CN111970052A - 基于计算的光模块光功率调试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种基于计算的光模块光功率调试方法，包括以下步骤：步骤S10，设定开环时两点偏置DAC初值；步骤S20，光功率先采用开环调试，将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中，分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值；步骤S30，将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线；步骤S40，将光功率目标值代入上述直线方程，得出所需的偏置电流值Bias Current；步骤S50，得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC；步骤S60，将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中，读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC；步骤S70，得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC；本发明可提高光功率调测的效率。

Description

基于计算的光模块光功率调试方法
技术领域
本发明属于光通信技术领域，尤其是一种基于计算的光模块光功率调试方法。
背景技术
近年来，光通信系统在传输速率、传输容量、传输距离和成本等方面发展迅猛，由此对光模块的生产工艺提出了更加严格的要求，在保证质量的前提下，要尽量减少光模块的生产时间，目前调试光模块光功率时，通常采用的方法是二分法，也称为折半法，是一种在有序数组中查找特定元素的搜索算法。因光器件批次差异，光功率调试初始化值设置不合理，造成调试时间长，或超出光模块发射电路电流容忍范围，导致光模块触发关断保护功能，而出现无光的现象，严重影响生产效率。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种基于计算的光模块光功率调试方法，以达到减少光模块功率调试步骤并提高光功率的调试精度的技术效果。本发明实施例采用的技术方案是：
一种基于计算的光模块光功率调试方法，包括以下步骤：
步骤S10，设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值，设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值；设定开环时两点偏置DAC初值；
步骤S20，光功率先采用开环调试，将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中，光模块开环工作，分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值；
步骤S30，将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线，算出直线的斜率和截距，得到直线方程；
步骤S40，将光功率目标值代入上述直线方程，得出所需的偏置电流值Bias Current；
步骤S50，根据偏置电流与偏置DAC值的关系，得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC；
步骤S60，将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中，读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC；
步骤S70，根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系，得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC；
步骤S80，光功率采用闭环调试，将APC_DAC值写入光模块的寄存器中，读出光模块的光功率值和偏置电流值，如果光功率最小值＜APC_DAC对应的光功率值＜光功率最大值，且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值，则光功率计算调试成功，否则失败。
进一步地，步骤S20中，所述两个偏置DAC初值对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值，记作P0、P1、B0、B1；
步骤S30中，直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0)，截距b=P0-KB0。
进一步地，步骤S50中，Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA。
进一步地，
步骤S70中，APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32)；单位为μA。
与现有技术相比，本发明的有益效果：
本发明的技术方案通过对光模块的光功率进行理论计算，相比背景技术中的技术方案，减少了对光模块的光功率进行调试的步骤，只需数步即可得光功率目标值，准确度高，提高了对光模块的光功率调测的效率。
附图说明
图1为本发明实施例中的调试方法流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本申请实施例中光模块的光功率是指光模块的输出光功率；
本申请实施例提出一种基于计算的光模块光功率调试方法，包括以下步骤：
步骤S10，设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值，设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值；设定开环时两点偏置DAC初值；
步骤S20，光功率先采用开环调试，将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中，光模块开环工作，分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值，记作P0、P1、B0、B1；
步骤S30，将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线，算出直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0)和截距b=P0-KB0，得到直线方程；
步骤S40，将光功率目标值代入上述直线方程，得出所需的偏置电流值Bias Current；
Bias Current=(targetpwr–b)/ K；targetpwr为光功率目标值；
步骤S50，根据偏置电流与偏置DAC值的关系，得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC；本实施例中，
Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA
步骤S60，将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中，读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC；
步骤S70，根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系，得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC；
本实施例中，APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32)；单位为μA；
步骤S80，光功率采用闭环调试，将APC_DAC值写入光模块的寄存器中，读出光模块的光功率值和偏置电流值，如果光功率最小值＜APC_DAC对应的光功率值＜光功率最大值，且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值，则光功率计算调试成功，否则失败。
最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照实例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (4)

1.一种基于计算的光模块光功率调试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S10，设定光模块光功率最大值、最小值和光功率目标值，设定相应的偏置电流最大值、偏置电流最小值；设定开环时两点偏置DAC初值；
步骤S20，光功率先采用开环调试，将S10中的两个偏置DAC初值写入光模块的寄存器中，光模块开环工作，分别获取对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值；
步骤S30，将S20中两点的光功率值和两个偏置电流值拟合直线，算出直线的斜率和截距，得到直线方程；
步骤S40，将光功率目标值代入上述直线方程，得出所需的偏置电流值Bias Current；
步骤S50，根据偏置电流与偏置DAC值的关系，得到光功率目标值对应的偏置DAC值BIAS_DAC；
步骤S60，将上述BIAS_DAC写入光模块的寄存器中，读出输出光功率的功率监测值MPD_ADC；
步骤S70，根据闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值与MPD_ADC的转换关系，得到闭环时光功率目标值所需的偏置DAC值APC_DAC；
步骤S80，光功率采用闭环调试，将APC_DAC值写入光模块的寄存器中，读出光模块的光功率值和偏置电流值，如果光功率最小值＜APC_DAC对应的光功率值＜光功率最大值，且偏置电流最小值<APC_DAC对应的偏置电流值<偏置电流最大值，则光功率计算调试成功，否则失败。
2.如权利要求1所述的基于计算的光模块光功率调试方法，其特征在于，
步骤S20中，所述两个偏置DAC初值对应的两点的光功率值和对应的两个偏置电流值，记作P0、P1、B0、B1；
步骤S30中，直线的斜率K=(P1-P0)/(B1-B0)，截距b=P0-KB0。
3.如权利要求1或2所述的基于计算的光模块光功率调试方法，其特征在于，
步骤S50中，Bias Current =(BIAS_DAC+8)*0.1mA。
4.如权利要求1、2或3所述的基于计算的光模块光功率调试方法，其特征在于，
步骤S70中，APC_DAC=Log(MPD_ADC*112.5/512/7.185)/Log(2)*32)；单位为μA。
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