CN111868506A - 检查装置、ptp包装机与检查方法 - Google Patents

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Abstract

提供可谋求抑制检查精度的降低的检查装置、PTP包装机和检查方法，该检查利用分光分析来进行。检查装置(45)包括：照明装置(52)，该照明装置(52)可对接纳于容器膜(3)的袋部(2)中的片剂照射近红外光；摄像装置(53)，该摄像装置(53)可对从该片剂反射的反射光进行分光，对其进行摄像，检查装置(45)按照根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据，针对该片剂进行利用分光分析的异常品种混入检查的方式构成。检查装置(45)在进行检查的在前阶段，可将从照明装置(52)而照射到规定的散射因素而产生的散射光所造成的合格片剂相关的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握。另外，在进行检查时，根据上述散射数据，对被检查片剂进行摄像而获得的光谱数据进行补偿。

Description

检查装置、PTP包装机与检查方法
技术领域
本发明涉及采用分光分析进行异常品种片剂的混入检查等的检查装置、PTP包装机和检查方法。
背景技术
一般，作为用于医药品等的领域的泡罩片，人们知道有PTP(泡罩)片。
PTP片由容器膜与罩面膜构成，在该容器膜中形成填充有片剂等的内容物的袋部，该罩面膜按照密封袋部的开口侧的方式安装于该容器膜上。容器膜由比如透明树脂材料等构成，罩面膜由比如铝箔等构成。
在制造PTP片时，进行检查异常品种片剂的混入的异常品种混入检查等。作为该检查的方式，人们知道有利用分光分析的方法(比如，参照专利文献1)。
在该专利文献1中公开有下述的方法，在该方法中，在于袋部中接纳内容物，在容器膜上安装罩面膜之后，经由袋部(容器膜)，对内容物照射近红外光，通过分光器对其反射光进行分光，根据对其进行摄像而获得的图像数据进行分析处理(主成分分析)，由此，检查内容物。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：JP特开2010－172672号公报
发明内容
发明要解决的课题
但是，像图21所示的那样，在照射到接纳于PTP片80(容器膜81)的袋部82中的内容物83上的照射光L0中，不仅包括从光源透过袋部82直接照射到内容物83上的主照射光L1，而且包括由构成散射因素的罩面膜84等反射后，在袋部82的内面上反射，照射到内容物83的表面上的散射光L2、通过像导光板那样工作的袋部82(容器膜81)照射到内容物83的表面上的散射光L3等。
在没有由罩面膜84等的散射因素反射，而直接地照射到内容物83上的主照射光L1与在暂时由罩面膜84等的散射因素反射后，照射到内容物83上的散射光L2、L3中，其光量、波长特性不同。
对于比如直接地照射到内容物83上的主照射光L1，在各PTP片80和各袋部82中，形成光量的参差不齐程度小而光量稳定，各波长频带的光谱强度较均匀的波长特性(参照图22的(a))。
相对该情况，对于散射光L2、L3，因来自罩面膜84等的散射因素的反射量、各袋部82的形状、厚度的误差等，其光量、波长特性针对PTP片80和各袋部82的每个而有较大的参差不齐(参照(图22的(b))。由此，主照射光L1和散射光L2、L3合成的照射光L0的光量、波长特性均针对各PTP片80和各袋部82中的每个而参差不齐(参照图22的(c))。
在像这样，针对各PTP片80和各袋部82中的每个而不同的照射光L0照射到内容物83的场合，即使在为同一的内容物83的情况下，对各内容物83进行摄像而获得的分光分析结果(光谱数据)产生参差不齐。
其结果是，具有在于PTP片80(容器膜81)的袋部82中接纳内容物83的状态，该内容物83的判断困难，检查精度降低的危险。
另外，像专利文献1那样，即使在为按照重力使内容物移动到与袋部的一部分接触的位置，从内容物接触于袋部的一部分上的该抵接面侧，经由袋部对内容物照射近红外光的方案的情况下，像上述散射光L3那样，即使在袋部(容器膜)中，仍从导光板中通过的方式通过的光照射到与内容物的袋部的抵接物侧，会产生上述同样的不佳情况。
本发明是针对上述情况而提出的，本发明的目的在于，提供可谋求抑制利用分光分析的检查所相关的检查精度的降低的检查装置、PTP包装机和检查方法。
用于解决课题的技术方案
在下面，针对适合于解决上述课题的各技术方案，分段地进行说明。另外，根据需要，在对应的技术方案后面附有特有的作用效果。
技术方案1.涉及一种检查装置，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构可对规定的对象物照射近红外光；
分光机构，该分光机构可对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构可对通过上述分光机构分光的上述反射光所相关的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构可根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；
分析机构，该分析机构可根据上述光谱数据，进行规定的分析处理(比如主成分分析)；
该检查装置在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查(比如，异常品种混入检查)，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物(比如片剂)，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合，
其特征在于，该检查装置包括：
散射数据把握机构，该散射数据把握机构在至少进行上述检查的前阶段，可将从上述照射机构照射到规定的散射因素(比如罩面膜等)而产生的散射光所造成的上述内容物所相关的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握；
补偿机构，该补偿机构根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指，在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合所使用的判断值。
按照上述技术方案1，在进行利用分光分析的异常品种混入检查等时，针对对被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，在基本排除散射光的影响的状态，进行是否合格的判断。
其结果是，即使在于容器膜的袋部中接纳内容物的状态的情况下，该内容物的稳定的分光分析仍是可能的，可谋求抑制检查精度的降低。
技术方案2.涉及技术方案1所述的检查装置，其特征在于，上述散射数据把握机构按照可进行下述处理的方式构成，该处理包括：
获得在接纳于上述袋部中的状态被摄像的多个合格内容物的光谱数据的处理；
根据上述多个合格内容物的光谱数据，指定没有上述散射光的影响或该影响小的第1光谱数据的处理；
根据上述多个合格内容物的光谱数据，指定具有上述散射光的影响或该影响大的第2光谱数据的处理；
根据上述第1光谱数据与上述第2光谱数据的差，指定上述散射数据的处理。
按照上述技术方案2，根据对实际上接纳于袋部中的内容物进行摄像而获得的光谱数据，指定散射数据。由此，由于比如实际上没有照射到内容物上的散射光造成的光谱数据等的以必要程度以上的程度而多余的信息没有包含在散射数据中，故可谋求检查精度的提高。
另外，可将多个合格内容物的光谱数据中的光谱强度较大的数据推定为散射光造成的光谱数据被包含很多的上述第2光谱数据。
于是，比如将多个合格内容的光谱数据的平均值作为上述第1光谱数据而指定，并且将超过它的数据作为上述第2光谱数据而指定，由此，可将这些数据的差作为上述散射数据而指定。
技术方案3.涉及技术方案1或2所述的检查装置，其特征在于：
上述补偿机构按照在进行上述补偿时，可进行下述的处理的方式构成，该处理包括：
将上述散射数据与规定的系数相乘的处理；
从对上述被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据中扣除上述相乘而获得的值的处理；
将通过上述扣除而获得的值与上述第1光谱数据的差最小的上述系数作为补偿系数而指定的处理；
根据上述补偿系数和上述散射数据，对摄像上述被检查内容物而获得的光谱数据进行补偿的处理。
按照上述技术方案3，由于指定对被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据所适合的补偿系数，进行补偿，故可谋求检查精度的提高。
技术方案4.涉及技术方案1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，上述照射机构设置于可越过上述袋部，对上述内容物照射近红外光的位置；
上述摄像机构设置于可越过上述袋部对来自上述内容物的反射光所相关的分光光谱进行摄像的位置。
在上述技术方案4的方案的条件下，容易产生在上述课题中描述的那样的不合格状况。于是，在上述技术方案4的方案中，上述技术方案1等的作用效果更加有效。
技术方案5.一种PTP包装机，该PTP包装机用于制造PTP片，在该PTP片中，在容器膜所形成的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该PTP包装机包括；
袋部形成机构，该袋部形成机构在呈带状运送的上述容器膜上形成上述袋部；
填充机构，该填充机构在上述袋部中填充上述内容物；
安装机构，该安装机构对上述袋部中填充有上述内容物的上述容器膜，按照密封上述袋部的方式安装带状的上述罩面膜；
切分机构(以片单位而冲压的冲压机构)，该切分机构从于上述容器膜上安装有上述罩面膜的带状体(带状的PTP膜)上切分上述PTP片；
技术方案1～4中任一项所述的检查装置。
像上述方案5那样，通过在PTP包装机中设置上述技术方案1等的检查装置，具有在PTP片的制造过程中，可以合格的精度排除包括异常品种的不合格品的等的优点。另外，还可形成PTP包装机包括排出通过上述检查装置判定为不合格的PTP片的排出机构的方案。
在这里，在上述技术方案5中，还可形成下述的方案，其中，上述检查装置设置于“通过填充机构在袋部中填充内容物的在后步骤，并且通过安装机构安装罩面膜的前步骤”。在该场合，可在没有遮挡物的状态进行检查，可谋求各自的内容物的检查精度的提高。
还有，即使在该场合，比如在容器膜由遮光材料(比如铝等的金属材料、不透明树脂材料等)形成的场合，仍具有通过袋部的内面反射的光构成散射光，对检查产生影响的危险。
另一方面，即使在容器膜由透明树脂材料形成的情况下，仍具有位于其背景部分的运送机构等的散射因素所反射的光构成散射光，对检查造成影响的危险。
另外，也可形成针对上述技术方案5，将上述检查装置设置于“通过安装机构在安装罩面膜的后步骤，并且通过切分机构切分PTP片的前步骤”的方案。在该场合，可在替换内容物的状态进行检查，可谋求检查精度的提高。另外，也可在该方案中，从内容物没有与袋部接触的一侧进行摄像，进行检查。
另外，还可针对上述技术方案5，将上述检查装置设置于“通过切分机构切分PTP片的后步骤”的方案。在该场合，可在最终阶段中，确认是否混合不合格品。
技术方案6.涉及一种检查方法，该检查方法采用下述检查装置，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构能对规定的对象物照射近红外光；
分光机构，该分光机构可对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构可对通过上述分光机构分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构可根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；
分析机构，该分析机构可根据上述光谱数据进行规定的分析处理(比如，主成分分析)，
同时，在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查(比如，异常品质混入检查)，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物(比如，片剂)，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合，
其特征在于，该方法包括：
散射数据把握步骤，在该散射数据把握步骤中，至少在进行上述检查的前阶段，可将散射光造成的上述内容物的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握，该散射光因从上述照射机构而照射到规定散射因素(比如罩面膜等)而产生；
补偿步骤，在该补偿步骤中，根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合所采用的判断值。
按照上述技术方案6，实现与上述技术方案1相同的作用效果。
附图说明
图1的(a)为表示PTP片的立体图，图1的(b)为表示PTP膜的立体图；
图2为PTP片的袋部的部分放大剖视图；
图3为PTP包装机的外观结构的模式图；
图4为表示检查装置的电气结构的方框图；
图5为以模式方式表示检查装置的配置结构的立体图；
图6为表示摄像装置的外观结构的模式图；
图7为表示测定程序的流程图；
图8为表示投射于成像元件上的分光光谱的模式图；
图9为用于说明运送方向摄像范围与片剂等的关系的说明图；
图10为表示光谱图像的模式图；
图11为表示分析对象指定程序的流程图；
图12为用于说明运送方向摄像范围与光谱图像的关系的说明图；
图13为表示散射基准表格形成流程的流程图；
图14为表示检查程序的流程图；
图15为表示补偿前处理的流程图；
图16为列举一部分的测定数据的一部分的波长频带的光谱强度等的表；
图17为列举已抽取的一部分的测定数据的一部分的波长频带的光谱强度的等的表；
图18为列举已抽取的一部分的测定数据的一部分的波长频带的光谱强度与平均光谱强度的差等的表；
图19为列举散射表格的一部分的表；
图20为列举各袋部的散射表格的一部分、与对其进行平均化处理的散射基准表格数据的一部分的表；
图21为用于说明照射到接纳于袋部中的内容物上的照射光的模式图；
图22的(a)为表示直接地照射到接纳于袋部中的内容物上的主照射光的波长特性的图，图22的(b)为表示照射到接纳于袋部中的内容物上的散射光的波长特性的图，图22的(c)为表示主照射光和散射光合成得到的照射光的波长特性的图。
具体实施方式
下面参照附图，对一个实施方式进行说明。首先，具体地对PTP片的结构进行说明。
像图1、图2所示的那样，PTP片1包括容器膜3与罩面膜4，该容器膜3具有多个袋部2，该罩面膜4按照封闭袋部2的方式安装于容器膜3上。
本实施方式的容器膜3通过比如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等的透明的热塑性树脂材料形成，该容器膜3具有透光性。另一方面，罩面膜4通过不透明材料(比如铝箔等)构成，在该不透明材料的表面上，设置由比如聚丙烯树脂等形成的密封剂。
从平面看，PTP片1呈大致矩形形状。在PTP片1上，在其短边方向形成2个袋排，该袋排由5个袋部2构成，该5个袋部沿其长边方向排列。即，形成共计10个袋部。在各袋部2中，每次1个地接纳片剂5。
PTP片1(参照图1的(a))通过下述的方式制造，该方式为：由带状的容器膜3和带状的罩面膜4形成的带状的PTP膜6(参照图1的(b))呈片状而冲压。
下面参照图3，对用于制造上述PTP片1的PTP包装机10的外观结构进行说明。
像图3所示的那样，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器膜3的原料卷呈卷状卷绕。呈卷状卷绕的容器膜3的伸出端导向给导向辊13。容器膜3在导向辊13的下游侧，挂绕在间歇运送辊14上。间歇运送辊14与间歇运送的马达连接，以间歇方式运送容器膜3。
在导向辊13和间歇运送辊14之间，沿容器膜3的运送线路依次设置加热装置15和袋部形成装置16。另外，在通过加热装置15对容器膜3进行加热，该容器膜3较柔软的状态，通过袋部形成装置16，在容器膜3的规定位置对多个袋部2进行成形(袋部形成步骤)。通过加热装置15和袋部形成装置16，构成本实施方式的袋部形成机构。袋部2的形成在间歇运送辊14的容器膜3的运送动作之间的间隔的时期而进行。
从间歇运送辊14送出的容器膜3依次挂绕在张紧辊18、导向辊19和膜接纳辊20上。由于膜接纳辊20与以一定程度旋转的马达连接，故该膜接纳辊20连续并且以一定速度来运送容器膜3。张紧辊18处于将容器膜3张拉到通过弹力而张紧的一侧的状态，防止上述间歇运送辊14和膜接纳辊20的运送动作的不同造成的容器膜3的挠曲，在平时将容器膜3保持在张紧状态。
在导向辊19和膜接纳辊20之间，沿容器膜3的运送线路，依次设置片剂填充装置21。片剂填充装置21具有作为填充机构的功能，该填充机构自动地将片剂5填充于袋部2中。片剂填充装置21与膜接纳辊20对容器膜3的运送动作同步，通过每规定间隔而打开开闭器的方式，使片剂5掉落，伴随开闭门的开放动作，在各袋部2中填充片剂5(填充步骤)。
另一方面，呈带状形成的罩面膜4的原料卷呈卷状卷绕于最上游侧。
呈卷状卷绕的罩面膜4的伸出端导向给导向辊24，导向到加热辊25的一侧。加热辊25可与上述膜接收辊20压接，将容器膜3和罩面膜4送入两个辊20、25之间。
另外，通过让容器膜3和罩面膜4在加热压接状态而从两个辊20、25之间通过，在容器膜3上粘贴罩面膜4，通过罩面膜4封闭袋部2(安装步骤)。由此，制造作为片剂5接纳于各袋部2中的带状体的PTP膜6。在加热辊25的表面上，形成密封用的网格状的细微的凸条，其强烈地压接，由此实现牢固的密封。通过膜接收辊20和加热辊25，构成本实施方式的安装机构。
从膜接收辊20送出的PTP膜6依次挂绕于张紧辊27和间歇运送辊28上。由于间歇运送辊28与以间歇方式旋转的马达连接，故以间歇方式运送PTP膜6。张紧辊27处于将PTP膜6张拉到通过弹力而张紧的一侧的状态，防止膜接纳辊20和间歇辊28的运送动作的不同造成的PTP膜6的挠曲，在平时将PTP膜6保持在张紧状态。
从间歇运送辊28送出的PTP膜6依次挂绕于张紧辊31和间歇运送辊32上。由于间歇运送辊32与以间歇方式旋转的马达连接，故以间歇方式运送PTP膜6。张紧辊31处于将PTP膜6张拉到通过弹力而张紧的状态，防止上述间歇运送辊28、32之间的PTP膜6的挠曲。
在间歇运送辊28和张紧辊31之间，沿PTP膜6的运送线路，依次设置狭缝形成装置33和刻印装置34。狭缝形成装置33具有在PTP膜6的规定位置形成切分用狭缝的功能。另外，刻印装置34具有在PTP膜6的规定位置的规定位置(比如，标签部)设置刻印的功能。
从间歇运送辊32而送出的PTP膜6依次在其下游侧挂绕于张紧辊35和连续运送辊36上。在间歇运送辊32和张紧辊35之间，沿PTP膜6的运送通路设置片冲压装置37。片冲压装置37具有作为以PTP片1单位，对PTP膜6的外缘进行冲压的片冲压机构(切分机构)的功能。
通过片冲压装置37而冲压的PTP片1通过输送器39运送，暂时贮存于完成品用料斗40中(切分步骤)。另外，在这里，PTP片1按照其长边方向沿输送器宽度方向(X方向)，并且其短边方向沿片运送方向(Y方向)的方式，在袋部2位于上方的状态，装载于输送器39上而运送(参照图5)。
在输送器39的上方位置设置检查装置45。检查装置45为利用分光分析，进行检查的分光分析设备，其用于检查异常品种的混入。
另外，在于这里，通过检查装置45判定为不合格品的场合，判定为不合格品的PTP片1不送给完成品用料斗40，而通过作为在图中没有示出的排出机构的不合格片排出机构而单独地排出。
在上述连续运送辊36的下游侧设置裁剪装置41。另外，构成通过片冲压装置37的冲压后而呈带状残留的残留部(废弃部)的不需要膜部42在导向给上述张紧辊35和连续运送辊36后，导向给裁剪装置41。另外，上述连续运送辊36受到从动辊的压接，在夹持不需要膜部42的同时进行运送动作。在裁剪装置41中，具有以规定尺寸裁剪不需要膜部42的废弃处理的功能。该废弃部在贮存于废弃用料斗43中后，单独进行废弃处理。
另外，上述各辊14、20、28、31、32等处于其辊表面与袋部2面对的位置关系，但是由于在间歇运送辊14等的表面上形成接纳袋部2的凹部，故不将袋部2压坏。另外，在袋部2接纳于间歇运送辊14等的各凹部中的同时，进行运送动作，由此，确实地进行间歇运送动作、连续运送动作。
PTP包装机10的基本结构如上所述，下面参照附图，具体地对上述检查装置的结构进行说明。图4为表示检查装置45的电气结构的方框图，图5为以模式方式表示检查装置45的配置结构的立体图。
像图4、图5所示的那样，检查装置45包括：照明装置52、摄像装置53、实施照明装置52或摄像装置53的驱动控制等的检查装置45内的各种控制或图像处理、运算处理等的控制处理装置54。
照明装置52为公知的类型，其以可照射近红外光的方式构成，照明装置52构成本实施方式的照射机构。照明装置52以可朝向输送器39上的规定区域，从斜上方照射近红外光的方式设置。
在本实施方式的照明装置52中，可射出具有连续光谱的近红外光(比如，波长700～2500nm的近红外区域)的光源采用卤素灯。此外，光源可采用重氢放电管、钨灯、氦气灯等。
像图5所示的那样，摄像装置53设置于输送器39的竖直上方，按照可从这里对输送器39上的PTP片1进行摄像的方式构成。
像图6所示的那样，摄像装置53包括：光学透镜61；作为分光机构的二维分光器62；作为摄像机构的摄像头63。
光学透镜61由在图中没有示出的多个透镜等构成，以可使入射光平行化的方式构成。光学透镜61的光轴沿竖直方向(Z方向)设定。
另外，光学透镜61按照可使入射光成像于后述的二维分光器62的狭缝62a的位置的方式设置。另外，在这里，为了方便起见，给出光学透镜61采用两侧远心透镜的例子，当然，也可为像侧远心透镜。
二维分光器62由狭缝62a、入射侧透镜62b、分光部62c与射出侧透镜62d构成。分光部62c由入射侧棱镜62c、透射型衍射光栅62cd与射出侧棱镜62cc构成。
在该方案的条件下，通过狭缝62a的光在通过入射侧透镜62b而变为平行光之后，通过分光部62c而分光，通过射出侧棱镜62d，在后述的摄像头63的成像元件65上，作为二维分光图像(分光光谱像)而成像。
狭缝62a的开口呈细长的基本矩形形状(线状)，该开口宽度方向(短边方向)沿片运送方向(Y方向)设置，其长边方向沿与片运送方向相垂直的输送器宽度方向(X方向)设置。由此，二维分光器62在狭缝62a的开口宽度方向，即片运送方向(Y方向)，对入射光进行分光。即，片运送方向(Y方向)为本实施方式的波长分散方向。
摄像头63包括成像元件65，该成像元件65具有多个感光元件(感光部)64c呈行列状而以二维方式排列的感光面65a。在本实施方式中，成像元件65采用近红外区域中的比如对波长1300～2000nm的波长范围具有充分的灵敏度的公知的CCD区域传感器。
对于CCD区域传感器，一般知道有下述的类型，其包括：比如多个感光元件，该多个感光元件由呈行列状以二维方式设置，并且将入射光转换为与其光量相对应的电荷，对其进行蓄积的光电变换元件(比如，光电二极管)构成；多个垂直转送部，该多个垂直转送部在垂直方向依次转送蓄积于各感光元件中的电荷；水平转送部，该水平转送部在水平方向依次转送从该垂直转送部而转送的电荷；输出放大器，该输出放大器将从该水平转送部转送的电荷转换为电压，对其进行放大、输出。
显然，成像元件不限于此，其也可采用对于近红外区域具有灵敏度的其它的传感器。比如，也可采用CMOS传感器、MCT(HgCdTe)传感器。
摄像装置53的视野区域(摄像区域)为下述的区域，该区域为沿输送器宽度(X方向)延伸的线状的区域，至少包括输送器39的宽度方向的全部区域(参照图5的两点虚线部)。另一方面，片运送方向(Y方向)中的摄像装置53的视野区域为相当于狭缝62a的宽度的区域。即，其为通过狭缝62a的光(狭缝光)在成像元件65的感光面65a上进行成像的区域。
由此，成像元件65的各感光元件64分别对在输送器宽度方向(X方向)的各位置处反射的反射光的分光光谱的各波长成分(比如，每个10～20nm频带宽度)进行感光。另外，将与各感光元件64已接收的光的强度相对应的信号转换为数字信号，然后将其从摄像头63输出给控制处理装置54。即，通过成像元件65的感光面65a的整体而拍摄的1个画面的图像信号(分光图像数据)输出给控制处理装置54。
控制处理装置54包括进行检查装置22的整体的控制的CPU和输入输出界面71(在下面称为“CPU等71”)；由键盘或鼠标、触摸面板等构成的作为“输入机构”的输入装置72；具有CRT或液晶等的显示画面的作为“显示机构”的显示装置73；用于存储各种图像数据等的图像数据存储装置74；用于存储各种运算结果等的运算结果存储装置75；用于预先存储各种信息的设定数据存储装置76等。另外，各装置72～76与CPU等71电连接。
CPU等71以可接收发送各种信号的方式与PTP包装机10连接。由此，比如，可控制PTP包装机10的不合格片排出机构等。
图像数据存储装置74用于存储通过摄像装置53拍摄的分光图像数据、根据该分光图像数据而获得的光谱图像数据、经过二值化处理后的二值化图像数据等。
运算结果存储装置75存储检查结果数据、以概率统计方式对该检查结果数据进行了处理而得到的统计数据等。这些检查结果数据或统计数据可适当地显示于显示装置73中。
设定数据存储装置76存储比如用于主成分分析的加载向量或判断范围、PTP片1、袋部2和片剂5的形状和尺寸，像后述的那样而在检查开始之前而预先形成的散射基准表格等。
下面对通过检查装置45进行的异常品种混入检查(检查步骤)的流程进行说明。
首先，参照图7的流程图，对通过检查装置45获得PTP片1所相关的光谱数据的测定程序进行说明。另外，本程序为每当通过输送器39，以规定量而运送PTP片1而反复进行的处理。
控制处理装置54首先在步骤S01中，一边从照明装置52，对通过输送器39而连续运送的PTP片1照射近红外光(照射步骤)，一边进行摄像装置53的摄像处理(曝光处理)。
在这里，控制处理装置54根据来自设置在输送器39中的在图中没有示出的编码器的信号驱动控制摄像装置53，将该摄像装置53所拍摄的分光图像数据获取到图像数据存储装置74中。
由此，在从照明装置52朝向PTP片1而照射的近红外光中，步骤S01的摄像处理的实施期间(曝光期间)中，在运送方向摄像范围W(参照图10)反射的反射光射入摄像装置53中。即，通过1次的摄像处理，对运送方向摄像范围W进行摄像。
射入摄像装置53中的反射光通过二维分光器62进行分光(分光步骤)，通过摄像头63的摄像元件65，作为分光图像(分光光谱)进行摄像(摄像步骤)。由于在摄像处理的实施期间(曝光期间)中，连续运送PTP片1，故在这里，对运送方向摄像范围W的平均化的分光光谱进行摄像(参照图8)。
图8为表示于片剂5上的规定位置处反射的反射光的分光光谱Ls投射于成像元件65的感光面65a上的状态的模式图。在图8中，为了方便起见，仅仅示出片剂5的分光光谱Ls、罩面膜4等的，其它的部位的分光光谱的图示省略。
通过摄像装置53拍摄的分光图像(分光光谱)数据在间隔期间中，输出给控制处理装置54，存储于图像数据存储装置74中。另外，在这里所说的间隔期间指图像数据的读出期间。即，摄像装置53的摄像周期可通过作为摄像处理的进行期间的曝光期间与间隔期间的总和时间而表示。
如果控制处理装置54获得分光图像数据，则其开始步骤S02的数据形成处理。
在数据形成处理中，根据在步骤S01获得的分光图像数据，形成光谱数据。如果形成光谱数据，则控制处理装置54将其存储于图像数据存储装置74中，暂且结束本程序。该步骤相当于本实施方式的光谱数据获得步骤，通过实施该步骤的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的光谱获得机构。
接着，像图9所示的那样，每当PTP片以规定量而运送，运送方向摄像范围W间断地相对移动，反复进行上述测定程序，由此，在图像数据存储装置74中，与片运送方向(Y方向)和输送器宽度方向(X方向)的位置信息一起地，按照时间序列依次地存储与各运送方向摄像范围W相对应的光谱数据。由此，形成针对每个像素而具有光谱数据的二维的光谱图像Q(参照图10)。
在这里，对本实施方式的光谱图像Q进行说明。像图10所示的那样，光谱图像Q为多个像素Qa以二维方式排列的图像数据。在各像素Qa中分别包括光谱数据[表示规定数量n(比如，n＝100个带)的波长频带的光谱强度(亮度值)的数据]。
另外，如果获得相当于1个PTP片1的范围(参照图10的两点点划线部)的光谱图像Q，则控制处理装置54进行分析对象指定程序。
在这里，参照图11的流程图，对分析对象指定程序进行说明。另外，本程序每当获得相当于1个PTP片1的范围的光谱图像Q而反复进行的程序。
控制处理装置54首先在步骤S11进行片剂像素抽取处理。在本处理中，抽取光谱图像Q的各像素Qa中的与构成分析对象的片剂5相对应的像素(在下面称为“片剂像素”)Qb。
在本实施方式中，比如判断各像素Qa的光谱数据中的规定波长的光谱强度(亮度值)是否大于等于预定的阈值，对光谱图像Q进行二值化处理。接着，根据已获得的二值化图像数据，抽取片剂像素Qb(参照图10、图12)。
像图12所示的那样，在本实施方式中，不包括对罩面膜4等的背景部分进行成像的数据的像素Qa，即包括仅仅对片剂5的范围进行成像的数据的像素Qa作为片剂像素Qb而抽取。图12为用于说明运送方向摄像范围W与光谱图像Q的关系的说明图。在图10、图12中，通过斜线表示作为片剂像素Qb而抽取的像素。
另外，片剂像素Qb的抽取方法不限于此，也可采用其它的方法。比如，也可形成下述的方案，其中，针对每个像素Qa而计算谱数据(各波长频带的光谱强度)的累积计算值，判断该值是否大于等于预定的阈值，由此，抽取片剂像素Qb。
接着，控制处理装置54在步骤S12进行片剂区域指定处理。通过本处理，指定接纳于PTP片1的各袋部2中的10个片剂5的区域。
在本实施方式中，比如，针对通过上述步骤S11获得的片剂像素Qb，进行标签处理，将邻接的全部的片剂像素Qb视为属于同一片剂5的片剂像素Qb的连接成分。
由此，可将1个连接成分的范围指定为接纳于规定的袋部2的内部中的1个片剂5的片剂区域(参照图10、图12)。在图10、图12中，分别通过粗框包围属于各片剂5的多个片剂像素Qb的连接成分(片剂区域)。
还有，片剂5的区域指定方法不限于此，也可采用其它的方法。比如，也可将在以指定的像素为中心的规定的范围中包括的像素判定为属于与该指定的像素相同的片剂5的像素。
接着，控制处理装置54在步骤S13中，进行平均光谱计算处理。在本处理中，针对在上述步骤S12中已指定的各片剂5的相应片剂区域，采用在这里包括的多个片剂像素Qb的光谱数据计算该片剂5的平均光谱数据。
在本实施方式中，对属于1个片剂5的片剂区域的多个片剂像素Qb全部的光谱数据进行平均化处理，将其作为该片剂5的平均光谱数据而计算。并不限于此，也可形成下述的方案，其中，抽取属于1个片剂5的片剂区域的多个片剂像素Qb中的一部分，采用该片剂像素Qb的光谱数据，计算该片剂5的平均光谱数据。
如果像这样，计算接纳于1个PTP片1的各袋部2中的10个片剂5的各自的平均光谱数据(在下面，称为“光谱测定数据”)，则控制处理装置54将它们作为该PTP片1的测定数据，存储于运算结果存储装置75中，暂时结束本程序。
下面参照图13的流程图，对在PTP片1的制造开始前(异常品种检查的开始前)进行的散射基准表格形成程序进行说明。
另外，本程序为下述的处理，该处理用于预先设定散射基准表格，该散射基准表格用于对在异常品种混入检查中获得的上述测定数据(接纳于1个PTP片1的各袋部2中的10个片剂5的各自片剂的光谱测定数据)进行补偿。
于是，本程序相当于本实施方式的散射数据把握步骤，通过实施该程序的控制处理装置54的功能，主要构成散射数据把握机构。
控制处理装置54首先在步骤S21中，进行合格品数据获得处理。在本处理中，对预先配备的规定数量m个(比如，m＝200个)的合格的PTP片1，进行上述测定程序和分析对象指定程序，获得上述m个合格的PTP片1的测定数据，将它们存储于运算结果存储装置75中。
然后，在步骤S22中，控制处理装置54在设定于运算结果存储装置75中的袋号计数器的值P中设定作为初始值的“1”。
另外，“袋号”为分别与1个PTP片1上的10个袋部2相对应而设定的连续号，可通过上述袋号计数器的值P(在下面简称为“袋号P”)，指定袋部2的位置(参照图10)。
在图10所示的例子中，比如，左侧列的最上部的袋部2作为与袋号“1”相对应的袋部2而设定，右侧列的最下部的袋部2作为与袋号“10”相对应的袋部2而设定。
接着，控制处理装置54在步骤S23中，进行测定基准表格形成处理。在本处理中，首先，根据在上述步骤S21中已获得的m个合格的PTP片1的测定数据的相应数据，抽取作为合格品内容物的片剂5的光谱测定数据，该合格品内容物接纳于与当前的袋号P(比如，P＝1)相对应的袋部2中。
然后，根据已抽取的m个片剂5的光谱测定数据(测定号j＝1～m)，计算作为各波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i，j)的平均值的平均光谱强度B(i)，并且计算作为全部波长频带的平均光谱强度B(i)的平均值的平均值Bave(参照图6)。
在这里，测定号j(1≤j≤m，j表示自然数)为在上述步骤S21中获得的规定数量m个(比如，m＝200个)合格的PTP片1的测定数据所附带的连续号。
另外，带号I(1≤i≤m，i表示自然数)为在光谱测定数据中包括的规定数量n个(比如，n＝100个带)的波长频带所附带的连续号。
另外，在图16中，精选测定号“1”～“5”的测定数据中的带号“1”～“3”的波长频带的光谱强度V(i，j)，对其列举，并且列举采用它们计算的平均光谱强度B(i)和它们的平均值Bave。
此外，控制处理装置54将像上述那样而计算的各波长频带的平均光谱强度B(i)作为测定基准表格，存储于运算结果存储装置75中，并且将这些作为平均值的平均值Bave作为测定基准表格整体的平均值，存储于运算结果存储装置75中。
在这里，“测定基准表格(各波长频带的平均光谱强度B)”相当于本实施方式的“散射光的影响小的第1光谱数据”。
然后，控制处理装置54在步骤S24进行散射表格形成处理。在本处理中，首先，从于上述步骤S21中获得的m个合格品的PTP片1的各自测定数据中，抽取接纳于与当前的袋号P(P＝1)相对应的袋部2中的片剂5的光谱测定数据。
接着，控制处理装置54根据已抽取的m个片剂5的光谱测定数据(测定号j＝1～m)，针对各测定数据计算作为全部波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i、j)的平均值的平均光谱强度Vave(j)(参照图16)。
在图16所示的精选例子中，针对测定号“1”～“5”的测定数据的相应数据，给出作为带号“1”～“3”的波长频带的光谱强度V(i、j)的平均值的平均光谱强度Vave(1)～Vave(5)。
接着，控制处理装置54抽取满足Vave(j)＞Bave的关系式的测定数据，即平均光谱强度Vave(j)超过平均光谱强度B(i)的平均值Bave的测定数据。
在这里，平均光谱强度Vave(j)超过平均光谱强度B(i)的平均值Bave的测定数据相当于本实施方式的“散射光的影响大的第2光谱数据”。
比如，在图16所示的精选例子中，测定号“1”、“3”的测定数据的平均光谱强度Vave(1)、Vave(3)的值分别为“200”，小于平均值Bave的“280”。于是，在本例子中，像图17所示的那样，抽取测定号“2”、“4”、“5”的测定数据。
然后，控制处理装置54根据像上述那样抽取的测定数据，针对各波长频带，计算光谱强度V(i，j)和平均光谱强度B(i)的差V’(i，j)，并且计算作为它们的平均值的平均差D(i)(参照图18)。
这些平均差D(i)可视为近似于从照明装置52照射到罩面膜4等的规定的散射因素而产生的散射光所造成的光谱数据的光谱数据。
于是，可将这些平均差D(i)视为与当前的袋号P相对应的袋部2的位置的散射数据D(i)。
在图18所示的抽取例子中，列举作为比如图17所示的测定号“2”的测定数据的光谱强度V(1，2)、与带号“1”的波长频带的平均光谱强度B(1)的差V’(1，2)的“20(＝200－180)”的例子。
同样地，对于测定号“4”的测定数据的光谱强度V(1，4)、与带号“1”的波长频带的平均光谱强度B(1)的差分V’(1，4)列举“120(＝300－180)”的例子，对于测定号“5”的测定数据的光谱强度V(1，5)、与带号“1”的波长频带的平均光谱强度B(1)的差分V’(1，5)，列举“20(＝200－180)”的例子。
接着，在图18中，列举有作为它们的平均值的带号“1”的波长频带的平均差D(1)的“53”例子。
然后，控制处理装置54计算作为全部波长频带的平均差D(i)的平均值的的平均值Dave。然后，控制处理装置54将各波长频带的平均差D(i)除以平均值Dave，对其进行标准化处理(参照图19)。接着，将已获得的各波长频带的差标准化值DS(i)作为与当前的袋号P相对应的袋部2的散射表格而存储于运算结果存储装置75中。
然后，控制处理装置54在于步骤S25，对当前的袋号P添加1后，转到步骤S26，判断新设定的袋号P是否超过每片的袋数的最大值Max(在本实施方式中，为“10”)。
在于这里，判定为否的场合，再次返回到步骤S23，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为是的场合，视为获得全部的袋部2的散射表格，转到步骤S27。
在步骤S27，控制处理装置54进行散射基准表格形成处理。在本处理中，汇集袋号“1”～“10”全部的袋部2的散射表格的各差标准化值DS(i)，针对各波长频带，进行平均处理(参照图20)。
由此，带号“1”～“n”的各波长频带的差标准化值DS(i)的平均值作为散射基准数据C(i)而计算。另外，在图20中，挑选而列举带号“1”～“3”的各波长频带的差标准化值DS(1)～DS(3)和作为它们的平均值的散射基数据格C(1)～C(3)而列举。
接着，控制处理装置54将带号“1”～“n”的各波长频带的散射基准表格C(i)作为散射基准表格而存储于设定数据存储装置76中，结束本程序。
下面参照图14的流程图，对PTP片1的异常品种混入检查的检查程序进行说明。
控制处理装置54首先在步骤S31，进行检查数据获得处理。在本处理中，对构成检查对象的PTP片1，进行上述测定程序和分析对象指定程序，获得该PTP片1的测定数据。
然后，控制处理装置54在步骤S32，在袋号P中设定作为初始值的“1”。
接着，控制处理装置54在步骤S33，进行片剂数据抽取处理。在本处理中，根据于上述步骤S31中获得的检查对象的PTP片的测定数据，抽取作为接纳于与当前的袋号(比如，P＝1)相对应的袋部2中的被检查内容物的片剂5的光谱测定数据。
之后，控制处理装置54在步骤S34进行补偿前处理。在这里，参照图15的流程图，具体地对补偿前处理的流程进行说明。
首先，控制处理装置54在步骤S41进行初始化处理。在本处理中，在运算结果存储装置75中设定作为后述的差合计值F的最小值Fmin的初始值，并且设定运算系数G的初始值。
具体来说，作为差合计值F的最小值Fmin，设定获得该差合计值F的最大值Fmax。另外，作为运算系数G，设定获得该差合计值F的最小值Gmin。在这里，最小值Gmin可通过下述的“数学公式1”的关系式而表示。
[数学公式1]
Figure BDA0002677675890000231
然后，控制处理装置54在步骤S42进行差分计算处理。在本处理中，根据下述的“数学公式2”所示的关系式，分别从在上述步骤S33中获得的片剂5的光谱测定数据的各波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i)中扣除下述值，计算各波长频带的差分E(i)，该值为在散射表格中设定的各波长频带的散射基准表格C(i)与当前设定的运算系数G的乘积。
[数学公式2]
E(i)＝v(i)-G×C(i)
之后，控制处理装置54在步骤S43进行差分平均处理。在本处理中，根据下述的“数学公式3”所示的关系式，计算作为在上述步骤S42中计算的全部波长频带的差分E(i)的平均值的差分平均值Eave。
[数学公式3]
Figure BDA0002677675890000241
在这里，n表示带数。
接着，控制处理装置54在步骤S44进行比例调整处理。在本处理中，根据下述的“数学公式4”所示的关系式，分别将下述的值与在上述S42中计算的各波长频带的差分E(i)相乘，计算对该差E(i)进行了比例调整处理而得到的差分E’(i)，该值指上述测定基准表格整体的平均值Bave除以在上述S43中计算的差平均值Eave而得到的值。
[数学公式4]
Figure BDA0002677675890000242
然后，控制处理装置54在步骤S45进行差分合计处理。在本处理中，根据下述的“数学公式5”所示的关系式，针对各波长频带计算下述的值平方，将全部波长频带的这些值的合计作为差分合计F而计算，该值指将下述的差除以平均光谱强度B(i)而得到的值，该差指在上述步骤S44中计算的各波长频带的比例调整后的差分E’(i)、与上述测定基准表格的各波长频带的平均光谱强度B(i)的差分。
[数学公式5]
Figure BDA0002677675890000243
之后，控制处理装置54在步骤S46判断在上述步骤S45中计算的差分合计F的值是否小于当前设定的差分合计F的最小值Fmin。在这里，在判定为否的场合，原样地转到步骤S48。
另一方面，在判定为是的场合，转到步骤S47，进行下述的处理，在该处理中，将于运算结果存储装置75中当前设定的差分合计F的最小值Fmin置换为在步骤S45中计算的差分合计F的值(新的最小值Fmin)。并且，进行将在运算结果存储装置75中当前设定的运算系数G作为补偿系数Ga而设定的处理。然后，转到步骤S48。
接着，控制处理装置54在于步骤S48中，对于运算结果存储装置75中当前设定的运算系数G加“1”后，在步骤S49，判断新设定的运算系数G的值是否大于该运算系数G所获得的最大值Gmax。在这里，最大值Gmax可通过下述的“数学公式6”的关系式而表示。
[数学公式6]
Figure BDA0002677675890000251
在这里判定为否的场合，再次返回到步骤S42，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为是的场合，视为确定差分合计F的最小值Fmin和运算系数Ga，结束补偿前处理。
返回到在图14的流程图中示出的检查程序的说明，控制处理装置54在步骤S35，进行补偿处理。
通过该步骤S35的补偿处理以及步骤S34的补偿前处理等构成本实施方式的补偿步骤，通过进行这些处理的控制处理装置54的功能，主要构成本实施方式的补偿机构。
在本处理中，根据下述的“数学公式7”所表示的关系式，分别对在步骤S33中获得的片剂5的光谱测定数据的各波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i)进行补偿，将该补偿后的各波长频带的光谱强度V’(i)作为该片剂5的光谱补偿数据，存储于运算结果存储装置75中。
[数学公式7]
Figure BDA0002677675890000252
然后，控制处理装置54在步骤S36进行偏差计算处理。在本处理中，根据下述的“数学公式8”所表示的关系式计算偏差R，将其存储于运算结果存储装置75中。
[数学公式8]
Figure BDA0002677675890000261
然后，控制处理装置54在于步骤S37中，对当前的袋号P加“1”后，转到步骤S38，判断新设定的袋号P是否超过每片的袋数量的最大值Max(在本实施方式中，为“10”)。
在这里判定为否的场合，再次返回到步骤S33，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为是的场合，视为获得全部的袋部2的片剂5的光谱补偿数据，转到步骤S39。
在步骤S39，控制处理装置54进行判断处理。在本处理中，首先进行各片剂5的分析处理。该处理相当于本实施方式的分析步骤，通过进行该处理的控制处理装置54的功能，构成本实施方式的分析机构。
比如，在本实施方式中，采用预先获得的加载矢量，对在上述步骤S35中求出的片剂5的光谱补偿数据，进行主成分分析(PCA)。更具体地说，通过对上述加载矢量与片剂5的光谱补偿数据进行运算，计算主成分含量。
接着，判断各片剂5是合格(相同品种)还是不合格(异常品种)。更具体地说，采用上述主成分含量制作成PCA图，如果经过制作坐标图的数据在根据上述偏差R而设定的合格范围内，则判定为合格(相同品种)，如果在合格范围之外，则判定为不合格(异常品种)。
接着，分别针对PTP片1上的全部的片剂5，分别进行上述一系列的处理，在这里构成“不合格”的片剂5连一个也不存在的场合，将该PTP片1判定为合格品，结束检查程序。另一方面，在构成“不合格”的片剂5连一个也不存在的场合，将该PTP片1判定为不合格，结束检查程序。另外，这些检查结果输出给显示装置73、PTP包装机10(包括不合格片排出机构)。
像以上具体描述的那样，按照本实施方式，在进行利用分光分析的异常品种混入检查时，可针对对片剂进行摄像而获得的光谱数据，在基本排除散射光的影响的状态，进行是否合格的判断。
其结果是，即使在片剂5接纳于容器膜3的袋部2中的状态的情况下，仍可进行该片剂5的稳定的分光分析，可谋求检查精度的降低的抑制。
特别是，在本实施方式中，根据实际上对接纳于袋部2中的合格的片剂5进行摄像而获得的光谱数据，指定散射数据(散射光造成的光谱数据)。
由此，由于比如，实际上不会照射到片剂5上的散射光造成的光谱数据等的，以大于必要程度而多余的信息不包含在散射数据中，故可谋求检查精度的提高。
另外，不限于上述实施方式的记载内容，也可比如，像下述那样而实施。显然，在下面没有列举的其它的应用例、变更例也当然是可能的。
(a)在上述实施方式中，针对内容物为片剂5的场合而进行具体化，但是，内容物的种类、形状等没有特别的限定，比如也可为胶囊剂、营养品、食品等。另外，片剂包括裸片、糖衣片剂等的固态制剂。
(b)容器膜3、罩面膜4的材料不限于上述实施方式，也可采用其它材质的类型。比如，也可形成容器膜3由铝叠层膜等的以铝为主材料的金属材料形成的方案。
另外，在像这样，容器膜3由遮光材料(不透明材料)形成的场合，在像后述的那样，罩面膜4安装于容器膜3上的前步骤中，进行从袋部2的开口侧对片剂5进行照明、摄像，进行检查。
即使在容器膜3由遮光材料形成的情况下，仍具有通过袋部2的内面反射的光构成为散射光，对检查造成影响的危险。
(c)关于PTP片1中的袋部2的排列、个数，完全不限于上述实施方式。可采用以比如具有3排12个的袋部的类型为首的由各种的排列、个数构成的PTP片。
(d)在上述实施方式中形成下述的方案，其中，在从PTP膜6上冲压PTP片1的后步骤中，越过通过输送器39运送的PTP片1的袋部2(容器膜3)，进行检查装置45的异常品种混入检查。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，在于容器膜3上安装罩面膜4的后步骤，并且从PTP膜6冲压PTP片1的前步骤，越过PTP膜6的袋部2(容器膜3)而进行检查装置45的异常品种混入检查。
即使在该场合，与上述实施方式相同，仍可在没有替换片剂5的状态进行检查，可谋求检查精度的提高。
(e)也可形成下述的方案，其中，在于袋部2中填充片剂5的在后步骤，并且在容器膜3上安装罩面膜4的在先步骤中，进行检查装置45的异常品种混入检查。
在这里，在容器膜3由透明材料形成的场合，既可形成越过袋部2(容器膜3)，对片剂5进行照明和摄像，进行检查的方案，也可形成从袋部2的开口侧对片剂5进行照明和摄像，进行检查的方案。
在从袋部2的开口侧而进行检查的场合，由于没有夹设袋部2(容器膜3)，可在没有遮挡的物的状态，直接地对片剂5进行照明、摄像，故各自的片剂5的检查精度提高，另一方面，由于具有替换片剂5的危险，故具有从整体上，合格品错误率、不合格品错误率增加的危险。
另外，在安装罩面膜4的前步骤中，容器膜3由透明材料形成的场合，具有反射到位于其背景部分的运送机构等的不同于罩面膜4的散射因素上的光构成散射光，对检查造成影响的危险。
(f)在上述实施方式中，形成检查装置45设置于PTP包装机10的内部的结构(联机)。也可代替该方式而形成独立于PTP包装机10，通过非联机方式检查PTP片1的设备包括检查装置45的结构。在此场合，也可形成在检查装置45中设置可运送PTP片1的运送机构的结构。
另外，在通过非联机方式进行检查的场合，也可形成不连续地运送PTP片1，而在停止的状态进行检查的方案。但是，为了谋求生产性的提高，最好一边连续运送PTP片1或PTP膜6或容器膜3，一边通过联机方式进行检查。
近年，在PTP片1的制造领域等中，伴随生产速度的高速化，要求异常品种混入检查等的各种检查的高速化。比如，在于PTP包装机中进行检查的场合，还具有要求每秒检查大于等于100个的片剂5的情况。
(g)照明装置52和摄像装置53的结构不限于上述实施方式。比如，也可形成下述的方案，其中，代替二维分光器62而采用作为分光机构的反射衍射光栅、棱镜等。
(h)在上述实施方式中，形成通过主成分分析(PCA)而分析光谱数据的方案，但是，并不限于此，也可形成采用PLS回归分析等的其它的公知的方法而进行分析的方案。
(i)散射数据(散射光造成的片剂5的光谱数据或近似于它的光谱数据)的方法不限于上述实施方式，也可采用其它的方法。
在上述实施方式中，根据对实际上接纳于袋部2中的合格的片剂5进行摄像而获得的光谱数据，指定散射数据。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，比如，对在袋部2中没有接纳片剂5，袋部2是中空的PTP片1(或PTP膜6或容器膜3)进行摄像，获得罩面膜4等的散射因素的光谱数据，由此将其作为散射数据而把握。
或者，也可形成下述的方案，其中，对安装于容器膜3上之前的罩面膜4本身进行摄像，获得该罩面膜4的光谱数据，由此，将其作为散射数据而把握。
(j)另外，同样关于根据对合格片剂5进行摄像而获得的光谱数据，指定散射数据的方法，不限于上述实施方式，也可采用其它的方法。
在上述实施方式中形成下述的方案，其中，根据事先获得的多个合格片剂5的光谱数据，求出它们的平均值的测定基准表格[各波长频带的平均光谱强度B(i)]，将其作为“散射光的影响小的第1光谱数据”而指定，并且将超过它的测定数据作为“散射光的影响大的第2光谱数据”而指定，从该第1和第2光谱数据的差中指定散射数据。
不限于此，也可形成下述的方案，其中，将比如超过测定基准表格(第1光谱数据)的测定数据中的比如高位50％的测定数据作为第2光谱数据而抽取。
另外，还可形成下述的方案，其中，将事先获得的多个合格片剂5的光谱数据中的低位30％的测定数据的平均值作为“散射光的影响小的第1光谱数据”而指定，并且高位30％的测定数据的平均值作为“散射光的影响大的第2光谱数据”而指定，根据第1和第2光谱数据的差指定散射数据。
(k)补偿内容(步骤S35的补偿处理、步骤S34的补偿处理)的内容不限于上述实施方式。
比如，在上述实施方式中形成下述的方案，其中，根据事先把握的散射数据，对将被检查片剂5进行摄像而获得的光谱数据进行补偿。也可不限于此，而形成下述的方案，其中，根据散射数据，对用于判断被检查片剂5的光谱数据是否合格的判断的场合的判断值(阈值)的合格品范围进行补偿。
标号的说明：
标号1表示PTP片；
标号2表示袋部；
标号3表示容器膜；
标号4表示罩面膜；
标号5表示片剂；
标号10表示PTP包装机；
标号45表示检查装置；
标号52表示照明装置；
标号53表示摄像装置；
标号54表示控制处理装置；
标号62表示二维分光器；
标号62a表示狭缝；
标号63表示摄像头；
标号64表示感光元件；
标号65表示成像元件；
符号74表示图像数据存储装置；
符号75表示运算结果存储装置；
符号76表示设定数据存储装置；
符号Ls表示分光光谱。

Claims (6)

1.一种检查装置，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构能对规定的对象物照射近红外光；
分光机构，该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光所相关的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构能根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；
分析机构，该分析机构能根据上述光谱数据，进行规定的分析处理；
该检查装置在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合；
其特征在于，该检查装置包括：
散射数据把握机构，该散射数据把握机构在至少进行上述检查的前阶段，能将从上述照射机构照射到规定的散射因素而产生的散射光所造成的上述内容物的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握；
补偿机构，该补偿机构根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指，在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合所使用的判断值。
2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，上述散射数据把握机构按照能进行下述的处理的方式构成，该处理包括：
获得在接纳于上述袋部中的状态被摄像的多个合格内容物的光谱数据的处理；
根据上述多个合格内容物的光谱数据，指定没有上述散射光的影响或该影响小的第1光谱数据的处理；
根据上述多个合格的内容物的光谱数据，指定具有上述散射光的影响或该影响大的第2光谱数据的处理；
根据上述第1光谱数据与上述第2光谱数据的差，指定上述散射数据的处理。
3.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于：
上述补偿机构按照在进行上述补偿时，能进行下述的处理的方式构成，该处理包括：
将上述散射数据与规定的系数相乘的处理；
从对上述被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据中，扣除上述相乘而获得的值的处理；
将通过上述扣除而获得的值与上述第1光谱数据的差最小的上述系数作为补偿系数而指定的处理；
根据上述补偿系数和上述散射数据，对摄像上述被检查内容物而获得的光谱数据进行补偿的处理。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，上述照射机构设置于能越过上述袋部，对上述内容物照射近红外光的位置；
上述摄像机构设置于能越过上述袋部，对来自上述内容物的反射光的分光光谱进行摄像的位置。
5.一种PTP包装机，该PTP包装机用于制造PTP片，在该PTP片中，在容器膜所形成的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该PTP包装机包括：
袋部形成机构，该袋部形成机构在呈带状运送的上述容器膜上形成上述袋部；
填充机构，该填充机构在上述袋部中填充上述内容物；
安装机构，该安装机构对上述袋部中填充有上述内容物的上述容器膜，按照密封上述袋部的方式安装带状的上述罩面膜；
切分机构，该切分机构从于上述容器膜上安装有上述罩面膜的带状体上，切分上述PTP片；
权利要求1～4中任一项所述的检查装置。
6.一种检查方法，该检查方法采用下述检查装置，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构能对规定对象物照射近红外光；
分光机构，该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构能根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；
分析机构，该分析机构能根据上述光谱数据，进行规定的分析处理；
同时，在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜而得到的PTP片的制造的场合，
其特征在于，该方法包括：
散射数据把握步骤，在该散射数据把握步骤中，至少在进行上述检查的前阶段，能将散射光造成的上述内容物的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握，该散射光因从上述照射机构照射到规定散射因素而产生；
补偿步骤，在该补偿步骤中，根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合。
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