CN111879247B - 一种测量轴孔规格的装置 - Google Patents
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Abstract
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置,其中,包括:多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头;多个反光镜,多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端,所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度,所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。本发明所述装置基于光谱共焦原理即可实现对不同规格轴孔的内径或外径的测量,且测量精度高,操作简便。
Description
技术领域
本发明涉及尺寸测量技术领域,尤其涉及的是一种测量轴孔规格的装置。
背景技术
目前,对于轴孔内径或外径的测量采用的测量方式分为接触式和非接触式,其中,接触式的仪器包括:塞规、千分尺、卡尺等,此种方式适用于对精度要求低的工件,且工件的规格不能过小,在进行测量时需人工手动操作仪器进行测量,会存在人工误差,难以保证测量精度;非接触式方法包括:气动测量和电容式测量方法等,此种方法适用于对精度要求高的工件,其中,气动测量方法对供气要求高,且仪器响应时间长,不利于快速测量,且操作繁琐;而电容式测量方法易受到外界环境的干扰,进而影响测量结果。
可见,以上用于测量轴孔内径或外径的方式存在测量精度与测量速率难以兼顾的问题。
因此,现有技术存在缺陷,有待改进与发展。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种测量轴孔规格的装置,旨在解决现有技术中的在进行轴孔内径或外径测量时,现有的测量工具难以兼顾测量精度与测量速率的问题。
本发明解决技术问题所采用的技术方案如下:
一种测量轴孔规格的装置,其中,包括:
多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头;
多个反光镜,多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端,所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度,所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角;
所述装置还包括支撑结构,所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜;不相邻反光镜之间相贯通;
当所述预设角度为钝角时,在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第一通孔;
当所述预设角度为锐角时,在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第二通孔。
进一步地,所述预设角度为钝角,所述装置还包括支撑结构,所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜;
所述支撑结构上与所述镜面相对的位置上均开设有第一通孔。
能够实现对单个被测轴孔的内径进行测量,且测量精度高,操作简单。
进一步地,所述预设角度为锐角,所述装置还包括支撑结构,所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜;
不相邻反光镜之间相贯通,在所述支撑结构与所述镜面相对的位置上均开设有第二通孔。
进一步地,所述支撑结构上开设有所述第一通孔和第二通孔;
所述装置还包括嵌于所述支撑结构中的另一反光镜,所述另一反光镜的镜面背对所述反光镜设置,且与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈所述预设角度。
进一步地,所述反光镜与所述支撑结构活动连接,当转动所述反光镜至所述预设角度为钝角时,所述反光镜的镜面与所述第一通孔相对;
当转动所述反光镜至所述预设角度为锐角时,所述反光镜的镜面与所述第二通孔相对。
进一步地,所述支撑结构中还嵌入有反光镜支撑座,所述反光镜支撑座上设置的斜面与所述光谱共焦传感器探头和所述镜面相对,所述反光镜贴于所述斜面上。
进一步地,不相邻反光镜之间开设有桥洞。
进一步地,所述支撑结构为环形。
进一步地,所述光谱共焦传感器探头设置有两个。
能够实现对多种规格的轴孔进行内径测量,或者外径测量,提高了本发明所述的测量轴孔规格的装置使用灵活性与测量效率,且保证了测量精度与简便性。
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置,其中,包括:多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头;多个反光镜,多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端,所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度,所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。本发明所述装置基于光谱共焦原理即可实现对不同规格轴孔的内径或外径的测量,且测量精度高,操作简便;且能够被配置为同时测量不同规格的轴孔的内径或外径,提高了本发明所述装置的使用灵活性。
附图说明
图1是本发明中第一实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的剖视图。
图2是本发明中第一实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。
图3是本发明中第二实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的剖视图。
图4是本发明中第二实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。
图5是本发明中第三实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。
标注说明:10、光谱共焦传感器探头;20、反光镜支撑座;30、反光镜;40、第一通孔;50、支撑结构;60、第二通孔;70、另一被测轴孔;80、被测轴孔。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明基于光谱共焦原理设计了一种测量轴孔规格的装置,所述装置能够测量轴孔的内径或者外径。其中,光谱共焦原理为:控制器发射出一束宽光谱的复色光(呈白色)通过光纤传入至光谱共焦传感器探头中,探头上的色散镜头将复色光折射成多束单色光。每一个波长的单色光的焦点都对应一个距离值。当单色光射到轴孔内径或外径表面被反射回来,只有满足共焦条件的单一颜色的光可以被光谱共焦传感器探头感测到,最后进入控制器中的光谱仪进行波长分析以确定轴孔的位置。通过计算被感测到的焦点的波长,将波长换算成光谱共焦探头至轴孔内径或外径的距离,进而可以得到轴孔的内径或外径尺寸。
使用光谱共焦原理进行测量能够保证测量精度达到微、纳米级,且对被测轴孔表面状况要求较低,同时,也可允许被测轴孔表面有较大的倾斜角度,能够实现对被测轴孔的精准测量。
而本发明则通过对光谱共焦传感器探头进行设置,以实现使用光谱共焦传感器探头进行轴孔内径或外径的测量,由于本发明所述的装置并未涉及到对控制器以及光谱仪的改进,故而,本发明所述的结构并未对于光谱共焦传感器探头连接的控制器和光谱仪进行描述,可以理解地,通过本发明所述的光谱共焦传感器探头即可直接表示与其相连接的控制器和光谱仪的工作原理,且由于光谱共焦原理为现有技术,故而,在以下的描述中并不进行赘述。
本发明提供了一种测量轴孔规格的装置,所述装置包括:多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头10;
多个反光镜30,多个所述反光镜30分别设于每个光谱共焦传感器探头10的底端,所述反光镜30的镜面与所述光谱共焦传感器探头10的轴向呈预设角度,所述预设角度为所述镜面与所有反光镜30围成的中轴之间的夹角。
具体地,通过反光镜30将从光谱共焦传感器探头10所发出的测量光进行反射,以使反射光照射到轴孔的内径壁或外径壁上,进而实现对轴孔的测量。
本发明所述装置既可以用来测量轴孔的内径,也可以用来测量轴孔的外径,由于基于本发明构思所能够实现测量轴孔内径或外径的结构有多种类型,当然地,所述光谱共焦传感器探头10也可设置为两个、三个或三个以上,此处并不做过限定,在以下描述中以设置为两个或三个进行举例说明,以解释本发明所述装置。以下仅举例说明本发明所提供的测量轴孔规格的装置的三种方案,可以理解地,本发明所述装置并不限于三种方案的举例,凡是具有本发明构思所设计的测量轴孔规格的装置或者基于本发明所述装置进行的改进,均属于本发明所要求的保护范围。
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置,其中,第一个实施例中所表现的结构如图1所示,所述测量轴孔规格的装置包括:
光谱共焦传感器探头10,所述光谱共焦传感器探头10设置有多个、且相互连接,多个光谱共焦传感器探头10之间相互连接;
反光镜30,所述反光镜30分别设置于所述光谱共焦传感器探头10的底端,与所述光谱共焦传感器探头10呈预设角度,且所有反光镜30的镜面以其所围成的中心为参照背离设置。
具体地,所述光谱共焦传感器探头10的放置方位是竖直朝下的,反光镜30与光谱共焦传感器探头10是呈预设夹角的,在进行测量时,如图2所示,是将所述光谱共焦传感器探头10和反光镜30全部放置于被测轴孔80的内径中进行测量的,或者,将被测轴孔80套设于与所有反光镜30镜面相对的位置,可以理解地,所述光谱共焦传感器探头10与所述反光镜30可以相互连接,也可以分别通过其他元件固定,此处并不做过多限定。当被测轴孔80处于所有反光镜30所围成区域内时,所有反光镜30是朝向被测轴孔80的内径的,即所述预设角度为钝角。既知的是,光谱共焦传感器探头10的尺寸是微小的,故而,本发明所述装置能够适应绝大多数任意规格的轴孔的尺寸测量。需要说明的是,此实施例中部分解释也同样适用于下文中第二个实施例和第三个实施例的相关描述。
其中,所述反光镜30用于将从所述光谱共焦传感器探头10中的散射光反射至被测轴孔80内径壁上,当光照射在被测轴孔80内径壁上之后则按照原光路返回,以通过反光镜30回到光谱共焦传感器探头10中,通过光谱共焦传感器探头10感测所反射的光,进而得知光谱共焦传感器探头10至被测轴孔80内径壁的距离,而所述光谱共焦传感器探头10设置有多个,可以同时感测其到被测轴孔80内径壁不同位置的距离,进而通过对多个距离和对应的多个波长进行分析,即可得到被测轴孔80的内径尺寸,其中,若不同光谱共焦传感器探头10感测到的波长一样,则说明其到被测轴孔80内径壁的距离均一样。
进一步地,当被测轴孔80内径呈规则的圆柱状时,被测轴孔80的横截面皆相同,故而,所有光谱共焦传感器探头10的底端可不在同一水平面上,所有反光镜30也可不共面;而当被测轴孔80内径沿其轴线不规则变化时,则要求所有光谱共焦传感器探头10的底端在同一平面内,所有反光镜30共面。由于不同的被测轴孔80结构的差异,进而可对本实施例所述装置进行诸多的改进,需要说明的是,凡是基于本实施例所作出的改进均属于本发明所要求的保护范围。以下以被测轴孔80的内径呈规则的圆柱状时,采用本实施例所述装置进行测量的方式进行解释说明,可以理解地,对于不规则内径的测量方式也同样参照此种方式,具体不再详述。
具体地,测量及分析方式为:当得知光谱共焦传感器探头10到被测轴孔80内径壁的距离,即可得知对应被测轴孔80内圆上测量点的分布,测量点均分布在轴孔内圆的圆周上,当得知内圆圆周上至少三个点,则可采用三点定圆的原理得知内圆半径,进而得知被测轴孔80内径;而当测量点较少时,可通过在被测轴孔80中以同一基圆面平移所述装置,以采集到足够多的测量点;当然地,当在同一基圆面内旋转所述装置一周时,即可采集到被测轴孔80内圆的周长。
在一具体实施例中,在所述光谱共焦传感器探头10的底端还分别设置有反光镜支撑座20,所述反光镜支撑座20用于支撑所述反光镜30,所述反光镜支撑座20靠近所述光谱共焦传感器探头10的一面被设置为斜面,所有斜面以其所围成的中心为参照背离设置,所述反光镜30贴于所述斜面上,故而,所述反光镜30与所述光谱共焦传感器探头10也呈预设角度。
具体地,所述反光镜支撑座20的斜面与光谱共焦传感器探头10呈45°夹角,以使得从所述光谱共焦传感器探头10所发出的测量光到达反光镜30上之后,以平行光反射到被测轴孔80内径表面,其中,所述平行光与所述被测轴孔80内径基圆面平行。当然地,所述反光镜支撑座20斜面与光谱共焦传感器探头10之间的夹角并不局限于45°,可设置为其他任意角度,但所有反光镜支撑座20与光谱共焦传感器探头10间的夹角需一致,只要能够保证从光谱共焦传感器探头10所发出的光经反光镜30之后到达被测轴孔80内径表面即可,此处并不做过多限制,只要调整的角度能够使得被测轴孔80内径壁处于光谱共焦传感器探头10的测量范围内即可。
在一具体实施例中,多个光谱共焦传感器探头10通过支撑结构50相连接,在所述支撑结构50中还嵌入有所述光谱共焦传感器探头10的底端、反光镜支撑座20及贴于反光镜支撑座20斜面上的反光镜30,对应地,在所述支撑结构50上、与所述反光镜30的镜面相对的位置上开设有第一通孔40,通过第一通孔40可将由反光镜30所反射的光照射到被测轴孔80内径壁上,同时使被测轴孔80内径壁上的光被反射以按照原路返回至光谱共焦传感器探头10端。
具体地,第一通孔40开设于支撑结构50上嵌有所述反光镜支撑座20和反光镜30的一端,第一通孔40的位置与所述反光镜30的镜面相对,以实现经过所述反光镜30所反射的光能够通过第一通孔40,而第一通孔40的大小此处并不做过多限定,只要保证能够使光通过,且不在第一通孔40所形成的内壁上造成反射即可。
通过设置支撑结构50,以使得反光镜支撑座20与光谱共焦传感器探头10对应连接,能够起到固定反光镜30的作用,且便于在被测轴孔80中移动所述装置,以获取更多的测量点,提高测量的准确率和测量效率。
可以理解地,在该实施例中,所述光谱共焦传感器探头10设置有多个,可沿所述支撑结构50外缘间隔排列,而所述支撑结构50的形状此处并不做过多限定,只要能够保证多个光谱共焦传感器探头10的底端处于同一水平面即可。当然地,所述光谱共焦传感器探头10也可设置为两个,分置于支撑结构50的两端,以通过支撑结构50背对连接,进而实现分别发出背离的两束光线至被测轴孔80内径壁上,且当光谱共焦传感器探头10设置为两个时,则仅有被测轴孔80内径的基圆面上的两个测量点,为获取更多测量点则需要沿基圆面平移所述装置,或者使装置经过所述被测轴孔80的轴线,以将所测量的最大值作为被测轴孔80的内径。
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置,用于测量轴孔内径或外径,其中,第二个实施例中所表现的结构如图3和图4所示,所述测量轴孔规格的装置包括:
光谱共焦传感器探头10,所述光谱共焦传感器探头10设置有多个、且相互连接,多个光谱共焦传感器探头10相互平行;
反光镜30,分别设于每个光谱共焦传感器探头10的底端,与所述光谱共焦传感器探头10呈预设角度,所有反光镜30的镜面被设置为以其所围成的中心为参照背离所围成的中心或靠近所围成的中心。
在一具体实施例中,所述装置还包括:反光镜支撑座20,分别设置于所述光谱共焦传感器探头10的底端,且靠近所述光谱共焦传感器探头10的面被设置为斜面,所述斜面与光谱共焦传感器探头10呈预设角度;所述反光镜30贴于所述斜面上。
具体地,所有反光镜支撑座20的斜面被设置为以其所围成的中心为参照背离所围成的中心或靠近所围成的中心,即所述预设角度为锐角,所述反光镜30贴于所述斜面上,在进行测量时,所述斜面朝向被测轴孔80内径,所述装置可用于测量轴孔的内径,或者,所述斜面被设置为朝向另一被测轴孔70外径时,所述装置则用于测量轴孔的外径。此处测量轴孔外径或者内径的原理与上述第一个实施例相同,此处并不赘述,再则,测量方式也与上述雷同,也以上述实施例作为参考,本实施例中也不对其进行详细描述,只需说明的是,本实施例对所述装置能够实现测量轴孔的内径或外径。
在一具体实施例中,多个光谱共焦传感器探头10通过支撑结构50连接,所述支撑结构50中嵌入有所述光谱共焦传感器探头10的底端、反光镜支撑座20和反光镜30。
进一步地,所述斜面的设置方式有多种,以下列举三种实施例进行解释说明:
1)所述斜面仅有一个,被设置成朝向另一被测轴孔70的外径,不相邻反光镜支撑座20之间开设桥洞,在所述桥洞的两个侧壁上均开设有第二通孔60,所述第二通孔60与所述反光镜30的镜面相对。
在具体使用时,将另一被测轴孔70放置于所述桥洞中,或者将所述装置套在另一被测轴孔70外围,通过所述第二通孔60即可实现从所述光谱共焦传感器探头10所反射出的光照射在另一被测轴孔70的外径壁上,进而实现对另一被测轴孔70外径的测量。
可以理解地,每一组光谱共焦传感器探头10、反光镜支撑座20和反光镜30均独立设置,所有组之间形成有容纳空间,以即上述的桥洞以放置另一被测轴孔70。而轴孔外径的测量方式可参见上述第一实施例中对待测轴孔80内径的测量,此处不再赘述。
2)当所述斜面仅有一个时,也可将所述反光镜支撑座20设置为可绕所述光谱共焦传感器探头10旋转,以实现当将另一被测轴孔70放置于所述桥洞中时用于测量该另一被测轴孔70的外径,而将所述装置放置于待测轴孔80的内径中时,以用于测量该待测轴孔80的内径。
具体地,所述反光镜支撑座20与所述支撑结构50活动连接;
当所述反光镜支撑座20带动所述反光镜30处于与所述第一通孔40和光谱共焦传感器探头10相对的位置时,所述装置用于测量被测轴孔80的内径,此时,所述反光镜30被设置为与被测轴孔80的内径相对;
在所述支撑结构50上、与所述反光镜30相对且背离所述第一通孔40的一端开设有第二通孔60;当所述反光镜支撑座20带动所述反光镜30处于与所述第二通孔60和光谱共焦传感器探头10相对的位置时,所述装置用于测量另一被测轴孔70的外径,此时,所述反光镜30被设置为与另一待测轴孔70的外径相对。
可以理解地,此种结构实现了以所述支撑结构50为中心,在所述支撑结构50上靠近所述反光镜支撑座20的两端分别开设了第一通孔40与第二通孔60,其中,所有第二通孔60朝向所述支撑结构50的中心,而所有第一通孔40以所述支撑结构50的中心为基准向支撑结构50的四周扩散。
当然地,此种方式的设置可实现对一个被测轴孔80的内径的测量,也可实现对另一被测轴孔70外径的测量,两个被测轴孔一定不为同一规格;也可以实现同时对两个被测轴孔进行测量,分别测量其内径和外径,其两个被测轴孔也一定不为同一规格,只要分别连接光谱分析仪即可实现,此处不做详述。
此种方式实现了本发明所述装置的灵活运用,使得所述装置的适用性更加广泛。
3)当所述斜面包括第一斜面和第二斜面时,第一斜面和第二斜面呈倒V形,所述第二斜面与第一斜面背对设置;其中,在进行测量时,所述第一斜面被设置成朝向被测轴孔80的内径,所述第二斜面被设置成朝向另一待测轴孔70的外径;对应地,所述反光镜支撑座20上还设置有另一反光镜,所述另一反光镜贴于所述第二斜面上;在所述支撑结构50上与所述另一反光镜的镜面相对的位置上均开设有第二通孔60。
通过所述第二通孔60和另一反光镜,可实现将从所述光谱共焦传感器探头10所发出的测量光线反射到另一被测轴孔70的外径壁上,进而实现对另一被测轴孔70外径的测量。
而内径的测量方式与外径的测量方式相同,可参照上述第一实施例中测量轴孔内径的方式,此处并不做过多解释。
可以理解地,本实施例中所述光谱共焦传感器探头10可设置为多个,以沿所述支撑结构50外缘间隔排列,而所述支撑结构50的形状此处并不做过多限定,只要能够保证多个光谱共焦传感器探头10的底端处于同一水平面即可。当然地,所述光谱共焦传感器探头10可以设置为两个,两个反光镜支撑座20之间开设有桥梁,以用于容置另一被测轴孔70,同时,也可将整个装置放置于待测轴孔80的内径中,以测量待测轴孔80的内径。
在进一步具体实施例中,在所述支撑结构50上还开设有滑动槽,多个光谱共焦传感器探头10置于所述滑动槽中,以带动同一组的反光镜支撑座20及反光镜30沿滑动槽滑动,进而调节每组之间的距离。
具体地,可通过螺丝或螺栓等方式实现对不同组光谱共焦传感器探头10的卡紧与松弛,由于此种固定方式为现有技术,此处不再详述。可以理解地,通过调节光谱共焦传感器探头10之间的距离,能够实现对同一个轴孔的内径或外径的测量,进而得到该轴孔的壁厚。
本发明所提供的一种测量轴孔规格的装置,用于测量轴孔的内径或外径,其中,第三个实施例中所表现的结构如5图所示,所述测量轴孔规格的装置包括:
光谱共焦传感器探头10,所述光谱共焦传感器探头10设置有多个、且环形排列连接,多个光谱共焦传感器探头10相互平行;
反光镜支撑座20,分别设于每个光谱共焦传感器探头10的底端,与所述光谱共焦传感器探头10相对的面为斜面,所述反光镜支撑座20可相对所述光谱共焦传感器探头10转动,在进行测量时,以实现所述斜面朝向被测轴孔的内径或外径;
反光镜30,贴于所述斜面上。
具体地,当在测量被测轴孔80内径时,将所述装置放置于所述轴孔内,同时,将所述反光镜支撑座20进行旋转,以使其朝向被测轴孔80内径壁,进而实现对被测轴孔80内径的测量;当在测量另一被测轴孔70外径时,将另一被测轴孔70放置于环形排列的光谱共焦传感器探头10内环中,同时,将所述反光镜支撑座20进行旋转,以使其朝向另一被测轴孔70外径壁,进而实现对另一被测轴孔70外径的测量。
在一具体实施例中,多个光谱共焦传感器探头10通过环形的支撑结构50连接,所述支撑结构50中嵌入有所述光谱共焦传感器探头10的底端、反光镜支撑座20及反光镜30;所述支撑结构50的内环和外环上与所述反光镜支撑座20斜面相对的位置上分别开设有第二通孔60和第一通孔40。
通过所述第一通孔40和第二通孔60能够实现将从光谱共焦传感器探头10所射出的测量光导通到一个被测轴孔80的内径壁上,或者另一待测轴孔70的外径壁上。
当然地,此处所述光谱共焦传感器探头10可设置为两个,则两个分别设置于所述支撑结构50的两端;也可将所述光谱共焦传感器探头10设置为三个,以沿环形支撑结构50均匀排列,实现一次性可测量得到一个被测轴孔80的内径,或者另一被测轴孔70的外径。当然地,当所述光谱共焦传感器探头10至少被设置为四个时,不相邻的组别之间反光镜支撑座20的朝向相同,以实现同时对两个不同规格轴孔的内径或外径进行分别测量,并不需要频繁切换反光镜支撑座20的朝向,节省了测量时间。
当然地,也可将所述斜面设置为第一斜面和第二斜面,对应在所述第二斜面上增设另一反光镜,而具体的实施方式与上述实施例所提及的相同,此处并不做过多解释。
可以理解地,上述三种实施例均对本发明所述装置用于在测量轴孔内径或外径时进行了举例说明,本发明所述装置也可测量轴孔表面的圆度,且可测量不规则物体表面的轮廓,其测量方式与测量轴孔内径或外径的方式雷同,此处不再赘述。当然地,还需说明的是,本发明中所述的被测轴孔80和另一被测轴孔70仅用于在分别对轴孔外径或内径进行测量时方便其相对位置的描述,其并不为同一个轴孔的指代。
综上所述,本发明公开的一种测量轴孔规格的装置,实现了在不接触轴孔表面即可完成对轴孔内径或外径的测量,避免了人工误差,保证了测量精度,且该装置在使用时并不会损坏轴孔的表面,能够保证轴孔表面的完整性,且能够实现对多种规格轴孔的测量,提高了该装置的利用率。
应当理解的是,本发明的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (7)
1.一种测量轴孔规格的装置,其特征在于,包括:
多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头;
多个反光镜,多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端,所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度,所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角;所述装置还包括支撑结构,所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜;不相邻反光镜之间相贯通;
当所述预设角度为钝角时,在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第一通孔;
当所述预设角度为锐角时,在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第二通孔。
2.根据权利要求1所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,所述支撑结构上开设有所述第一通孔和第二通孔;
所述装置还包括嵌于所述支撑结构中的另一反光镜,所述另一反光镜的镜面背对所述反光镜设置,且与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈所述预设角度。
3.根据权利要求2所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,
所述反光镜与所述支撑结构活动连接,当转动所述反光镜至所述预设角度为钝角时,所述反光镜的镜面与所述第一通孔相对;
当转动所述反光镜至所述预设角度为锐角时,所述反光镜的镜面与所述第二通孔相对。
4.根据权利要求2-3任一项所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,
所述支撑结构中还嵌入有反光镜支撑座,所述反光镜支撑座上设置的斜面与所述光谱共焦传感器探头和所述镜面相对,所述反光镜贴于所述斜面上。
5.根据权利要求1-3任一项所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,不相邻反光镜之间开设有桥洞。
6.根据权利要求2-3任一项所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,所述支撑结构为环形。
7.根据权利要求1-3任一项所述的测量轴孔规格的装置,其特征在于,所述光谱共焦传感器探头设置有两个。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010767207.7A CN111879247B (zh) | 2020-08-03 | 2020-08-03 | 一种测量轴孔规格的装置 |
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Publications (2)
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---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111879247B (zh) |
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