CN111929038B - 微镜片的测试装置、方法、测试设备及计算机存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种微镜片的测试装置，所述微镜片的测试装置包括：激光器，所述激光器用于发射激光；测试台，所述测试台位于所述激光器的出光侧，且用于放置待测试的微镜片；成像面板，所述激光器发射的激光经所述微镜片反射后在所述成像面板上形成光斑；图像采集装置，用于采集所述成像面板上的图像。本发明还公开了一种微镜片的测试方法、测试设备及计算机存储介质，通过向微镜片发射激光，并采集激光反射在成像面板上的光斑图像，根据光斑图像判断微镜片是否合格，提高微镜片测试结果的准确性。

Description

微镜片的测试装置、方法、测试设备及计算机存储介质

技术领域

本发明涉及投影仪技术领域，尤其涉及微镜片的测试装置、方法、测试设备及计算机存储介质。

背景技术

投影仪的成像芯片包括数字微反射镜器件（Digital Micromirror Device，DMD）。DMD由上百万个微镜片组成，通过控制每个镜片的偏转角度，实现微镜片在开启状态和闭合状态的切换，从而调整反射光进入有效光路区域，或者进入无效光路区域，实现投影成像的目的。微镜片是否偏转以及是否偏转到位，会影响到投影图像的质量。

在微镜片进行测试时，一般由测试人员观看投影仪的投影图像，并根据自身经验判断投影质量是否合格，以确定微镜片是否正常，导致微镜片的测试结果很不准确。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种微镜片的测试装置、方法、测试设备及计算机存储介质，旨在通过微镜片反射的激光在成像面板上的光斑图像检测微镜片是否合格，微镜片测试更加准确。

为实现上述目的，本发明提供一种微镜片的测试装置，所述微镜片的测试装置包括：

激光器，所述激光器用于发射激光；

测试台，所述测试台位于所述激光器的出光侧，且用于放置待测试的微镜片；

成像面板，所述激光器发射的激光经所述微镜片反射后在所述成像面板上形成光斑；

图像采集装置，用于采集所述成像面板上的图像。

可选地，所述微镜片的测试装置还包括：

光阑，所述光阑位于所述激光器与所述微镜片之间的光路上。

可选地，所述成像面板设置于所述激光器与所述测试台之间，所述成像面板上设置有透光孔，所述透光孔位于所述激光器与所述微镜片之间的光路上。

可选地，所述微镜片的测试装置还包括：

第一调整机构，所述第一调整机构与所述激光器连接，用于调整所述激光器的角度以及位置；

第二调整机构，所述第二调整机构与所述测试台连接，用于调整所述测试台的角度以及位置。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种微镜片的测试方法，所述微镜片的测试方法应用于如上所述中任一项所述的微镜片的测试装置，所述微镜片的测试方法包括以下步骤：

控制激光器发出激光；

切换所述微镜片的状态，其中，所述状态包括开启状态和关闭状态；

控制图像采集装置采集所述微镜片在各个状态时所述成像面板上的图像；

确定每个所述图像中的光斑区域；

根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格。

可选地，所述根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格的步骤包括：

确定每个所述图像中所述光斑区域的中心位置；

在每个状态对应的所述图像中，所述中心位置处于所述状态对应的预设图像区域内时，判定所述微镜片合格。

可选地，所述控制图像采集装置采集所述微镜片在各个状态时所述成像面板上的图像的步骤之前，还包括：

控制第二调整机构调整所述微镜片所在的测试台的位置至预设位置。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种微镜片的测试设备，所述微镜片的测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被所述处理器执行时实现如上所述中任一项所述的微镜片的测试方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被处理器执行时实现如上所述中任一项所述的微镜片的测试方法的步骤。

本发明实施例提出的微镜片的测试装置、方法、测试设备及计算机存储介质，微镜片的测试装置包括：激光器，所述激光器用于发射激光；测试台，所述测试台位于所述激光器的出光侧，且用于放置待测试的微镜片；成像面板，所述激光器发射的激光经所述微镜片反射后在所述成像面板上形成光斑；图像采集装置，用于采集所述成像面板上的图像。本发明通过向微镜片发射激光，并采集激光反射在成像面板上的光斑图像，根据光斑图像判断微镜片是否合格，提高微镜片测试结果的准确性。

附图说明

图1为本发明微镜片的测试装置的示意图；

图2为本发明微镜片的测试装置的连接关系示意图；

图3为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图；

图4为本发明微镜片的测试方法的一实施例的流程示意图；

图5为本发明微镜片的测试方法另一实施例的流程示意图；

图6为本发明成像面板上预设图像区域的示意图；

图7为本发明成像面板上的光斑图像的示意图；

图8为本发明成像面板上预设图像区域的计算方式的示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				10	微镜片的测试装置	500	光阑
100	激光器	600	校准镜
				200	测试台	900	微镜片
300	成像面板	80	第二调整机构
				70	第一调整机构

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

如图1和图2所示，本发明实施例提供了一种微镜片的测试装置10，微镜片的测试装置10包括激光器100、测试台200、成像面板300以及图像采集装置400。激光器100用于发射激光，激光器100一般为氦氖激光器，测试台200位于激光器100的出光侧，且测试台200用于放置待测试的微镜片900，微镜片900处于激光器100发射的激光的光路上，微镜片用于反射激光。激光器100发射的激光经微镜片900反射后发生衍射现象，在成像面板300上形成多个光斑。图像采集装置400可以是工业相机或者普通相机，且图像采集装置400位于成像面板300上存在光斑的一侧，并用于采集成像面板的图像，以获取包括光斑的图像，以便于根据光斑在图像中的位置检测微镜片是否合格。

可选地，微镜片的测试装置10还包括光阑500，光阑500是指在光学系统中对光束起着限制作用的实体，它可以是透镜的边缘、框架或特别设置的带孔屏，用于限制光束大小。光阑500位于激光器100与微镜片900之间的激光光路上，这样，激光器100发出的激光在达到微镜片900之前，会经过光阑500的出光孔，激光器100发出的准直性较高的激光在光阑500的出光孔的作用下，激光束的直径减小，这样，达到微镜片的激光直径也减小，激光经微镜片900反射后在成像面板300上形成的光斑面积也会更小，光斑的位置识别更加准确，微镜片的测试也更加准确。一般来说，光阑500的出光孔直径小于1毫米，使得经过出光孔的激光直径也小于1毫米，便于识别图像采集装置400采集的图像中的光斑位置。

可选地，成像面板300可设置于激光器100与测试台200之间，并且成像面板300上设置有透光孔，透光孔通常设置于成像面板300的中心位置，这样，透光孔位于激光器100与微镜片900之间的激光光路上，激光器100发出的激光先经过成像面板300上的透光孔，再照射到测试台200上的微镜片900。成像面板300为具有较好的光照显示效果且不易发生形变的薄板，光斑在成像面板上的显示更加清晰。需要说明的是，微镜片900一般设置于投影仪的数字光处理技术（DLP，Digital Light Processing）成像芯片的表面一侧，在微镜片900偏转时，DLP成像芯片的该侧面的朝向不变，成像面板300的侧面与DLP成像芯片的该侧面平行设置，一般均设置为竖直方向放置，便于微镜片偏转角度的计算和简化微镜片的测试过程。

可选地，在成像面板300的透光孔位于激光器100与微镜片900之间的激光光路上时，成像面板300可与激光器100发出的激光光路垂直设置，DLP成像芯片的侧面也与激光器100发出的激光光路垂直，这样，在微镜片微镜片900未偏转时，激光的微镜片上的入射角和反射角均为0度，便于微镜片偏转角度的计算和简化微镜片的测试过程。

可选地，微镜片的测试装置10还包括第一调整机构70和第二调整机构80，第一调整机构70与激光器100连接，可通过控制第一调整机构70调整激光器100的角度以及位置，从而调节激光器100发出的激光光路，第二调整机构80与测试台200连接，可通过控制第二调整机构80调整测试台200的角度以及位置，从而调节微镜片900的位置和朝向。具体地，如图2所示，图2所在平面中的水平方向为X轴，图2所在平面中的竖直方向为Y轴，垂直于图2所在平面的方向为Z轴，第一调整机构70包括可沿Y轴平移的子调整机构710、可沿Z轴平移的子调整机构720、可绕Y轴旋转的子调整机构730以及可绕Z轴旋转的子调整机构740，通过控制第一调整机构70在多个方向上的调整，将激光器100发出的激光发射方向调整为与成像面板300垂直，且成像面板300的透光孔处于激光光路上，便于后续对微镜片的测试；第二调整机构80包括可沿X轴平移的子调整机构810、可沿Y轴平移的子调整机构820、可沿Z轴平移的子调整机构830、可绕Y轴旋转的子调整机构840以及可绕Z轴旋转的子调整机构850，通过控制第二调整机构80在多个方向上的调整，将DLP成像芯片的侧面调整为与成像面板300平行，且微镜片900位于激光光路上，通过可沿X轴平移的子调整机构810还可调节DLP成像芯片与成像面板300的间隔距离，进而根据间隔距离和其他参数确定激光经微镜片900反射后在成像面板300上形成的光斑的预设位置，根据光斑的实际位置和预设位置来判断微镜片900是否偏转到位。

可选地，在调整第一调整机构70的过程中，可通过校准镜600来检测激光器100发出的激光发射方向与成像面板300是否垂直，校准镜为具有镜面反射功能的合格镜子。具体地，在调整第一调整机构70时，可在成像面板300背离激光器100的一侧上与透光孔对应的位置设置成像面板300，这样，在激光器100发射激光时，激光通过透光孔照射到校准镜600上，若激光器100发出的激光发射方向与成像面板300垂直，则激光会经过校准镜600的反射原路返回，入射激光和反射激光同轴，若激光器100发出的激光发射方向与成像面板300不垂直，则入射激光和反射激光不同轴。类似地，在通过调整第二调整机构80时，可通过DLP成像芯片的玻璃保护盖来检测DLP成像芯片的侧面与成像面板300是否平行，玻璃保护盖的竖直面为一平面，可用于反射激光，但反射效果较弱，玻璃保护盖的覆盖区域大于微镜片900所在的区域，一般微镜片900处于DLP成像芯片的中心区域，而玻璃保护盖同时可覆盖中心区域和边缘区域。具体地，在调整第二调整机构80时，可通过第二调整机构80将激光在DLP成像芯片上的反射点位置调整为边缘区域，这样，玻璃保护盖会反射激光，而微镜片900不会反射激光，可通过玻璃保护盖反射的较微弱的激光是否与入射激光同轴来确定DLP成像芯片的侧面与成像面板300是否平行。

可选地，也可通过第一调整机构70和第二调整机构80调节激光在DLP成像芯片侧面上的入射角度、入射点位置，使得入射角度为预设角度，入射点位置为预设位置，进而根据间隔距离、入射角度、入射点位置和光斑的实际位置计算微镜片的实际偏转角度，根据实际偏转角度判断微镜片是否偏转到位。

可选地，由于激光器100发出的激光具有较好的准直性，但仍可能存在一定的发散角，为了使光阑500对激光直径的缩小效果更好，光阑500可设置于成像面板300与微镜片900之间的激光光路上，这样，激光器100发出的激光首先经过成像面板300上的透光孔，再经过光阑500的出光孔，再照射到测试台200上的微镜片900，激光直径的控制更加精确。

在本实施例公开的技术方案中，通过向微镜片发射激光，并采集激光反射在成像面板上的光斑图像，根据光斑图像判断微镜片是否合格，提高微镜片测试结果的准确性。

如图3所示，图3是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。

本发明实施例终端为微镜片的测试设备。

如图3所示，该终端可以包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002，存储器1003。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。存储器1003可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器。存储器1003可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图3中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图3所示，作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括微镜片的测试程序。

在图3所示的终端中，处理器1001可以用于调用存储器1003中存储的微镜片的测试程序，并执行以下操作：

控制激光器发出激光；

切换所述微镜片的状态，其中，所述状态包括开启状态和关闭状态；

控制图像采集装置采集所述微镜片在各个状态时所述成像面板上的图像；

确定每个所述图像中的光斑区域；

根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1003中存储的微镜片的测试程序，还执行以下操作：

确定每个所述图像中所述光斑区域的中心位置；

在每个状态对应的所述图像中，所述中心位置处于所述状态对应的预设图像区域内时，判定所述微镜片合格。

进一步地，处理器1001可以调用存储器1003中存储的微镜片的测试程序，还执行以下操作：

控制第二调整机构调整所述微镜片所在的测试台的位置至预设位置。

参照图4，在一实施例中，微镜片的测试方法应用于如上各个实施例所述的微镜片的测试装置，微镜片的测试方法包括以下步骤：

步骤S10，控制激光器发出激光；

在本实施例中，在测试台上放置有待测试的微镜片时，控制激光器发出激光，激光会照射到待测试的微镜片上，激光经微镜片反射在成像面板上形成光斑。

步骤S20，切换所述微镜片的状态，其中，所述状态包括开启状态和关闭状态；

步骤S30，控制图像采集装置采集所述微镜片在各个状态时所述成像面板上的图像；

在本实施例中，在控制激光器发出激光后，切换微镜片的状态，以使微镜片进行偏转，其中，微镜片的状态包括开启状态和关闭状态，微镜片的偏转为一维偏转，即只在固定方向上正向偏转或反向偏转，例如，微镜片的偏转角度一般为±17°，且产品本身的偏转角度公差为±1.4°，或者，微镜片的偏转角度为±12°，且产品本身的偏转角度公差为±1.0°，在一实施例中，在微镜片处于开启状态时，微镜片的偏转角度为正向偏转+17°±1.4°，在微镜片处于关闭状态时，微镜片的偏转角度为反向偏转-17°±1.4°。

在一实施例中，在控制图像采集装置采集微镜片在各个状态时成像面板上的图像的过程中，首先控制微镜片处于开启状态，以使微镜片的偏转角度保持在+17°，并控制图像采集装置采集微镜片处于开启状态时成像面板上的包含光斑的图像，再控制微镜片处于关闭状态，以使微镜片的偏转角度保持在-17°，并控制图像采集装置采集微镜片处于关闭状态时成像面板上的包含光斑的图像。每一图像均与微镜片的状态对应。

可选地，在控制图像采集装置采集微镜片在各个状态时成像面板上的图像的过程中，由于微镜片的面积相对于激光的直径来说较大，可能出现微镜片中部分区域偏转不到位的情况，为了使微镜片的测试更加准确，还可在控制图像采集装置采集图像之前，通过控制第二调整机构调整微镜片所在的测试台的位置，以改变激光在微镜片的照射位置，测试微镜片不同区域是否均偏转到位。控制第二调整机构依次调整微镜片所在的测试台的位置至多个预设位置，以便于控制图像采集装置采集微镜片在各个状态以及各个预设位置时成像面板上的图像，例如，可将微镜片所在的区域划分为3*3的9个子区域，确定每一子区域的中心位置，在微镜片处于开启状态时，将激光在微镜片的照射位置调整至第一子区域的中心位置，并通过图像采集装置采集此时的成像面板上的图像，再将激光在微镜片的照射位置调整至第二子区域的中心位置，并通过图像采集装置采集此时的成像面板上的图像，直至采集完9个子区域对应的图像，再控制微镜片处于关闭状态，采集关闭状态对应的9个子区域的图像。

步骤S40，确定每个所述图像中的光斑区域；

在本实施例中，激光在经微镜片反射时，微镜片阵列可看作是闪耀光栅，进而在微镜片的作用发生光的衍射现象，在成像面板上形成类似图7所述的多个光斑。在每一图像中，确定多个光斑中的衍射主极大光斑，将主极大光斑所在的区域作为光斑区域，其中，可通过图像二值化识别图像中灰度大于预设灰度的图像区域，并作为主极大光斑区域。

步骤S50，根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格。

在本实施例中，依次根据每一图像中的光斑区域的位置进行判断，在每一图像中的光斑区域的位置均合格时，判断微镜片偏转到位，微镜片合格。

可选地，如图6所示，成像面板上预先标记为合格微镜片对应的预设图像区域（虚线包围的环形区域），若图像中的光斑区域处于预设图像区域内时，判定该图像中的光斑区域合格，其中，实线圆的圆上位置为合格微镜片的标准区域，实线与虚线之间的区域对应微镜片本身的偏转角度公差，例如，实线与虚线之间的区域对应的为微镜片偏转角度公差可以是±1.4°。具体地，预设图像区域可存在两个，包括第一预设图像区域和第二预设图像区域，合格微镜片在处于开启状态时对应第一预设图像区域，合格微镜片在处于关闭状态时对应第二预设图像区域，即在判断图像中的光斑区域的位置是否合格时，首先获取采集该图像时对应的微镜片状态，若微镜片为开启状态，则检测光斑区域的位置是否处于第一预设图像区域内，若微镜片为关闭状态，则检测光斑区域的位置是否处于第二预设图像区域内。

在本实施例公开的技术方案中，通过向微镜片发射激光，并采集激光反射在成像面板上的光斑图像，根据光斑图像判断微镜片是否合格，提高微镜片测试结果的准确性。

在另一实施例中，如图5所示，在上述图4所示的实施例基础上，步骤S50包括：

步骤S51，确定每个所述图像中所述光斑区域的中心位置；

在本实施例中，在根据每个图像中光斑区域的位置判断微镜片是否合格的过程中，确定每个图像中的光斑区域的中心位置，将中心区域的位置作为该光斑区域的位置，便于后续判断光斑是否合格。

步骤S52，在每个状态对应的所述图像中，所述中心位置处于所述状态对应的预设图像区域内时，判定所述微镜片合格。

在本实施例中，首先获取每一图像中状态对应的预设图像区域，再根据状态对应的图像中，光斑区域的中心位置是否处于状态对应的预设图像区域内来判断微镜片是否合格。具体地，确定该图像对应的微镜片状态，若微镜片为开启状态，则获取开启状态时合格微镜片对应的预设图像区域，若微镜片为关闭状态，则获取关闭状态时合格微镜片对应的预设图像区域。在状态对应的图像中的光斑区域的中心位置处于状态对应的预设图像区域内时，判定该光斑区域合格，在每一图像中的光斑区域均合格时，判定微镜片合格，若存在任一图像中的光斑区域不合格，判定微镜片不合格。

可选地，如图8所示，虚线区域为合格微镜片未偏转时激光的反射，实线为合格微镜片偏转时激光的反射。合格微镜片的偏转角度为C，激光与DLP成像芯片侧面的法线的夹角为B，那么角度D=90°-B，激光在偏转后的合格微镜片的实际入射角度为90°-C-D，由于实际入射角度与实际出射角度相同，那么A+B=（90°-C-D）*2，从而计算出A=B-2C，而角度A所在的直角三角形的长直角边为DLP成像芯片侧面与成像面板之间的间隔距离，根据角度A和间隔距离通过正切函数即可计算出角度A所在的直角三角形的短直角边，即光斑的合格偏移距离，根据激光在DLP成像芯片侧面上的照射位置确定成像面板上与照射位置对应的点，根据该点和合格偏移距离即可计算出预设图像区域的中心位置，根据中心位置和偏转角度误差即可确定预设图像区域的位置。需要说明的是，在根据每个图像中光斑区域的位置判断微镜片是否合格时，也可根据光斑区域的位置反向推导出对应的偏转角度，根据偏转角度是否处于预设角度范围内来判断该光斑区域是否合格。

在本实施例公开的技术方案中，确定每个图像中光斑区域的中心位置，在每个状态对应的图像中，中心位置处于状态对应的预设图像区域内时，判定微镜片合格，使得微镜片的测试更加准确高效。

此外，本发明实施例还提出一种微镜片的测试设备，所述微镜片的测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被所述处理器执行时实现如上各个实施例所述的微镜片的测试方法的步骤。

此外，本发明实施例还提出一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被处理器执行时实现如上各个实施例所述的微镜片的测试方法的步骤。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种微镜片的测试装置，其特征在于，所述微镜片的测试装置包括：

激光器，所述激光器用于发射激光；

测试台，所述测试台位于所述激光器的出光侧，且用于放置待测试的微镜片；

成像面板，所述激光器发射的激光经所述微镜片反射后在所述成像面板上形成光斑；

图像采集装置，用于采集所述成像面板上的图像；

第二调整机构，所述第二调整机构与所述测试台连接，用于调整所述测试台的角度以及位置，其中，控制第二调整机构依次调整微镜片所在的测试台的位置至多个预设位置，以便于控制图像采集装置采集微镜片在各个预设位置时成像面板上的图像。

2.如权利要求1所述的微镜片的测试装置，其特征在于，所述微镜片的测试装置还包括：

光阑，所述光阑位于所述激光器与所述微镜片之间的光路上。

3.如权利要求1或2所述的微镜片的测试装置，其特征在于，所述成像面板设置于所述激光器与所述测试台之间，所述成像面板上设置有透光孔，所述透光孔位于所述激光器与所述微镜片之间的光路上。

4.如权利要求1所述的微镜片的测试装置，其特征在于，所述微镜片的测试装置还包括：

第一调整机构，所述第一调整机构与所述激光器连接，用于调整所述激光器的角度以及位置。

5.一种微镜片的测试方法，其特征在于，所述微镜片的测试方法应用于如权利要求1至4中任一项所述的微镜片的测试装置，所述微镜片的测试方法包括以下步骤：

控制激光器发出激光；

切换所述微镜片的状态，其中，所述状态包括开启状态和关闭状态；

控制图像采集装置采集所述微镜片在各个状态以及各个预设位置时所述成像面板上的图像；

确定每个所述图像中的光斑区域；

根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格。

6.如权利要求5所述的微镜片的测试方法，其特征在于，所述根据每个所述图像中所述光斑区域的位置判断所述微镜片是否合格的步骤包括：

确定每个所述图像中所述光斑区域的中心位置；

在每个状态对应的所述图像中，所述中心位置处于所述状态对应的预设图像区域内时，判定所述微镜片合格。

7.一种微镜片的测试设备，其特征在于，所述微镜片的测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求5至6中任一项所述的微镜片的测试方法的步骤。

8.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有微镜片的测试程序，所述微镜片的测试程序被处理器执行时实现如权利要求5至6中任一项所述的微镜片的测试方法的步骤。

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