CN111949433A - 非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器。所述方法包括：监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。利用该方法，能够提升非易失性存储器上电阶段读取工作参数的可靠性。

Description

非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器
技术领域
本发明实施例涉及数据处理技术领域，尤其涉及非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器。
背景技术
随着电子技术的发展，非易失性存储器在嵌入式系统中得到了广泛的应用。非易失性存储器是当电流关掉后，所存储的数据不会消失的存储器。非易失性存储器在上电后会读取内部存储的工作参数进行配置，以保证其正常运行。
然而，由于目前非易失性存储器的工艺特征尺寸较小且上电电压较低，导致了非易失性存储上电阶段读取工作参数的可靠性越来越差。
发明内容
本发明实施例提供了非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器，以提升非易失性存储器上电阶段读取工作参数的可靠性。
第一方面，本发明实施例提供了一种非易失性存储器工作参数的处理方法，包括：
监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
可选的，非易失性存储器工作参数的处理方法，还包括：
获取待存储工作参数；
对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
可选的，获取待存储工作参数，包括：
获取工作参数范围；
根据所述工作参数范围进行参数测试，得到待存储工作参数。
可选的，根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数，包括：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
可选的，非易失性存储器工作参数的处理方法，还包括：
基于所述目标工作参数进行参数配置。
第二方面，本发明实施例提供了一种控制装置，配置于非易失性存储器，包括：
第一获取单元，用于监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
纠错单元，用于根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
可选的，控制装置，还包括：
第二获取单元，用于获取待存储工作参数；
编码单元，用于对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储单元，用于存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
可选的，所述第二获取单元，具体用于：
获取工作参数范围；
根据所述工作参数范围进行参数测试，得到待存储工作参数。
可选的，所述纠错单元，具体用于：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
第三方面，本发明实施例提供了一种非易失性存储器，包括：存储装置和控制装置；
所述存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个控制装置执行，使得所述一个或多个控制装置实现如本发明实施例所述的非易失性存储器工作参数的处理方法。
本发明实施例提供了非易失性存储器工作参数的处理方法、控制装置及存储器，利用上述技术方案，在读取非易失性存储器上电阶段的工作参数时，根据工作参数和对应的校验码，对工作参数进行纠错，得到目标工作参数，能够有效降低对非易失性存储器上电阶段工作参数读取的出错率，保证了非易失性存储器能够正常运行。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法的流程示意图；
图2为本发明实施例二提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法的流程示意图；
图3为本发明实施例三提供的一种控制装置的结构示意图；
图4为本发明实施例四提供的一种非易失性存储器的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法的流程示意图，该方法可适用于提升非易失性存储器的工作参数读取准确率的情况，具体的，该方法可适用于提升非易失性存储器上电阶段工作参数读取的准确率的情况。该方法可以由控制装置来执行，其中该装置可由软件和/或硬件实现，并一般集成在非易失性存储器上，在本实施例中非易失性存储器包括但不限于：nor flash或nand flash等。
如图1所示，本发明实施例一提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法，包括如下步骤：
S101、监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码。
在本实施例中，供电信号可以理解为非易失性存储器接入电源后产生的信号。当非易失性存储器监听到供电信号后，可以说明非易失性存储器进入上电阶段。工作参数可以理解为非易失性存储器上电阶段所需读取的参数。校验码可以理解为对工作参数进行校验编码形成的校验数据。
本步骤不限定监听供电信号的具体手段，本领域技术人员可以根据实际情况选取对应的手段确定。如可以通过非易失性存储器的电源接口的状态，确定非易失性存储器是否监听到供电信号。
在对非易失性存储器的工作参数进行处理，以提高非易失性存储器读取工作参数的可靠性时，本步骤可以首先在监听到供电信号后，获取预存的工作参数和该工作参数对应的校验码。其中，此处不限定工作参数和工作参数对应的校验码在非易失性存储器中存储的具体位置及形式，如可以存储在非易失性存储器的非易失性存储装置中，该非易失性存储装置可以为存储装置阵列。
需要注意的是，此处不限定工作参数的具体内容，工作参数所包括的具体内容可以根据非易失性存储器的具体特性进行确定。工作参数可以包括非易失性存储器的配置参数。
此外，本申请不限定校验码的具体形式，本领域技术人员可以根据校验编码的具体手段得到对应形式的校验码。
S102、根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
在本实施例中，目标工作参数可以理解为当读取出的工作参数出错时，对错误信息位进行纠正后得到的正确的工作参数。
在获取工作参数和工作参数对应的校验码后，本步骤可以根据工作参数和校验码，进行解码操作，基于解码结果对获取的工作参数进行纠错，从而得到目标工作参数。
此处不限定具体的解码操作，本领域技术人员可以基于编码校验阶段所采用的编码手段，选取对应的解码手段。
非易失性存储器可以认为是保存二进制数据的掉电不丢失数据的存储器。故，在对工作参数进行纠错时，可以首先确定工作参数中错误的信息位，然后将该信息位的数值取反，以得到目标参数。
本发明实施例一提供的非易失性存储器工作参数的处理方法，利用上述方法在读取非易失性存储器上电阶段的工作参数时，根据工作参数和对应的校验码，对工作参数进行纠错，得到目标工作参数，能够有效降低对非易失性存储器上电阶段工作参数读取的出错率，保证了非易失性存储器能够正常运行。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法的流程示意图，本实施例二在上述各实施例的基础上进行优化。在本实施例中，优化包括：获取待存储工作参数；
对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
进一步的，本实施例将根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数，具体优化为：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
进一步的，本实施例还优化包括：基于所述目标工作参数进行参数配置。
如图2所示，本发明实施例二提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法，包括如下步骤：
S201、获取待存储工作参数。
可以理解的是，非易失性存储器中存储装置可以包括非易失性存储装置和易失性存储装置。本实施例中待存储工作参数可以理解为由易失性存储装置转存至非易失性存储装置的参数。
易失性存储装置可以为由门电路构成的时序器件。本步骤可以从非易失性存储器的时序器件中获取待存储工作参数，然后对该待存储工作参数进行处理后存储至非易失性存储装置中，以供非易失性存储器读取。
本步骤不限定待存储工作参数的具体内容，本领域技术人员可以根据非易失性存储器的具体特性设定。
S202、对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码。
在本实施例中，待存储校验码可以理解为对待存储工作参数编码后所形成的编码数据。
在获取待存储工作参数后，本步骤可以对待存储工作参数进行校验编码得到对应的待存储校验码，此处不限定校验编码所采用的具体手段，本领域技术人员可以根据实际情况选取编码手段得到待存储校验码。
如，本实施例可以采用错误检查和纠正(Error Checking and Correction，ECC)编码得到校验码。ECC编码是一种差错检测和修正的算法。ECC工作原理可以是在数据写入时：计算数据并生成ECC签名，然后将ECC的签名保存在NAND页中。数据从NAND读取时：读取ECC签名，并对照相同与否来发现出现的错误。
S203、存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
在得到待存储校验码后，本步骤可以将待存储工作参数和待存储校验码写入非易失性存储器的非易失性存储装置中，以供非易失性存储器读取。
可以理解的是，S201-S203可以认为是对待存储工作参数进行编码并存储的阶段，存储后的数据可称为工作参数。编码存储后本实施例在读取工作参数时，可以基于工作参数和校验码得到目标工作参数，以提升非易失性存储器所读取工作参数的准确性。
S204、监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码。
在非易失性存储器进行工作参数获取阶段，本步骤可以在监听到供电信号后，从非易失性存储装置中读取预存的工作参数和工作参数对应的校验码。控制装置获取所读取的工作参数和校验码进行处理，以得到目标工作参数。
S205、根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位。
在本实施例中，待修正信息位可以理解为工作参数中错误的数据位。
在根据工作参数和校验码，对工作参数进行纠错得到目标工作参数时，本步骤可以根据工作参数和校验码，进行解码操作得到工作参数中待修正信息位。可以理解的是，不同的解码操作对应不同的确定待修正信息位的手段，此处不限定得到待修正信息位的具体操作。
示例性的，若在编码阶段采用ECC编码，则在向非易失性存储装置中写入数据时，将待存储工作参数的每256字节生成一个ECC校验和，称之为原ECC校验和。待存储工作参数对应的全部ECC校验和可以形成对应于该待存储工作参数的校验码。
当从非易失性存储装置中读取数据的时候，将工作参数的每256字节生成一个ECC校验和，称之为新ECC校验和。工作参数的全部ECC校验和可以为工作参数对应的校验码。将从原ECC校验和与新ECC校验和按位异或，若结果为0，则表示不存在错(或是出错了，ECC无法检测的错误)；若3个字节异或结果中存在11个比特位为1，表示存在一个比特错误，通过将该位取反可以纠正该错误。
S206、将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
在确定待修正信息位后，本步骤可以将待修正信息位取反，从而得到修正后的工作参数，即目标工作参数。
S207、基于所述目标工作参数进行参数配置。
获取目标工作参数后，本步骤可以基于该目标工作参数对非易失性存储器进行参数配置，此处不限定配置的具体手段，本领域技术人员可以根据目标工作参数的具体内容选取对应的配置手段。如，目标工作参数可以包括非易失性存储器中各引脚的电压值，则本步骤可以基于获取的各引脚的电压值为非易失性存储器各引脚施加相应的电压。
以对nor flash的配置参数的读取为例，对本发明实施例进行示例性的描述：
本实施例可以为nor flash的配置参数增加检验装置；校验装置的编码模块产生校验码；将校验码和配置信息同时写入到nor flash的特定区域；上电时读取配置参数的同时将其校验码也同时读出并送入到校验装置的解码模块进行纠错，判断读取出的配置参数信息是否正确；如果发现错误，就将错误信息位进行取反操作，确定为最终的nor flash的配置参数，降低了读取配置参数出错的几率，保证了芯片的正确运行。
具体的，步骤1：对非易失性存储器(即芯片)进行测试得到芯片配置参数。
步骤2：根据芯片配置参数，对配置参数进行校验编码(比如ECC编码)。
步骤3：将芯片配置参数及相对应的校验码进行编程操作，将配置参数和校验码写入到非易失性存储器的特定区域。
步骤4：重新上电后，自动读取芯片配置参数以及相应的校验码。
步骤5：将配置参数和校验码送入到校验装置的解码模块进行查错和纠错，将错误的配置参数信息进行更正。
步骤6：上电结束后得到正确的芯片配置信息，供芯片正常使用。
本发明实施例二提供的一种非易失性存储器工作参数的处理方法，优化包括了存储待存储工作参数和待存储校验码的操作和配置操作；还具体化了纠错操作。利用该方法，能够通过对待存储工作参数进行校验编码得到对应的待存储校验码，从而便于非易失性存储器在读取工作参数时，基于工作参数和对应的校验码，对工作参数进行纠正，得到目标工作参数。然后基于目标工作参数对非易失性存储器进行参数配置，有效的提高了非易失性存储器读取工作参数的可靠性，进一步保证了非易失性存储器能够正常运行。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的一种控制装置的结构示意图，该控制装置可适用于提升非易失性存储器的工作参数读取准确率的情况，其中该装置可由软件和/或硬件实现，并一般配置于非易失性存储器上。
如图3所示，该控制装置包括：第一获取单元31和纠错单元32；
其中，第一获取单元31，用于监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
纠错单元32，用于根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
在本实施例中，该控制装置首先通过第一获取单元31监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；最后通过纠错单元32根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
本实施例提供了一种控制装置，能够在读取非易失性存储器上电阶段的工作参数时，根据工作参数和对应的校验码，对工作参数进行纠错，得到目标工作参数，能够有效降低对非易失性存储器上电阶段工作参数读取的出错率，保证了非易失性存储器能够正常运行。
进一步的，该控制装置，还包括：第二获取单元，用于获取待存储工作参数；
编码单元，用于对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储单元，用于存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
在上述优化的基础上，第二获取单元，具体用于：
获取工作参数范围；
根据所述工作参数范围进行参数测试，得到待存储工作参数。
基于上述技术方案，纠错单元32，具体用于：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
进一步的，该控制装置，还包括：配置单元，用于基于所述目标工作参数进行参数配置。
上述控制装置可执行本发明任意实施例所提供的非易失性存储器工作参数的处理方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4为本发明实施例四提供的一种非易失性存储器的结构示意图。如图4所示，本发明实施例四提供的非易失性存储器包括：一个或多个存储装置41和控制装置42；该非易失性存储器中的存储装置41可以是一个或多个，图4中以一个存储装置41为例；存储装置41用于存储一个或多个程序；所述一个或多个程序被所述一个或多个控制装置42执行，使得所述一个或多个控制装置42实现如本发明实施例中任一项所述的非易失性存储器工作参数的处理方法。
该非易失性存储器中的存储装置41作为一种计算机可读存储介质，可用于存储一个或多个程序，所述程序可以是软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例一或二所提供非易失性存储器工作参数的处理方法对应的程序指令/模块(例如，附图3所示的控制装置中的模块，包括：第一获取单元31和纠错单元32)。控制装置42通过运行存储在存储装置41中的软件程序、指令以及模块，从而执行非易失性存储器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中非易失性存储器工作参数的处理方法。
并且，当上述非易失性存储器所包括一个或者多个程序被所述一个或者多个控制装置42执行时，程序进行如下操作：
监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种非易失性存储器工作参数的处理方法，其特征在于，包括：
监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
获取待存储工作参数；
对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取待存储工作参数，包括：
获取工作参数范围；
根据所述工作参数范围进行参数测试，得到待存储工作参数。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数，包括：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
基于所述目标工作参数进行参数配置。
6.一种控制装置，其特征在于，配置于非易失性存储器，包括：
第一获取单元，用于监听到供电信号后，获取预存的工作参数和所述工作参数对应的校验码；
纠错单元，用于根据所述工作参数和所述校验码，对所述工作参数进行纠错得到目标工作参数。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：
第二获取单元，用于获取待存储工作参数；
编码单元，用于对所述待存储工作参数进行校验编码，得到所述待存储工作参数对应的待存储校验码；
存储单元，用于存储所述待存储工作参数和所述待存储校验码。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第二获取单元，具体用于：
获取工作参数范围；
根据所述工作参数范围进行参数测试，得到待存储工作参数。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述纠错单元，具体用于：
根据所述工作参数和所述校验码，确定所述工作参数中待修正信息位；
将所述待修正信息位取反，得到目标工作参数。
10.一种非易失性存储器，其特征在于，包括：存储装置和控制装置；
所述存储装置，用于存储一个或多个程序；
当所述一个或多个程序被所述一个或多个控制装置执行，使得所述一个或多个控制装置实现如权利要求1-5中任一所述的非易失性存储器工作参数的处理方法。
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