发明内容
本发明的目的在于提供一种刷头磨圆率测试方法、装置和电子设备,以缓解了现有技术中的刷头磨圆率测试方法存在的资源浪费的技术问题。
第一方面,本发明实施例提供一种刷头磨圆率测试方法,包括:获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,所述第一图像上所述待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,所述至少一张第二图像用于确保所述待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见;基于所述第一图像确定所述待测刷头的刷丝总数;基于所述至少一张第二图像确定所述待测刷头中不合格刷丝的数量;基于所述不合格刷丝的数量和所述刷丝总数确定所述待测刷头的磨圆率。
在可选的实施方式中,获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,包括:调整视频显微镜的二维模式工作参数;利用调整后的视频显微镜的二维摄像头对所述待测刷头进行拍摄,得到所述第一图像;对所述调整后的视频显微镜的三维模式工作参数进行至少一次微调;利用每次微调后的视频显微镜的三维摄像头对所述待测刷头进行拍摄,得到所述至少一张第二图像。
在可选的实施方式中,基于所述第一图像确定所述待测刷头的刷丝总数,包括:利用预设计数应用程序对所述第一图像进行处理,得到所述待测刷头的刷丝总数。
在可选的实施方式中,基于所述不合格刷丝的数量和所述刷丝总数确定所述待测刷头的磨圆率,包括:利用算式计算所述待测刷头的磨圆率,其中,f表示所述待测刷头的磨圆率,a表示所述不合格刷丝的数量,b表示所述刷丝总数。
第二方面,本发明实施例提供一种刷头磨圆率测试装置,包括:获取模块,用于获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,所述第一图像上所述待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,所述至少一张第二图像用于确保所述待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见;第一确定模块,用于基于所述第一图像确定所述待测刷头的刷丝总数;第二确定模块,用于基于所述至少一张第二图像确定所述待测刷头中不合格刷丝的数量;第三确定模块,用于基于所述不合格刷丝的数量和所述刷丝总数确定所述待测刷头的磨圆率。
在可选的实施方式中,所述获取模块包括:调整单元,用于调整视频显微镜的二维模式工作参数;第一拍摄单元,用于利用调整后的视频显微镜的二维摄像头对所述待测刷头进行拍摄,得到所述第一图像;微调单元,用于对所述调整后的视频显微镜的三维模式工作参数进行至少一次微调;第二拍摄单元,用于利用每次微调后的视频显微镜的三维摄像头对所述待测刷头进行拍摄,得到所述至少一张第二图像。
在可选的实施方式中,所述第一确定模块具体用于:利用预设计数应用程序对所述第一图像进行处理,得到所述待测刷头的刷丝总数。
在可选的实施方式中,所述第三确定模块具体用于:利用算式计算所述待测刷头的磨圆率,其中,f表示所述待测刷头的磨圆率,a表示所述不合格刷丝的数量,b表示所述刷丝总数。
第三方面,本发明实施例提供一种电子设备,包括存储器、处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述前述实施方式中任一项所述的方法的步骤。
第四方面,本发明实施例提供一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质,所述程序代码使所述处理器执行前述实施方式中任一项所述的方法。
现有技术中,必须将待测刷头的整束刷丝取下才能进行刷头磨圆率的测试,因此,现有的刷头磨圆率测试方法是破坏性的,测试结束的刷头已经不能使用,造成了资源浪费。与现有技术相比,本发明提供的刷头磨圆率测试方法,包括:获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,至少一张第二图像用于确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见;基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数;基于至少一张第二图像确定待测刷头中不合格刷丝的数量;基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率。本发明方法在对待测刷头进行磨圆率测试时,无需取下刷丝,通过对待测刷头的第一图像和至少一张第二图像进行处理,即可确定待测刷头的磨圆率,该方法的实施没有破坏性,测试结束的刷头仍可继续使用,缓解了现有技术中的刷头磨圆率测试方法存在的资源浪费的技术问题。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面结合附图,对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
传统磨圆率测试方法中,必须要把待测刷头的整束刷丝取下并平铺开来,进而才能对刷头磨圆率进行测试。但上述方法是破坏性的,测试结束的刷头已经不能使用,造成了资源浪费。有鉴于此,本发明实施例提供了一种刷头磨圆率测试方法,用以缓解上文中所提出的问题。
实施例一
图1为本发明实施例提供的一种刷头磨圆率测试方法的流程图,如图1所示,该方法具体包括如下步骤:
步骤S12,获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像。
在本发明实施例中,要在保证不破坏待测刷头的前提下,对待测刷头的磨圆率进行测试,首先需要获取到待测刷头的两种类型的图像:第一图像和至少一张第二图像,其中,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,至少一张第二图像用于确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见。本发明实施例不对获取上述第一图像和至少一张第二图像的途径进行具体限定,用户可以根据实际需求进行设置,可选用搭载高清摄像头和高清显示器的视频显微镜对待测刷头进行拍摄。
步骤S14,基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数。
步骤S16,基于至少一张第二图像确定待测刷头中不合格刷丝的数量。
步骤S18,基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率。
在获取到第一图像和至少一张第二图像后,鉴于第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,因此,通过对第一图像上刷丝的轮廓信息可确定出待测刷头上的刷丝总数;鉴于至少一张第二图像能够确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见,那么根据清晰立体的至少一张第二图像,就可以准确判断出哪些刷丝不合格,哪些刷丝合格,鉴于磨圆处理后的刷头中不合格刷丝的数量占比一般小于合格刷丝,因此在进行计数时选择对不合格刷丝进行记录,在确定出待测刷头的刷丝总数和不合格刷丝的数量后,即可进一步计算得出待测刷头的磨圆率。在本发明实施例中,不合格刷丝可以理解为顶端为锐角或存在毛刺的刷丝。
现有技术中,必须将待测刷头的整束刷丝取下才能进行刷头磨圆率的测试,因此,现有的刷头磨圆率测试方法是破坏性的,测试结束的刷头已经不能使用,造成了资源浪费。与现有技术相比,本发明提供的刷头磨圆率测试方法,包括:获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,至少一张第二图像用于确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见;基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数;基于至少一张第二图像确定待测刷头中不合格刷丝的数量;基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率。本发明方法在对待测刷头进行磨圆率测试时,无需取下刷丝,通过对待测刷头的第一图像和至少一张第二图像进行处理,即可确定待测刷头的磨圆率,该方法的实施没有破坏性,测试结束的刷头仍可继续使用,缓解了现有技术中的刷头磨圆率测试方法存在的资源浪费的技术问题。
上文中对本发明实施例提供的刷头磨圆率测试方法进行了简要的描述,下面对其中涉及的相关步骤进行详细介绍。
在一个可选的实施方式中,如图2所示,上述步骤S12,获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,具体包括如下步骤:
步骤S121,调整视频显微镜的二维模式工作参数。
步骤S122,利用调整后的视频显微镜的二维摄像头对待测刷头进行拍摄,得到第一图像。
在本发明实施例中,优选使用视频显微镜来获取待测刷头的第一图像和第二图像,该视频显微镜至少设有HDMI(High-Definition Multimedia Interface,高清晰度多媒体接口)高清显示器,XY轴可移动底座、二维摄像头和三维摄像头。具体的,在将待测刷头放置在视频显微镜下的XY轴可移动底座上后,调整视频显微镜的二维模式工作参数,也就是说,首先是通过视频显微镜的二维摄像头对待测刷头进行观测,上述二维模式工作参数包括二维摄像头的放大倍数、二维摄像头的焦距以及XY轴可移动底座的位置等,以使调整后的视频显微镜在利用其二维摄像头拍摄待测刷头时,能够获取到每根刷丝的轮廓清晰可见的第一图像。
步骤S123,对调整后的视频显微镜的三维模式工作参数进行至少一次微调。
步骤S124,利用每次微调后的视频显微镜的三维摄像头对待测刷头进行拍摄,得到至少一张第二图像。
进一步的,为了能够准确的观察到每一根刷丝顶端的形态,在得到二维摄像头下清晰的第一图像后,切换视频显微镜的工作模式为三维模式,并调整视频显微镜的三维模式工作参数,也即,需要通过视频显微镜的三维摄像头对待测刷头进行观测,上述三维模式工作参数包括三维摄像头的放大倍数、三维摄像头的焦距以及XY轴可移动底座的位置等,鉴于目前市场上的牙刷刷丝并不是每根都一样长,由于其高低不同,所以景深不一致,现有技术中一组三维模式工作参数可能不足以让每根刷丝的顶端均立体清晰可见,所以需要通过灵活的调节视频显微镜的三维模式工作参数,每次微调后可拍摄一张部分刷丝顶端立体清晰可见的第二图像,多次调节得到多张第二图像,进而确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见。
在一个可选的实施方式中,上述步骤S14,基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数,具体包括如下内容:
利用预设计数应用程序对第一图像进行处理,得到待测刷头的刷丝总数。
通过上文中的描述可知,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,因此,相较于人工对刷丝总数进行统计,本发明实施例采用预设计数应用程序对第一图像进行处理,进而获得待测刷头的刷丝总数,并且上述预设计数应用程序在进行计数时,能够将每个已记录的刷丝进行标记,以使用户能够根据标记后的图像对刷丝总数进行校正,使得刷丝总数的准确度得以保证,且相较于人工计数也大大缩短了测试时间,提升了测试效率。
在一个可选的实施方式中,上述步骤S18,基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率,具体包括如下内容:
利用算式计算待测刷头的磨圆率,其中,f表示待测刷头的磨圆率,a表示不合格刷丝的数量,b表示刷丝总数。
具体的,若基于第一图像确定出待测刷头的刷丝总数为1000,基于第二图像确定出待测刷头中不合格刷丝的数量为200,那么将两者带入上述算式计算可知,待测刷头的磨圆率为80%。
综上所述,本发明实施例提供的刷头磨圆率测试方法,在对待测刷头进行磨圆率测试时,无需取下待测刷头上的刷丝,利用视频显微镜的二维摄像头和三维摄像头获取待测刷头的清晰图像(二维的第一图像,至少一张三维的第二图像),通过至少一张第二图像能够准确的观测刷丝顶端的磨圆情况,相比利用普通的仅具有二维摄像头的数码显微镜观测刷丝顶端的磨圆情况更加准确,也即,利用视频显微镜能够提高磨圆率测试结果的准确性;本发明实施例采用预设计数应用程序对第一图像进行处理,自动计算出刷丝总数,在保证方法实施不具破坏性的前提下,相比人工计数的方式大大缩短了测试时间,提升了测试的效率。
实施例二
本发明实施例还提供了一种刷头磨圆率测试装置,该刷头磨圆率测试装置主要用于执行上述实施例一所提供的刷头磨圆率测试方法,以下对本发明实施例提供的刷头磨圆率测试装置做具体介绍。
图3是本发明实施例提供的一种刷头磨圆率测试装置的功能模块图,如图3所示,该装置主要包括:获取模块10,第一确定模块20,第二确定模块30,第三确定模块40,其中:
获取模块10,用于获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,至少一张第二图像用于确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见。
第一确定模块20,用于基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数。
第二确定模块30,用于基于至少一张第二图像确定待测刷头中不合格刷丝的数量。
第三确定模块40,用于基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率。
现有技术中,必须将待测刷头的整束刷丝取下才能进行刷头磨圆率的测试,因此,现有的刷头磨圆率测试方法是破坏性的,测试结束的刷头已经不能使用,造成了资源浪费。与现有技术相比,本发明提供的刷头磨圆率测试装置,包括:获取模块10,用于获取待测刷头的第一图像和至少一张第二图像,其中,第一图像上待测刷头的每根刷丝的轮廓清晰可见,至少一张第二图像用于确保待测刷头的每根刷丝的顶端立体清晰可见;第一确定模块20,用于基于第一图像确定待测刷头的刷丝总数;第二确定模块30,用于基于至少一张第二图像确定待测刷头中不合格刷丝的数量;第三确定模块40,用于基于不合格刷丝的数量和刷丝总数确定待测刷头的磨圆率。本发明装置在对待测刷头进行磨圆率测试时,无需取下刷丝,通过对待测刷头的第一图像和至少一张第二图像进行处理,即可确定待测刷头的磨圆率,没有破坏性且测试结束的刷头仍可继续使用,缓解了现有技术中的刷头磨圆率测试方法存在的资源浪费的技术问题。
可选的,获取模块10包括:
调整单元,用于调整视频显微镜的二维模式工作参数。
第一拍摄单元,用于利用调整后的视频显微镜的二维摄像头对待测刷头进行拍摄,得到第一图像。
微调单元,用于对调整后的视频显微镜的三维模式工作参数进行至少一次微调。
第二拍摄单元,用于利用每次微调后的视频显微镜的三维摄像头对待测刷头进行拍摄,得到至少一张第二图像。
可选的,第一确定模块20具体用于:
利用预设计数应用程序对第一图像进行处理,得到待测刷头的刷丝总数。
可选的,第三确定模块40具体用于:
利用算式计算待测刷头的磨圆率,其中,f表示待测刷头的磨圆率,a表示不合格刷丝的数量,b表示刷丝总数。
实施例三
参见图4,本发明实施例提供了一种电子设备,该电子设备包括:处理器60,存储器61,总线62和通信接口63,所述处理器60、通信接口63和存储器61通过总线62连接;处理器60用于执行存储器61中存储的可执行模块,例如计算机程序。
其中,存储器61可能包含高速随机存取存储器(RAM,RandomAccessMemory),也可能还包括非不稳定的存储器(non-volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。通过至少一个通信接口63(可以是有线或者无线)实现该系统网元与至少一个其他网元之间的通信连接,可以使用互联网,广域网,本地网,城域网等。
总线62可以是ISA总线、PCI总线或EISA总线等。所述总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图4中仅用一个双向箭头表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
其中,存储器61用于存储程序,所述处理器60在接收到执行指令后,执行所述程序,前述本发明实施例任一实施例揭示的流过程定义的装置所执行的方法可以应用于处理器60中,或者由处理器60实现。
处理器60可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器60中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器60可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)、网络处理器(Network Processor,简称NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessing,简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器,闪存、只读存储器,可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器61,处理器60读取存储器61中的信息,结合其硬件完成上述方法的步骤。
本发明实施例所提供的一种刷头磨圆率测试方法、装置和电子设备的计算机程序产品,包括存储了处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读存储介质,所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法,具体实现可参见方法实施例,在此不再赘述。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外,术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂,而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平,并不是表示该结构一定要完全水平,而是可以稍微倾斜。
在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。