CN111782084B - 显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏 - Google Patents

显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏，该方法包括：在显示控制时段利用行驱动电路经显示屏像素阵列的各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关，并利用各列通道线对开启的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；及在触控检测时段，利用行驱动电路经由各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态，并利用行驱动电路按预定时序在各行通道线上施加激励脉冲信号，激励脉冲信号的电压使充放电开关始终处于断开状态，且激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化，通过检测列通道线上的电压变化来确定显示屏被触控的位置；显示控制时段和触控检测时段彼此间隔开并呈周期性排布。

Description

显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏
技术领域
本发明涉及显示屏的驱动显示技术，尤其涉及一种显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏。
背景技术
尽管液晶显示器(LCD)、有机发光二极管(OLED)以及微发光二极管(Micro-LED)等各种屏的显示和发光原理不尽相同，但它们的显示驱动控制基本上都一样。图1展示了一块子像素分辨率为M*N的显示屏的大体驱动控制结构示意图。
如图1所示，其用于显示的显示驱动控制包括行驱动控制和列驱动控制，其中行驱动控制主要负责显示屏像素阵列中各行像素单元的行扫描，当扫到某一行时，行驱动电路通过行通道线同时打开这一行的所有像素电路的充放电开关(SWx_1至SWx_M)，列驱动电路通过列通道线把扫到的一行所有子像素电路的存储电容充放电到目标灰度电压。驱动控制结构中，行驱动电路一般由N个移位寄存器(L1,L2,…LN)前后串联组成，它们工作电压信号AVDD和地电压信号线AVDD分别由AVDD信号线和AVSS信号线提供，工作时钟脉冲CP信号由CP信号线提供。每级移位寄存器LX的输出控制一行所有子像素充放电开关(SWx+1_1至.SWx+1_M)的开启与关断，同时也作为下一级移位寄存器的输入，其中第一级移位寄存器L1的输入端输入行驱动起始(STV)信号，该输入端链接STV信号线。AVDD信号线、AVSS信号线、CP信号线和STV信号线的控制电路以及列驱动电路一般都在显示驱动芯片中实现。
在将显示屏用作触控式显示屏时，还需要额外的触控检测电路进行触控检测。也即，在现有的触控式显示屏中，需要额外的触控检测电路来检测用户对显示屏的触控操作，该触控检测电路包括在显示屏的平面上沿第一方向布置的多条平行的信号激励线和沿第二方向布置的多条平行的信号检测线，信号激励线和信号检测线垂直布置，通过信号激励线施加激励信号，由信号检测线检测在用户手指触碰显示屏时，由触控点的耦合电容或电感引起的相应信号检测线上电压的变化，由此检测用户触控的位置，并进行响应。触控检测电路一般在触控检测芯片中实现。
由于现有技术中用于显示的显示驱动控制电路和触控检测电路需分别布置，导致现有的显示屏的实现显示和触控的驱动控制方式具有电路规模大、成本高、功耗高等缺陷，如何克服这些缺陷，是一个亟待解决的问题。
发明内容
鉴于此，本发明实施例提供了一种显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏，以消除或改善现有技术中存在的一个或更多个缺陷。
根据本发明的一个发明，提供了一种显示屏的触控检测方法，该方法包括显示驱动步骤和触控检测步骤：
所述显示驱动步骤包括：在显示控制时段利用行驱动电路经由显示屏像素阵列的各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关；利用显示屏的各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；
所述触控检测步骤包括：在触控检测时段利用所述行驱动电路经由显示屏像素阵列的所述各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态；在触控检测时段利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线线上施加激励脉冲信号，所述激励脉冲信号的电压使像素单元的充放电开关始终处于断开状态，并且所述激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化；通过检测列通道线上的电压变化来确定所述显示屏被触控的位置；
其中，所述显示控制时段和所述触控检测时段彼此间隔开并呈周期性排布。
在一些实施例中，所述行驱动电路包括串联连接的多个移位寄存器，各个移位寄存器分别连接显示屏像素阵列的各行通道线，并且前一移位寄存器的输出信号作为下一移位寄存器的输入信号。
在一些实施例中，所述行驱动电路具有扫描电源电压输入端、地电压输入端、时钟脉冲输入端和作为移位寄存器输入端的行驱动起始信号输入端；所述显示控制时段分为多个第一时钟周期，所述第一时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应；所述触控检测时段分为多个第二时钟周期，所述第二时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应，所述行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号。
在一些实施例中，在所述显示控制时段，各移位寄存器的输入端输入的信号是宽度为第一时钟脉冲宽度的脉冲信号；在所述触控检测时段，各移位寄存器的输入端输入的信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号，所述预定倍数基于触控点的大小精度确定；所述通过利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线线上施加的激励脉冲信号和在各列通道线上检测到的电压变化，包括：选择所述多个第二时钟周期中间隔所述预定倍数个第二时钟周期的时钟周期，来在选择的时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测。
在一些实施例中，在所述显示控制时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第一电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第二电压值，所述第一电压值大于所述第二电压值；在所述触控检测时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第三电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第四电压值，所述第三电压值和所述第四电压值之间的差值被设置为在所述显示屏上有触控事件的情况下，在触控位置对应的列通道线上能够检测到电压变化，同时像素单元充放电开关处于断开状态。
本发明的另一方面，还提供一种显示屏的触控检测装置，该装置包括：
行驱动电路，该行驱动电路连接显示屏像素阵列的各行通道线，所述像素阵列包括与各行通道线连接的充放电开关；
显示驱动和触控检测控制芯片，其连接所述行驱动电路；
其中，所述显示驱动和触控检测控制芯片用于：
在显示控制时段，通过所述行驱动电路经由各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关，并利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；
在触控检测时段，利用所述行驱动电路经由所述各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态，并通过利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线上施加的激励脉冲信号，并通过在各列通道线上检测电压变化，来检测所述显示屏被触控的位置，其中，所述激励脉冲信号的电压使像素单元的充放电开关始终处于断开状态，并且所述激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化；
其中，所述显示控制时段和所述触控检测时段彼此间隔开并呈周期性排布。
在一些实施例中，所述行驱动电路包括串联连接的多个移位寄存器，各个移位寄存器分别连接显示屏像素阵列的各行通道线，并且前一移位寄存器的输出信号作为下一移位寄存器的输入信号。
在一些实施例中，所述行驱动电路具有扫描电源电压输入端、地电压输入端、时钟脉冲输入端和作为移位寄存器输入端的行驱动起始信号输入端；所述显示控制时段分为多个第一时钟周期，所述第一时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应；所述触控检测时段分为多个第二时钟周期，所述第二时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应，所述行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号。
在一些实施例中，所述显示驱动和触控检测控制芯片包括：显示控制模块、触控检测模块和列驱动控制模块；其中，所述显示控制模块用于在显示控制时段向所述行驱动电路提供输入信号；所述触控检测模块用于在触控检测控制时段向所述行驱动电路提供输入信号；所述列驱动电路连接显示屏像素阵列的各列通道线，用于在所述显示控制时段利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压。
本发明的另一方面，还提供一种显示屏，该显示屏包括如前所述的显示屏的驱动控制装置。
本发明如上的显示屏的触控检测方法、检测装置和显示屏，完全共享共用显示用的硬件资源来实现显示屏的触控检测，从而大大降低了电路规模和成本。
本发明的附加优点、目的，以及特征将在下面的描述中将部分地加以阐述，且将对于本领域普通技术人员在研究下文后部分地变得明显，或者可以根据本发明的实践而获知。本发明的目的和其它优点可以通过在书面说明及其权利要求书以及附图中具体指出的结构实现到并获得。
本领域技术人员将会理解的是，能够用本发明实现的目的和优点不限于以上具体所述，并且根据以下详细说明将更清楚地理解本发明能够实现的上述和其他目的。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：
图1为现有显示屏的像素阵列及其显示控制电路示意图。
图2为本发明一实施例中将显示驱动电路用作显示屏的触控检测电路进行复用的示意图。
图3为本发明一实施例中显示屏的触控检测方法的流程示意图。
图4为本发明一实施例中显示驱动和触控检测分时复用的示意图。
图5为本发明一实施例的显示驱动过程中各输入信号的时序示意图。
图6为本发明一实施例的触控检测过程各输入信号的时序示意图。
图7为本发明一实施例中显示屏的触控检测装置的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本发明做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施方式及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。
在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本发明，在附图中仅仅示出了与根据本发明的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本发明关系不大的其他细节。
应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、要素、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、要素、步骤或组件的存在或附加。
在此，还需要说明的是，如果没有特殊说明，术语“连接”在本文不仅可以指直接连接，也可以表示存在中间物的间接连接。
为了解决现有技术中显示驱动控制电路和触控检测电路需分别布置而导致的电路规模大、成本高等缺陷，本发明实施例提供了一种显示屏的触控检测方法，在该触控检测方法中，完全共享共用显示用的硬件资源。图2所示，显示时用于进行行扫描的行通道线(或称行扫描线)在触控检测时就变成信号激励线，显示时用的列通道线在触控检测时就变成信号检测线，行扫描线和列通道线刚好相互交错形成触控检测需要的二维网状结构。同时，触控检测的信号激励电路(或称触控检测电路)也是复用显示的行驱动电路。本发明实施例中，用于进行显示屏触控检测的信号检测电路和用于显示的列驱动电路也可集成在同一芯片(可称为显示驱动和触控检测控制芯片)中。
图3所示为本发明一实施例中显示屏的触控检测方法的流程示意图。如图3所示，该方法包括显示驱动步骤S310和触控检测步骤S320。其中，显示驱动步骤S310发生在显示控制时段，触控检测步骤S320发生在触控检测时段。图4描述了显示驱动和触控检测利用同一套硬件资源电路是如何分时复用的，如图4所示，显示屏的整个显示触控阶段包括多个显示触控周期T，该多个显示触控周期T用于周期性地分时进行显示驱动和触控检测,每个显示触控周期T包括显示驱动时间(或称为显示驱动时段)Tdisplay、触控检测时间(或称触控检测时段)Ttouch、以及用于在Tdisplay和Ttouch之间进行切换准备的准备时段，其中，显示驱动时段Tdisplay可分成N(N表示显示屏的像素的行数)个时钟周期，每个时钟周期可记为tdisplay；触控检测时段Ttouch也分成N个时钟周期，每个时钟周期可记为ttouch。在本发明实施例中，T、Tdisplay和Ttouch可根据实际应用的需求来选择配置，用于在Tdisplay和Ttouch之间进行切换准备的准备时段可基于切换速度进行设定。下面分别详细描述一下显示驱动和触控检测的过程。
如图3所示，显示驱动步骤S310可包括：
步骤S311，在显示控制时段，利用行驱动电路经由显示屏像素阵列的各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关。
在该时段，利用行驱动电路来按预定时序控制各行像素单元的充放电开关的实现过程可以同现有技术。下面结合图5描述显示驱动过程中各输入信号的时序示意图。
在显示驱动期间，AVDD信号线的电压值为VDDdisplay(第一电压值)，AVSS信号线(地信号线)上的电压值为VSSdisplay(第二电压值)，优选地，VDDdisplay＞VSSdisplay。显示驱动具体过程如图5所示，显示一帧图像的开始，在STV信号线上产生一个CP时钟宽度(周期为tdisplay)的脉冲信号，之后在CP信号线上依次产生N个时钟脉冲，这N个时钟脉冲为周期性的，周期为tdisplay，也即，一个显示控制时段可分为与显示屏像素阵列的行数N相对应的N个时钟周期(第一时钟周期)。这样各移位寄存器阵列(L1,L2,…,LN)将按照时序依次输出一个CP时钟宽度的脉冲信号，各移位寄存器阵列(L1,L2,…,LN)的输出就可用于控制N行像素单元(如子像素)充放电开关的依次开启和关断。子像素充放电开关的开启电压可以是高电压也可以是低电压，本文都以高电压开启子像素充放电开关为例进行阐述，但本发声明同样适用于以低电压开启子像素充放电开关的情况。如果是低电压开启子像素充放电开关，则所有信号线的电平都进行翻转。
步骤S312，利用显示屏的各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压。
当步骤S311中某行子像素的充放电开关开启时，列驱动电路中的列通道充放电电路就会通过列通道给这一行子像素的像素存储电容充放电到目标电压。
在通过一个显示驱动时段Tdisplay对显示屏完成一次显示驱动之后，便进行由显示驱动时段Tdisplay到称触控检测时段Ttouch的切换，切换时间通常基于电路切换速度决定，切换时间间隔可以尽量短。下面将描述称触控检测时段Ttouch的接触检测过程。
触控检测步骤S320可包括：
步骤S321，在触控检测时段利用行驱动电路经由显示屏像素阵列的各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态。
在本实施例中，显示时用于进行行扫描的行通道线(或称行扫描线)在触控检测时就变成传输激励信号的激励信号线，显示时用的列通道线在触控检测时就变成检测信号线，行通道线和列通道线刚好相互交错形成触控检测需要的二维网状结构。同时，触控检测的信号激励电路(或称触控检测电路)也是复用显示的行驱动电路。
触控检测的基本原理是当有触控事件的情况下，激励信号线上的电压变化通过触控点的耦合电容也会引起对应检测信号线上的电压变化。在触控检测期间，如图6所示，本发明实施例首先设定AVDD信号线的电压值为VDDtouch(第三电压值，它的值可正可负，本文以正值为例)，AVSS信号线(地信号线)上的电压值为VSStouch(第四电压值)，VDDtouch和VSStouch值的选择没有特别的限定，只要能满足以下两个条件即可，第1个条件是：无论移位寄存器阵列(L1,L2,…LN)的输出是VDDtouch还是VSStouch，子像素的充放电开关(SW1_1,…,SWN_M)都处于关断状态，这样就确保在触控检测阶段图像的正常显示不会受影响。第2个条件是：VDDtouch和VSStouch之间差值的选择要使得在有触控事件的情况下，由激励信号线上电压变化通过触控点的耦合电容而引起的检测信号线上的电压变化能够被方便检测出来。只要满足这两个条件，VDDtouch和VSStouch值可被灵活地选择。
步骤S322，通过利用行驱动电路按预定时序在各行通道线线上施加的激励脉冲信号，并在各列通道线上检测电压变化，来检测所述显示屏被触控的位置。
在本发明实施例中，根据触控接触点的大小精度，可设定触控检测二维阵列的点数为P*Q。一般触控接触点的精度远小于子像素点的精度，作为一个示例，可设定P＝M/A,Q＝N/B，A和B均为依据要达到的触控检测的精度确定的大于1的整数，A和B的值可以相同，也可以不同。触控检测的具体过程如图6所示，一开始初始化所有列通道线的电压为VSStouch；在STV信号线上产生一个宽度为A*ttouch的脉冲信号，高电平为VDDtouch(第三电压值)，低电平为VSStouch(第四电压值)；之后和显示驱动过程一样在CP信号线上依次产生N个时钟信号(时钟周期为ttouch)，同样其高电平为VDDtouch，低电平为VSStouch。也即，触控检测时段可分为与显示屏像素阵列的行数N相对应的N个时钟周期(第二时钟周期)，行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号，如该行驱动起始信号宽度为第二时钟周期的A倍。各移位寄存器阵列(L1,L2,…,LN)将按照大小为ttouch的间隔时序依次输出宽度为A*ttouch的脉冲信号。也就是说，在触控检测时段，各移位寄存器的输入端输入的信号为宽度为第二时钟周期的A倍的脉冲信号，倍数A基于触控点的大小精度确定。
本发明实施例可在第A,2*A,…,P*A个CP时钟周期这P个CP时钟周期中的每个时钟周期内，均对第B,2*B,……,Q*B根列通道线上的电压变化进行检测，如果在第X*A个CP时钟周期内检测到第Y*B根列通道线上的电压变化超过ΔVtouch，则说明在坐标(X,Y)的位置有触控事件发生，ΔVtouch的值可根据实际的精度需要来设定配置。
本发明并不限于在第A,2*A,…,P*A个CP时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测，也可以选择间隔为A个CP时钟周期的其他P个CP时钟周期来在这些选择的时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测，例如，在第1,1+A,…,1+(P-1)*A个CP时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测。同样，对每个CP时钟周期内检测的列通道线的选择也是灵活的，优选地从第1根列通道线至第B根列通道线中选择一根列通道线作为待检测的第1根列通道线，以B根列通道线为间隔来选择其他的待检测列通道线，进行触控检测。
基于上述原理，可以方便的检测出任意多点的同时触控。
基于如上所述的显示屏的触控检测方法，可以使得显示屏的显示驱动和触控检测可以分时复用共用的显示用的硬件资源，从而大大降低了电路规模和成本，还可以相应地降低功耗。
相应地，本发明实施例还提供了一种显示屏的触控检测装置，图7所示为该触控检测装置的框图示意图。如图7所示，该装置包括：行驱动电路和显示驱动和触控检测控制芯片。
行驱动电路连接显示屏像素阵列的各行通道线，该像素阵列包括与各行通道线连接的充放电开关。在本发明实施例中，行驱动电路可以包括串联连接的多个移位寄存器，各个移位寄存器分别连接显示屏像素阵列的各行通道线，并且前一移位寄存器的输出信号作为下一移位寄存器的输入信号。如图1和图2所示，行驱动电路具有扫描电源电压输入端(AVDD信号输入端)、地电压输入端(AVSS信号输入端)、时钟脉冲输入端(CP输入端)和作为移位寄存器输入端的行驱动起始信号输入端(STV输入端)。
显示驱动和触控检测控制芯片连接行驱动电路，用于：
在显示控制时段，通过行驱动电路经由各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关，并利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；以及
在触控检测时段，利用行驱动电路经由各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态，并通过利用行驱动电路按预定时序在各行通道线上施加的激励脉冲信号，并通过在各列通道线上检测电压变化，来检测显示屏被触控的位置，其中，所述激励脉冲信号的电压使像素单元的充放电开关始终处于断开状态，并且所述激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化。
由于显示控制时段的实现过程和触控检测阶段的实现过程均在前面的方法步骤中作了详细描述，在此不再赘述。
基于前面的描述可知，显示控制时段可分为多个(如N个)第一时钟周期，该第一时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应。
触控检测时段可分为多个(如N个)第二时钟周期，该第二时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应，且行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期宽度的预定倍数的脉冲信号。
如图4可知，显示控制时段和触控检测时段为彼此间隔开并呈周期性排布的。
在显示控制时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第一电压值，地电压输入端输入的电压值为第二电压值，第一电压值大于第二电压值；
在触控检测时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第三电压值，地电压输入端输入的电压值为第四电压值，第三电压值和第四电压值之间的差值被设置为在显示屏上有触控事件的情况下，在触控位置对应的信号检测线上能够检测到电压变化。
在本发明另一实施例中，显示驱动和触控检测控制芯片还可分为两个以上模块，如：显示控制模块、触控检测模块和列驱动电路(模块)。其中，显示控制模块可用于在显示控制时段向行驱动电路提供输入信号。触控检测模块可用于在触控检测控制时段向行驱动电路提供输入信号；列驱动电路连接显示屏像素阵列的各列通道线，用于在显示控制时段利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压。
本发明的另一方面，还提供了一种具有如前所述的触控检测装置的显示屏。
在上述实施例中，描述和示出了若干电路形式和具体的步骤作为示例。但是，本发明的方法过程并不限于所描述和示出的电路形式和具体步骤，本领域的技术人员可以在领会本发明的精神后，作出各种改变、修改和添加。
还需要说明的是，本发明中提及的示例性实施例，基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是，本发明不局限于上述步骤的顺序，也就是说，可以按照实施例中提及的顺序执行步骤，也可以不同于实施例中的顺序，或者若干步骤同时执行。
本发明中，针对一个实施方式描述和/或例示的特征，可以在一个或更多个其它实施方式中以相同方式或以类似方式使用，和/或与其他实施方式的特征相结合或代替其他实施方式的特征。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明实施例可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种显示屏的触控检测方法，其特征在于，该方法包括显示驱动步骤和触控检测步骤：
所述显示驱动步骤包括：
在显示控制时段利用行驱动电路经由显示屏像素阵列的各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关；
利用显示屏的各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；
所述触控检测步骤包括：
在触控检测时段利用所述行驱动电路经由显示屏像素阵列的所述各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态；
在触控检测时段利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线线上施加激励脉冲信号，所述激励脉冲信号的电压使像素单元的充放电开关始终处于断开状态，并且所述激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化；
通过检测列通道线上的电压变化来确定所述显示屏被触控的位置；
其中，所述显示控制时段和所述触控检测时段彼此间隔开并呈周期性排布；
所述行驱动电路具有扫描电源电压输入端、地电压输入端、时钟脉冲输入端和作为移位寄存器输入端的行驱动起始信号输入端；
所述显示控制时段分为多个第一时钟周期，所述第一时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应；
所述触控检测时段分为多个第二时钟周期，所述第二时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应，所述行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述行驱动电路包括串联连接的多个移位寄存器，各个移位寄存器分别连接显示屏像素阵列的各行通道线，并且前一移位寄存器的输出信号作为下一移位寄存器的输入信号。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
在所述显示控制时段，各移位寄存器的输入端输入的信号是宽度为第一时钟脉冲宽度的脉冲信号；
在所述触控检测时段，各移位寄存器的输入端输入的信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号，所述预定倍数基于触控点的大小精度确定；
所述通过利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线线上施加的激励脉冲信号和在各列通道线上检测到的电压变化，包括：选择所述多个第二时钟周期中间隔所述预定倍数个第二时钟周期的时钟周期，来在选择的时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
在所述显示控制时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第一电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第二电压值，所述第一电压值大于所述第二电压值；
在所述触控检测时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第三电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第四电压值，所述第三电压值和所述第四电压值之间的差值被设置为在所述显示屏上有触控事件的情况下，在触控位置对应的列通道线上能够检测到电压变化，同时像素单元充放电开关处于断开状态。
5.一种显示屏的触控检测装置，其特征在于，该装置包括：
行驱动电路，该行驱动电路连接显示屏像素阵列的各行通道线，所述像素阵列包括与各行通道线连接的充放电开关；
显示驱动和触控检测控制芯片，其连接所述行驱动电路；
其中，所述显示驱动和触控检测控制芯片用于：
在显示控制时段，通过所述行驱动电路经由各行通道线按预定时序控制各行像素单元的充放电开关，并利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压；
在触控检测时段，利用所述行驱动电路经由所述各行通道线控制各行像素单元的充放电开关处于断开状态，并通过利用所述行驱动电路按预定时序在各行通道线上施加的激励脉冲信号，并通过在各列通道线上检测电压变化，来检测所述显示屏被触控的位置，其中，所述激励脉冲信号的电压使像素单元的充放电开关始终处于断开状态，并且所述激励脉冲信号的变化使得触控事件能够引起列通道线上的电压变化；
其中，所述显示控制时段和所述触控检测时段彼此间隔开并呈周期性排布；
所述行驱动电路具有扫描电源电压输入端、地电压输入端、时钟脉冲输入端和作为移位寄存器输入端的行驱动起始信号输入端；
所述显示控制时段分为多个第一时钟周期，所述第一时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应；
所述触控检测时段分为多个第二时钟周期，所述第二时钟周期的个数与显示屏像素阵列的行数相对应，所述行驱动起始信号输入端输入的行驱动起始信号是宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，
所述行驱动电路包括串联连接的多个移位寄存器，各个移位寄存器分别连接显示屏像素阵列的各行通道线，并且前一移位寄存器的输出信号作为下一移位寄存器的输入信号。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，
在所述显示控制时段，各移位寄存器的输入端输入的信号为宽度为第一时钟脉冲宽度的脉冲信号；
在所述触控检测时段，各移位寄存器的输入端输入的信号为宽度为第二时钟周期的预定倍数的脉冲信号，所述预定倍数基于触控点的大小精度确定；
所述显示驱动和触控检测控制芯片在所述触控检测时段选择所述多个第二时钟周期中间隔所述预定倍数个第二时钟周期的时钟周期，来在选择的时钟周期内对列通道线上的电压变化进行检测。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，
在所述显示控制时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第一电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第二电压值，所述第一电压值大于所述第二电压值；
在所述触控检测时段所述扫描电源电压输入端输入的电压为第三电压值，所述地电压输入端输入的电压值为第四电压值，所述第三电压值和所述第四电压值之间的差值被设置为在所述显示屏上有触控事件的情况下，在触控位置对应的列通道线上能够检测到电压变化，同时像素单元充放电开关处于断开状态。
9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述显示驱动和触控检测控制芯片包括：显示控制模块、触控检测模块和列驱动电路；
其中，所述显示控制模块用于在显示控制时段向所述行驱动电路提供输入信号；
所述触控检测模块用于在触控检测控制时段向所述行驱动电路提供输入信号；
所述列驱动电路连接显示屏像素阵列的各列通道线，用于在所述显示控制时段利用各列通道线对处于开启状态的各行像素单元的充放电开关充电或放电到目标灰度电压。
10.一种具有如权利要求5-9中任意一项所述的显示屏的触控检测装置的显示屏。
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