CN111999273B - 物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质。方法包括：获取在荧光激发光源照射下采集的经过滤光处理的当前待检测物体的荧光图像，待检测物体包括按图像采集方向间隔放置且标准荧光剂涂敷区域不同的第一类物体和第二类物体，根据当前待检测物体的类别，确定对应的标准荧光剂涂敷区域，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。物体叠放和荧光剂涂敷区域不同便于将物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，通过滤光和荧光进行成像，能够避免相邻的待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和荧光剂涂敷区域的参考比对，获得准确的缺陷检测结果。
Description
技术领域
本申请涉及检测技术领域，特别是涉及一种物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质。
背景技术
对物体是否存在缺陷进行检测是对物体生产制造工艺的一项重要流程。以锂电池电芯的生产过程为例。锂电池电芯中生产要求对各个环节进行缺陷检测，这一系列缺陷检测质量的可靠性与在电池的充放电(使用)过程中的安全性、稳定性密不可分。目前在锂电池电芯的生产工艺中包含的缺陷种类较为繁多，包括但不限于极耳的翻折、褶皱以及破损。这一系列的缺陷种类都容易在电池充放电过程中造成极大的安全隐患。因此在电芯工艺生产过程中，各类缺陷检测尤为重要。
传统的视觉检测技术中，以电池中的极耳检测为例，使用可见光光源照射电池极耳。由于电池极耳表面高反光，且阴极、阳极不同材质，光源难以同时兼容阴极和阳极、且电池的多层极耳重叠放置，反射的光路易相互干扰，导致难以拍出清晰图像，存在缺陷检测结果可靠性差的缺点。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种得到准确可靠的物体缺陷检测方法、系统、装置、设备和存储介质。
一种物体缺陷检测方法，方法包括：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；
根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
在其中一个实施例中，第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂，第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，待检测物体的图像采集面为朝向图像采集方向的一面。
在其中一个实施例中，当前待检测物体为第一类物体；
基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括：
对荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域；
将荧光显示区域与第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；
若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；
若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在其中一个实施例中，当前待检测物体为第二类物体；
基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；
若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；
若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在其中一个实施例中，待检测物体的朝向图像采集方向的一面均涂敷有荧光剂，且相邻待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不重叠。
在其中一个实施例中，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；
若荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
一种物体缺陷检测系统，系统包括图像采集设备110、滤光片120、荧光激发光源130、待检测物体140以及处理器150；
滤光片120设置于图像采集设备110的图像采集方向，图像采集设备110经过滤光片120的图像采集范围不小于当前待检测物体朝向图像采集设备110的图像采集面的面积，待检测物体140朝向图像采集设备110叠放，且相邻待检测物体140的图像采集面中的标准荧光剂涂敷区域不同；
荧光激发光源130投射至待检测物体140，图像采集设备110通过滤光片120采集当前待检测物体的荧光图像，并将荧光图像发送至处理器，处理器执行上述各实施例中任意一项的物体缺陷检测方法。
在其中一个实施例中，荧光激发光源为环状光源，环状光源设置于滤光片和待检测物体之间。
一种物体缺陷检测装置，装置包括：
荧光图像获取模块，用于获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；
标准荧光剂涂敷区域确定模块，用于根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
缺陷检测模块，用于基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
一种物体缺陷检测设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，其特征在于，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；
根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；
根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
上述物体缺陷检测方法、装置、系统、设备和存储介质，基于按图像采集方向叠放、且相邻物体的标准荧光剂涂敷区域不同的各待检测物体，便于实现将当前待检测物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，利用荧光激发光源激发涂敷的荧光剂发出特定颜色的荧光，并且通过滤光处理滤除其余杂散光减小杂光的干扰，只有被激发的特定颜色的荧光进行成像，能够避免叠放的相邻待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域来进行缺陷检测，能够实现有效的参考比对，从而获得准确率高的缺陷检测结果。
附图说明
图1为一个实施例中物体缺陷检测系统的结构示意图；
图2为一个实施例中物体缺陷检测方法的流程示意图；
图3为另一个实施例中物体缺陷检测方法的流程示意图；
图4为又一个实施例中物体缺陷检测方法的流程示意图；
图5(a)和图5(b)分别为一个实施例中物体缺陷检测方法的相邻物体的标准荧光剂涂敷区域示意图；
图6(a)和图6(b)分别为一个实施例中物体缺陷检测方法中无缺陷的相邻物体的荧光图像；
图7(a)和图7(b)分别为一个实施例中物体缺陷检测方法中存在缺陷的物体的缺陷情况和荧光图像；
图8(a)和图8(b)分别为另一个实施例中物体缺陷检测方法的相邻物体的标准荧光剂涂敷区域示意图；
图9(a)和图9(b)分别为另一个实施例中物体缺陷检测方法中无缺陷的相邻物体的荧光图像；
图10(a)和图10(b)分别为另一个实施例中物体缺陷检测方法中存在缺陷的物体的缺陷情况和荧光图像；
图11为一个实施例中物体缺陷检测装置的结构框图；
图12为一个实施例中物体缺陷检测设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请提供的物体缺陷检测方法，可以应用于如图1所示的物体缺陷检测系统中。物体缺陷检测系统包括图像采集设备110、滤光片120、荧光激发光源130、多个待检测物体140以及处理器150，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同，荧光激发光源130用于投射荧光激发光线至待检测物体，图像采集设备110用于通过滤光片120采集待检测物体的荧光图像，并将荧光图像发送至处理器150，处理器150可以对各器件进行操作控制并进行物体缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
在一个实施例中，荧光激发光源130投射至待检测物体140，图像采集设备110通过滤光片120采集当前待检测物体的荧光图像，并将荧光图像发送至处理器，处理器执行物体缺陷检测方法。
在另一个实施例中，由处理器150控制荧光激发光源130投射至待检测物体140，并控制图像采集设备110通过滤光片120采集当前待检测物体的荧光图像并反馈至处理器150，处理器150获取当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域，并基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果并输出。
在一个具体的实施例中，滤光片120设置于图像采集设备110的图像采集方向，图像采集设备110通过滤光片120采集得到的图像采集范围不小于待检测物体140的面积，各待检测物体140按图像采集设备110的图像采集方向叠放，且相邻待检测物体140的标准荧光剂涂敷区域不同。
在一个实施例中，滤光片120可以设置于图像采集设备110的镜头处，通过紧固部件连接于图像采集设备110，在图像采集设备的镜头前方叠放滤光片，以使通过镜头采集的图像均为经过滤光片的滤光处理的图像。在其他实施例中，滤光片120还可以活动连接于物体缺陷检测系统的其他硬件框架上，滤光片120的安装位置处于图像采集设备的镜头的正前方，滤光片与镜头之间的距离满足镜头透过滤光片的图像采集范围不小于待检测物体中朝向图像采集设备的图像采集面的面积，待检测物体朝向图像采集设备叠放，且相邻待检测物体的图像采集面中的标准荧光剂涂敷区域不同。
在其中一个实施例中，荧光激发光源130为环状光源，环状光源设置于滤光片和待检测物体之间。图像采集设备的镜头、滤光片、环状光源以及待检测物体的中心处于同一条直线上，便于进行荧光图像的准确采集。可以理解，在其他实施例中，也可以将荧光激发光源设置在侧边，将光源从侧边打向待检测物体。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种物体缺陷检测方法，以该方法应用于图1中的处理器为例进行说明，包括以下步骤202至步骤206。
步骤202，获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像。
荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同。
荧光激发光源用于激发荧光剂特定颜色的荧光，例如通过紫外光源激发荧光剂发出蓝光、也可以用绿光照射荧光剂激发红光等，在图像采集时，通过滤光处理可以滤除其余杂散光，只有被激发的特定颜色的通过滤光片成像，从而采集到清晰无干扰的荧光图像。在实施例中，在待检测物体没有缺陷的情况下，荧光图像会与该物体的图像采集面上的标准荧光剂涂敷区域相同。
在实施例中，滤光处理可以通过在图像采集时在镜头前增加滤光片来实现。
在一个实施例中，待检测物体的一个表面用于涂敷荧光剂，该表面为图像采集面。具体来说，物体的叠放方式包括将各个物体的图像采集面朝同一个方向进行叠放，在对叠放的各物体进行缺陷检测时，叠放的各物体的图像采集面与图像采集设备的采集方向相对应，以便进行图像采集。
当前待检测物体为叠放的多个待检测物体中的最上层一个，即图像采集设备能采集到图像的待检测物体，相邻待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不同是为了避免在待检测物体发生翻折、褶皱或是破损的情况下，相邻物体的标准荧光剂涂敷区域对待检测物体的图像采集结果造成干扰。
步骤204，获取待检测物体的标准荧光剂涂敷区域。
在一个实施例中，相邻两个待检测物体的标准荧光剂涂敷区域可以是一个物体涂敷有荧光剂，具体的标准荧光剂涂敷区域在此不做限定，另一个物体未涂敷荧光剂；也可以是两个均涂敷有荧光剂的物体，但是相邻的两个待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不重合。
步骤206，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
荧光图像是对待检测物体进行荧光采集得到的图像，若待检测物体本身未涂敷荧光剂，即标准荧光剂涂敷区域为空，则不存在缺陷的物体的荧光图像中应该是不包括荧光显示区域的。若待检测物体是涂敷有荧光剂的，则不存在缺陷的物体的荧光图像中的荧光显示区域应该是与标准荧光剂涂敷区域完全相同的。因此，基于标准荧光剂涂敷区域，可以确定该待检测物体是否涂敷有荧光剂以及具体涂敷的区域，通过与荧光图像中的荧光显示区域进行参考比对，可以知晓待检测物体是否存在缺陷，从而得到物体缺陷检测结果。
上述物体缺陷检测方法，基于按图像采集方向叠放、且相邻物体的标准荧光剂涂敷区域不同的各待检测物体，便于实现将当前待检测物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，利用荧光激发光源激发涂敷的荧光剂发出特定颜色的荧光，并且通过滤光处理滤除其余杂散光减小杂光的干扰，只有被激发的特定颜色的荧光进行成像，能够避免叠放的相邻待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域来进行缺陷检测，能够实现有效的参考比对，从而获得准确率高的缺陷检测结果。
在一个实施例中，第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂；第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，待检测物体的图像采集面为朝向图像采集方向的一面。
通过将第一类物体与第二类物体相间叠放，可以确保任意两个涂敷有荧光剂的物体的中间存在一个未涂敷荧光剂的物体，避免相邻物体间荧光剂的干扰。第一类物体的标准荧光剂涂敷区域可以是相同的，也可以是不同的。在其中一个实施例中，将第一类物体的标准荧光剂涂敷区域设置为相同的区域，便于在后续进行缺陷检测中简化数据处理。
在其中一个实施例中，如图3所示，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括步骤302至步骤308。
步骤302，若当前待检测物体为图像采集面涂敷有荧光剂的第一类物体，则对荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域。
步骤304，将荧光显示区域与第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较。
步骤306，若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
步骤308，若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
通过滤光处理采集到的荧光图像中，标准荧光剂涂敷区域在图像中显示结果会与其他未涂敷荧光剂的区域不同，荧光图像中的荧光显示区域即为采集到的荧光剂涂敷区域。在实施例中，可以通过灰度值对比或是边缘识别等方式，识别出荧光图像中的荧光显示区域。具体来说，通过灰度值对比或边缘识别，得到荧光图像中的边缘像素点的位置信息，基于边缘像素点的位置信息，确定荧光图像中的荧光显示区域。
第一类物体的标准荧光剂涂敷区域可以预先进行存储，在进行荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域对比时，可以根据待检测物体的标识或是预先标记的序号，根据标识或序号从存储数据中查找该当前待检测物体对应的标准荧光剂涂敷区域，然后将存储的标准荧光剂涂敷区域与识别出的荧光显示区域分别所表征的区域范围进行对比。若是比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则表征采集得到的荧光剂涂敷区域与标准荧光剂涂敷区域存在差异，而这个差异是由于当前待检测物体自身存在的缺陷导致的，因而可以得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。若是比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则表征采集得到的荧光剂涂敷区域与标准荧光剂涂敷区域不存在差异，因而可以得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在其中一个实施例中，如图4所示，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括步骤402至步骤406。
步骤402，若当前待检测物体为图像采集面未涂敷荧光剂的第二类物体，则对荧光图像进行荧光显示区域识别。
步骤404，若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
步骤406，若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
对第二类物体的荧光图像进行荧光显示区域识别的方式与上述对第一类物体的荧光显示区域识别相同，均可通过灰度值对比或边缘识别的方式，确定荧光图像中是否存在荧光显示区域，具体来说，由于第二类物体是未涂敷荧光剂的，在正常情况下，第二类物体的荧光图像中是不应该包括荧光显示区域的，但由于本申请的目的是对物体进行缺陷检测，当该第二类物体存在折叠或是破损时，采集的图像中会有一部分区域是相邻的第一类物体的，此时，会将第一类物体该区域的荧光显示区域采集到第二类物体的荧光图像中，导致第二类物体的荧光图像中出现荧光区域，从而可以根据荧光图像中是否存在荧光显示区域来判断第二类物体是否存在缺陷。即识别结果为存在荧光显示区域，可以得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果，识别结果为不存在荧光显示区域，可以得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，相邻两个物体的标准荧光剂涂敷区域能够拼凑成完整的图像采集面，也就是说，第一类物体和第二类物体的标准荧光剂涂敷区域的互补，能够确保无论是第一类物体还是第二类物体存在缺陷时，都能基于相邻物体在该缺陷位置的荧光剂涂敷情况的不同，准确识别出物体是否存在缺陷，这种情况适用于既可能发生折叠也可能发生破损的场景。在一个具体的实施例中，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域为整个图像采集面，第二类物体不进行荧光剂涂敷。
对于物体缺陷存在翻折或是褶皱情况的场景，可以将标准荧光剂涂敷区域设置为物体图像采集面的边缘区域。由于当物体发生折叠时，会导致其中两条或两条以上的边发生翻折或是褶皱而脱离原来的位置，因此，将标准荧光剂涂敷区域设置为物体图像采集面的边缘区域，可以确定物体是否翻折或是褶皱。在一个具体的实施例中，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域为图像采集面的边缘区域，第二类物体不进行荧光剂涂敷。
在其中一个实施例中，待检测物体的朝向图像采集方向的一面均涂敷有荧光剂，且相邻待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不重叠。
将相邻待检测物体的图像采集面均涂敷荧光剂、并将标准荧光剂涂敷区域设置为不重叠，可以避免仅仅在重叠区域存在缺陷而无法准确检测的情况。
在其中一个实施例中，该相邻物体的标准荧光剂涂敷区域可以基于图像采集面互补，将相邻物体的标准荧光剂涂敷区域组合在一起，拼凑得到区域与图像采集面相同，适用于既可能发生折叠也可能发生破损的场景。
在其中另一个实施例中，该相邻物体的标准荧光剂涂敷区域也可以是图像采集面的边缘区域，将相邻物体的标准荧光剂涂敷区域组合在一起，拼凑得到区域包括图像采集面会受到翻折或是褶皱影响的各边，适用于物体缺陷存在翻折或是褶皱情况的场景。
在其中一个实施例中，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括：对荧光图像进行荧光显示区域识别。若荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同，则表征采集得到的荧光剂涂敷区域与当前待检测物体标准荧光剂涂敷区域存在差异，而这个差异是由于当前待检测物体自身存在的缺陷导致的，因而可以得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
在其中一个实施例中，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果包括：
获取当前待检测物体的相邻物体的标准荧光剂涂敷区域，若荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
在正常情况下，由于相邻物体的标准荧光剂涂敷区域是不重叠的，若是荧光显示区域与当前待检测物体的相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则表征采集到的荧光图像中是包括了相邻物体的标准荧光剂涂敷区域的部分区域，因而也可以得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
若是比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则表征采集得到的荧光剂涂敷区域与标准荧光剂涂敷区域不存在差异，因而可以得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个具体的实施例在，以待检测物体为电池卷绕完后的极耳为例，极耳是锂离子聚合物电池的一部分，电池分为正负极，包括极片、隔膜以及极耳，极耳是从电芯中将正负极引出来的金属电体，卷绕处理后的极耳是一个一个摞在一起的。
例如，将荧光剂涂敷于极耳轮廓的三条边，相邻的极耳未进行荧光剂涂敷处理。具体来说，该极耳轮廓的三条边是指极耳的图像采集面中不直接与极片或隔膜连接的三边的边缘位置，在三边的边缘位置各有一个方形区域，各方形区域的一条边的长度与图像采集面对应的边长相同，另一条边为预设长度(具体可以根据实际需要进行设定)。具体可以参见图5(a)中的阴影部分。与该涂敷有荧光剂的极耳相邻的极耳如图5(b)所示。
在极耳不存在缺陷时，图5(a)和图5(b)对应极耳的荧光图像如图6所示，图6(a)为图5(a)的荧光图像，图6(b)为图5(b)的荧光图像，从图中可见，荧光图像中的荧光显示区域是与极耳中的标准荧光剂涂敷区域相同的。
如图7(a)和图7(b)所示，若当前检测的极耳出现翻折，则可以在图中找到在当前极耳缺失边缘的三边方形。反之，若当前检测的极耳无图案，相邻的极耳为三边方形，若当前极耳出现破损，则可以在图中找到在相邻极耳出现缺失边缘的三边方形。
再例如，将荧光剂涂敷于极耳轮廓的二条边。其中一个极耳的标准荧光剂涂敷区域为二条竖边，如图8(a)，相邻的极耳的荧光剂涂敷为二条横边，如图8(b)。正常情况下，图8(a)和图8(b)对应极耳的荧光图像如图9所示，图9(a)为图8(a)的荧光图像，图9(b)为图8(b)的荧光图像，从图中可见，荧光图像中的荧光显示区域是与极耳中的标准荧光剂涂敷区域相同的。
若当前检测的极耳的标准荧光剂涂敷区域为竖条纹，如图10(a)所示，若当前极耳出现翻折，则图10(b)所示可以在荧光图像中找到相邻极耳上的横条纹。T同理，若当前检测的极耳的标准荧光剂涂敷区域为横条纹，若当前极耳出现翻折或者破损，则可以在荧光图像中找到相邻极耳上的竖条纹。
可以理解，在其他实施例中，也可以用来检测其他场景，只要是极耳一个一个叠放在一起的检测环境即可。此外，除了对电芯工艺生产中的缺陷检测，本申请还以运用到光伏生产、3D检测、电池外观等各类缺陷检测中。
应该理解的是，虽然图2-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-4中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图11所示，提供了一种物体缺陷检测装置，包括：荧光图像获取模块1102、标准荧光剂涂敷区域确定模块1104和缺陷检测模块1106，其中：
荧光图像获取模块1102，用于获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同。
标准荧光剂涂敷区域确定模块1104，用于根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
缺陷检测模块1106，用于基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
在一个实施例中，第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂，第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，若当前待检测物体为第一类物体，缺陷检测模块还用于对荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域；将荧光显示区域与第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂，第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，若当前待检测物体为第二类物体时，则缺陷检测模块还用于对荧光图像进行荧光显示区域识别，若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，待检测物体的朝向图像采集方向的一面均涂敷有荧光剂，且相邻待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不重叠。缺陷检测模块还用于对荧光图像进行荧光显示区域识别；若荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
上述用于实现物体缺陷检测装置，基于按图像采集方向叠放、且相邻物体的标准荧光剂涂敷区域不同的各待检测物体，便于实现将当前待检测物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，利用荧光激发光源激发涂敷的荧光剂发出特定颜色的荧光，并且通过滤光处理滤除其余杂散光减小杂光的干扰，只有被激发的特定颜色的荧光进行成像，能够避免相邻的待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域来进行缺陷检测，能够实现有效的参考比对，从而获得准确率高的缺陷检测结果。
关于物体缺陷检测装置的具体限定可以参见上文中对于物体缺陷检测方法的限定，在此不再赘述。上述物体缺陷检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种物体缺陷检测设备，该物体缺陷检测设备可以是一种计算机设备，具体可以是终端，其内部结构图可以如图11所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种物体缺陷检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图11中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的物体缺陷检测设备的限定，具体的物体缺陷检测设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种物体缺陷检测设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域；将荧光显示区域与第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；若荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
上述用于实现物体缺陷检测方法的物体缺陷检测设备，基于按图像采集方向叠放、且相邻物体的标准荧光剂涂敷区域不同的各待检测物体，便于实现将当前待检测物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，利用荧光激发光源激发涂敷的荧光剂发出特定颜色的荧光，并且通过滤光处理滤除其余杂散光减小杂光的干扰，只有被激发的特定颜色的荧光进行成像，能够避免相邻的待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域来进行缺陷检测，能够实现有效的参考比对，从而获得准确率高的缺陷检测结果。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，第一类物体和第二类物体按图像采集方向间隔叠放，第一类物体的标准荧光剂涂敷区域与第二类物体的标准荧光剂涂敷区域不同；根据当前待检测物体的类别，确定当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域，对当前待检测物体进行缺陷检测，得到当前待检测物体的缺陷检测结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别，确定荧光显示区域；将荧光显示区域与第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若比较结果为荧光显示区域与标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；若识别结果为存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若识别结果为不存在荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
对荧光图像进行荧光显示区域识别；若荧光显示区域与当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
上述用于实现物体缺陷检测方法的计算机可读存储介质，基于按图像采集方向叠放、且相邻物体的标准荧光剂涂敷区域不同的各待检测物体，便于实现将当前待检测物体的缺陷通过相邻物体的对比来呈现，利用荧光激发光源激发涂敷的荧光剂发出特定颜色的荧光，并且通过滤光处理滤除其余杂散光减小杂光的干扰，只有被激发的特定颜色的荧光进行成像，能够避免相邻的待检测物体的原本成像颜色对当前待检测物体的缺陷检测结果造成干扰，基于荧光图像和标准荧光剂涂敷区域来进行缺陷检测，能够实现有效的参考比对，从而获得准确率高的缺陷检测结果。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种物体缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，所述荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，所述第一类物体和所述第二类物体按图像采集方向间隔叠放；所述第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂且所述第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，所述待检测物体的图像采集面为朝向所述图像采集方向的一面，或者，相邻两个待检测物体均涂敷有荧光剂且每一待检测物体各自的标准荧光剂涂敷区域不重合；
根据当前待检测物体的类别，确定所述当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域；
对所述荧光图像进行荧光显示区域识别，得到所述荧光图像中的荧光显示区域；
基于所述荧光显示区域和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果；
若当前待检测物体为图像采集面未涂敷荧光剂的第二类物体、且存在所述第二类物体对应的荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果； 存在第二类物体对应的荧光显示区域是在第二类物体发生折叠或者破损的情况下，采集的图像中会有一部分区域是相邻的第一类物体的，使得第一类物体中荧光图像的荧光显示区域采集到第二类物体的荧光图像，导致第二类物体的荧光图像中存在荧光显示区域；
若当前待检测物体为图像采集面未涂敷荧光剂的第二类物体、且不存在所述第二类物体对应的荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当前待检测物体为第一类物体；
所述基于所述荧光显示区域和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果，包括：
将所述荧光显示区域与所述第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；
若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；
若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测物体的朝向图像采集方向的一面均涂敷有荧光剂。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述荧光显示区域和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果包括：
若所述荧光显示区域与所述当前待检测物体的标准荧光剂涂敷区域不相同、或所述荧光显示区域与相邻物体的标准荧光剂涂敷区域存在重叠，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果。
5.一种物体缺陷检测系统，其特征在于，所述系统包括图像采集设备（110）、滤光片（120）、荧光激发光源（130）、待检测物体（140）以及处理器（150）；
所述滤光片（120）设置于所述图像采集设备（110）的图像采集方向，所述图像采集设备（110）经过所述滤光片（120）的图像采集范围不小于当前待检测物体朝向所述图像采集设备（110）的图像采集面的面积，所述待检测物体（140）朝向所述图像采集设备（110）叠放，且相邻待检测物体（140）的图像采集面中的标准荧光剂涂敷区域不同；
所述荧光激发光源（130）投射至所述待检测物体（140），所述图像采集设备（110）通过所述滤光片（120）采集所述当前待检测物体的荧光图像，并将所述荧光图像发送至所述处理器，所述处理器执行权利要求1-4中任一项所述的物体缺陷检测方法。
6.根据权利要求5所述的物体缺陷检测系统，其特征在于，所述荧光激发光源为环状光源，所述环状光源设置于所述滤光片和所述待检测物体之间。
7.一种物体缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：
荧光图像获取模块，用于获取在荧光激发光源照射下采集的当前待检测物体的荧光图像，所述荧光图像经过滤光处理得到，待检测物体包括第一类物体和第二类物体，所述第一类物体和所述第二类物体按图像采集方向间隔叠放；所述第一类物体的图像采集面涂敷有荧光剂且所述第二类物体的图像采集面未涂敷荧光剂，所述待检测物体的图像采集面为朝向所述图像采集方向的一面，或者，相邻两个待检测物体均涂敷有荧光剂且每一待检测物体各自的标准荧光剂涂敷区域不重合；
标准荧光剂涂敷区域确定模块，用于根据当前待检测物体的类别，确定所述当前待检测物体的荧光剂涂敷区域；
荧光显示区域确定模块，用于对所述荧光图像进行荧光显示区域识别，得到所述荧光图像中的荧光显示区域；
缺陷检测模块，用于基于所述荧光显示区域和所述标准荧光剂涂敷区域，对所述当前待检测物体进行缺陷检测，得到所述当前待检测物体的缺陷检测结果；若当前待检测物体为图像采集面未涂敷荧光剂的第二类物体、且存在所述第二类物体对应的荧光显示区域，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果； 存在第二类物体对应的荧光显示区域是在第二类物体发生折叠或者破损的情况下，采集的图像中会有一部分区域是相邻的第一类物体的，使得第一类物体中荧光图像的荧光显示区域采集到第二类物体的荧光图像，导致第二类物体的荧光图像中存在荧光显示区域；若当前待检测物体为图像采集面未涂敷荧光剂的第二类物体、且不存在所述第二类物体对应的荧光显示区域，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，缺陷检测模块还用于将所述荧光显示区域与所述第一类物体的标准荧光剂涂敷区域进行比较；若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域不相同，则得到当前待检测物体存在缺陷的检测结果；若比较结果为所述荧光显示区域与所述标准荧光剂涂敷区域相同，则得到当前待检测物体不存在缺陷的检测结果。
9.一种物体缺陷检测设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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