率范围内的光为X射线光。
上述技术方案中,所述多个第二像素为以下情况中的任意一种:
以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素;
以所述第一像素为中心的5×5个邻接像素;
以所述第一像素为中心的7×7个邻接像素。
本发明第二个方面实施例提供一种图像传感器的串扰测试装置,包括:
图像传感器放置模块,用于将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;
曝光及感光图像存储模块,用于采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的感光图像;
像素查找模块,用于在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;
串扰值生成模块,用于根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
本发明第三方面实施例提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如本发明第一方面实施例所述图像传感器的串扰测试方法的步骤。
本发明第四方面实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如本发明第一方面实施例所述图像传感器的串扰测试方法的步骤。
本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法结构图;
图2为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法的测试示意图;
图3为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中图像传感器对X射线光子的响应示例图;
图4为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中左上角第二像素亮度值与第一像素亮度值的散点图;
图5为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中右上角第二像素亮度值与第一像素亮度值的散点图;
图6为本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试装置的示意图;
图7示例了一种电子设备的实体结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法结构图,如图1所示,本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法,包括:
步骤101、将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置。
所述预设的实验室条件是指标准实验室中的无光条件。图2为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法的测试示意图,如图2所示,本发明实施例提供的一种图像串扰器的串扰测试方法将图像传感器及其前端读出电路放置于标准实验室中,将图像传感器放置于黑箱内或者全黑条件下,例如关闭所有灯光等。
需要说明的是,本发明实施例以型号为2K*2K CMOS传感器的图像传感器为例,在本发明其他实施例中,对图像传感器的型号不作具体限定。
步骤102、采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像。
在本发明实施例中,所述指定频率范围内的光为X射线光。X射线是一种波长极短、能量极大的电磁波,X射线的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100纳米之间),X射线的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。
在本发明实施例中,使用X射线光管对准图像传感器,如图2所示。开机上电后对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像,达到预定实验时间后关闭电源,结束曝光实验。其中,预定实验时间根据实际需求设定,如预定实验时间为1小时;若实际需求的精度较高,则可设定较长的预定实验时间。所述感光图像的数量根据实际需求的实验精度决定,如感光图像的数量有10000幅。
需要说明的是,理论上能约束到几个微米(um)大小的可见光也可作为所述指定频率范围内的光,但实际情况中,由于光的衍射无法将所述可见光严格约束到几个微米大小。因此本发明实施例中,所述指定频率范围内的光为X射线光。在本发明其他实施例中,不对指定频率范围内的光的具体形式作限定。
步骤103、在图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值。
其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素。
具体地说,对所述图像传感器的多幅感光图像进行分析,查找所述感光图像上对X射线光子具有信号响应的第一像素。在找到第一像素后,记录所述第一像素以及以所述第一像素为中心的邻接像素点(即第二像素)的多个亮度值(即DN值)。例如,图像传感器所生成的感光图像有100幅,需要在这些感光图像中找出第一像素以及第一像素周围的第二像素,且第一像素的数值以及第二像素的亮度值应该有多个,如每个像素各有10个亮度值,这样才能在后续的步骤中通过数学拟合的方式计算第二像素的串扰值,进而得到图像传感器的串扰值。
在本发明实施例中,多个第二像素是指以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素(不含位于中心位置的第一像素)。在本发明的其他实施例中,多个第二像素还可以是以所述第一像素为中心的5×5个邻接像素(不含位于中心位置的第一像素),或以所述第一像素为中心的7×7个邻接像素(不含位于中心位置的第一像素)。
图3为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中图像传感器对X射线光子的响应示例图,在图3上查找感光图像上的第一像素以及以第一像素为中心的8个邻接像素点(即第二像素),其中,图3的横纵坐标分别代表行和列。
对所有感光图像逐一分析处理后,记录所有感光图像的第一像素的位置坐标(x,y)和所有感光图像的第一像素的亮度值以及以所述第一像素为中心的3×3个邻接的第二像素的亮度值,记为DN1-DN9。
需要说明的是,为了保证图像传感器读出的只有X射线光子产生的信号,需要确保实验在无光条件下进行,即实验环境中不能有干扰光的存在,例如,可见光、红外光以及紫外光等。
步骤104、根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到图像传感器的串扰值。
在本发明实施例中,对第一像素的亮度值以及以所述第一像素为中心的3×3个邻接的第二像素的亮度值,即DN1-DN9进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。具体实现方式将在本发明的其他实施例中作详细说明。
本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。
基于上述任一实施例,在本发明实施例中,所述步骤104包括:
步骤S1、在所述图像传感器的多幅感光图像中得到所述第一像素的多个亮度值以及任一第二像素的多个亮度值;
具体地说,采用X射线对图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像,对所述感光图像进行分析,查找感光图像上对X射线光子具有信号响应的像素,即第一像素。
在本发明实施例中,选取以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素作为第二像素点。记录图像传感器的多幅感光图像中第一像素的亮度值以及第二像素的亮度值,记为DN1-DN9。对所述数据进行统计分析,即逐一分析左上角、上侧、右上角、左侧、右侧、左下角、下侧、右下角的数据关系。将所述第一像素的亮度值以及任一第二像素的亮度值,即DN1-DN9。
所述第一像素的亮度值与第二像素的亮度值各自有多个,以满足后续数据拟合的要求。
步骤S2、根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;
具体地说,将所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值代入第一公式进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;其中,所述第一公式为:
Y=a+b×X;
其中,X表示所述第一像素的亮度值,Y表示所述任一第二像素的亮度值,a和b均为线性拟合时的参数,且b表示所述任一第二像素的串扰值。
在本发明实施例中,以第二像素为以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素为例,根据图像传感器的多幅感光图像中第一像素的亮度值以及第二像素的亮度值,即DN1-DN9,代入第一公式中,得到所述8个第二像素的串扰值。
需要说明的是,系数a和系数b是线性拟合的参数,拟合出来的b是线性比例,一般线性存在不过原点的可能性,因此加入系数a。拟合结果一般为接近0的数。
步骤S3、根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值。
具体地说,以第二像素为以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素为例,通过第一公式得到8个第二像素的串扰值,将所述8个第二像素的串扰值相加即为所述图像传感器的串扰值。
需要说明的是,在本发明实施例中,以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素作为第二像素为例,对图像传感器的串扰值计算过程做了说明。但本领域技术人员应当了解,若以所述第一像素为中心的5×5个邻接像素作为第二像素,或以所述第一像素为中心的7×7个邻接像素作为第二像素,同样可以采用前述的第一公式计算第二像素的串扰值,然后将所有第二像素的串扰值相加,得到图像传感器的串扰值。
本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。
基于上述任一实施例,在本发明实施例中,在步骤S3之前,步骤S2还包括:
将所述任一第二像素的串扰值与预设的阈值进行比较,若所述任一第二像素的串扰值小于或等于所述阈值,将所述任一第二像素的串扰值清零。
具体地说,以第二像素为以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素为例,利用第一公式对所述数据进行拟合,得到任一第二像素的串扰值,将所述串扰值与实际应用场合预设的阈值进行比较。若第二像素的串扰值小于或等于所述阈值,则可忽略不计,即将所述第二像素的串扰值清零。
例如,图4为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中左上角第二像素亮度值与第一像素亮度值的散点图,图5为本发明实施例提供的一种图像传感器的串扰测试方法中右上角第二像素亮度值与第一像素亮度值的散点图。利用第一公式得出左上角第二像素的串扰值为-0.000093,右上角第二像素的串扰值为0.0096,实际应用场合的阈值为0.001。则左上角第二像素的串扰值-0.000093的绝对值小于实际应用场合的阈值0.001,所述串扰值可忽略不计,即串扰值清零;同理,右上角第二像素的串扰值0.0096大于实际应用场合的阈值0.001,存在明显串扰,所述串扰值不可忽略。
需要说明的是,所述阈值根据应用场合的实际需求决定,例如,普通成像的阈值为0.01即可满足需求;高精度的成像至少要0.001乃至0.0001方可满足需求。
本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法通过对像素串扰值的核查,能够去除误差,提高串扰检测的准确度。
基于上述任一实施例,图6为本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试装置的示意图,如图6所示,本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试装置包括:
图像传感器放置模块601,用于将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;
曝光及感光图像存储模块602,用于采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的感光图像;
像素查找模块603,用于在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;
串扰值生成模块604,用于根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试装置通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。
图7示例了一种电子设备的实体结构示意图,如图7所示,该电子设备可以包括:处理器(processor)710、通信接口(Communications Interface)720、存储器(memory)730和通信总线740,其中,处理器710,通信接口720,存储器730通过通信总线740完成相互间的通信。处理器710可以调用存储器730中的逻辑指令,以执行如下方法:将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像;在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
需要说明的是,本实施例中的电子设备在具体实现时可以为服务器,也可以为PC机,还可以为其他设备,只要其结构中包括如图7所示的处理器710、通信接口720、存储器730和通信总线740,其中处理器710,通信接口720,存储器730通过通信总线740完成相互间的通信,且处理器710可以调用存储器730中的逻辑指令以执行上述方法即可。本实施例不对电子设备的具体实现形式进行限定。
此外,上述的存储器730中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
进一步地,本发明实施例公开一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,当所述程序指令被计算机执行时,计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法,例如包括:将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像;在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
另一方面,本发明实施例还提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各实施例提供的方法,例如包括:将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像;在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下,即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件。基于这样的理解,上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如ROM/RAM、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (8)
1.一种图像传感器的串扰测试方法,其特征在于,包括:
将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;
采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像;
在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;
根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值;
所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值,包括:
在所述图像传感器的多幅感光图像中得到所述第一像素的多个亮度值以及任一第二像素的多个亮度值;
根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;
根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值;
所述根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值,包括:
将所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值代入第一公式进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;其中,所述第一公式为:
Y=a+b×X;
其中,X表示所述第一像素的亮度值,Y表示所述任一第二像素的亮度值,a和b均为线性拟合时的参数,且b表示所述任一第二像素的串扰值。
2.根据权利要求1所述的图像传感器的串扰测试方法,其特征在于,在所述根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值的步骤之前,所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值还包括:
将所述任一第二像素的串扰值与预设的阈值进行比较,若所述任一第二像素的串扰值小于或等于所述阈值,将所述任一第二像素的串扰值清零。
3.根据权利要求1所述的图像传感器的串扰测试方法,其特征在于,所述根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值,包括:
将所述多个第二像素的串扰值相加,得到所述图像传感器的串扰值。
4.根据权利要求1所述的图像传感器的串扰测试方法,其特征在于,所述指定频率范围内的光为X射线光。
5.根据权利要求1所述的图像传感器的串扰测试方法,其特征在于,所述多个第二像素为以下情况中的任意一种:
以所述第一像素为中心的3×3个邻接像素;
以所述第一像素为中心的5×5个邻接像素;
以所述第一像素为中心的7×7个邻接像素。
6.一种图像传感器的串扰测试装置,其特征在于,包括:
图像传感器放置模块,用于将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;
曝光及感光图像存储模块,用于采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的感光图像;
像素查找模块,用于在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;其中,所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素,所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素;
串扰值生成模块,用于根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值;
所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到所述图像传感器的串扰值,包括:
在所述图像传感器的多幅感光图像中得到所述第一像素的多个亮度值以及任一第二像素的多个亮度值;
根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;
根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值;
所述根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值,包括:
将所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值代入第一公式进行数据拟合,得到所述任一第二像素的串扰值;其中,所述第一公式为:
Y=a+b×X;
其中,X表示所述第一像素的亮度值,Y表示所述任一第二像素的亮度值,a和b均为线性拟合时的参数,且b表示所述任一第二像素的串扰值。
7.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5任一项所述图像传感器的串扰测试方法的步骤。
8.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述图像传感器的串扰测试方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010871607.2A CN112073712B (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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CN112073712A CN112073712A (zh) | 2020-12-11 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010871607.2A Active CN112073712B (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112073712B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113259656B (zh) * | 2021-05-11 | 2022-09-06 | 中国科学院国家天文台 | 一种图像传感器的残像测试方法及装置 |
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CN111406402A (zh) * | 2017-11-24 | 2020-07-10 | 华为技术有限公司 | 光敏成像系统和设备 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2020
- 2020-08-26 CN CN202010871607.2A patent/CN112073712B/zh active Active
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Title |
---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112073712A (zh) | 2020-12-11 |
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PB01 | Publication | ||
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