CN111929516A - 基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 - Google Patents
基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111929516A CN111929516A CN202010619428.XA CN202010619428A CN111929516A CN 111929516 A CN111929516 A CN 111929516A CN 202010619428 A CN202010619428 A CN 202010619428A CN 111929516 A CN111929516 A CN 111929516A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical fiber
- reactor
- test
- turn
- dry
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title claims abstract description 213
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 235
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims abstract description 36
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 75
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 47
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 46
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 238000009863 impact test Methods 0.000 claims description 12
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 claims description 9
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 241000239290 Araneae Species 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011152 fibreglass Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/003—Environmental or reliability tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/18—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge using photoelastic elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/32—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M13/00—Testing of machine parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
本发明公开基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法。该系统包括：低温环境箱，其用于模拟极端低温环境；光纤传感器测量装置，其用于经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度；电流发生器，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行通流试验；其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，电流发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供稳定电流，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下通流试验时的匝间形变数据或温度数据。该检测系统的检测结果精度高，可靠性高。
Description
技术领域
本发明涉及高压电气设备技术领域，具体涉及基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法。
背景技术
随着输变电工程向紧凑化发展，线路铺设占地面积少而输送容量大，对无功补偿、限流等功能的需求也随之增加。干式空心电抗器因其维护简单、线性度高、抗大电流冲击能力强等优点在电力系统获得了广泛应用。
大量运维经验显示，在极端低温等恶劣运行环境下，干式空心电抗器的故障率显著高于正常运行环境地区的故障率。干式空心电抗器故障对变电站设备、人员安全及电力供应可靠性等均会造成了较大的不利影响。
目前干式空心电抗器的现场诊断和检测方法包括运行时外观结构检查、不定期温度巡检；停电时进行电阻、电抗测量；停电时进行匝间过电压试验等。在极端低温等特殊运行环境下，也主要采用与普通运行环境相同的检测评估手段，因此，不能及时评估电抗器的绝缘状态，且评估结果可靠性不高。
发明内容
针对以上技术问题，本发明提供一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法，以解决现有技术中针对干式空心电抗器的性能检测手段单一、检测结果可靠性不高等问题。
第一方面，本发明提供一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统，包括：
低温环境箱，其用于模拟极端低温环境；
光纤传感器测量装置，其用于经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度；
电流发生器，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行通流试验；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，电流发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供稳定电流，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下通流试验时的匝间形变数据或温度数据。
第二方面，本发明提供一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测方法，包括：
步骤10：在常温下，对预埋光纤传感器的干式空心电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据；并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤20：将预埋光纤传感器的电抗器放置在低温环境箱中，设置目标温度为被试干式电抗器运行环境的最低温度，并维持低温环境箱内的温度至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤30：将预埋光纤传感器的电抗器从低温环境箱中取出，并放置在常温环境中，至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
其中，光纤传感器预埋在干式空心电抗器的电动力集中点或温度集中点的至少一处的线圈匝间；
与光纤传感器连接的通信光纤经光纤保护装置后引出到干式空心电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置连接。
本发明提供一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法。该检测方法充分考虑了极端低温环境对电抗器电气性能和机械结构稳定性的不利影响，提出了针对运行在极端低温环境的干式空心电抗器的耐低温性能检测系统及耐低温性能检测方法，检测结果精度高，可靠性高。
本发明提供的基于光纤传感器的干式空心电抗器耐低温性能检测系统，真实模拟了干式空心电抗器运行的极端低温环境；分别获取到了多种运行模式下干式空心电抗器内部的温度数据和结构件的变形数据；根据全面完整的温度数据和结构件的变形数据，可以对极端低温环境干式空心电抗器的耐低温性能进行定性地评估。
附图说明
通过参考下面的附图，可以更为完整地理解本发明的示例性实施方式：
图1为本发明实施例的基于光纤传感器的干式空心电抗器耐低温性能检测系统的组成示意图；
图2为本发明另一实施例的基于光纤传感器的干式空心电抗器耐低温性能检测系统的组成示意图；
图3为本发明实施例基于光纤传感器的干式空心电抗器耐低温性能检测方法的流程示意图；
图4为本发明实施例的方法中在干式空心电抗器中预埋光纤传感器及光纤保护装置的示意图；
图5为本发明实施例的方法中电抗器耐低温通流试验的示意图；
图6为本发明实施例的方法中电抗器耐低温匝间振荡试验的示意图；
图7为本发明实施例的方法中电抗器耐低温雷电冲击试验的示意图；
图8为本发明实施例的方法及系统中典型的干式空心电抗器的结构示意图。
具体实施方式
现在参考附图介绍本发明的示例性实施方式，然而，本发明可以用许多不同的形式来实施，并且不局限于此处描述的实施例，提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本发明，并且向所属技术领域的技术人员充分传达本发明的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本发明的限定。在附图中，相同的单元/元件使用相同的附图标记。
除非另有说明，此处使用的术语(包括科技术语)对所属技术领域的技术人员具有通常的理解含义。另外，可以理解的是，以通常使用的词典限定的术语，应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义，而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。
目前，在东北、青藏高原、甘肃、内蒙等冬季环境温度低、温度变化幅度大的地区，在寒冷天气时频繁出现干式空心电抗器故障，具体故障形式表现为因匝间绝缘短路、局部过热等引发的绝缘劣化，甚至发热烧毁。干式空心电抗器故障对变电站设备、人员安全及电力供应可靠性等均造成较大的不利影响。因此，在极端低温运行条件下，需要更密切地跟踪设备的运行温度及其绝缘性能。
电抗器在电网中主要承担补偿系统电容电流及限制系统短路电流的作用。具体地，串联电抗器多与电容器串联或与电容器组成谐波回路，在回路投入时抑制冲击电流或对特定谐波进行滤波；并联电抗器多并联于变电站低压侧，用于补偿长距离线路电容性充电电流，限制系统操作过电压，从而降低系统绝缘水平要求。如，某型号的并联干式空心电抗器的外径为5m，质量大致为100t。
如图8的典型结构所示，干式空心电抗器由多个同轴线圈/绕组11并联地组成。各线圈由浸有环氧树脂的玻璃纤维包封包裹；各包封间设置聚酯玻璃钢条作为支撑。各线圈并联；每层线圈由数根小截面铝导线并绕而成。而匝间绝缘则为环氧树脂绕包玻璃纤维或环氧树脂绕包聚酯薄膜或聚酰亚胺薄膜。
各线圈的首末两端分别连接至顶部和底部的铝质星形架。这里，铝质星形架起到电气连接及机械固定的双重作用。在进行电抗器通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验时，分别经顶部和底部的铝质星形架与电流发生器、冲击电压发生器或高频脉冲电压发生器连接。
干式空心电抗器制作时，在线圈绕制后热固化，并在形成一个坚固的整体后，经表面喷砂处理并喷涂特殊的抗紫外线辐射的硅有机漆，以适应户外运行环境。
如图1所示，本发明实施例的基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统，包括：
低温环境箱2，其用于模拟极端低温环境；
光纤传感器测量装置6，其用于经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器1的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度；
电流发生器3，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行通流试验；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，电流发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供稳定电流，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下通流试验时的匝间形变数据或温度数据。
进一步地，如图2所示，所述的检测系统，还包括：
冲击电压发生器4，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行雷电冲击试验；
与冲击电压发生器配套设置的波形记录装置，其用于记录雷电冲击试验过程中，干式空心电抗器的响应波形；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，冲击电压发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供标准的雷电冲击全波电压，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下雷电冲击试验时的匝间形变数据或温度数据。
进一步地，所述的检测系统，如图2所示，还包括：
高频脉冲电压发生器5，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行匝间振荡试验；
与高频脉冲电压发生器配套设置的波形记录装置，其用于记录匝间振荡试验过程中，干式空心电抗器的响应波形；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，高频脉冲电压发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供高频振荡脉冲电压，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下匝间振荡试验时的匝间形变数据或温度数据。
进一步地，所述的检测系统，
在一次完整的循环试验过程中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器在第一试验阶段放置在常温环境，在第二试验阶段放置在低温环境箱内，在第三试验阶段放置在常温环境；
其中，第一试验阶段、第二试验阶段、第三试验阶段依次顺序展开；
在各试验阶段中，均在干式空心电抗器内部结构的温度与环境温度一致后，光纤传感器测量装置经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度。
进一步地，所述的检测系统，
光纤传感器预埋在干式空心电抗器的电动力集中点或温度集中点的至少一处的线圈匝间；
与光纤传感器连接的通信光纤经光纤保护装置后引出到干式空心电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置连接。
如图3所示，本发明提供一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测方法，包括：
步骤S10：在常温下，对预埋光纤传感器的干式空心电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据；并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤S20：将预埋光纤传感器的电抗器放置在低温环境箱中，设置目标温度为被试干式电抗器运行环境的最低温度，并维持低温环境箱内的温度至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤S30：将预埋光纤传感器的电抗器从低温环境箱中取出，并放置在常温环境中，至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
其中，光纤传感器预埋在干式空心电抗器的电动力集中点或温度集中点的至少一处的线圈匝间；
与光纤传感器连接的通信光纤经光纤保护装置后引出到干式空心电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置连接。
该光纤保护装置为一端开口的硬质绝缘管。
进一步地，所述的检测方法，还包括：
根据步骤S10和步骤S30中通流试验下光纤传感器测量装置获取的振动位移测试数据，分别计算这两次通流试验时在电抗器投入、电抗器切断及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤S10与步骤S30中通流试验时的位移比值S投3/S投1、S切3/S切1、S通流3/S通流1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器的内部结构存在松动变形。
进一步地，所述的检测方法，还包括：
比较步骤S10和步骤S30中雷电冲击试验和匝间振荡试验下电抗器的响应波形，在前后两次试验中的波形重合度不满足预先设定的条件时，确定承受低温环境前后电抗器绕组匝间存在绝缘问题；其中，
所述预先设定的条件包括：前后两次试验中，响应波形沿时间轴出现向前或向后的偏移、且偏移时间大于预先设定的数值；或前后两次试验中，响应波形的频率的偏差大于预先设定的偏差阈值；或
根据步骤S10和步骤S30中雷电冲击试验和匝间振荡试验中，光纤传感器测量装置获取的测试数据，分别计算前后两次试验中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤S10与步骤S30中雷电冲击试验或匝间振荡试验中的位移比值S雷3/S雷1或S振3/S振1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器绕组匝间存在绝缘问题。
进一步地，所述的检测方法，还包括：
根据步骤S10和步骤S20中通流试验下光纤传感器测量装置获取的振动位移测试数据，分别计算这两次通流试验时在电抗器投入、电抗器切断及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤S10与步骤S20中通流试验时的位移比值S投2/S投1、S切2/S切1、S通流2/S通流1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器的内部结构稳定性发生了变化。
进一步地，所述的检测方法，还包括：
比较步骤S10和步骤S20中雷电冲击试验和匝间振荡试验下电抗器的响应波形，在前后两次试验中的波形重合度不满足预先设定的条件时，确定承受低温环境前后电抗器绕组匝间存在绝缘问题；其中，
所述预先设定的条件包括：前后两次试验中，响应波形沿时间轴出现向前或向后的偏移、且偏移时间大于预先设定的数值；或前后两次试验中，响应波形的频率的偏差大于预先设定的偏差阈值；或
根据步骤S10和步骤S20中雷电冲击试验和匝间振荡试验中，光纤传感器测量装置获取的测试数据，分别计算前后两次试验中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤S10与步骤S20中雷电冲击试验或匝间振荡试验中的位移比值S雷2/S雷1或S振2/S振1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器绕组匝间存在绝缘问题。
本发明实施例的干式空心电抗器耐低温性能检测系统及方法，将光纤振动传感器、光纤温度传感器预埋入干式空心电抗器的包封层内，并基于实时获取的振动位移信息、电抗器的响应波形对电抗器的耐低温绝缘性能进行检测及评估。
本发明实施例的基于光纤传感器的干式空心电抗器耐低温性能检测系统，解决了现有技术中温度或形变传感器的损伤失效比例高，性能检测方法及判据未考虑低温因素影响等问题。
本发明实施例的基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测方法，通过在干式空心电抗器中预埋光纤振动传感器和光纤温度传感器，并采用配套设计的硬质绝缘管来对光纤进行保护措施，实现了对干式空心电抗器内部结构变形或松动、温度参量的实时完整监测。
采用本发明实施例的耐低温性能检测系统及检测方法，实现了干式空心电抗器在承受极端低温环境下内部结构动稳定性、匝间绝缘特性的检测及评估。本发明方法获取的数据实时、稳定，检测方法便于操作，评估判据清晰，适用于在出厂前或运行现场对干式空心电抗器的耐低温性能进行检测及评估。
该实施例的干式空心电抗器耐低温性能检测方法，通过在干式空心电抗器绕组匝间预埋光纤振动传感器及光纤温度传感器对电抗器包封内部运行温度及变形情况进行实时监测。具体地，在干式空心电抗器的电动力和/或热点集中部位(匝间)预埋光纤振动传感器、光纤温度传感器以实时监测电抗器内部结构的运行温度及变形情况。
具体地，光纤振动传感器的预埋位置为电抗器绕组承受电动力最集中的部位。通过对实物建立受力分析仿真模型，对电抗器各绕组承受的电动力进行仿真后，确定电抗器承受电动力最集中的至少一个部位。
具体地，温度传感器的预埋位置为电抗器热点部位。通过对实物建立热场分析仿真模型，对电抗器内的热场进行仿真后，确定电抗器内的至少一个热点部位。
另外，因为电抗器为轴对称结构或中心对称结构，理论上，在电抗器的沿中心轴线方向的相同高度和相同半径上的环向一周的各绕组、各封包或各匝线圈上，承受的电动力和热场相同，因此，择一处预埋光纤振动传感器或温度传感器即可。
若热点集中部位同时也是电动力最集中的部位，则可以将光纤振动传感器和光纤温度传感器预埋在同一个部位，并将两者的通信光纤经同一个硬质绝缘管引出。若热点集中部位与电动力最集中的部位分别位于不同的部位，则光纤振动传感器和光纤温度传感器需要分别预埋在不同部位。这时，将两者的通信光纤经两个硬质绝缘管分别引出。
如图4所示，光纤传感器12与通信光纤13连接，经一端开槽的硬质绝缘管14，自绕组与包封间(图中未画包封)引出到电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置6连接。需要说明的是，硬质绝缘管14用于承担绕制包封时的缠绕张力(这时，硬质绝缘管被绕制在包封与绕组之间)，还用于避免通信光纤因电抗器内部电动力及其他机械压力而损伤失效。
具体地，硬质绝缘管与浸有环氧树脂的玻璃纤维包封具有相似的低导热系数，因此对温度变化不敏感。硬质绝缘管为绝缘硬质材料，如玻璃钢。
如图4所示，光纤传感器12与通信光纤13连接，经一端开槽的硬质绝缘管14后，自包封引出到电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置6连接。需要说明的是，在靠近光纤传感器的一端开槽的硬质绝缘管14，用于承担缠绕张力，保护光纤传感器和通信光纤，避免通信光纤因电抗器内部结构变形或电动力牵拉而损伤失效。
本发明实施例的干式空心电抗器耐低温性能检测方法，利用低温环境箱2模拟极端低温环境，基于耐低温性能检测系统分别进行常温、环境箱模拟低温、恢复至常温这3种环境条件下的通流试验、雷电冲击试验、及匝间振荡循环试验，以考核干式空心电抗器在户外运行时冷热交替的环境条件下的机械结构稳定性和电气性能。
具体地，利用电流发生器3进行通流试验，以考核低温环境对电抗器内部结构稳定性的影响情况及承受低温环境前后电抗器内部结构可能存在的松动变形情况。如利用不同温度下通流试验中光纤振动传感器所记录的平均位移来评估内部结构松动变形情况。
具体地，利用冲击电压发生器4进行雷电冲击试验，利用高频脉冲电压发生器5进行匝间振荡试验，以考核低温环境对电抗器绕组匝间绝缘的影响情况及承受低温环境前后电抗器绕组匝间可能存在的绝缘问题。如，利用不同温度下雷电冲击试验、匝间振荡试验中光纤振动传感器记录的平均位移及波形重合性指标评估绕组匝间的绝缘状态。
如图1所示，低温环境箱2用于模拟极端低温环境，由大功率空调制冷，温度调节范围为-60℃～100℃温度控制精度为±0.3℃；低温环境箱设置有温度控制模块，具有温度调节和温度保持功能。
相应地，预埋有光纤振动传感器和温度传感器的干式空心电抗器1放置于低温环境箱2中，在模拟的极端低温环境中，分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验。
如图4及图5至图7所示，光纤振动传感器12的探头部分通过通信光纤13与光纤传感器测量装置6连接。应该理解为，光纤传感器包括光纤振动传感器12和光纤温度传感器(图4中未示出)。
如图5至图7所示，预埋光纤传感器的干式空心电抗器1在低温环境模拟试验时置入低温环境箱2中。如图5所示，通流试验中，电流发生器3与预埋光纤传感器的干式空心电抗器1电气连接，且两者为串联关系。如图6所示，雷电冲击试验中，冲击电压发生器4与预埋光纤传感器的干式空心电抗器1电气连接。如图7所示，匝间振荡试验中，高频脉冲电压发生器5与预埋光纤传感器的干式空心电抗器1电气连接。
具体地，电流发生器3用于在与电抗器连接后，在常温、环境箱模拟低温、恢复至常温这3种环境温度的循环试验中，对电抗器进行通流试验。具体地，通流试验时，将电流发生器的输入端与干式空心电抗器连接，并在预先设定的时间内，向干式空心电抗器提供稳定的电流；具体地，以被试电抗器的额定电流向电抗器持续通流2小时，这时，图5下部所示的变压器3的原边上的电压为380kV，副边上的电压为10kV。图5下部为通流试验时，电流发生器3与被试的电抗器1的电路连接原理图。
冲击电压发生器4用于在与电抗器连接后，在常温、环境箱模拟低温、恢复至常温这3种环境温度的循环试验中，对电抗器进行雷电冲击试验。具体地，雷电冲击试验时，该冲击电压发生器的输入端与干式空心电抗器连接，向干式空心电抗器提供标准的雷电冲击全波电压。
具体地，标准的雷电冲击全波电压的波头时间为1.2us，波尾时间为50us。电压幅值则根据电抗器电压等级确定。
雷电冲击试验时，图6上部示出了对电抗器进行雷电冲击试验时的连接示意图。这时，电抗器底部的铝质行星架接大地。图6下部则示出了冲击电压发生器与被试的电抗器的电路连接原理图。
高频脉冲电压发生器5用于在与电抗器连接后，在与电抗器连接后，在常温、环境箱模拟低温、恢复至常温这3种环境温度的循环试验中，对电抗器进行匝间振荡试验。具体地，匝间振荡试验时，该高频脉冲电压发生器的输入端与干式空心电抗器连接，向干式空心电抗器提供持续时间不大于60s的连续高频振荡脉冲，通过匝间振荡试验来等效感应耐压试验，用于检测匝绝缘性能。
高频振荡脉冲的频率图6中的主电容和电抗器1的电感构成的LC振荡回路决定。电压幅值由电抗器的电压等级决定。高频振荡脉冲的持续时间为1分钟。
图7上部示出了对电抗器进行匝间振荡试验时的连接示意图。这时，星形架在其上端接高压，在其下端接大地，高频脉冲电压发生器在电抗器的纵绝缘(即电抗器线圈纵向构成的整体)施加高频振荡电压。
传感器测量装置6用于监测从通信光纤获取的光纤振动传感器的波长变化，并在解调分析、耦合计算后实时记录对应的振动加速度和/或振动位移等参数。
应该理解为，针对光纤振动传感器获取的振动加速度或振动位移，以及两者之间的相互转换关系，均采用现有技术中的方法来计算，这里不再赘述。
传感器测量装置6还用于监测从通信光纤获取的光纤温度传感器的波长变化，并在解调分析、耦合计算后实时记录对应的温度参数。
基于本发明实施例的干式空心电抗器耐低温性能检测系统，可以分别在其出厂前和在其运行现场对预埋光纤传感器的干式空心电抗器在进行耐低温性能检测及评估。其中，在其出厂前，可以依次进行常温、环境箱模拟低温、恢复至常温的循环试验，以模拟干式空心电抗器在户外环境中冷热交替的运行条件。
以下具体说明基于本发明实施例的干式空心电抗器耐低温性能检测系统对干式空心电抗器的耐低温性能进行检测及检测方法，包括以下步骤：
步骤1：在常温下，对预埋光纤传感器的电抗器1分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置6以100ms的时间间隔记录由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据；并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤2：将预埋光纤传感器的电抗器1放入低温环境箱2中，设置目标温度为被试干式电抗器运行环境的最低温度，如-40℃或更低，并维持低温环境箱内的温度保持在目标温度至少8小时，以使得电抗器内部结构(包括各包封、包裹包封的浸有环氧树脂的玻璃纤维以及各包封间设置的作为支撑的聚酯玻璃钢条)的温度与低温环境箱内的环境温度一致。在电抗器内部结构的温度与环境箱内的环境温度一致后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置6以100ms的时间间隔记录由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤3：将预埋光纤传感器的电抗器1放置于常温环境，并维持常温环境至少8小时，以使得电抗器内部结构的温度均匀恢复至常温；在电抗器内部结构的温度与常温环境的温度一致后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置6以100ms的时间间隔记录由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤4：比较步骤1和步骤3中通流试验下光纤传感器测量装置6记录的振动位移测试数据，并分别计算这两次通流试验时在电抗器投入、电抗器切断及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值，也即S投、S切、S通流。采用步骤1、步骤3中通流试验时的位移比值S投3/S投1、S切3/S切1、S通流3/S通流1来评估承受低温环境前后电抗器内部结构可能存在的松动变形情况；
步骤5：比较步骤1和步骤3中雷电冲击试验和匝间振荡试验下电抗器的响应波形；同时比较步骤1和步骤3中两次雷电冲击试验、匝间振荡试验中光纤传感器测量装置6记录的振动位移平均值，通过前后两次试验中的波形重合度及平均位移比值来评估承受低温环境前后电抗器绕组匝间可能存在的绝缘问题。
步骤6：比较步骤1和步骤2中通流试验下光纤传感器测量装置6记录的振动位移数值，分别计算两次试验中在电抗器投入、电抗器切断、及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值S投、S切、S通流，采用这两次试验比值S投2/S投1、S切2/S切1、S通流2/S通流1评估低温环境对电抗器内部结构稳定性的影响情况；具体地，针对内部结构稳定性，具体考核内部结构松动变形这一影响结构稳定性的情形。
步骤7：比较步骤1和步骤2中雷电冲击试验、匝间振荡试验下电抗器的响应波形，同时比较步骤1、步骤中2中雷电冲击试验、匝间振荡试验中光纤传感器测量装置6记录的振动位移平均值，通过前后两次试验中的波形重合度及振动位移的平均值的比值来评估低温环境对电抗器绕组匝间绝缘的影响情况。
具体地，以上步骤4～步骤7中，若对应时段振动位移的平均值的比值大于预先设定的数值，如1.1，则定性地判断匝间结构出现微变形或松动。前后两次试验中，雷电冲击响应波形或匝间振荡响应波形沿时间轴出现向前或向后的偏移、且偏移时间大于预先设定的数值时，则定性地判定干式空心电抗器在承受低温后匝间绝缘出现劣化。或者，若前后两次试验中的雷电冲击、匝间振荡响应波形的频率出现满足预先设定的条件的偏差，则定性地判定干式空心电抗器在承受低温后匝间绝缘出现劣化。
以上已经通过参考少量实施方式描述了本发明。然而，本领域技术人员所公知的，正如附带的发明实施例权利要求所限定的，除了本发明以上公开的其他的实施例等同地落在本发明的范围内。
通常地，在权利要求中使用的所有术语都根据他们在技术领域的通常含义被解释，除非在其中被另外明确地定义。所有的参考“一个//该[装置、组件等]”都被开放地解释为装置、组件等中的至少一个实例，除非另外明确地说明。这里公开的任何方法的步骤都没必要以公开的准确的顺序运行，除非明确地说明。
Claims (10)
1.一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统，其特征在于，包括：
低温环境箱，其用于模拟极端低温环境；
光纤传感器测量装置，其用于经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度；
电流发生器，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行通流试验；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，电流发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供稳定电流，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下通流试验时的匝间形变数据或温度数据。
2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括：
冲击电压发生器，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行雷电冲击试验；
与冲击电压发生器配套设置的波形记录装置，其用于记录雷电冲击试验过程中，干式空心电抗器的响应波形；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，冲击电压发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供标准的雷电冲击全波电压，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下雷电冲击试验时的匝间形变数据或温度数据。
3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括：
高频脉冲电压发生器，其用于与匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器连接，对干式空心电抗器进行匝间振荡试验；
与高频脉冲电压发生器配套设置的波形记录装置，其用于记录匝间振荡试验过程中，干式空心电抗器的响应波形；
其中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器放置在低温环境箱时，高频脉冲电压发生器向低温环境下的干式空心电抗器提供高频振荡脉冲电压，光纤传感器测量装置获取干式空心电抗器在低温环境下匝间振荡试验时的匝间形变数据或温度数据。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的检测系统，其特征在于，
在一次完整的循环试验过程中，匝间预埋有光纤传感器的干式空心电抗器在第一试验阶段放置在常温环境，在第二试验阶段放置在低温环境箱内，在第三试验阶段放置在常温环境；
其中，第一试验阶段、第二试验阶段、第三试验阶段依次顺序展开；
在各试验阶段中，均在干式空心电抗器内部结构的温度与环境温度一致后，光纤传感器测量装置经通信光纤获取预埋在干式空心电抗器的匝间的光纤传感器检测到的绕组形变或绕组处的温度。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的检测系统，其特征在于，
光纤传感器预埋在干式空心电抗器的电动力集中点或温度集中点的至少一处的线圈匝间；
与光纤传感器连接的通信光纤经光纤保护装置后引出到干式空心电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置连接。
6.一种基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测方法，其特征在于，包括：
步骤10：在常温下，对预埋光纤传感器的干式空心电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据；并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤20：将预埋光纤传感器的电抗器放置在低温环境箱中，设置目标温度为被试干式电抗器运行环境的最低温度，并维持低温环境箱内的温度至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
步骤30：将预埋光纤传感器的电抗器从低温环境箱中取出，并放置在常温环境中，至预先设定的时长；随后，对预埋光纤传感器的电抗器分别进行通流试验、雷电冲击试验和匝间振荡试验；试验期间，光纤传感器测量装置获取由光纤振动传感器获取的振动位移测试数据和由光纤温度传感器获取的温度测试数据，并由分别与冲击试验或匝间振荡试验配套设置的波形记录装置记录电抗器的冲击响应波形和匝间振荡响应波形；
其中，光纤传感器预埋在干式空心电抗器的电动力集中点或温度集中点的至少一处的线圈匝间；
与光纤传感器连接的通信光纤经光纤保护装置后引出到干式空心电抗器的外部，并与光纤传感器测量装置连接。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，还包括：
根据步骤10和步骤30中通流试验下光纤传感器测量装置获取的振动位移测试数据，分别计算这两次通流试验时在电抗器投入、电抗器切断及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤10与步骤30中通流试验时的位移比值S投3/S投1、S切3/S切1、S通流3/S通流1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器的内部结构存在松动变形。
8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，还包括：
比较步骤10和步骤30中雷电冲击试验和匝间振荡试验下电抗器的响应波形，在前后两次试验中的波形重合度不满足预先设定的条件时，确定承受低温环境前后电抗器绕组匝间存在绝缘问题；其中，
所述预先设定的条件包括：前后两次试验中，响应波形沿时间轴出现向前或向后的偏移、且偏移时间大于预先设定的数值；或前后两次试验中，响应波形的频率的偏差大于预先设定的偏差阈值；或
根据步骤10和步骤30中雷电冲击试验和匝间振荡试验中，光纤传感器测量装置获取的测试数据，分别计算前后两次试验中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤10与步骤30中雷电冲击试验或匝间振荡试验中的位移比值S雷3/S雷1或S振3/S振1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器绕组匝间存在绝缘问题。
9.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，还包括：
根据步骤10和步骤20中通流试验下光纤传感器测量装置获取的振动位移测试数据，分别计算这两次通流试验时在电抗器投入、电抗器切断及稳定通流这三个时段中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤10与步骤20中通流试验时的位移比值S投2/S投1、S切2/S切1、S通流2/S通流1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器的内部结构稳定性发生了变化。
10.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，还包括：
比较步骤10和步骤20中雷电冲击试验和匝间振荡试验下电抗器的响应波形，在前后两次试验中的波形重合度不满足预先设定的条件时，确定承受低温环境前后电抗器绕组匝间存在绝缘问题；其中，
所述预先设定的条件包括：前后两次试验中，响应波形沿时间轴出现向前或向后的偏移、且偏移时间大于预先设定的数值；或前后两次试验中，响应波形的频率的偏差大于预先设定的偏差阈值；或
根据步骤10和步骤20中雷电冲击试验和匝间振荡试验中，光纤传感器测量装置获取的测试数据，分别计算前后两次试验中同一个预埋位置的光纤振动传感器获取的振动位移的平均值；
在步骤10与步骤20中雷电冲击试验或匝间振荡试验中的位移比值S雷2/S雷1或S振2/S振1中的一个或多个大于预先设定的阈值时，确定承受低温环境前后干式空心电抗器绕组匝间存在绝缘问题。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010619428.XA CN111929516B (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010619428.XA CN111929516B (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111929516A true CN111929516A (zh) | 2020-11-13 |
| CN111929516B CN111929516B (zh) | 2024-04-26 |
Family
ID=73316917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010619428.XA Active CN111929516B (zh) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | 基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111929516B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113238130A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-08-10 | 武汉国电中星电力设备有限公司 | 一种对高压空心双包电抗器进行谐振工频高压试验的方法 |
| CN117031164A (zh) * | 2023-08-10 | 2023-11-10 | 国网山东省电力公司临沂供电公司 | 基于数据分析的干式空心电抗器运行温度智能监管系统 |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001174497A (ja) * | 1999-12-17 | 2001-06-29 | Yamaha Corp | 熱電素子の通電試験方法および熱電素子の通電試験装置 |
| CN201122175Y (zh) * | 2007-11-30 | 2008-09-24 | 西安电力机械制造公司 | 高压直流输电用换流阀组件瞬态特性的试验回路 |
| CN101339221A (zh) * | 2008-08-12 | 2009-01-07 | 中国西电电气股份有限公司 | 高压直流输电换流阀用电抗器伏-秒特性测试装置 |
| US20110156918A1 (en) * | 2009-12-30 | 2011-06-30 | Eduardo Pedrosa Santos | System for monitoring oil level and detecting leaks in power transformers, reactors, current and potential transformers, high voltage bushings and the like |
| CN106124900A (zh) * | 2016-07-12 | 2016-11-16 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 条形导体的雷电冲击响应性能检测系统 |
| CN106405269A (zh) * | 2016-08-22 | 2017-02-15 | 中国电力科学研究院 | 一种干式空心电抗器低温性能检测方法及系统 |
| CN207586267U (zh) * | 2017-12-18 | 2018-07-06 | 湖北天瑞电子股份有限公司 | 一种电子式电压传感器的绝缘外壳 |
| CN108287298A (zh) * | 2018-01-17 | 2018-07-17 | 四川大学 | 一种聚酰亚胺耐电晕性能的多路同步测试装置 |
| CN110068752A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-07-30 | 国网吉林省电力有限公司电力科学研究院 | 干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统及其试验方法 |
| CN110132434A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-08-16 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 基于无源温度芯片传感器的温度监测及分析系统 |
-
2020
- 2020-06-30 CN CN202010619428.XA patent/CN111929516B/zh active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001174497A (ja) * | 1999-12-17 | 2001-06-29 | Yamaha Corp | 熱電素子の通電試験方法および熱電素子の通電試験装置 |
| CN201122175Y (zh) * | 2007-11-30 | 2008-09-24 | 西安电力机械制造公司 | 高压直流输电用换流阀组件瞬态特性的试验回路 |
| CN101339221A (zh) * | 2008-08-12 | 2009-01-07 | 中国西电电气股份有限公司 | 高压直流输电换流阀用电抗器伏-秒特性测试装置 |
| US20110156918A1 (en) * | 2009-12-30 | 2011-06-30 | Eduardo Pedrosa Santos | System for monitoring oil level and detecting leaks in power transformers, reactors, current and potential transformers, high voltage bushings and the like |
| CN106124900A (zh) * | 2016-07-12 | 2016-11-16 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 条形导体的雷电冲击响应性能检测系统 |
| CN106405269A (zh) * | 2016-08-22 | 2017-02-15 | 中国电力科学研究院 | 一种干式空心电抗器低温性能检测方法及系统 |
| CN207586267U (zh) * | 2017-12-18 | 2018-07-06 | 湖北天瑞电子股份有限公司 | 一种电子式电压传感器的绝缘外壳 |
| CN108287298A (zh) * | 2018-01-17 | 2018-07-17 | 四川大学 | 一种聚酰亚胺耐电晕性能的多路同步测试装置 |
| CN110068752A (zh) * | 2019-04-29 | 2019-07-30 | 国网吉林省电力有限公司电力科学研究院 | 干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统及其试验方法 |
| CN110132434A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-08-16 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 基于无源温度芯片传感器的温度监测及分析系统 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 王亚杰;刘利强;张梦彬;张伟;李培培;: "干式空心电抗器匝间绝缘检测综述", 电力电容器与无功补偿, no. 01, 25 February 2018 (2018-02-25) * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113238130A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-08-10 | 武汉国电中星电力设备有限公司 | 一种对高压空心双包电抗器进行谐振工频高压试验的方法 |
| CN117031164A (zh) * | 2023-08-10 | 2023-11-10 | 国网山东省电力公司临沂供电公司 | 基于数据分析的干式空心电抗器运行温度智能监管系统 |
| CN117031164B (zh) * | 2023-08-10 | 2024-03-26 | 国网山东省电力公司临沂供电公司 | 基于数据分析的干式空心电抗器运行温度智能监管系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN111929516B (zh) | 2024-04-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN105974290A (zh) | 一种干式空心电抗器匝间绝缘性能检测系统及方法 | |
| CN111781476A (zh) | 变压器干式套管缺陷模拟和性能状态监测系统及方法 | |
| CN102136359B (zh) | 一种油浸倒立式电流互感器及其绝缘检测方法 | |
| CN111929516B (zh) | 基于光纤传感器的电抗器耐低温性能检测系统及检测方法 | |
| CN104515941A (zh) | 基于脉冲振荡原理的电抗器匝间绝缘检测装置 | |
| CN110146777A (zh) | 一种发电机/调相机转子匝间短路故障检测方法 | |
| CN106124941A (zh) | 电抗器匝间绝缘性诊断方法 | |
| CN106646318A (zh) | 干式空心电抗器匝间绝缘试验装置性能校核系统及方法 | |
| CN107132441A (zh) | 一种用于干式空心电抗器现场故障的诊断系统及方法 | |
| CN110927620B (zh) | 具有绕组变形和过电压在线监测传感器的套管 | |
| CN106771816A (zh) | 卷铁心多点接地故障下铁心损耗试验平台及试验方法 | |
| CN104347258A (zh) | 一种绝缘和误差自检式全智能电流互感器 | |
| CN106124950A (zh) | 高压输电电缆在线检测装置 | |
| CN106646152A (zh) | 一种高压电缆局部放电检测方法及装置 | |
| CN206602023U (zh) | 新型干式空芯电抗器 | |
| CN210005631U (zh) | 空心电抗器绝缘在线诊断系统 | |
| CN116699328A (zh) | 一种电缆绝缘状态在线监测方法和监测设备 | |
| CN105572547A (zh) | 干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路 | |
| CN105242229B (zh) | 一种光电式电流互感器的故障系统化诊断方法 | |
| CN116008861A (zh) | 一种绝缘子检测方法、装置和设备 | |
| CN206339509U (zh) | 一种高压电缆电、热性能试验平台 | |
| Gutten et al. | Frequency diagnostics of insulating system of power transformers | |
| CN104698353A (zh) | 结合温度监测的干式电抗器绝缘缺陷检测系统 | |
| Probst et al. | Using capacitive electric field sensors to measure transient overvoltages: A case study | |
| CN207037054U (zh) | 干式空心电抗器匝间绝缘试验装置性能校核系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |