CN111854935B - 投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质，所述投影系统照度测量方法包括：获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标，进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。本申请解决了投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。
Description
技术领域
本申请涉及投影仪技术领域，尤其涉及一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质。
背景技术
随着投影仪技术的不断发展，投影仪的应用也越来越广泛，目前，在测量投影画面的照度时，由于投影画面比较大，通常需要人工手持照度计在投影画面的多个测量点进行照度测量，其中，多个测量点的位置有人工预先贴好的位置标签进行确定，然而，由于不同投影比的投影画面的测量点的位置不同，不同投影比的投影画面每次测量时均需要重新调整位置标签，进而导致投影系统的测量点坐标测量效率较低，且由于位置标签由人工进行确定，位置标签调整时容易产生误差，而位置标签调整通常比较频繁，进而导致投影系统的测量点坐标测量精度较低，进而导致投影系统的照度测量效率低和精度低。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。
为实现上述目的，本申请提供一种投影系统照度测量方法，所述投影系统照度测量方法应用于投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量方法包括：
获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；
对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。
可选地，所述几何参数包括投影屏宽和投影屏长，
所述基于所述几何参数，确定初始测量点坐标的步骤包括：
基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；
将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
可选地，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤还包括：
测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；
对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，各所述待测量点位置包括第一待测量点位置和第二待测量点位置，各所述第二照度包括第一测量位置照度和第二测量位置照度，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；
测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；
基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；
测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。
本申请还提供一种投影系统照度测量装置，所述投影系统照度测量装置为虚拟装置，且所述投影系统照度测量装置应用于投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量装置包括：
确定模块，用于获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
测量模块，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述测量模块包括：
坐标测量单元，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
照度测量单元，用于基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述坐标测量单元包括：
第一确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
第一获取子单元，用于基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
第二确定子单元，用于分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述坐标测量单元还包括：
第三确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
第二获取子单元，用于基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
第四确定子单元，用于分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述照度测量单元包括：
照度测量子单元，用于分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；
求平均子单元，用于对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。
可选地，所述确定模块包括：
计算单元，用于基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；
第五确定单元，用于将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
可选地，所述测量模块还包括：
第一测量单元，用于测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；
第二测量单元，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；
求均值单元，用于对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述第二测量单元包括：
第一定位子单元，用于基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；
第一测量子单元，用于测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；
第二定位子单元，用于基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；
第二测量子单元，用于测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。
本申请还提供一种投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量设备为实体设备，所述投影系统照度测量设备包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的所述投影系统照度测量方法的程序，所述投影系统照度测量方法的程序被处理器执行时可实现如上述的投影系统照度测量方法的步骤。
本申请还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有实现投影系统照度测量方法的程序，所述投影系统照度测量方法的程序被处理器执行时实现如上述的投影系统照度测量方法的步骤。
本申请提供了一种投影系统照度测量方法、装置、设备和可读存储介质，相比于现有技术采用的基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，以实现投影系统照度测量的技术手段，本申请在获取待测量投影屏的几何参数之后，基于所述几何参数，确定初始测量点坐标，进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，自动测量各目标测量点坐标，其中，所述目标测量点坐标由预设激光灯阵列中的激光灯发射的激光的交点进行确定，且由于光沿直线传播，进而可精确测量各目标测量点坐标，提高了目标测量点坐标的测量精度，且预设激光灯阵列中的激光灯可进行纵向和横向滑动，进而即使频繁改变测量点的位置，通过预设激光灯阵列和初始测量点坐标，也可快速的自动确定各目标测量点坐标，提高了目标测量点坐标的测量效率，进而测量初始测量点坐标处和各目标测量点坐标处的照度，即可实现对待测量投影屏的目标测量照度的测量，克服了现有技术基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，将导致投影系统测量点坐标测量效率低且精度低的技术缺陷，进而提高了投影系统照度测量效率和照度测量精度。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请投影系统照度测量方法第一实施例的流程示意图；
图2为本申请投影系统照度测量方法中对待测量投影屏进行照度测量时，各测量点的位置示意图；
图3为本申请投影系统照度测量方法中确定各第一激光交点的示意图；
图4为本申请投影系统照度测量方法第二实施例的流程示意图；
图5为本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请实施例提供一种投影系统照度测量方法，在本申请投影系统照度测量方法的第一实施例中，参照图1，所述投影系统照度测量方法包括：
步骤S10，获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
在本实施例中，需要说明的是，所述待测量投影屏为矩形，所述几何参数包括待测量投影屏的投影屏长和投影屏宽。
获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标，具体地，获取所述待测量投影屏的投影屏长和投影屏宽，并基于投影屏长和投影屏宽，确定所述待测量投影屏的几何中心点的坐标，获得几何中心坐标，并将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
其中，所述几何参数包括投影屏宽和投影屏长，
所述基于所述几何参数，确定初始测量点坐标的步骤包括：
步骤S11，基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；
在本实施例中，基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标，具体地，以所述待测量投影屏的左上角顶点为原点，所述待测量投影屏的长边为横轴，所述待测量投影屏的短边为竖轴，构建直角坐标系，进而基于投影屏长和投影屏宽，计算所述待测量投影屏的几何中心点的坐标，获得几何中心坐标。
步骤S12，将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
步骤S20，基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
在本实施例中，需要说明的是，在对待测量投影屏进行照度测量时，需要在待测量投影屏上测量多个测量点的照度，例如，如图2所示为对待测量投影屏进行照度测量时，各测量点的位置示意图。
另外地，需要说明的是，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，其中，所述横向激光灯组至少包括一横向激光灯，所述纵向激光灯组至少包括一纵向激光灯，其中，所述横向激光灯为布置在水平方向的单点激光灯，用于向竖直方向发射激光，所述纵向激光灯为布置在竖直方向的单点激光灯，用于向水平方向发射激光。
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度，具体地，基于所述初始测量点坐标，通过所述预设激光灯阵列中横向激光灯发射的激光与纵向激光灯发射的激光之间的激光交点，定位所述待测量投影屏对应的各待测量点坐标，进而测量所述初始测量点坐标处的测量点照度和各待测量点坐标处的测量点照度，进而对各测量点照度，求平均，获得所述目标测量照度。
其中，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
步骤S21，基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
在本实施例中，基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标，具体地，基于所述初始测量点坐标和预设滑动步长，分别调节横向激光灯和纵向激光灯的位置，以获取横向激光灯在各个横向位置发射的激光与纵向激光灯在各个纵向位置发射的激光之间的激光交点，其中，所述预设滑动步长为测量点位置之间的间隔长度，进而将各激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
其中，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
步骤S211，基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
在本实施例中，需要说明的是，所述预设激光灯阵列由两盏激光灯构成，分别为第一激光灯和第二激光灯，其中，所述第一激光灯为横向激光灯，所述第二激光灯为纵向激光灯。
基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置，具体地，调整所述第一激光灯的位置，使得所述第一激光灯的横坐标与所述初始测量点坐标的横坐标一致，获得第一激光灯的第一初始位置，特征所述第二激光灯的位置，使得所述第二激光灯的纵坐标与所述初始测量点坐标的纵坐标一致，获得所述第二激光灯的第二初始位置。
步骤S212，基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
在本实施例中，需要说明的是，所述预设滑动步长包括横向滑动步长和纵向滑动步长，其中，所述横向滑动步长为待测量投影屏中相邻的测量点之间的横向间隔长度，所述纵向滑动步长为待测量投影屏中相邻的测量点之间的纵向间隔长度。
基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点，具体地，基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动，确定所述第一激光灯的各横向位置，其中，所述第一初始位置为各所述横向位置之一，并基于所述预设滑动步长，控制所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，确定所述第二激光灯的各纵向位置，其中，所述第二初始位置为各所述纵向位置之一，且控制所述第一激光灯分别在各所述横向位置发射激光和控制所述第二激光灯分别在各所述纵向位置发射激光，获得各第一激光交点，其中，一所述横向位置和一所述纵向位置共同对应一所述第一激光交点，例如，如图3所示为确定各第一激光交点的示意图，其中，中心点即为所述初始测量点坐标对应的初始测量点，其余8个点均为所述第一激光点，H1、H2和H3为各所述横向位置，V1、V2和V3为各所述纵向位置。
步骤S213，分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
其中，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
步骤A10，基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
在本实施例中，需要说明的是，所述横向激光灯位置的数量与待测量投影屏中各测量点的列数一致，所述纵向激光灯位置的数量与待测量投影屏中各测量点的行数一致，所述预设激光灯位置间距包括横向间距和纵向间距。
基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置，具体地，基于所述初始测量点坐标的横坐标和所述横向间距，定位所述横向激光灯组中各横向激光灯的横向激光灯位置，并基于所述初始测量点坐标的纵坐标和所述纵向间距，定位所述纵向激光灯组中各纵向激光灯的纵向激光灯位置。
步骤A20，基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
在本实施例中，基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点，具体地，分别在各所述横向激光灯位置上布置一横向激光灯，且分别在各所述纵向激光灯位置上布置一纵向激光灯，进而逐一打开各横向激光灯和各纵向激光灯，其中，每次至少打开一横向激光灯和一纵向激光灯，进而逐一获取每一所述横向激光灯发射的激光和每一所述纵向激光灯发射的激光之间的交点，获得各所述第二激光交点。
步骤A30，分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
步骤S22，基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
在本实施例中，基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度，具体地，控制预设照度测量模块，分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标对应的初始测量点照度和各所述目标测量点坐标对应的目标测量点照度，进而对所述初始测量点照度和各所述目标测量点照度求平均，获得照度平均值，并将所述照度平均值作为所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
其中，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
步骤S221，分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；
在本实施例中，分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据，具体地，将所述初始测量点坐标和各所胡目标测量点坐标输入预设照度测量模块，以控制自动化测量设备分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据，其中，所述测量照度数据包括所述初始测量点坐标对应的初始测量点照度和各所述目标测量点坐标对应的目标测量点照度，其中，所述自动化测量设备包括机械手、照度计等，进而在进行投影系统照度测量的过程为全自动过程，节约了投影系统照度测量时的人力成本。
步骤S222，对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。
在本实施例中，对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度，具体地，对所述初始测量点照度和各所述目标测量点照度求平均，获得照度平均值，并将所述照度平均值作为所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
本实施例提供了一种投影系统照度测量方法，相比于现有技术采用的基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，以实现投影系统照度测量的技术手段，本实施例在获取待测量投影屏的几何参数之后，基于所述几何参数，确定初始测量点坐标，进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，自动测量各目标测量点坐标，其中，所述目标测量点坐标由预设激光灯阵列中的激光灯发射的激光的交点进行确定，且由于光沿直线传播，进而可精确测量各目标测量点坐标，提高了目标测量点坐标的测量精度，且预设激光灯阵列中的激光灯可进行纵向和横向滑动，进而即使频繁改变测量点的位置，通过预设激光灯阵列和初始测量点坐标，也可快速的自动确定各目标测量点坐标，提高了目标测量点坐标的测量效率，进而测量初始测量点坐标处和各目标测量点坐标处的照度，即可实现对待测量投影屏的目标测量照度的测量，克服了现有技术基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，将导致投影系统测量点坐标测量效率低且精度低的技术缺陷，进而提高了投影系统照度测量效率和照度测量精度。
进一步地，参照图4，基于本申请中第一实施例，在本申请的另一实施例中，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤还包括：
步骤B10，测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；
在本实施例中，测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度，具体地，基于预设照度测量模块，控制照度测量设备测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度。
步骤B20，基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；
在本实施例中，需要说明的是，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组。
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度，具体地，基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，分别布置所述横向激光灯组和纵向激光灯组，进而基于布置后的横向激光灯组中横向激光灯发射的激光和布置后的纵向激光灯组中纵向激光灯发射的激光之间的交点，逐一确定各待测量点位置并测量待测量点位置的照度，获得各第二照度，其中，需要说明的是，所述待测量点位置的照度是在激光灯开启的状态下测量的，进而无需记录待测量点位置的坐标，节约了记录待测量点位置的坐标的时间和存储空间，进而提高了待测量点的照度测量的效率。
其中，各所述待测量点位置包括第一待测量点位置和第二待测量点位置，各所述第二照度包括第一测量位置照度和第二测量位置照度，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度的步骤包括：
步骤B11，基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；
在本实施例中，所述横向激光灯组至少包括一横向激光灯，所述纵向激光灯组至少包括一纵向激光灯。
基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置，具体地，控制所述横向激光灯由所述初始测量点坐标的横坐标处向左滑动一个所述预设位置间隔，并控制向左滑动后的所述横向激光灯发射激光，控制处于所述初始测量点坐标的纵坐标处的纵向激光灯发射激光，获得第一激光交点位置，并将所述第一激光交点位置作为所述第一待测量点位置。
步骤B12，测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；
在本实施例中，测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度，具体地，测量所述第一待测量点位置的照度，获得第一测量照度，并计算所述第一测量照度与预设照度测量影响因子的乘积，获得所述第一测量位置照度，其中，需要说明的，由于在第一待测量点位置的照度时，纵向激光灯和横向激光灯均处于开启状态，将对照度测量产生影响，所述预设照度测量影响因素为用于消除激光灯对照度测量的影响的计算因子。
步骤B13，基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；
在本实施例中，基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置，具体地，控制所述横向激光灯由所述初始测量点坐标的横坐标处向右滑动一个所述预设位置间隔，并控制向右滑动后的所述横向激光灯发射激光，控制处于所述初始测量点坐标的纵坐标处的纵向激光灯发射激光，获得第二激光交点位置，并将所述第二激光交点位置作为所述第二待测量点位置。
步骤B14，测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。
在本实施例中，测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度，具体地，测量所述第二待测量点位置的照度，获得第二测量照度，并计算所述第二测量照度与预设照度测量影响因子的乘积，获得所述第二测量位置照度。
步骤B30，对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
在本实施例中，对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度，具体地，求取所述第一照度和各所述第二照度的目标照度平均值，并将所述目标照度平均值作为所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
本实施例提供了一种投影屏照度测量方法，相比于现有技术采用的基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，以实现投影系统照度测量的技术手段，在确定初始测量点坐标之后，首先测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度，进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，逐一确定待测量点位置并测量待测量点位置的照度，其中，待测量点位置由横向激光灯和纵向激光灯的激光交点确定，并在激光交点存在的情况下，测量激光交点处的待测量点位置的照度，进而获得各第二照度，其中，在测量过程中无需记录待测量点位置的坐标，进而提高了照度测量的效率，且由于光沿直线传播，进而可精确测量各待测量点位置，提高了目标测量点坐待测量点位置的测量精度，且预设激光灯阵列中的激光灯可进行纵向和横向滑动，进而即使频繁改变测量点的位置，通过预设激光灯阵列和初始测量点坐标，也可快速的自动确定各待测量点位置，提高了待测量点位置的测量效率，进而对第一照度和各第二照度求平均，即可获得目标测量照度，克服了现有技术基于人工预先贴好的多个测量点的位置标签，人工手持照度计对各测量点进行照度测量，将导致投影系统测量点坐标测量效率低且精度低的技术缺陷，进而提高了投影系统照度测量效率和照度测量精度。
参照图5，图5是本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
如图5所示，该投影系统照度测量设备可以包括：处理器1001，例如CPU，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现处理器1001和存储器1005之间的连接通信。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatile memory），例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储设备。
可选地，该投影系统照度测量设备还可以包括矩形用户接口、网络接口、摄像头、RF（Radio Frequency，射频）电路，传感器、音频电路、WiFi模块等等。矩形用户接口可以包括显示屏（Display）、输入子模块比如键盘（Keyboard），可选矩形用户接口还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口可选的可以包括标准的有线接口、无线接口（如WI-FI接口）。
本领域技术人员可以理解，图5中示出的投影系统照度测量设备结构并不构成对投影系统照度测量设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图5所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块以及投影系统照度测量程序。操作系统是管理和控制投影系统照度测量设备硬件和软件资源的程序，支持投影系统照度测量程序以及其它软件和/或程序的运行。网络通信模块用于实现存储器1005内部各组件之间的通信，以及与投影系统照度测量系统中其它硬件和软件之间通信。
在图5所示的投影系统照度测量设备中，处理器1001用于执行存储器1005中存储的投影系统照度测量程序，实现上述任一项所述的投影系统照度测量方法的步骤。
本申请投影系统照度测量设备具体实施方式与上述投影系统照度测量方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
本申请实施例还提供一种投影系统照度测量装置，所述投影系统照度测量装置应用于投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量装置包括：
确定模块，用于获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
测量模块，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述测量模块包括：
坐标测量单元，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
照度测量单元，用于基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述坐标测量单元包括：
第一确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
第一获取子单元，用于基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
第二确定子单元，用于分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述坐标测量单元还包括：
第三确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
第二获取子单元，用于基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
第四确定子单元，用于分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
可选地，所述照度测量单元包括：
照度测量子单元，用于分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；
求平均子单元，用于对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。
可选地，所述确定模块包括：
计算单元，用于基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；
第五确定单元，用于将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
可选地，所述测量模块还包括：
第一测量单元，用于测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；
第二测量单元，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；
求均值单元，用于对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
可选地，所述第二测量单元包括：
第一定位子单元，用于基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；
第一测量子单元，用于测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；
第二定位子单元，用于基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；
第二测量子单元，用于测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。
本申请投影系统照度测量装置的具体实施方式与上述投影系统照度测量方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
本申请实施例提供了一种可读存储介质，且所述可读存储介质存储有一个或者一个以上程序，所述一个或者一个以上程序还可被一个或者一个以上的处理器执行以用于实现上述任一项所述的投影系统照度测量方法的步骤。
本申请可读存储介质具体实施方式与上述投影系统照度测量方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利处理范围内。
Claims (8)
1.一种投影系统照度测量方法，其特征在于，所述投影系统照度测量方法包括：
获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度；
其中，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度；
其中，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
2.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。
3.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；
对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。
4.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述几何参数包括投影屏宽和投影屏长，
所述基于所述几何参数，确定初始测量点坐标的步骤包括：
基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；
将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。
5.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤还包括：
测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；
对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。
6.如权利要求5所述投影系统照度测量方法，其特征在于，各所述待测量点位置包括第一待测量点位置和第二待测量点位置，各所述第二照度包括第一测量位置照度和第二测量位置照度，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；
测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；
基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；
测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。
7.一种投影系统照度测量设备，其特征在于，所述投影系统照度测量设备包括：存储器、处理器以及存储在存储器上的用于实现所述投影系统照度测量方法的程序，
所述存储器用于存储实现投影系统照度测量方法的程序；
所述处理器用于执行实现所述投影系统照度测量方法的程序，以实现如权利要求1至6中任一项所述投影系统照度测量方法的步骤。
8.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有实现投影系统照度测量方法的程序，所述实现投影系统照度测量方法的程序被处理器执行以实现如权利要求1至6中任一项所述投影系统照度测量方法的步骤。
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