CN105572547A - 干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路，用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，该方法具体包括以下步骤：S1、选取一预设温度，并计算电抗器在预设温度下的老化寿命作为预设时间，将预设时间分成m个试验周期；S2、将电抗器置于常温下，并给电抗器通入电流以使电抗器自发热；S3、对电抗器进行周期性试验，在本试验周期结束后，对电抗器进行脉冲振荡过电压试验；S4、判断电抗器是否匝间击穿，若击穿则试验结束，否则判断试验时间是否完成m个试验周期，若试验时间完成m个试验周期则试验结束，否则返回步骤S3。该试验方法及其电路贴近电抗器实际运行的方式，可以有效地模拟电抗器的老化过程。

Description

干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路

技术领域

本发明涉及电抗器领域，具体涉及一种用自发热方式进行干式空心电抗器匝间绝缘热老化的试验方法及其试验电路。

背景技术

随着我国对电能质量及电力系统可靠性、安全性要求的日益提高，对空心电抗器的安全运行提出了更高的要求。然而，从全国范围内运行情况来看，不论是国产还是进口的干式空心电抗器在投入运行后，异常和故障时有发生。从统计结果看出，绕组的匝间绝缘击穿占总故障的65％以上。匝间绝缘击穿会导致电抗器发生匝间短路，最终引起电抗器着火燃烧。直接经济损失高达数十万元，工厂、机关、居民等社会部门的突然断电所造成的间接影响及危害更大。弄清干式空心电抗器匝间绝缘的故障原因，降低事故发生的概率十分必要。

许多研究认为匝间绝缘材料的热老化引起的绝缘性能下降，是导致匝间短路的主要原因。干式空心电抗器的匝间绝缘是聚脂薄膜与环氧树脂组成的复合绝缘，目前绝缘材料热老化对匝间击穿特性影响的研究主要是单独对环氧树脂和聚酯薄膜材料展开，没有对复合材料进行研究。此外，已有研究所采用的材料老化方式都是用烘箱进行的持续的恒温老化，这与实际电抗器的老化过程是不同的。运行中干式空心电抗器绝缘材料的热老化主要是所通电流引起导体电阻发热所致，此时电抗器不同位置绝缘材料的温度不同，且受到温度变化引起的机械张力的作用。鉴于现有热老化方法存在较大缺陷，应找出更好的试验方法及实现其方法的试验电路。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路，该试验方法及其试验电路贴近电抗器实际运行的方式，可以有效地模拟电抗器的老化过程。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种干式空心电抗器自发热老化试验方法，用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，所述方法具体包括以下步骤：

S1、选取一预设温度，并计算所述电抗器在所述预设温度下的老化寿命作为预设时间，将所述预设时间分成m个试验周期；

S2、将所述电抗器置于常温下，并给所述电抗器通入电流以使所述电抗器自发热；

S3、对所述电抗器进行周期性试验，在本试验周期结束后，对所述电抗器进行脉冲振荡过电压试验；

S4、判断所述电抗器是否匝间击穿，若击穿则试验结束，否则判断试验时间是否完成m个试验周期，若试验时间完成m个试验周期则试验结束，否则返回步骤S3。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，所述步骤S3中的周期性试验具体包括以下步骤：

S31、根据所述电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与电抗器工作电流的关系曲线，得到在所述预设温度时通入所述电抗器的电流值；

S32、每隔一段时间测量一次所述样品包封的试验温度t₁，根据所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间的关系式计算所述绝缘层的试验温度t₂；

S33、判断t₂是否在所述预设温度的固定波动范围内，若t₂不在所述预设温度的固定波动范围内，则调整所述电抗器的输入电流使所述试验温度t₂维持在所述预设温度的固定波动范围内；

S34、判断是否完成一个试验周期，若完成则对所述电抗器进行脉冲振荡过电压试验，若未完成则继续试验。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，所述预设温度大于所述电抗器的绝缘层在实际运行中的实际工作温度，且小于所述电抗器的绝缘层和样品包封的最高工作温度。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，由下述公式可计算出所述电抗器的绝缘层在实际工作温度下工作所述电抗器的运行年限的老化程度以及所述绝缘层在所述预设温度下达到所述老化程度所需要工作的所述预设时间：

$1\mathrm{g\τ}=\frac{4808.121}{T}-7.533$

其中，τ表示所述绝缘层在温度为T的运行中的老化寿命；

T表示开尔文温度。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间存在以下关系：

$q=\mathrm{\λ}\frac{t_2-t_1}{d_1}$

其中，q表示热流密度；λ表示热导率；d₁表示样品包封的厚度。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间进一步存在以下关系：

$t_2=\frac{\mathrm{\λ}}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_1\mathrm{\α}}{t}_1+\frac{q_0{d}_1}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_1\mathrm{\α}}=A{t}_1+B$

其中，α表示铝导线的温度系数；q₀表示由0℃电阻计算的热流密度；

根据不同输入电流状态下的试验温度t₂与t₁即可得出所述电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与所述电抗器工作电流的关系曲线。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，将电抗器的绕组线圈的高度H分成n等份，产生n+1个节点温度，所述n+1个节点的温度的平均值为所述样品包封的试验温度t₁。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法中，所述n+1个节点的温度采用红外测温仪测得。

本发明还提供一种干式空心电抗器自发热老化试验电路，所述试验电路用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，所述试验电路包括电抗器以及从电网引出的且用于为所述电抗器提供电源的三相进线和中性线，所述三相进线和所述中性线可同时对三台所述电抗器进行热老化试验；

在每一相进线与所述中性线之间分别电性连接有用于调节相应的所述电抗器上被施加电压大小的调压器，每一所述调压器的输出端并联有用于检测与所述调压器对应的所述电抗器上的输入电压的电压检测器，在每一所述电抗器的回路中还串联有用于检测每一所述电抗器上流过的电流的电流检测器，在每一所述电抗器的两端还并联有用于减小所述电抗器电源容量的电容补偿器。

在本发明所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路中，所述电压检测器为电压表，所述电流检测器为电流表，所述电容补偿器为白愈式电容补偿器。

实施本发明的干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路，其有益效果在于：通过给干式空心电抗器通电自发热的方法进行电抗器匝间绝缘材料的热老化，并导出包封内外温度间的函数关系式，同时搭建相应的试验电路，以贴近实际运行的方式模拟干式空心电抗器匝间绝缘的老化过程。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明实施例的电抗器的样品包封的试验温度t₂和绝缘层的试验温度t₁与电流的关系；

图2是本发明实施例的热老化周期试验方法流程图；

图3是本发明实施例的干式空心电抗器自发热老化试验电路。

具体实施方式

针对现有技术中的热老化方法都是用烘箱进行的持续恒温老化，这与实际电抗器的老化过程存在较大的差异，无法有效地模拟干式空心电抗器的热老化过程。本发明提出了一种干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路，该方法采用给干式空心电抗器通入电流使电抗器自发热，并将电抗器置于常温下，模拟实际电抗器的温度分布特性，同时采用周期性通电的方法，模拟实际电抗器的接入电网和从电网中断开后变化引起的机械张力对绝缘的影响，本发明设计了能够实现上述方法的试验电路。

为了使本发明的目的、技术方案以及优点更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明的一种干式空心电抗器自发热老化试验方法，用于模拟实际运行中干式电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，该方法具体包括以下步骤：

S1、选取一预设温度，并计算所述电抗器在所述预设温度下的老化寿命作为预设时间，将所述预设时间分成m个试验周期；

S2、将所述电抗器置于常温下，并给所述电抗器通入电流以使所述电抗器自发热，从而模拟电抗器在实际运行中的温度分布特性；

S3、对所述电抗器进行周期性试验，在本试验周期结束后，对所述电抗器进行脉冲振荡过电压试验，从而模拟电抗器在实际运行中接入电网和从电网中断开后温度变化引起的机械张力对所述绝缘材料的影响；

S4、判断所述电抗器是否匝间击穿，若击穿则试验结束，否则判断试验时间是否完成m个试验周期，若试验时间完成m个试验周期则试验结束，否则返回步骤S3。

在上述步骤中，电抗器包括绕组和设置在绕组间的绝缘层，以及包封绕组和绝缘层的样品包封，在试验过程中，可以调整通入电抗器的电流的大小以使绝缘层的试验温度保持为一预设温度。

电抗器在实际运行中存在热传导及空气对流等散热过程，即电抗器在通电运行时，既发热又传热、散热，各部位温度分布不均匀。电抗器的温度考核应以最热点温升为准，电抗器匝间绝缘的热寿命应由绕组最热点温升来决定。为缩短试验周期，采用加大试验电流提高电抗器温升的手段进行加速热老化，因此，预设温度应大于绝缘层在实际运行中的实际工作温度，但是预设温度应该小于绝缘层和样品包封的最高工作温度，以防电抗器在试验过程中遭到直接破坏。

其中，干式空心电抗器的匝间绝缘层材料为聚酯薄膜，绝缘等级为B级，干式空心电抗器的样品包封采用环氧玻璃丝包绕，绝缘等级为F级，因此，该干式空心电抗器绝缘等级确定为B级，即该预设温度选为绝缘等级为B级的温度。

由下述公式可计算出绝缘层在实际工作温度下工作电抗器的运行年限的老化程度以及绝缘层在预设温度下达到老化程度所需要工作的预设时间：

$1\mathrm{g\τ}=\frac{4808.121}{T}-7.533$

其中，τ表示所述绝缘层在温度为T的运行中的老化寿命；T表示开尔文温度。

上式是沈蔚在Dakin及蒙特申格尔寿命定律的基础上，推算出的绝缘等级寿命与温度的函数关系式。

电抗器样品包封的额定电流大于绝缘层的额定电流，样品包封温升比绝缘层温升高。以样品包封为研究对象，测量干式空心电抗器的温度分布特性。干式空心电抗器以样品包封为基本单元整体固化，不能测量绝缘层的温度。样品包封绝缘的外表面与内部存在温差，与导体接触面处的温度最高。应求出电抗器样品包封外表面温度与导体-绝缘接触面温度间的关系式，可采用红外测温仪测量电抗器外表面最高温度点温度，间接监测电抗器的最热点温度。

样品包封的内外温差主要与电抗器的幅向热传导有关，样品的外包封半径远大于绝缘厚度，外包封绝缘幅向热传导方程可以近似为：

$q=-\mathrm{\λ}\frac{\mathrm{dT}}{\mathrm{dX}}$

式中，q为热流密度，λ为热导率。dT/dX为温度梯度。假设绝缘内部温度梯度不变，样品包封的试验温度为t₁，绝缘层的试验温度为t₂，样品包封的厚度为d₁，则绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间存在以下关系：

$q=\mathrm{\λ}\frac{t_2-t_1}{d_1}$

其中，热流密度q决定于铝导线损耗和散热面积。忽略铝导线的涡流损耗以及铝导线截面内部的温度差，在电抗器同一高度h₀处温度相同，样品包封相同高度单位面积的平均热流密度为：

$q=\frac{(I_1^2{R}_{01}+I_2^2{R}_{02})(1+{\mathrm{\αt}}_2)}{2\mathrm{\π}(r_1+r_2)H}=q_0(1+\mathrm{\α}{t}_2)$

上式中，I₁和I₂为流过两个支路的电流，R₀₁和R₀₂为两个支路在0℃温度下的等效电阻，α为铝导线的温度系数，r₁和r₂为包封内侧和外侧绝缘半径，H为线圈高度，q₀为由0℃电阻计算的热流密度，则绝缘层的试验温度t₂与样品包封的试验温度t₁关系进一步为：

$t_2=\frac{\mathrm{\λ}}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_1\mathrm{\α}}{t}_1+\frac{q_0{d}_1}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_0\mathrm{\α}}=A{t}_1+B$

其中，根据不同输入电流状态下的试验温度t₂与t₁即可得出电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与电抗器工作电流的关系曲线。

热平衡后，把绕组线圈的高度H分成n等份，产生n+1个节点温度，该n+1个节点的温度的平均值为样品包封的试验温度t₁。在本实施例中，绕组线圈高度H分成10等份，取11个节点温度的平均值作为外表面的平均温度；断电后立即测量外包封两根导线的直流电阻计算铝导线的平均温度(绝缘内表面温度)；两个平均温度仍然满足上述表达式。在不同工作电流下，上述参数的计算结果见下表所示。

在不同电流下，测量干式空心电抗器外表面的最高温度，即样品包封的试验温度t₂，由温度t₂的表达式计算绝缘层的试验温度t₁，两个温度与电流的关系如图1所示。

具体地，步骤S3中的周期性试验方法具体包括以下步骤：

S31、根据电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与电抗器工作电流的关系曲线，得到在预设温度时通入电抗器的电流值；

S32、每隔一段时间测量一次所述样品包封的试验温度t₁，根据绝缘层的试验温度t₂与样品包封的试验温度t₁之间的关系式计算绝缘层的试验温度t₂；

S33、判断t₂是否在预设温度的固定波动范围内，若t₂不在预设温度的固定波动范围内，则调整电抗器的输入电流使试验温度t₂维持在预设温度的固定波动范围内；

S34、判断是否完成一个试验周期，若完成则对电抗器进行脉冲振荡过电压试验，若未完成则继续试验。

在上述步骤S32中，一段时间优选为5分钟。

下面给出一个具体的实施例，干式空心电抗器匝间采用聚酯薄膜绝缘，与电机绝缘相同，可以由公式：确定其老化寿命。在允许的温度范围内，考虑可能存在的测量误差，且最大限度的减小老化时间，选取老化温度为最热点182℃，即预设温度为182℃。电抗器额定温升为40k、电抗器绕组比包封表面温度高出约5℃，环境温度取极限温度40℃，则此电抗器最热点的额定温度为85℃。根据实际电抗器运行年限一般少于20年，由公式：计算得出，85℃下工作20年的老化程度相当于在182℃下老化240小时，即预设时间为240小时。将预设时间平均分成4段，每一段时间60小时即为一个试验周期。

在每个周期试验中，根据图1确定最热点温度为182℃时所需通入的电流值，在试验的过程中每隔5分钟测量一次外表面的最高温度点温度，再根据公式：算出最热点的温度是否在182±3℃范围内。如有偏差，通过调整电流的方法使最热点温度维持在182℃左右。试验流程如图2所示，采用周期性试验方法对干式空心电抗器进行热老化试验。一个试验周期为5天，每天12小时，即进行60小时热老化。一个试验周期结束后(相当于电抗器在额定电流下运行5年)，按照相关标准，对样品进行脉冲振荡过电压试验，即进行10次1分钟匝间绝缘耐压试验，以检验热老化对匝间绝缘性能的影响。其中，脉冲振荡过电压试验是现有技术，在此不作详细描述。脉冲振荡过电压试验后判断电抗器是否匝间击穿，若击穿则试验结束，否则判断试验时间是否达到预设时间240小时，若试验时间达到预设时间则试验结束，否则继续下一个周期试验。老化试验结束的条件是样品出现匝间绝缘击穿或等效老化时间超过20年。

本发明还提供一种干式空心电抗器自发热老化试验电路，用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程。如图3所示，该电路包括第一被试电抗器17、第二被试电抗器18和第三被试电抗器19，以及从电网引出的且用于分别为第一被试电抗器17、第二被试电抗器18和第三被试电抗器19提供电源的A相进线端1、B相进线端2、C相进线端3和中性线进线端4。该A相进线端1和中性线进线端4可以对第一被试电抗器17进行热老化试验；该B相进线端2和中性线进线端4可以对第二被试电抗器18进行热老化试验；该C相进线端3和中性线进线端4可以对第三被试电抗器19进行热老化试验。

在A相进线端1和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第一被试电抗器17上被施加电压大小的第一调压器5，在第一调压器5的输出端并联有用于检测第一被试电抗器17上的输入电压的第一电压检测器8，在第一被试电抗器17的回路整还串联有用于检测第一被试电抗器17上流过的电流的第一电流检测器14，在第一被试电抗器17的两端还并联有用于减小第一被试电抗器17两端的电源容量的第一电容补偿器11。

在B相进线端2和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第二被试电抗器18上被施加电压大小的第二调压器6，在第二调压器6的输出端并联有用于检测第二被试电抗器18上的输入电压的第二电压检测器9，在第二被试电抗器18的回路整还串联有用于检测第二被试电抗器18上流过的电流的第二电流检测器15，在第二被试电抗器18的两端还并联有用于减小第二被试电抗器18两端的电源容量的第二电容补偿器12。

在C相进线端3和中性线进线端4之间电性连接有用于调节第三被试电抗器19上被施加电压大小的第三调压器7，在第三调压器7的输出端并联有用于检测第三被试电抗器19上的输入电压的第三电压检测器10，在第三被试电抗器19的回路整还串联有用于检测第三被试电抗器19上流过的电流的第三电流检测器16，在第三被试电抗器19的两端还并联有用于减小第三被试电抗器19两端的电源容量的第三电容补偿器13。

在本实施例中，第一调压器5、第二调压器6和第三调压器7为相调压器，第一电流检测器14、第二电流检测器15和第三电流检测器16为电流表，第一电压检测器8、第二电压检测器9和第三电压检测器10为电压表。第一电容补偿器11、第二电容补偿器12和第三电容补偿器13为大小为2.311uF的白愈式电容补偿器。本实施例的试验电路同时对三台电抗器进行热老化试验，可以对比三台电抗器的热老化试验结果。

综上所述，实施本发明的一种干式空心电抗器自发热老化试验方法及其试验电路，其有益效果在于：通过给干式空心电抗器通电自发热的方法进行电抗器匝间绝缘材料的热老化，并导出包封内外温度间的函数关系式，同时搭建相应的试验电路，以贴近实际运行的方式模拟干式空心电抗器匝间绝缘的老化过程。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。

Claims (10)

1.一种干式空心电抗器自发热老化试验方法，用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：

S1、选取一预设温度，并计算所述电抗器在所述预设温度下的老化寿命作为预设时间，将所述预设时间分成m个试验周期；

S2、将所述电抗器置于常温下，并给所述电抗器通入电流以使所述电抗器自发热；

S3、对所述电抗器进行周期性试验，在本试验周期结束后，对所述电抗器进行脉冲振荡过电压试验；

S4、判断所述电抗器是否匝间击穿，若击穿则试验结束，否则判断试验时间是否完成m个试验周期，若试验时间完成m个试验周期则试验结束，否则返回步骤S3。

2.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，所述步骤S3中的周期性试验具体包括以下步骤：

S31、根据所述电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与电抗器工作电流的关系曲线，得到在所述预设温度时通入所述电抗器的电流值；

S32、每隔一段时间测量一次所述样品包封的试验温度t₁，根据所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间的关系式计算所述绝缘层的试验温度t₂；

S33、判断t₂是否在所述预设温度的固定波动范围内，若t₂不在所述预设温度的固定波动范围内，则调整所述电抗器的输入电流使所述试验温度t₂维持在所述预设温度的固定波动范围内；

S34、判断是否完成一个试验周期，若完成则对所述电抗器进行脉冲振荡过电压试验，若未完成则继续试验。

3.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，所述预设温度大于所述电抗器的绝缘层在实际运行中的实际工作温度，且小于所述电抗器的绝缘层和样品包封的最高工作温度。

4.根据权利要求1所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，由下述公式可计算出所述电抗器的绝缘层在实际工作温度下工作所述电抗器的运行年限的老化程度以及所述绝缘层在所述预设温度下达到所述老化程度所需要工作的所述预设时间：

$1\mathrm{g\τ}=\frac{4808.121}{T}-7.533$

其中，τ表示所述绝缘层在温度为T的运行中的老化寿命；

T表示开尔文温度。

5.根据权利要求2所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间存在以下关系：

$q=\mathrm{\λ}\frac{t_2-t_1}{d_1}$

其中，q表示热流密度；λ表示热导率；d₁表示样品包封的厚度。

6.根据权利要求5所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，所述绝缘层的试验温度t₂与所述样品包封的试验温度t₁之间进一步存在以下关系：

$t_2=\frac{\mathrm{\λ}}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_1\mathrm{\α}}{t}_1+\frac{q_0{d}_1}{\mathrm{\λ}-q_0{d}_1\mathrm{\α}}={\mathrm{At}}_1+B$

其中，α表示铝导线的温度系数；q₀表示由0℃电阻计算的热流密度；

根据不同输入电流状态下的试验温度t₂与t₁即可得出所述电抗器的绝缘层与样品包封的工作温度与所述电抗器工作电流的关系曲线。

7.根据权利要求2所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，将电抗器的绕组线圈的高度H分成n等份，产生n+1个节点温度，所述n+1个节点的温度的平均值为所述样品包封的试验温度t₁。

8.根据权利要求7所述的干式空心电抗器自发热老化试验方法，其特征在于，所述n+1个节点的温度采用红外测温仪测得。

9.一种干式空心电抗器自发热老化试验电路，其特征在于，所述试验电路用于模拟实际运行中干式空心电抗器匝间绝缘材料的热老化过程，所述试验电路包括电抗器以及从电网引出的且用于为所述电抗器提供电源的三相进线和中性线，所述三相进线和所述中性线可同时对三台所述电抗器进行热老化试验；

在每一相进线与所述中性线之间分别电性连接有用于调节相应的所述电抗器上被施加电压大小的调压器，每一所述调压器的输出端并联有用于检测与所述调压器对应的所述电抗器上的输入电压的电压检测器，在每一所述电抗器的回路中还串联有用于检测每一所述电抗器上流过的电流的电流检测器，在每一所述电抗器的两端还并联有用于减小所述电抗器两端的电源容量的电容补偿器。

10.根据权利要求9所述的干式空心电抗器自发热老化试验电路，其特征在于，所述电压检测器为电压表，所述电流检测器为电流表，所述电容补偿器为自愈式电容补偿器。