CN111966061A - 产品工艺参数的优化方法、装置、电子设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种产品工艺参数的优化方法、装置、电子设备和存储介质，应用于产品制造技术领域，其中，方法包括：获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数，根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数，若否，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。解决了现有技术中，生产工艺的改进依赖人工的经验或者不断的试验，所需的时间周期很长，成本较高，且改善效果不定，不能有效的改进生产工艺，提升产品的质量的问题。
Description
技术领域
本申请涉及产品制造技术领域，尤其涉及一种产品工艺参数的优化方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
随着生产制造业的发展，企业对生产产品的质量要求越来越高，而产品的质量由零部件的生产以及装配等一系列流程所决定，不同流程对产品质量的影响程度是不同的。在生产产品的各生产流程中，都对应有生产的最佳参数，比如产品尺寸是否在适当范围内；产品是否有毛刺、铸瘤；焊接时间、温度等。若要使产品质量达到较高水平，需要对每一个零部件以及装配流程的参数加以控制。
相关技术中，生产工艺的改进依赖人工的经验或者不断的试验，所需的时间周期很长，成本较高，且改善效果不定，不能有效的改进生产工艺，提升产品的质量。
发明内容
本申请提供了一种产品工艺参数的优化方法、装置、电子设备和存储介质，用以解决现有技术中，生产工艺的改进依赖人工的经验或者不断的试验，所需的时间周期很长，成本较高，且改善效果不定，不能有效的改进生产工艺，提升产品的质量的问题。
第一方面，本申请实施例提供了一种产品工艺参数的优化方法，包括：
获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，所述最优参数为使产品质量合格的参数；
若否，调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
可选的，所述第一质检参数包括质检结果；
所述根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，包括：
获取所述预设时间段内，产生所述质检结果的密集度达到预设密集度的子时间段；
提取所述子时间段内的所述质检结果对应的子工艺参数；
拟合所述子时间段内的所述质检结果和所述子工艺参数，根据所得的拟合结果判断所述质检结果与所述子工艺参数是否相关；
根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数。
可选的，所述质检结果包括缺陷类型和质量合格；
拟合所述子时间段内的所述质检结果和所述子工艺参数，根据所得的拟合结果判断所述质检结果与所述子工艺参数是否相关，包括：
分别提取所述子时间段内所述缺陷类型对应的第一子工艺参数，和所述质量合格对应的第二子工艺参数；
将所述第一子工艺参数与所述第二子工艺参数进行对比，根据对比结果判断所述缺陷类型与所述第一子工艺参数是否相关；
所述根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数，包括：
若判断结果为是，确定所述第二子工艺参数为最优参数。
可选的，所述第一质检参数包括质检结果，所述质检结果包括至少一种缺陷类型；
所述根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，包括：
统计所述预设时间段内各缺陷类型的缺陷数量；
根据所述缺陷数量对各所述缺陷类型排序；
根据所述缺陷类型的先后顺序，依次判断产生所述缺陷类型的生产工序对应的工艺参数是否为最优参数。
可选的，所述质检结果包括缺陷类型；
所述根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数，包括：
若所述判断结果为是，确定所述子工艺参数不为最优参数。
可选的，所述调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格，包括：
获取以调整后的工艺参数生产的产品的第二质检参数；
根据所述二质检参数确定以调整后的工艺参数生产的产品的合格率；
若所述合格率大于预设合格阈值，将所述调整后的工艺参数作为所述最优参数。
可选的，所述获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数，包括：
获取所述预设时间段内生产的产品的产品编码；
获取所述产品编码对应的工艺参数和第一质检参数。
第二方面，本申请实施例提供了一种产品工艺参数的优化装置，包括：
获取模块，用于获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
判断模块，用于根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，所述最优参数为使产品质量合格的参数；
参数调整模块，用于在工艺参数不为最优参数时，调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器通过通信总线完成相互间的通信；
所述存储器，用于存储计算机程序；
所述处理器，用于执行所述存储器中所存储的程序，实现第一方面所述的产品工艺参数的优化方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的产品工艺参数的优化方法。
本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请实施例提供的该方法，通过获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数，并根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数，若否，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。如此，在获取了工艺参数和质检参数后自动进行优化，不需要人为参与，通过产品质检参数便可以确认工艺参数是否为最优参数，并在工艺参数不为最优参数时，进行调整，从而达到优化工艺的目的，不必人为进行不断实验，节省了优化时间；另外，调整工艺参数后生产的产品质量合格，参数优化效果稳定，有效的提高了生产工艺，提升了产品的质量。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请一实施例提供的产品工艺参数的优化方法的流程图；
图2为本申请另一实施例提供的产品工艺参数的优化方法的流程图；
图3为本申请一实施例提供的产品工艺参数的优化方法中判断产品的工艺参数是否为最优参数的流程图；
图4为本申请另一实施例提供的产品工艺参数的优化方法中判断产品的工艺参数是否为最优参数的流程图；
图5为本申请一实施例提供的产品工艺参数的优化装置的结构图；
图6为本申请一实施例提供的电子设备的结构图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请一实施例中提供了一种产品工艺参数的优化方法，该方法可以应用于任意一种形式的电子设备中，如移动终端和PC终端中。如图1所示，该产品工艺参数的优化方法，包括：
步骤101、获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数。
一些实施例中，产品在生产过程中需要进行多个工艺流程，在不同的工艺流程中具有不同的工艺参数，而不同的工艺参数生产的产品的质量便会产生差异，通过对产品进行质检，可以确定各产品的质量。
在获取工艺参数和质检参数时，可以先获取预设时间段内生产过程的工艺参数，然后获取预设时间段内生产的产品的第一质检参数。
其中，预设时间段可以根据实际情况进行设定，例如，可以为3至6小时。
步骤102、根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数。
一些实施例中，根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，可以将第一质检参数中的质检结果与工艺参数进行拟合，从而判断质检结果是否由工艺参数导致，从而确认工艺参数是否最优。
步骤103、若否，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
一些实施例中，在产品的工艺参数不为最优参数时，可以对工艺参数进行调整，以对工艺参数进行优化，从而使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
可以理解的是，在判断工艺参数为最优参数时，无需对工艺参数进行调整，将该工艺参数发送至生产设备，使生产设备以该工艺参数持续生产即可。
本实施例中，通过获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数，并根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数，若否，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。如此，在获取了工艺参数和质检参数后自动进行优化，不需要人为参与，通过产品质检参数便可以确认工艺参数是否为最优参数，并在工艺参数不为最优参数时，进行调整，从而达到优化工艺的目的，不必人为进行不断实验，节省了优化时间；另外，调整工艺参数后生产的产品质量合格，参数优化效果稳定，有效的提高了生产工艺，提升了产品的质量。
本申请另一实施例中提供了一种产品工艺参数的优化方法，如图2所示，该产品工艺参数的优化方法，包括：
步骤201、获取预设时间段内生产的产品的产品编码。
一些实施例中，在进行生产加工之前会对产品进行编码，产品在生产时的工艺参数和质检过程中得到的质检参数，会与产品编码进行对应存储，以便后续的数据追溯。因此，本实施例中，先获取产品编码后，便可以方便后续根据产品编码获取对应的工艺参数和第一质检参数。
步骤202、获取产品编码对应的工艺参数和第一质检参数。
一些实施例中，在获取工艺参数和第一质检参数时，可以先获取产品编码，然后根据产品编码在数据库中查找与其相对应的工艺参数和第一质检参数。
其中，工艺参数可以但不限于包括工艺温度、工艺压力、工艺时间和工序阶段，第一质检参数可以但不限于包括质检时间、质检结果，其中，质检结果包括产品的缺陷类型和质量合格。
步骤203、根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，若是，执行步骤209，否则，执行步骤204至步骤209。
其中，第一质检参数包括质检结果，根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数的实现方式具体包括：
步骤301、获取预设时间段内，产生质检结果的密集度达到预设密集度的子时间段。
一些实施例中，在预设时间段内生产的产品会经过多个工序阶段，各工序阶段中的工艺参数不同，因此，在预设时间段内产生相应质检结果的工艺参数及工艺时间也会不同。本实施例中，质检结果包括质量合格和缺陷类型。
其中，质检结果的密集度可以通过绘制密度图或统计的方式得到，通过人为观察密度图，确定预设时间段内该质检结果产生的情况，可以确定出在密度图中质检结果密集程度较高的时间段，并将该时间段作为子时间段。预设密集度可以根据实际情况进行确定。
步骤302、提取子时间段内的质检结果对应的子工艺参数。
一些实施例中，提取子时间段内的质检结果对应的子工艺参数，可以先确定子时间段时的工序阶段，并获取该工序阶段的工艺参数，将其作为子工艺参数。通过对密集度较高的时间段的工艺参数进行分析，可以使判断结果更加准确。
步骤303、拟合子时间段内的质检结果和子工艺参数，根据所得的拟合结果判断质检结果与子工艺参数是否相关，得到判断结果。
其中，根据质检结果的不同，步骤303的实现过程也不相同。具体的，包括以下三种情况。
第一种，质检结果中只包括缺陷类型或只包括质量合格时，步骤303包括：
通过最小二乘法拟合子时间段内的质检结果和子工艺参数，得到拟合曲线，通过拟合曲线判断质检结果与子工艺参数是否相关。
一些实施例中，通过最小二乘法对子时间段内的质检结果和子工艺参数进行拟合，得到拟合曲线，通过拟合曲线查看质检结果和子工艺参数的相关性，查找规律，确定缺陷是否由子工艺参数导致或质量合格是否是子工艺参数最优，再进行相应的实验进行验证。
第二种，质检结果中包括缺陷类型和质量合格时，步骤303包括：
分别提取子时间段内缺陷类型对应的第一子工艺参数，和质量合格对应的第二子工艺参数；将第一子工艺参数与第二子工艺参数进行对比，根据对比结果判断缺陷类型与第一子工艺参数是否相关；
一些实施例中，将缺陷类型对应的第一子工艺参数，和质量合格对应的第二子工艺参数进行对比，得到对比结果，便可以确定缺陷类型与工艺参数是否相关，例如，第一子工艺参数和第二子工艺参数的差值在误差范围内，但是第一子工艺参数下生产的产品为具有缺陷类型的产品，则表示这种情况下，缺陷类型与工艺参数不相关，可能是其他原因导致的产品缺陷。
步骤304、根据判断结果，判断子工艺参数是否为最优参数。
基于上述相关实施例，在质检结果不同时，判断结果也不相同，对应的判断子工艺参数是否为最优参数也不相同。
具体的，在质检结果为缺陷类型时，若判断结果为质检结果与子工艺参数相关，则判断子工艺参数不为最优参数。
在质检结果为质检合格时，若判断结果为质检结果与子工艺参数相关，则判断子工艺参数为最优参数。
在质检结果为缺陷类型和质检合格时，若判断结果为质检结果与子工艺参数相关，则判断第二子工艺参数为最优参数。
可以理解的是，在质检结果只包括缺陷类型时，步骤301之前还包括：
步骤401、统计预设时间段内各缺陷类型的缺陷数量。
一些实施例中，通常会由于工艺参数的不同而产生不同的缺陷类型，一般的，缺陷类型包括压印不合格、产品失光等。在预设时间段内会生产出大量的产品，可以对生产的产品中各缺陷类型进行分类统计，得到各缺陷类型的缺陷数量。
步骤402、根据缺陷数量对各缺陷类型排序。
一些实施例中，在得到各缺陷类型的缺陷数量之后，可以先对缺陷数量较大的缺陷类型对应的工艺参数进行分析。本实施例中，通过缺陷数量对进行缺陷类型排序，从而确定各缺陷类型的缺陷数量的大小。
步骤403、根据缺陷类型的先后顺序，依次判断产生缺陷类型的生产工序对应的工艺参数是否为最优参数。
一些实施例中，在确定缺陷类型的先后顺序后，先判断缺陷数量最多的缺陷类型的生产工序对应的工艺参数是否为最优参数，在得到判断结果后，再对缺陷数量较少的缺陷类型对应的工艺参数，直至，所有的缺陷类型的工艺参数判断完毕，从而最终确定出工艺参数是否为最优参数。
步骤204、调整工艺参数。
一些实施例中，在工艺参数不为最优参数时，调整工艺参数。通过对工艺参数的调整，可以提高产品的合格率。
步骤205、获取以调整后的工艺参数生产的产品的第二质检参数。
一些实施例中，在调整工艺参数后，并不能确定调整后的工艺参数即最优参数，因此需要对调整工艺参数后生产的产品再次质检，进行验证。其中，调整工艺参数后生产的产品的第二质检参数包括质检结果和质检结果的数量，质检结果包括质量合格和缺陷类型。
步骤206、根据第二质检参数确定以调整后的工艺参数生产的产品的合格率。
一些实施例中，产品的合格率可以根据质检结果中的缺陷数量和合格数量的计算得到。
步骤207、判断合格率是否大于预设合格阈值，若是，执行步骤208，否则，执行步骤204。
一些实施例中，预设合格阈值可以根据实际情况进行设定，例如可以为95％以上。
步骤208、将调整后的工艺参数作为最优参数。
步骤209、将最优参数发送至生产设备，以使生产设备以最优参数生产。
本实施例中，在现行工艺生产的基础上，通过将大量的产品质检参数和生产工艺参数进行时间上的对齐，确定不同工艺参数产生的不同产品效果(质检结果)，找出导致产品出现缺陷的原因，有针对性的改变工艺参数，再验证在新的工艺参数下，产品质量的改善情况。经过多次逐步的调整，达到优化工艺参数，提升产品质量的目标。如此，在获取了工艺参数和质检参数后自动进行优化，不需要人为参与，通过产品质检参数便可以确认工艺参数是否为最优参数，并在工艺参数不为最优参数时，进行调整，从而达到优化工艺的目的，不必人为进行不断实验，节省了优化时间；另外，调整工艺参数后生产的产品质量合格，参数优化效果稳定，有效的提高了生产工艺，提升了产品的质量。
基于同一构思，本申请实施例中提供了一种产品工艺参数的优化装置，该装置的具体实施可参见方法实施例部分的描述，重复之处不再赘述，如图5所示，该装置主要包括：
获取模块501，用于获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
判断模块502，用于根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数；
参数调整模块503，用于在工艺参数不为最优参数时，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
基于同一构思，本申请实施例中提供了一种电子设备，如图6所示，该电子设备主要包括：处理器601、通信接口602、存储器603和通信总线604，其中，处理器601、通信接口602和存储器603通过通信总线604完成相互间的通信。其中，存储器603中存储有可被至处理器601执行的程序，处理器601执行存储器603中存储的程序，实现如下步骤：
获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
根据第一质检参数判断产品的工艺参数是否为最优参数，最优参数为使产品质量合格的参数；
若否，调整工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
上述电子设备中提到的通信总线604可以是外设部件互连标准(PeripheralComponent Interconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended IndustryStandard Architecture，简称EISA)总线等。该通信总线604可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图6中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
通信接口602用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
存储器603可以包括随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)，也可以包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。可选地，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器601的存储装置。
上述的处理器601可以是通用处理器，包括中央处理器(Central ProcessingUnit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等，还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing，简称DSP)、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
在本申请的又一实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当该计算机程序在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中所描述的产品工艺参数的优化方法。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。该计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行该计算机指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。该计算机可以时通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。该计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令从一个网站站点、计算机、服务器或者数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、微波等)方式向另外一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。该计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。该可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘、磁带等)、光介质(例如DVD)或者半导体介质(例如固态硬盘)等。
需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种产品工艺参数的优化方法，其特征在于，包括：
获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，所述最优参数为使产品质量合格的参数；
若否，调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
2.根据权利要求1所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述第一质检参数包括质检结果；
所述根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，包括：
获取所述预设时间段内，产生所述质检结果的密集度达到预设密集度的子时间段；
提取所述子时间段内的所述质检结果对应的子工艺参数；
拟合所述子时间段内的所述质检结果和所述子工艺参数，根据所得的拟合结果判断所述质检结果与所述子工艺参数是否相关；
根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数。
3.根据权利要求2所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述质检结果包括缺陷类型和质量合格；
拟合所述子时间段内的所述质检结果和所述子工艺参数，根据所得的拟合结果判断所述质检结果与所述子工艺参数是否相关，包括：
分别提取所述子时间段内所述缺陷类型对应的第一子工艺参数，和所述质量合格对应的第二子工艺参数；
将所述第一子工艺参数与所述第二子工艺参数进行对比，根据对比结果判断所述缺陷类型与所述第一子工艺参数是否相关；
所述根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数，包括：
若判断结果为是，确定所述第二子工艺参数为最优参数。
4.根据权利要求1所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述第一质检参数包括质检结果，所述质检结果包括至少一种缺陷类型；
所述根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，包括：
统计所述预设时间段内各缺陷类型的缺陷数量；
根据所述缺陷数量对各所述缺陷类型排序；
根据所述缺陷类型的先后顺序，依次判断产生所述缺陷类型的生产工序对应的工艺参数是否为最优参数。
5.根据权利要求2所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述质检结果包括缺陷类型；
所述根据判断结果，判断所述子工艺参数是否为最优参数，包括：
若所述判断结果为是，确定所述子工艺参数不为最优参数。
6.根据权利要求1所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格，包括：
获取以调整后的工艺参数生产的产品的第二质检参数；
根据所述二质检参数确定以调整后的工艺参数生产的产品的合格率；
若所述合格率大于预设合格阈值，将所述调整后的工艺参数作为所述最优参数。
7.根据权利要求1所述的产品工艺参数的优化方法，其特征在于，所述获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数，包括：
获取所述预设时间段内生产的产品的产品编码；
获取所述产品编码对应的工艺参数和第一质检参数。
8.一种产品工艺参数的优化装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取预设时间段内生产的产品的工艺参数和第一质检参数；
判断模块，用于根据所述第一质检参数判断所述产品的工艺参数是否为最优参数，所述最优参数为使产品质量合格的参数；
参数调整模块，用于在工艺参数不为最优参数时，调整所述工艺参数，以使调整工艺参数后生产的产品质量合格。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器、通信接口和存储器通过通信总线完成相互间的通信；
所述存储器，用于存储计算机程序；
所述处理器，用于执行所述存储器中所存储的程序，实现权利要求1-7任一项所述的产品工艺参数的优化方法。
10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一项所述的产品工艺参数的优化方法。
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