CN111983441A - 气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法 - Google Patents

Abstract

本说明书提供了一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法，该装置包括：恒温箱，用于提供指定温度的恒温环境；密封气室置于恒温箱内，用于使位于其内的校验气体与恒温箱热交换，并在热平衡后提供给与其连接且置于恒温箱内的样品；压力调节器，与密封气室连接，用于调节样品的气体压力，以使样品发生接点动作或接点复位；第一阀，置于密封气室与压力调节器的连接管路上；压力传感器用于采集样品的气体压力；控制处理单元，用于在样品发生接点动作或接点复位时，使第一阀关闭，使恒温箱将样品的气体温度调至指定常温，获取压力传感器在指定常温下采集的气体压力并处理。本说明书可提高气体密度继电器接点校验的准确度。

Description

气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法

技术领域

本说明书涉及电气仪器的校验设备技术领域，尤其是涉及一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法。

背景技术

气体密度继电器(例如SF6气体密度继电器等)在使用一段时间后其报警和闭锁值会产生一定的飘移，由此可能导致动作不灵敏或接触点失效等问题。因此，一般需要对气体密度继电器进行校验。目前现有的气体密度继电器校验仪通常是直接在外界环境下对气体密度继电器进行校验的，不能实现气体密度继电器的全工作温度范围内的校验，从而难以准确地对气体密度继电器的接点进行校验。

发明内容

本说明书实施方案的目的在于提供一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法，以提高气体密度继电器接点校验的准确度。

为达到上述目的，一方面，本说明书实施方案提供了一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，包括：

恒温箱，用于提供指定温度的恒温校验环境；

密封气室，设置于所述恒温箱内，用于使位于其内的校验气体与所述恒温箱进行热交换，并在热平衡后提供给与其连接且设置于所述恒温箱内的气体密度继电器样品；

压力调节器，设置于所述恒温箱外，与所述密封气室连接，用于调节所述气体密度继电器样品的气体压力，以使所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；

第一阀，设置于所述密封气室与所述压力调节器的连接管路上；

压力传感器，用于采集所述气体密度继电器样品的气体压力；

控制处理单元，用于在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温，获取所述压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力并处理。

在本说明书一实施方案中，所述连接管路上设有充气口及用于控制充气口的第二阀，以用于在进行接点温度补偿校验前，对所述密封气室及所述气体密度继电器样品进行抽真空处理和充气处理。

在本说明书一实施方案中，所述恒温箱、所述第一阀及所述压力调节器受控于所述控制处理单元。

在本说明书一实施方案中，所述密封气室设有滚轮，所述滚轮处设有第一刹车组件。

在本说明书一实施方案中，所述密封气室的后端设有定位器，所述定位器用于与所述第一刹车组件配合实现对所述密封气室的定位。

在本说明书一实施方案中，所述接点温度补偿校验装置还包括用于辅助装卸所述密封气室的辅助小车。

在本说明书一实施方案中，所述辅助小车的上部设有用于承载所述密封气室的导轨，所述辅助小车的下部设有高度调节器，以用于将所述导轨的上表面调节至与所述恒温箱的腔室底面平齐。

在本说明书一实施方案中，所述导轨的后端伸出所述辅助小车外，且所述导轨的侧边和前端设有挡板。

在本说明书一实施方案中，所述辅助小车的车轮处设有第二刹车组件。

在本说明书一实施方案中，所述密封气室的前端设有第一把手；所述辅助小车前端设有第二把手。

另一方面，本说明书实施方案还提供了一种气体密度继电器的接点温度补偿校验方法，所述方法基于上述的装置实现，其包括以下步骤：

在第一阀关闭的状态下，使恒温箱调节至指定温度并达到热平衡；

使所述第一阀开启，并使压力调节器调节气体密度继电器样品的气体压力，以使气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；

在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，并使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温；

获取压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力；

根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果；所述预设压力为所述气体密度继电器样品在所述指定常温下的动作值。

在本说明书一实施方案中，所述根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果，包括：

确定所述预设压力与所述气体压力的差值的绝对值；

判断所述绝对值是超出预设阈值，并根据判断结果确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果。

由以上本说明书实施方案提供的技术方案可见，在本说明书的实施方案中，由于作为被校验对象的气体密度继电器样品，以及作为气源的密封气室均是置于恒温箱内。通过调节恒温箱的温度，可以实现气体密度继电器的全工作温度范围内的校验，尤其是极限低温和极限高温等场景，从而提高了气体密度继电器接点校验的准确度。

不仅如此，由于本说明书的实施方案可以在指定温度下，通过调节所述气体密度继电器样品的气体压力(或气体密度)，使所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位，并在此时关闭所述第一阀，使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温。从而使得可以在维持所述气体密度继电器样品的气体密度不变的情况下，直接通过所述压力传感器采集所述气体密度继电器样品在所述指定常温下采集的气体压力)。如此，则实现了在物理模拟下获取所述气体密度继电器样品在所述指定常温下采集的气体压力，而无需像常规技术那样通过软件模型计算得到，更加直观、精确。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施方案或现有技术中的技术方案，下面将对实施方案或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方案，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1为本说明书提供的一些实施方案中气体密度继电器的接点温度补偿校验装置的结构示意图；

图2为本说明书提供的另一些实施方案中气体密度继电器的接点温度补偿校验装置的结构示意图；

图3为本说明书提供的一些实施方案中辅助小车辅助密封气室装卸的示意图；

图4为本说明书提供的实施方案中控制处理单元的控制原理框图；

图5为本说明书提供的一些实施方案中气体密度继电器的接点温度补偿校验方法的流程图。

【附图标记说明】

1、恒温箱；

2、气体密度继电器样品；

3、密封气室；

4、温度传感器

5、压力传感器；

6、控制处理单元；

7、第一阀；

8、压力调节器；

9、多通接头；

10、连接管路；

11、第二阀；

12、充气口；

13、辅助小车；

101、校验腔室；

101a、腔室底面；

301、滚轮；

302、第一把手；

303、定位器；

304、第一刹车组件；

1301、车轮；

1302、导轨；

1302a、导轨上表面；

1303、挡板；

1304、第二把手；

1305、第二刹车组件；

1306、高度调节器。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施方案中的附图，对本说明书实施方案中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方案仅仅是本说明书一部分实施方案，而不是全部的实施方案。基于本说明书中的实施方案，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方案，都应当属于本说明书保护的范围。例如一些描述中，在第一部件上方形成第二部件，可以包括第一部件和第二部件以直接接触方式形成的实施方案，还可以包括第一部件和第二部件以非直接接触方式(即第一部件和第二部件之间还可以包括额外的部件)形成的实施方案等。

而且，为了便于描述，本说明书一些实施方案可以使用诸如“在…上方”、“在…之下”、“顶部”、“下方”等空间相对术语，以描述如实施方案各附图所示的一个元件或部件与另一个(或另一些)元件或部件之间的关系。应当理解的是，除了附图中描述的方位之外，空间相对术语还旨在包括装置在使用或操作中的不同方位。例如若附图中的装置被翻转，则被描述为“在”其他元件或部件“下方”或“之下”的元件或部件，随后将被定位为“在”其他元件或部件“上方”或“之上”。

参考图1所示，本说明书一些实施方案的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置可以包括：恒温箱1、密封气室3、压力调节器8、第一阀7、压力传感器5和控制处理单元6等。其中，恒温箱1可以用于提供指定温度的恒温校验环境。密封气室3可设置于所述恒温箱1内，密封气室3可以用于使位于其内的校验气体与所述恒温箱1进行热交换，并在热平衡后提供给与其连接且设置于所述恒温箱1内的气体密度继电器样品2。压力调节器8可与所述密封气室3连接，用于调节所述气体密度继电器样品2的气体压力，以使所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位。压力调节器8可以设置于所述恒温箱外，以便于不受低温或高温的影响，从而能够保证密封性能。第一阀7可设置于所述密封气室3与所述压力调节器8的连接管路10上，通常第一阀7可以设置于所述恒温箱外，以便于不受低温或高温的影响，从而能够保证密封性能。压力传感器5可以用于采集所述气体密度继电器样品2的气体压力，压力传感器5可以设置于所述恒温箱外，以便于不受低温或高温的影响，从而能够保证精度性能。控制处理单元6可以用于在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀7关闭，使所述恒温箱1将所述气体密度继电器样品2的气体温度调节至指定常温(例如20℃)，获取所述压力传感器5在所述指定常温下采集的气体压力并处理。指定常温(例如20℃)时的压力值即为气体密度值。

由此可见，在本说明书的实施方案中，由于作为被校验对象的气体密度继电器样品2，以及作为气源的密封气室3均是置于恒温箱1内。通过调节恒温箱1的温度，可以实现气体密度继电器的全工作温度范围内的校验，尤其是极限低温和极限高温等场景，从而提高了气体密度继电器接点校验的准确度。而且，本说明书实施方案通过物理模拟方式实现了气体密度继电器的全工作温度范围内的精确校验。

在本说明书一实施方案中，恒温箱1可以为高低温恒温箱，在实际应用时，可根据需要选择具有合适温控范围的恒温箱1。例如，在一示例性实施方案中，可以选择温控范围为-40℃～130℃的恒温箱1。指定温度的个数具体可由用户根据需要选择。例如，在一示例性实施方案中，指定温度可以选择4个：-40℃、-20℃、40℃和60℃。

在本说明书的实施方案中，密封气室3不仅作为气源为气体密度继电器样品2提供校验所需的校验气体。还兼做为热交换器，以使得为气源为气体密度继电器样品2提供的校验气体是达到指定温度的校验气体。在本说明书一些实施方案中，密封气室3应具有适当较大的体积。一方面，大体积的密封气室3可以具有更大的容量，从而使得有足够多满足指定温度的校验气体提供给气体密度继电器样品2。另一方面，大体积的密封气室3还有利于加快密封气室3内部与恒温箱1内部的热交换速度，从而有利于使位于密封气室3的校验气体更快地达到指定温度，进而有利于提高了校验效率。

在本说明书的实施方案中，压力调节器8可以是一种活塞式设备，其可以通过改变气体密度继电器样品2的气体密度，来调整所述气体密度继电器样品2的气体压力。在保持温度不变的情况下，在第一阀7打开的状态下，可以通过压力调节器8的抽吸作用将一部分校验气体抽吸至压力调节器8，并关闭第一阀7。由于损失了一部分气体，此时所述气体密度继电器样品2的气体密度会下降，从而导致所述气体密度继电器样品2的气体压力也会下降。如此，则实现了对所述气体密度继电器样品2的气体压力下降调节。反之，当再次打开第一阀7，并通过压力调节器8的压缩作用将压力调节器8内的校验气体压缩回去，并关闭第一阀7。由于获得了一部分气体，此时所述气体密度继电器样品2的气体密度会增大，从而导致所述气体密度继电器样品2的气体压力也会增大。如此，则实现了对所述气体密度继电器样品2的气体压力上升调节。在一示例性实施方案中，所述压力调节器可以包括压力调节缸、活塞、调节杆和手轮，通过转动手轮带动调节杆进而带动活塞在压力调节缸内移动，实现压力调节。

压力传感器5可设置于与密封气室3连接的管路上。例如，可以如图1所示的那样，通过一个多通接头9设置于密封气室3与压力调节器8之间的连接管路10上。为了提高检测精度，压力传感器5可以优选高精度的压力传感器。此外，压力传感器5可以与控制处理单元6电性连接，以便控制处理单元6可以获取压力传感器5采集的气体压力数据。在一示例性实施方案中，所述密封气室3可优选用直径为200mm，长度200mm的圆筒或等效体积的密封气室。所述密封气室3的有效体积V1可以足够大，而连接管路10和多通接头9的内部腔体的等效体积V2可以足够小，可以要求V2/V1≤0.1％。这样有利于保证检测精度。

在本说明书的实施方案中，控制处理单元6是整个装置的控制和处理核心。控制处理单元6可以与气体密度继电器样品2等部件电性连接，以实现与这些部件之间的通讯。例如，当所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，气体密度继电器样品2产生的接点动作信号或接点复位信号会传输给控制处理单元6，控制处理单元6据此可以判断出气体密度继电器样品2是否发生了接点动作或接点复位。在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，控制处理单元6可以使所述第一阀7关闭，以维持气体密度继电器样品2当前的气体密度不变，并为后续在此条件下，获取所述气体密度继电器样品2在所述指定常温(例如20℃，或其他指定的温度)下的气体压力提供基础。

在本说明书的一实施方案中，所述控制处理单元6配置有具有通讯模块和输入输出接口(I/O接口)等，以实现与外部的数据交互。为了方便与用户的交互，所述控制处理单元6配置还配置有一个或多个人机接口(例如键盘、鼠标、显示屏等)。

如图1所示，在本说明书一实施方案中，第一阀7可以为手动阀。相应地，在此条件下，控制处理单元6使所述第一阀7关闭可以为：在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，控制处理单元6可以输出关闭第一阀7的提醒/指示信息，以便于用户可以在获知该提醒/指示信息后及时手动关闭第一阀7。在一示例性实施方案中，所述提醒/指示信息可以包括但不限于语音信息、图文信息和/或光信息等。

结合图2和图4所示，在本说明书另一实施方案中，第一阀7可以为电控阀，其可以与控制处理单元6电性连接，以实现二者之间的通讯。相应地，在此条件下，控制处理单元6使所述第一阀7关闭可以为：在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，控制处理单元6可以向第一阀7输出关闭控制信号，从而控制第一阀7关闭。

为了能够获知气体密度继电器样品2的校验气体是否达到指定温度(或指定常温)，可以在恒温箱1内设置温度传感器4，以采集校验气体的温度。为了提高检测精度，温度传感器4可以优选高精度的温度传感器。当然，恒温箱1通常配置有温度传感器，如果可以方便地利用恒温箱1自带温度传感器，则也可以无需额外安装温度传感器，以节省成本。

如图1所示，在本说明书一实施方案中，恒温箱1与控制处理单元6之间可以不进行通讯。相应地，在此条件下，控制处理单元6使所述恒温箱1将所述气体密度继电器样品2的气体温度调节至指定常温(或指定温度)可以为：在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位，且当前已关闭第一阀7的情况下，控制处理单元6可以输出温度调节提醒/指示信息，以便于用户可以在获知该提醒/指示信息后可以手动调节恒温箱1的设定温度，从而实现将所述气体密度继电器样品2的气体温度调节至指定常温(例如20℃，或其他指定的温度)。

结合图2和图4所示，在本说明书另一实施方案中，恒温箱1与控制处理单元6之间可以电性连接，以进行通讯。相应地，在此条件下，控制处理单元6使所述恒温箱1将所述气体密度继电器样品2的气体温度调节至指定常温(或指定温度)可以为：在所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位，且当前已关闭第一阀7的情况下，控制处理单元6可以向恒温箱1发出温度调节指令，恒温箱1内部的处理器在获得该温度调节指令后，可以据此控制恒温箱1的温度调节执行装置进行温度调节。其中，温度调节执行装置可以包括制冷装置和加热装置。当根据温度调节指令确定需要升温时，恒温箱1内部的处理器可以控制加热装置启动。当根据温度调节指令确定需要降温时，恒温箱1内部的处理器可以制冷装置启动。

如图1所示，在本说明书一实施方案中，压力调节器8可以为手动压力调节设备。用户可以手动调节压力调节器8，以使所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位。在此条件下，当所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，控制处理单元6可以输出停止压力调节的提醒/指示信息，以便于用户可以在获知该提醒/指示信息后及时停止对压力调节器8的调节操作。其中，停止对压力调节器8的调节操作可以在关闭第一阀7后执行，也可以与关闭第一阀7同时执行。

结合图2和图4所示，在本说明书另一实施方案中，压力调节器8也可以为可控的压力调节器，其可以与控制处理单元6电性连接，以实现二者之间的通讯。相应地，在此条件下当所述气体密度继电器样品2发生接点动作或接点复位时，控制处理单元6可以向压力调节器8输出控制信号，从而控制压力调节器8停止压力调节。

请继续参考图1所示，在本说明书一实施方案中，所述气体密度继电器的接点温度补偿校验装置还可以包括：充气口12及用于控制充气口12的第二阀11。充气口12和第二阀11可以与多通接头9的一个通道连接。所述充气口12和所述第二阀11可以用于在进行接点温度补偿校验前，对所述密封气室3及所述气体密度继电器样品2进行抽真空处理。并在抽真空处理后，对所述密封气室3及所述气体密度继电器样品2进行充气处理，即通过充气口12向所述密封气室3及所述气体密度继电器样品2充入一定压力的校验气体(例如六氟化硫等)。结合图2和图4所示，在本说明书另一实施方案中，第二阀11也可以为电控阀，其可以与控制处理单元6电性连接，以实现二者之间的通讯，即可以实现控制处理单元6对第二阀11的开闭的自动控制。

结合图3所示，在本说明书一实施方案中，所述密封气室3的下部设有滚轮301，以方便移动密封气室。其中，位于前侧的滚轮301处可设有第一刹车组件304。所述密封气室3的后端还设有定位器303，所述定位器303可用于与所述第一刹车组件304配合实现对所述密封气室的定位。在所述定位器303的后端顶住恒温箱1的后，通过操操作第一刹车组件304刹车，即可以防止所述密封气室3前后移动，从而实现对所述密封气室3的定位。在一示例性实施方案中，所述定位件303可以由具有一定耐热性能的非金属材料(例如橡胶等)制成。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，一些恒温箱1可能具有支架或底座之类支撑部件，从而使得恒温箱1的校验腔室101具有一定的高度。为了方便地在实验前将所述密封气室3装进恒温箱1的校验腔室101，以及在试验后将所述密封气室3从所述校验腔室101内卸载出来。所述接点温度补偿校验装置还可以包括用于辅助装卸所述密封气室3的辅助小车13。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，所述辅助小车13的上部可设有用于承载所述密封气室3的导轨1302；所述辅助小车13的下部可设有高度调节器1306。通过调节高度调节器1306，可以将所述导轨1302的导轨上表面1302a调节至与所述恒温箱1的校验腔室101的腔室底面101a保持平齐。如此，当打开恒温箱1的箱门(图3中未画出)后，可以便捷地将所述密封气室3装进恒温箱1的校验腔室101，或者将所述密封气室3从所述校验腔室101内卸载出来。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，所述辅助小车13位于前侧的车轮1301处可设有第二刹车组件1305。如此，可以防止所述辅助小车13在装卸所述密封气室3过程中发生移动。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，所述辅助小车13在一些情况下可难以紧挨着恒温箱1，为了在装卸所述密封气室3时实现平稳衔接，所述导轨1302的后端可伸出所述辅助小车外一段合适距离。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，为了防止所述密封气室3从导轨1302上意外滑落，且所述导轨1302的侧边和前端可设有挡板1303。

参考图3所示，在本说明书一实施方案中，所述密封气室3的前端可设有第一把手302；所述辅助小车的13前端可设有第二把手1304。如此，可以方便装卸所述密封气室3时的推拉操作。

需要指出的是，本说明书中的接点动作在不同开闭类型的气体密度继电器下，其含义不同。例如，对于常闭型气体密度继电器而言，接点动作是指接点由常闭变为断开；而对于常开型气体密度继电器而言，接点动作是指接点由常开变为闭合。本说明书中的接点复位是指接点在动作后又恢复至常态。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本说明书时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

与上述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置对应，本说明书还提供了利用上述装置的气体密度继电器的接点温度补偿校验方法。参考图5所示，在本说明书一些实施方案中，所述气体密度继电器的接点温度补偿校验方法可以包括以下步骤：

S501、在第一阀关闭的状态下，使恒温箱调节至指定温度并达到热平衡。

在校验之前，通过充气口对整个装置的气路(包括密封气室和气体密度继电器样品等)进行抽真空处理。在完成抽真空处理后，关闭第一阀，打开第二阀，通过充气口向装置的气路充入一定压力的校验气体，并关闭第二阀。在此情况下，使恒温箱调节至指定温度(例如40℃)，并恒温保持指定时间，以使密封气室和气体密度继电器样品内的校验气体并达到热平衡(即使密封气室和气体密度继电器样品内的校验气体达到并维持在指定温度)。

S502、使所述第一阀开启，并使压力调节器调节气体密度继电器样品的气体压力，以使气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位。

在本说明书一实施方案中，可以利用压力调节器缓慢地降低或升高气体密度继电器样品的气体压力，直至使气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位。为了控制精确，在气体密度继电器样品的气体压力降低或升高至接近动作值时，气体压力变化速度可以控制在合适的范围(例如每秒钟不大于量程10‰的范围)内。

S503、在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，并使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温。

在本说明书的实施方案中，为了有利于获得准确的校验结果，当气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，应立即关闭第一阀。然后再使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温。其中的指定常温可以根据需要设定，例如指定常温可以为20℃。

S504、获取压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力。

S505、根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果；所述预设压力为所述气体密度继电器样品在所述指定常温下的动作值(即在所述指定常温下，当气体密度继电器样品的气体压力达到该值时，气体密度继电器样品的接点会发生动作)。

在本说明书一实施方案中，所述根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果，可以包括：确定所述预设压力与所述气体压力的差值的绝对值；判断所述绝对值是超出预设阈值，并根据判断结果确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果。即当所述绝对值未超出预设阈值时，视为所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果为校验合格；否则，为所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果为校验不合格。

例如，在一示例性实施方案中，某一气体密度继电器在指定常温20℃时的动作值(即预设压力)为0.495MPa，在低温-30℃时的温度补偿误差(即预设阈值)为0.025MPa。则在该气体密度继电器的气体温度达到指定温度-30℃并维持的条件下，当通过压力调节器使该气体密度继电器发生接点动作时，立即关闭第一阀；然后使该气体密度继电器的气体温度变化至指定常温20℃并维持，假设此时压力传感器检测到压力为0.482MPa。由于∣0.495-0.482∣＝0.013<0.025。因此可以确认该气体密度继电器在低温-30℃时的校验符合要求。

在本说明书另一实施方案中，在S505之后还可以包括如下步骤：

S506、判断是否完成所有指定温度的校验。如果是则执行步骤S507，否则跳转执行步骤S501，以继续进行下一个指定温度下的校验。

S507、根据各指定温度的校验结果确定总体校验结果。

在本说明书的实施方案中，所述根据各指定温度的校验结果确定总体校验结果，可以根据预设的判断策略进行处理。例如，在一示例性实施例方案中，当多个指定温度的校验结果中，如果其中校验合格的数量到设定的数量阈值(或者其中校验合格的数量占比到设定的比值阈值)，则可以认为所述气体密度继电器样品的总体校验结果为校验合格，否则可以所述气体密度继电器样品的总体校验结果为校验不合格。

由于本说明书的实施方案可以在指定温度下，通过调节所述气体密度继电器样品的气体压力(或气体密度)，使所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位，并在此时关闭所述第一阀，使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温。从而使得可以在维持所述气体密度继电器样品的气体密度不变的情况下，直接通过所述压力传感器采集所述气体密度继电器样品在所述指定常温下采集的气体压力。如此，则实现了在物理模拟下获取所述气体密度继电器样品在所述指定常温下采集的气体压力，而无需像常规技术那样通过软件模型计算(为了便于实现，常规技术通过软件模型计算，往往要对边界条件和属性进行简化，从而影响了校验精度)得到，更加直观、精确。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的装置或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种装置或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的装置或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的实施方案而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (12)

1.一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，包括：

恒温箱，用于提供指定温度的恒温校验环境；

密封气室，设置于所述恒温箱内，用于使位于其内的校验气体与所述恒温箱进行热交换，并在热平衡后提供给与其连接且设置于所述恒温箱内的气体密度继电器样品；

压力调节器，设置于所述恒温箱外，与所述密封气室连接，用于调节所述气体密度继电器样品的气体压力，以使所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；

第一阀，设置于所述密封气室与所述压力调节器的连接管路上；

压力传感器，用于采集所述气体密度继电器样品的气体压力；

控制处理单元，用于在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温，获取所述压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力并处理。

2.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述连接管路上设有充气口及用于控制充气口的第二阀，以用于在进行接点温度补偿校验前，对所述密封气室及所述气体密度继电器样品进行抽真空处理和充气处理。

3.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述恒温箱、所述第一阀及所述压力调节器受控于所述控制处理单元。

4.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室设有滚轮，所述滚轮处设有第一刹车组件。

5.如权利要求4所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室的后端设有定位器，所述定位器用于与所述第一刹车组件配合实现对所述密封气室的定位。

6.如权利要求1所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述接点温度补偿校验装置还包括用于辅助装卸所述密封气室的辅助小车。

7.如权利要求6所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述辅助小车的上部设有用于承载所述密封气室的导轨，所述辅助小车的下部设有高度调节器，以用于将所述导轨的上表面调节至与所述恒温箱的腔室底面平齐。

8.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述导轨的后端伸出所述辅助小车外，且所述导轨的侧边和前端设有挡板。

9.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述辅助小车的车轮处设有第二刹车组件。

10.如权利要求7所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验装置，其特征在于，所述密封气室的前端设有第一把手；所述辅助小车前端设有第二把手。

11.一种气体密度继电器的接点温度补偿校验方法，其特征在于，所述方法利用权利要求1所述的装置实现，其包括以下步骤：

在第一阀关闭的状态下，使恒温箱调节至指定温度并达到热平衡；

使所述第一阀开启，并使压力调节器调节气体密度继电器样品的气体压力，以使气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位；

在所述气体密度继电器样品发生接点动作或接点复位时，使所述第一阀关闭，并使所述恒温箱将所述气体密度继电器样品的气体温度调节至指定常温；

获取压力传感器在所述指定常温下采集的气体压力；

根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果；所述预设压力为所述气体密度继电器样品在所述指定常温下的动作值。

12.如权利要求11所述的气体密度继电器的接点温度补偿校验方法，其特征在于，所述根据预设压力及所述气体压力，确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果，包括：

确定所述预设压力与所述气体压力的差值的绝对值；

判断所述绝对值是超出预设阈值，并根据判断结果确定所述气体密度继电器样品在所述指定温度下的校验结果。

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