CN111933786A - 热释电传感器的感应元及其制造方法、热释电传感器 - Google Patents

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肖涛
黄伟林
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Abstract

本发明公开了一种热释电传感器的感应元及其制造方法、热释电传感器,感应元的制造方法包括以下步骤:S1、提供绝缘衬底和PZT片;S2、分别在所述绝缘衬底和PZT片的一面上镀设金属,形成金属镀膜;S3、将所述绝缘衬底和PZT片以所述金属镀膜相向进行叠置,两层所述金属镀膜进行键合使所述PZT片复合在所述绝缘衬底上;S4、对所述PZT片进行研磨,使所述PZT片的厚度减薄至0.015mm‑0.065mm;S5、在所述PZT片制作电极层,获得感应元。本发明的热释电传感器的感应元,通过金属镀膜将绝缘衬底和PZT片键合,再通过研磨PZT片实现其超薄厚度,显著改善感应元的热释电系数、内阻、介电常数和电容效应,提高机械强度,实现大尺寸加工,利于批量生产。

Description

热释电传感器的感应元及其制造方法、热释电传感器
技术领域
本发明涉及一种热释电传感器,尤其涉及一种热释电传感器的感应元及其制造方法、热释电传感器。
背景技术
现有的热释电传感器的制备方法:采用PZT(锆钛酸铅压电陶瓷)陶瓷锭切割,再通过研磨和极化工艺获得厚度0.08-0.15mm的小尺寸薄片,然后切割为小尺寸感应元再进行装配,形成热释电传感器。
现有的制备方法存在以下缺点:
1、切割后PZT陶瓷片厚度大;
2、PZT陶瓷材料本身机械强度(0.1mm厚),厚度难以实现再薄化;
3、因为本身材料容易破损,导致加工尺寸小,通常25-65mm直径的圆片;
4、生产报废率高;
5、因为厚度大(0.08-0.15mm),所需极化工艺的电压高,需要400-600V。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,提供一种实现PZT片薄化的热释电传感器的感应元及其制造方法、热释电传感器。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种热释电传感器的感应元的制造方法,包括以下步骤:
S1、提供绝缘衬底和PZT片;
S2、分别在所述绝缘衬底和PZT片的一面上镀设金属,形成金属镀膜;
S3、将所述绝缘衬底和PZT片以所述金属镀膜相向进行叠置,两层所述金属镀膜进行键合使所述PZT片复合在所述绝缘衬底上;
S4、对所述PZT片进行研磨,使所述PZT片的厚度减薄至0.015mm-0.065mm;
S5、在所述PZT片制作电极层,获得感应元。
优选地,步骤S1中,所述绝缘衬底为石英玻璃片、陶瓷片或刚玉片。
优选地,步骤S1中,所述绝缘衬底的直径为3-4英寸,厚度为0.05mm-0.15mm;
所述PZT片的直径为2-3.5英寸,厚度为0.1mm-0.2mm。
优选地,步骤S2中,所述绝缘衬底和所述PZT片上的金属镀膜为银、铂、镍或铬形成的镀膜。
优选地,步骤S2中,所述绝缘衬底上的金属镀膜的厚度为100nm-500nm;所述PZT片上的金属镀膜的厚度为100nm-500nm。
优选地,步骤S3中,将叠置的所述绝缘衬底和PZT片放入真空键合设备中,在200℃-600℃、压力为1-3个标准大气压下,使所述绝缘衬底和PZT片上的金属镀膜键合在一起。
优选地,步骤S5包括:在所述PZT片上预定位置镀金属膜,控制方阻为1000KΩ/□;对所述金属膜加电压和加热以进行极化,形成强电场。
优选地,步骤S5中,极化的加热温度为120℃-150℃;极化的电压为100V-500V。
本发明还提供一种热释电传感器的感应元,由以上任一项所述的制造方法制得。
本发明还提供一种热释电传感器,包括以上所述的感应元。
本发明的热释电传感器的感应元,通过金属镀膜将绝缘衬底和PZT片键合,再通过研磨PZT片实现其超薄厚度(厚度0.015mm-0.065mm),显著改善感应元的热释电系数、内阻、介电常数和电容效应,提高机械强度,实现大尺寸加工,利于批量生产。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明一实施例的感应元的剖面结构示意图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
如图1所示,本发明一实施例的热释电传感器的感应元,可包括绝缘衬底10、叠置在绝缘衬底10上的PZT片、设置在绝缘衬底10和PZT片20之间的金属键合层、设置在PZT片20远离绝缘衬底10的表面上的电极层30。
其中,PZT片20的厚度为0.015mm-0.065mm,较于现有的0.1mm厚度具有超薄的特点,实现感应元的高热释电响应,低内阻。金属键合层由设置在绝缘衬底10上的金属镀膜11和PZT片20上的金属镀膜21通过键合形成,从而将绝缘衬底10和PZT片20复合为一体。
参考图1,本发明的感应元的制造方法,可包括以下步骤:
S1、提供绝缘衬底10和PZT片20。
其中,绝缘衬底10选用石英玻璃片、陶瓷片或刚玉片等具高强度、不导电和不导热的绝缘材料,作为与PZT片20键合的高强度载体,实现感应元的大尺寸加工,减少成本。绝缘衬底10的直径为3-4英寸,厚度为0.05mm-0.15mm。PZT片20的直径为2-3.5英寸,厚度为0.1mm-0.2mm。
S2、分别在绝缘衬底10和PZT片20的一面上镀设金属,形成金属镀膜11、21。
绝缘衬底10上的金属镀膜11可以是采用银、铂、镍或铬等金属材料镀设形成的镀膜,厚度为100nm-500nm。PZT片20上的金属镀膜11也可以是采用银、铂、镍或铬等金属材料镀设形成的镀膜,厚度为100nm-500nm。
S3、将绝缘衬底10和PZT片20以金属镀膜11、21相向进行叠置,两个金属镀膜11、21进行键合,使PZT片20复合在绝缘衬底10上。
具体地,先将绝缘衬底10和PZT片20以金属镀膜11、21相向叠置,两层金属镀膜11、21相抵接;将叠置的绝缘衬底10和PZT片20放入真空键合设备中,在200℃-600℃、压力为1-3个标准大气压下,使绝缘衬底10和PZT片20上的金属镀膜11、21键合在一起;两层金属镀膜11、21键合形成金属键合层。
S4、对PZT片20进行研磨,使PZT片20的厚度减薄至0.015mm-0.065mm。
对PZT片20进行研磨时,采用单面研磨工艺,在PZT片20背向绝缘衬底10的表面上进行研磨操作,在研磨过程中需要控制PZT片20的平整性,确保整片的均匀厚度。
S5、在PZT片20制作电极层30,获得感应元。
该步骤S5具体可包括:先在PZT片20背向绝缘衬底10的表面上选择电极层20的设置位置,作为预定位置;在PZT片20上预定位置镀金属膜,金属膜的厚度不限,控制金属膜方阻为1000KΩ/□;对金属膜加电压和加热以进行极化,形成强电场以获得电极层30。其中,加热温度为120℃-150℃,电压为100V-500V。
进一步地,根据需要,还包括对步骤S5获得的感应元进行切割等加工,获得所需要形状的感应元。
本发明的感应元应用于热释电传感器中,作为热释电传感器的感应单元,安装在热释电传感器的外壳内。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种热释电传感器的感应元的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、提供绝缘衬底和PZT片;
S2、分别在所述绝缘衬底和PZT片的一面上镀设金属,形成金属镀膜;
S3、将所述绝缘衬底和PZT片以所述金属镀膜相向进行叠置,两层所述金属镀膜进行键合使所述PZT片复合在所述绝缘衬底上;
S4、对所述PZT片进行研磨,使所述PZT片的厚度减薄至0.015mm -0.065mm;
S5、在所述PZT片制作电极层,获得感应元。
2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S1中,所述绝缘衬底为石英玻璃片、陶瓷片或刚玉片。
3.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S1中,所述绝缘衬底的直径为3-4英寸,厚度为0.05 mm-0.15mm;
所述PZT片的直径为2-3.5英寸,厚度为0.1 mm-0.2mm。
4.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S2中,所述绝缘衬底和所述PZT片上的金属镀膜为银、铂、镍或铬形成的镀膜。
5.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S2中,所述绝缘衬底上的金属镀膜的厚度为100nm-500nm;所述PZT片上的金属镀膜的厚度为100nm-500nm。
6.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S3中,将叠置的所述绝缘衬底和PZT片放入真空键合设备中,在200℃-600℃、压力为1-3个标准大气压下,使所述绝缘衬底和PZT片上的金属镀膜键合在一起。
7.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,步骤S5包括:在所述PZT片上预定位置镀金属膜,控制方阻为1000KΩ/□;对所述金属膜加电压和加热以进行极化,形成强电场。
8.根据权利要求7所述的制造方法,其特征在于,步骤S5中,极化的加热温度为120℃-150℃;极化的电压为100V-500V。
9.一种热释电传感器的感应元,其特征在于,由权利要求1-8任一项所述的制造方法制得。
10.一种热释电传感器,其特征在于,包括权利要求9所述的感应元。
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