CN111880028B - 一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质，所述电器设备检测方法，包括：获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。本发明能够通过运行状态参数与对应的预设运行状态参数的比对结果确定运行状态参数的正常或异常，确定根据运行状态参数的正常或异常确定运行状态参数正常或异常的对应待检测位置，通过本发明能够实现电器设备状态异常自动检测。

Description

一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质

技术领域

本发明涉及电器设备检测技术领域，具体是一种电器设备检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在使用电器设备的时候，有时会出现这种情况：在某一时刻不能用，但是一秒钟之后又恢复正常，这种情况下往往用户无法确定电器设备是否存在故障，如果放任电器设备的故障，势必会造成问题的积累与叠加，电器设备在存在故障的情况下工作，不仅会影响电器设备的可靠运行，还可能引发危险，现有技术中没有有效的电器设备状态异常的自动检测方案，更无法定位电器设备的异常位置。因此，本领域亟需解决电器设备状态异常的自动检测的问题。

发明内容

本发明提供一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质，以解决电器设备状态异常自动检测的问题。

第一方面，本发明提供一种电器设备检测方法，包括：

获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

进一步地，所述运行状态参数包括电流、电压、功率中的一种。

进一步地，所述电器设备检测方法还包括：

若预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数，则确定该待检测位置为故障位置。

进一步地，所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：

获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；

选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对。

进一步地，所述将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对，包括：

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对；

若待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则运行状态参数异常。

进一步地，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理；

对每种外界温度状态下的筛选处理后的运行状态参数数据取平均值；

以每种外界温度状态下所述平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线。

进一步地，所述对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理，包括：

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行无效数据去除处理；

对每种外界温度状态下无效数据去除处理后的运行状态参数数据进行最高预设分位数数据去除处理和最低预设分位数数据去除处理。

进一步地，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

采用最小二乘法对每种外界温度状态下的运行状态参数数据进行线性拟合，得到的回归曲线为预设运行状态参数曲线。

第二方面，一种电器设备检测装置，包括：

获取模块，用于获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

比对模块，用于将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

确定模块，用于若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

第三方面，本发明提供一种检测设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如第一方面所述的电器设备检测方法。

进一步地，所述的检测设备，还包括：若干安装在电器设备的各待检测位置的运行状态参数采集装置，若干运行状态参数采集装置分别与所述处理器连接，用于采集电器设备的各个待检测位置的运行状态参数。

进一步地，所述运行状态参数采集装置为电流检测装置。

第四方面，本发明提供一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现如第一方面所述的电器设备检测方法。

相比于现有技术，本发明至少存如下有益效果：

通过将电器设备的每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，当差值超过预设差值时确定对应的待检测位置运行状态异常，一方面能够通过运行状态参数与对应的预设运行状态参数的比对结果确定运行状态参数的正常或异常，另一方面能够确定根据运行状态参数的正常或异常确定运行状态参数正常或异常的对应待检测位置，通过本发明能够实现电器设备状态异常自动检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本发明实施例一提供的电器设备检测方法流程图；

图2是本发明实施例一提供的电流分布示意图；

图3是本发明实施例一提供的预设运行状态参数曲线示例；

图4是本发明实施例二提供的电器设备检测装置框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

本实施例提供了一种电器设备检测方法，其流程如图1所示，包括如下步骤：

步骤S1、获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数。

具体地，待检测位置可以是电器设备的关键位置或者容易出现故障的位置。可以通过运行状态参数采集装置周期性(例如，每隔30秒)采集电器设备的每个待检测位置的运行状态参数，由处理器获取这些数据，执行本实施例的方法。其中，运行状态参数可以是表征电器设备运行状态的变化的时序数据，可以是电流、电压、功率中的一种，例如，对于一些电器设备，外界温度的不同会导致电阻的阻值不同，进而在电压一定的情况下则会导致电流不同，因此，通过采集电流可以判断运行状态的异常；对于另一些电器设备，虽然插座电压恒定，但是电器设备内部的电压不一定恒定，因此，通过采集电压可以判断运行状态的异常。

步骤S2、将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对。

其中，预设运行状态参数是预设的运行状态正常时的运行状态参数，预设差值可以根据实际情况设定，例如预设差值可以是预设运行状态参数的30％，当某待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设运行状态参数的30％，说明该待检测位置的运行状态参数异常。

步骤S3、若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

具体地，运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值时，说明对应的待检测位置运行状态异常，相反地，运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值不超过预设差值时，说明对应的待检测位置运行状态正常，继续下一次获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数。

本实施例中，通过将电器设备的每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，当差值超过预设差值时确定对应的待检测位置运行状态异常，一方面能够通过运行状态参数与对应的预设运行状态参数的比对结果确定运行状态参数的正常或异常，另一方面能够确定根据运行状态参数的正常或异常确定运行状态参数正常或异常的对应待检测位置，通过本实施例能够实现电器设备状态异常自动检测。

在实际应用中，当运行状态异常的情况次数出现过多时，才会导致电器设备有明显的故障表现，需要为用户或者电工提供信息参考，因此，可以通过运行状态异常的异常次数来决定是否将对应的待检测位置判断为可能的故障点，因此，在确定待检测位置运行状态异常的基础上，该电器设备检测方法还可以进一步地包括：

步骤S4、若预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数，则确定该待检测位置为故障位置。

其中，预设周期、预设次数可以根据实际情况设定，例如预设周期可以为一周，预设次数可以根据预设周期内运行状态参数采集装置采集数据的次数确定，例如，一周内某待检测位置的运行状态参数采集装置采集10000次运行状态参数，将采集数据的次数的5％作为预设次数，也就是异常次数的上限，即预设次数为500，每个周期内统计一次异常次数，若超出预设次数则处理器可以通过生成报警信号以提示用户该待检测位置为故障位置，而未超出预设次数则不生成报警信号，每个周期结束后，异常次数清零，待下个周期重新统计每个待检测位置运行状态异常的异常次数，并判断是否存在故障位置。

在实际应用中，预设运行状态参数可以以曲线形式实现，在将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对时，通过找到曲线中的对应数据来进行比对即可，因此，步骤S2可以进一步地包括如下子步骤：

步骤S201、获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的。

举例来说，由于不同季节的外界温度范围不同，而春季和秋季的外界温度范围可视为相同，因此外界温度状态可以根据季节划分，也就是说，外界温度状态与季节存在对应关系，例如，将外界温度状态分为夏季、冬季、春季/秋季这三种，因此针对电器设备的每个待检测位置都有三条预设运行状态参数曲线。

由于外界温度不同(如季节不同)时同一待检测位置的运行状态参数可能存在不同，例如，对于一些电器设备，外界温度的不同会导致电阻的阻值不同，进而在电压一定的情况下则会导致电流不同，以运行状态参数为电流来说，一般情况下，电流分布往往会如图2所示，春夏秋冬都不一样。以夏季、冬季、春季/秋季作为三种外界温度状态分别进行预设电流曲线的构建。也就是说，在一年中，针对每个待检测位置分别构建三条曲线，分别对应夏季、冬季、春秋季这三种外界温度状态。在曲线构建完毕之后，如果某个待检测位置的某个电流在某一时刻超过了对应预设电流曲线中对应电流的30％，则判断该电流异常。

为了得到能够真实准确地反映电器设备每个待检测位置在每种外界温度状态下的正常运行状态数据，在步骤S1之前，该电器设备检测方法还包括：

步骤S4、建立电器设备的每个待检测位置的预设运行状态参数曲线；

在一种优选的实施方式中，建立电器设备的每个待检测位置的预设运行状态参数曲线的步骤包括：

步骤S401、针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据。

步骤S402、对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理。

其中，对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理，包括：

步骤S402-1、对每种外界温度状态下的运行状态参数数据进行无效数据去除处理。

例如，无效数据可以是运行状态参数数据中为0或者接近0的数据，运行状态参数数据为0或者接近0说明该电器设备很可能正处于关机状态，因此统计时将这些无效数据去除，避免在绘制曲线时由于统计了无效数据而导致曲线不准确，影响后续判断运行状态参数异常及电器设备故障位置的准确性。

步骤S402-2、对每种外界温度状态下无效数据去除处理后的运行状态参数数据进行最高预设分位数数据去除处理和最低预设分位数数据去除处理。

例如，预设分位数可以为10％分位数，去除无效数据去除处理后的运行状态参数数据中最高的10％分位数和最低的10％分位数的数据。

步骤S403、对每种外界温度状态下的筛选处理后的运行状态参数数据取平均值。

具体地，针对每种外界温度状态，将筛选处理后的运行状态参数数据求和，再除以这些数据的数量，即求得平均值。

以将外界温度状态分为夏季、冬季、春季/秋季，以及运行状态参数为电流为例，针对每个待检测位置，将每种外界温度状态下筛选处理后的电流数据求和并除以这些数据的数量，得到电流平均值。

步骤S404、以每种外界温度状态下平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线。

仍以前一例子为例，以每种外界温度状态下平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线，每个待检测位置可以得到三条预设运行状态参数曲线，例如，某种外界温度状态(季节)的预设运行状态参数曲线可以如图3所示，其中，直线为预设运行状态参数，直线周围分布的散点为该外界温度状态下的运行状态参数数据，横坐标为时间，纵坐标为运行状态参数，横坐标的时间可以为日期，例如，冬季为12月至1月，将这三个月的时间作为横坐标，纵坐标为电流，直线所对应的电流值为统计这三个月的电流数据执行步骤S401至步骤S403得到的平均值。

通过上述优选的实施方式，针对每个待检测位置，都可以得到三条不同外界温度状态对应预设运行状态参数曲线，由于不同的外界温度状态(季节)对应预设运行状态参数曲线，若将不同外界温度状态(季节)的数据统一进行取平均值处理，建立预设运行状态参数曲线，则无法真实反映不同外界温度状态下正常运行状态的运行状态参数情况。

在另一种优选的实施方式中，建立电器设备的每个待检测位置的预设运行状态参数曲线的步骤包括：

步骤S405、针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据。

步骤S406、采用最小二乘法对每种外界温度状态下的运行状态参数数据进行线性拟合，得到的回归曲线为预设运行状态参数曲线。

具体地，采用最小二乘法线性拟合得到的回归曲线，表征了不同外界温度状态下该待检测位置的运行状态参数与时间的对应关系，能够更加真实准确地反映电器设备每个待检测位置在每种外界温度状态下的正常运行状态数据，为每个待检测位置运行状态异常判断、统计每个待检测位置运行状态异常的异常次数，并判断是否存在故障位置，提供十分准确的判断依据，有效提升电器设备检测结果准确性。

步骤S202、选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线。

仍以前一个例子为例，根据当前季节，确定当前的外界温度状态为夏季、冬季，还是春季/秋季，根据当前的外界温度状态，针对每个待检测位置选取预设运行状态参数曲线，以进行下一步的比对。

步骤S203、将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对。

其中，步骤S203进一步地包括如下子步骤：

步骤S203-1、将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对。

步骤S203-2、若待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则运行状态参数异常。

具体来说，通过每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对，能够确定出异常的运行状态参数，进而确定出异常的运行状态参数对应的待检测位置的运行状态异常。

实施例二

与实施例一对应地，本实施例提供一种电器设备检测装置，如图4所示，包括如下模块：

获取模块1，用于获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

比对模块2，用于将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

确定模块3，用于若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

可以理解的是，获取模块可用于执行实施例一中的步骤S1，比对模块可用于执行实施例一中的步骤S2，确定模块可用于执行实施例一中的步骤S3。具体的实施过程请参见实施例一中的具体内容，此处不再赘述。

实施例三

本实施例提供一种检测设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现实施例一提供的电器设备检测方法。

本实施例中的处理器可以是专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit，简称ASIC)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，简称DSP)、数字信号处理设备(Digital Signal Processing Device，简称DSPD)、可编程逻辑器件(ProgrammableLogic Device，简称PLD)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述实施例中的方法。在处理器上运行的计算机程序被执行时所实现的方法可参照本发明实施例一提供的电器设备检测方法的具体实施例，此处不再赘述。

该检测设备，还包括若干安装在电器设备的各待检测位置的运行状态参数采集装置，若干运行状态参数采集装置分别与处理器连接，用于采集电器设备的各个待检测位置的运行状态参数。

其中，电器设备可以为但不限于空调，运行状态参数采集装置可以为但不限于电流检测装置(如电流表)，空调的各待检测位置可以为但不限于压缩机、室内机等，其中，压缩机进一步包括风扇、电源、电路板等，室内机又进一步包括电路板、冷凝器等，通过将电流检测装置安装在空调的不同待检测位置，实现对各待检测位置的电流进行采集，进而确定出现异常的位置。

优选地，在预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数时，处理器可以通过生成报警信号以提示用户该待检测位置为故障位置，报警信号可以通过报警装置输出，例如可以通过语音播报装置，输出故障位置提示，也可以是通过与处理器所连接的显示装置，进行故障位置报警提示，此处不做限定。

实施例四

本实施例提供一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现实施例一提供的电器设备检测方法。

本实施例中的存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，简称SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，简称EPROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，简称PROM)，只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

在本发明实施例所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的系统和方法实施例仅仅是示意性的。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (12)

1.一种电器设备检测方法，其特征在于，包括：

获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常；

所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：

获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；

选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对。

2.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述运行状态参数包括电流、电压、功率中的一种。

3.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，还包括：

若预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数，则确定该待检测位置为故障位置。

4.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对，包括：

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对；

若待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则运行状态参数异常。

5.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理；

对每种外界温度状态下的筛选处理后的运行状态参数数据取平均值；

以每种外界温度状态下所述平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线。

6.根据权利要求5所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理，包括：

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行无效数据去除处理；

对每种外界温度状态下无效数据去除处理后的运行状态参数数据进行最高预设分位数数据去除处理和最低预设分位数数据去除处理。

7.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

采用最小二乘法对每种外界温度状态下的运行状态参数数据进行线性拟合，得到的回归曲线为预设运行状态参数曲线。

8.一种电器设备检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

比对模块，用于将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对；

确定模块，用于若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

9.一种检测设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电器设备检测方法。

10.根据权利要求9所述的检测设备，其特征在于，还包括：若干安装在电器设备的各待检测位置的运行状态参数采集装置，若干运行状态参数采集装置分别与所述处理器连接，用于采集电器设备的各个待检测位置的运行状态参数。

11.根据权利要求10所述的检测设备，其特征在于，所述运行状态参数采集装置为电流检测装置。

12.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的电器设备检测方法。

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