CN111780837B - 一种质量测定用电子分析天平 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子称量设备领域，且公开了一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座，电子分析天平座的顶部设有五个密封的玻璃门，所述电子分析天平座顶端的中部设有称量传动的称量联动轴，所述称量联动轴的顶部固定连接有位于电子分析天平座上方的托盘，所述称量联动轴的底端与电子分析天平座内部的称量计量机构连接。该质量测定用电子分析天平，通过与托盘额外联动的辅助托环结构增设，利用辅助托环两侧的半环夹板，便于对盛有液体试剂的圆底烧瓶或试管夹持进行质量测定，无需将圆底烧瓶和液体试剂转移至烧杯，再利用烧杯放置在托盘上进行质量测定，减少了液体试剂的称量步骤，提高了液体试剂的称量效率。

Description

一种质量测定用电子分析天平

技术领域

本发明涉及电子称量设备领域，具体为一种质量测定用电子分析天平。

背景技术

电子分析天平是质量测定精数高的一种电子天平，其测定精确到达到0.1mg，同时，利用了电子天平的传感技术、模拟技术、数字电子技术和微处理器技术，具有自动校准、自动显示、去皮重、自动数据输出、自动故障寻迹、超载保护等多种功能，电子天平通常使用电磁力传感器(见称重传感器)，组成一个闭环自动调节系统，准确度高，稳定性好，由于电子分析天平的测定精确数高，常用与实验室试剂品的精确称量，以变了解各试品进行化学反应前后的变化。

电子天平的工作原理：当托盘上加上被称物时，传感器的位置检测器信号发生变化，并通过放大器反馈使传感器线圈中的电流增大，该电流在恒定磁场中产生一个反馈力与所加载荷相平衡；同时，该电流在测量电阻Rm上的电压值通过滤波器、模/数转换器送入微处理器，进行数据处理，最后由显示器自动显示出被称物质量数值。

然而，由于实验室内，化学试剂有固体和液体两种状态，而现有的电子分析天平在称量液体试剂时，因不能直接对盛有液体试剂的圆底烧瓶和试管进行化学反应前后的整体质量测定，因此，需要将圆底烧瓶或试管内的试剂转移至平底烧杯中，通过平底烧杯放置在托盘上进行质量测定，再转移至圆底烧瓶或试管内进行化学反应前后的质量测定，使得液体试剂的称量步骤增加，导致液体试剂的称量效率不高，并且，液体试剂转移时存在损失，进而导致液体药剂质量测定结果的精确性降低。

发明内容

针对上述背景技术的不足，本发明提供了一种质量测定用电子分析天平，具备便于精确测定固体和液体化学试剂的质量的优点，解决了背景技术提出的问题。

本发明提供如下技术方案：一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座，电子分析天平座的顶部设有五个密封的玻璃门，所述电子分析天平座顶端的中部设有称量传动的称量联动轴，所述称量联动轴的顶部固定连接有位于电子分析天平座上方的托盘，所述称量联动轴的底端与电子分析天平座内部的称量计量机构连接，所述称量联动轴的外围设有可旋转的辅助托环，且辅助托环位于所述托盘的下方，所述辅助托环旋转一定角度后悬挂在称量联动轴上，所述辅助托环的顶部设有两个可旋转的半环夹板，且半环夹板的弧顶可旋转至托盘的正上方。

优选的，所述称量联动轴上固定套装有位于托盘下方的联动套管，所述联动套管位于辅助托环的内圈处，且联动套管的外侧固定连接有两个限位管，两个所述限位管以称量联动轴的轴心旋转对称，两个所述限位管的一端均预留有管口，所述辅助托环的内圈固定连接有两个分别位于两个限位管一侧的定位块，两个所述定位块的侧面均固定连接有朝向限位管管口的插轴，且插轴的高度值恰好与限位管内腔的高度值相同，所述托盘的顶部为内凹式设计。

优选的，所述电子分析天平座顶部的两侧均固定连接有位于辅助托环一侧的支撑块，所述辅助托环的两侧均固定连接有支撑板，且支撑板的底部与支撑块的顶部活动连接。

优选的，所述辅助托环的两侧均开设有与半环夹板相适配的放置槽，放置槽的两侧与半环夹板的两端分别设有旋转轴，半环夹板以两个旋转轴的连接线为轴心线进行旋转，且放置槽的高度值与半环夹板的厚度值相同，所述辅助托环上开设有位于两个放置槽弧顶处的滑槽，且滑槽的槽口延伸至辅助托环的最外沿，两个半环夹板的弧顶处均开设有通槽，两个通槽的内部分别固定套装有定位轴，两个定位轴的中部活动套装有转动轴，两个转动轴的一端分别固定连接有半环夹板内侧的夹持管套。

优选的，所述半环夹板的内圈与托盘的外围设有一定间距，且该间距的具体值应大于实验室常规圆底烧瓶的底部直径值。

优选的，所述夹持管套的形状为半环管状，且两个所述夹持管套顶部和底部的内侧均设有弹性夹垫，两个夹持管套内腔的顶部和底部均活动套装有半环磁块，两个半环磁块的向对面磁极相反，夹持管套的内壁固定安装有位于两个半环磁块之间的微型离子棒，两个夹持管套内腔的顶部和底部分别固定安装有限位套，且限位套与半环磁块活动套接，一个所述夹持管套内的两个半环磁块上分别固定连接有拨动轴，且两个拨动轴分别延伸至夹持管套顶部和底部的外侧，夹持管套的顶部和底部均开设有与拨动轴相适配的滑槽，一个夹持管套内两个半环磁块一端的外侧均设有弹性卡板，且两个弹性卡板与另一个夹持管套的侧壁卡接。

优选的，所述电子分析天平座的顶部设有位于四个玻璃门内的干燥管，四个干燥管分别设于电子分析天平座顶部的四角，且干燥管的内部装有干燥剂。

本发明具备以下有益效果：

1、该质量测定用电子分析天平，通过与托盘额外联动的辅助托环结构增设，利用辅助托环两侧的半环夹板，便于对盛有液体试剂的圆底烧瓶或试管夹持进行质量测定，无需将圆底烧瓶和液体试剂转移至烧杯，再利用烧杯放置在托盘上进行质量测定，减少了液体试剂的称量步骤，提高了液体试剂的称量效率，同时，避免了液体试剂转移时的损失，进而提高了液体药剂的称量和计量的精确性，保障了实验结果的精确性，并在固体试剂测量时，控制辅助托环与托盘分离，减小固体试剂质量测定时的电能消耗。

2、该质量测定用电子分析天平，通过两个半环夹板上相对应的夹持管套及其内部的半环磁块的结构设计，利用半环磁块与夹持管套卡接来保持两个夹持管套对圆底烧瓶或试管的卡接固定，还在圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位周围形成接近整圈的磁场，由微型离子棒释放的正、负电荷在磁场作用下，朝向圆底烧瓶的瓶颈或试管运动，从而吸附圆底烧瓶的瓶颈或试管管壁上的负、正电荷，消除圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位的静电，避免了圆底烧瓶或试管管壁静电对电子分析天平测定的影响，提高测定结果的精确性，同时，无需通过高压风管吹出强风，使得离子棒释放的正、负电荷移动至圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位处，避免了高压气流对电子分析天平测量结果的干扰的问题，进一步提高测定结果的精确性。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明图1结构辅助托环的俯视剖切图；

图3为本发明图2夹持管套的结构示意图；

图4为本发明电子分析天平夹持圆底烧瓶的状态示意图；

图5为本发明电子分析天平夹持圆底烧瓶称量的俯视示意图；

图6为本发明图4夹持管套的结构示意图；

图7为本发明图6夹持管套的剖切示意图；

图8为本发明夹持管套内正、负电荷受力运动示意图。

图中：1、电子分析天平座；2、支撑杆；3、称量联动轴；301、联动套管；302、限位管；4、托盘；5、辅助托环；501、放置槽；502、半环夹板；5021、转动轴；503、定位块；504、支撑板；6、支撑块；7、干燥管；8、夹持管套；801、弹性夹垫；802、半环磁块；8021、封隔块；803、拨动轴；804、离子棒；805、限位套。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-8，一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座1，电子分析天平座1顶部的四角均固定连接有支撑杆2，四个支撑杆2的两两之间均设有玻璃门，玻璃门的数量为四个，四个玻璃门分别位于电子分析天平的两侧、正面、顶部，且每个玻璃门上均设有门耳，通过四个支撑杆2之间的玻璃门对电子分析天平座1中部的称量机构进行密封，以确保在称量时，不会受到外界气流影响，从而保障了称量结果的精确性，电子分析天秤座1的中部设有称量联动轴3，称量联动轴3的顶端固定连接有位于电子分析天平座1上方的托盘4，称量联动轴3的底端与电子分析天平座1内部的称量计量机构连接，电子分析天平座1的正面设有相应的显示器，显示器用于直观显示计量结构，在实验室称量颗粒药品时，打开分析天平侧面的玻璃门，将洁净的纸板放到托盘4上，然后将需要称量的药品颗粒倒入，根据显示器确定加入颗粒药品的质量，即可完成颗粒药品的质量测定，称量联动轴3的外围设有可旋转的辅助托环5，且辅助托环5位于托盘4的下方，辅助托环5旋转一定角度可后悬挂在称量联动轴3上，此时辅助托环5的底部与电子分析天平座1的顶部不接触，辅助托环5顶部的两侧均设有可旋转的半环夹板502，半环夹板502的两端均与托盘4的顶部活动套接，且半环夹板502的弧顶可以从水平状态旋转至与托盘4呈九十度的状态，在需要对实验室圆底烧瓶中的药剂进行质量称量时，控制辅助托环5挂在称量联动轴3上，将圆底烧瓶的圆底放置在托盘4上，旋转两个半环夹板502，使得两个半环夹板502夹住圆底烧瓶顶部的瓶颈，从而对圆底烧瓶进行稳定加持,进而对圆底烧瓶中的液体试剂进行质量称量，而在对试管内液体试剂进行质量称量时，同理，试管底部放置在托盘4，利用两个辅助托环5夹住试管顶部的管壁上，从而对圆底试管内地液体进行质量称量，从而便于操作人员直接对圆底烧瓶或试管内的液体试剂进行质量测定，无需将圆底烧瓶和液体试剂转移至烧杯，再利用烧杯放置在托盘4上进行质量测定，减少了液体试剂的称量步骤，提高了液体试剂的称量效率，同时，避免了液体试剂转移时的损失，进而提高了液体药剂的称量和计量的精确性，保障了实验结果的精确性。

其中，称量联动轴3上固定套装有位于托盘4下方的联动套管301，联动套管301位于辅助托环5的内圈处，且联动套管301的外侧固定连接有两个限位管302，两个限位管302以称量联动轴3的轴心旋转对称，两个限位管302的一端均预留有管口，辅助托环5的内圈固定连接有两个分别位于两个限位管302一侧的定位块503，两个定位块503的侧面均固定连接有朝向限位管302管口的插轴，且插轴的高度值恰好与限位管302内腔的高度值相同，托盘4的顶部为内凹式设计，在需要对圆底烧杯或试管内的试剂进行质量测定时，通过转动辅助托环5使得定位块503上的插轴插入称量联动轴3上的限位管302内，使得托盘4、称量联动轴3和辅助托环5构成一个托盘整体，从而便于利用辅助托环5上的两个可旋转的半环夹板502夹持圆底烧瓶的瓶颈或试管的管壁，完成圆底烧瓶或试管内的试剂进行质量测定，当固体颗粒进行质量测定时，控制定位块503上的插轴与限位管302分离，即辅助托环5与称量联动轴3、托盘4分离，仅将固体颗粒放置在联动套管301上进行称量，即可，从而方便了操作人员对固体颗粒物品和液体试剂进行质量测定。

其中，电子分析天平座1顶部的两侧均固定连接有位于辅助托环5一侧的支撑块6，辅助托环5的两侧均固定连接有支撑板504，且支撑板504的底部与支撑块6的顶部活动连接，在电子分析天平对常规固体颗粒进行称量时，辅助托环5两侧的支撑板504位于支撑块6上，保持辅助托环5内侧定位块503的插轴与称量联动轴3侧面限位管302持平，进而在对圆底烧瓶或试管中的液体试剂进行质量测定时，只需水平旋转辅助托环5，使得定位块503插入限位管302内的后，支撑板504与支撑块6分离，方便了操作人员的使用，以便提高称量效率。

其中，辅助托环5的两侧均开设有与半环夹板502相适配的放置槽501，且放置槽501的高度值与半环夹板502的厚度值相同，放置槽501的两侧与半环夹板5的两端分别设有旋转轴，半环夹板5以两个旋转轴的连接线为轴心线进行旋转，辅助托环5上还开设有位于两个放置槽501弧顶处的滑槽，且滑槽的槽口延伸至辅助托环5的最外沿，以便在辅助托环5不使用时，将两个半环夹板502旋转至放置槽501内，避免放置槽501的遮挡，影响操作人员向托盘4上添加固体颗粒物品进行称量的问题，并利用放置槽501弧顶的滑槽，以便在对辅助托环5和半环夹板502清洁时，灰尘等杂质从滑槽清理出去，保障了辅助托环5、半环夹板502以及托盘4表面的洁净，辅助托环5的内壁位于托盘4外壁的内侧，且辅助托环5内侧的顶部为外弧形设计，在清洁托盘4的表面灰尘等杂质时，杂质落在辅助托环5上，以便更好的进行清洁，两个半环夹板502的弧顶处均开设有通槽，两个通槽的内部分别固定套装有定位轴，两个定位轴的中部活动套装有转动轴5021，两个转动轴5021的一端分别固定连接有半环夹板502内侧的夹持管套8，在使用时，通过旋转两个半环夹板后，在将两个夹持管套8旋转成水平状态，利用两个夹持管套夹持圆底烧瓶的瓶颈或试管，以保证圆底烧瓶或试管的稳定固定，以便操作人员进行称量、滴加试剂进行反应前后的质量称量。

其中，夹持管套8的形状为半环管状，两个夹持管套8顶部和底部的内侧均设有弹性夹垫801，以便利用两个夹持管套8弹性夹垫801稳定夹持圆底烧瓶或试管的同时，还便于对不同尺寸的圆底烧瓶或试管进行夹紧固定，两个夹持管套8内腔的顶部和底部均活动套装有半环磁块802，两个半环磁块802的向对面磁极相反，夹持管套8的内壁固定安装有位于两个半环磁块802之间的微型离子棒804，在两个夹持管套8的顶部和底部的弹性夹垫801夹持圆底烧瓶的瓶颈或试管后，两个半环磁块802之间形成包裹圆底烧瓶的瓶颈或试管的磁场，打开微型离子棒804在各方向释放正、负电荷，如图8所示，正、负电荷在一定的释放初速度v下，正、负电荷在磁场作用下，产生垂直于初速度方向的洛伦兹力F，使得正、负电荷最的运动方向朝向圆底烧瓶的瓶颈或试管，从而吸附圆底烧瓶的瓶颈或试管管壁上的负、正电荷，消除圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位的静电，避免了圆底烧瓶或试管管壁静电对电子分析天平测定的影响，提高测定结果的精确性，同时，无需通过高压风管吹出强风，使得离子棒804释放的正、负电荷移动至圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位处，只需为离子棒804各方向释放的正、负电荷提供不同的运动速度，即可使得正、负电荷移动至圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位，来消除静电对电子分析天平测量结果的影响，避免了高压气流对电子分析天平测量结果的干扰，进一步提高测定结果的精确性，两个夹持管套8内腔的顶部和底部分别固定安装有限位套805，且限位套805与半环磁块802活动套接，确保半环磁块802只能进行水平旋转，一个夹持管套8内的两个半环磁块802上分别固定连接有拨动轴803，且两个拨动轴803分别延伸至夹持管套8顶部和底部的外侧，夹持管套8的顶部和底部均开设有与拨动轴803相适配的滑槽，一个夹持管套8内两个半环磁块802一端的外侧均设有弹性卡板，且两个弹性卡板与另一个夹持管套8的侧壁卡接，在使用时，通过两个夹持管套8夹住圆底烧瓶的瓶颈或试管的管壁后，通过移动拨动轴803，使得一个夹持管套8上的半环磁块802以其弧心旋转，直至半环磁块802上的弹性卡板卡在另一个夹持管套8上(如7所示)，在半环磁块802的斥力下，另一个夹持管套8内的半环磁块802以其弧心旋转移动，至该半环磁块802的一端移动至第一个夹持管套8内，且该半环磁块802的一端固定套装有封隔块8021，以减小该处两个半环磁块802间的斥力，从而便于保持两个夹持管套8的卡接固定，以便夹紧圆底烧瓶的瓶颈或试管时，还使得圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位周围形成接近整圈的磁场，以便正、负电荷在不同方向、不同初速度下，完全覆盖过圆底烧瓶的瓶颈或试管的夹持部位，确保静电消除更彻底。

其中，半环夹板502的内圈与托盘4的外围设有一定间距，该间距的具体值应大于实验室常规圆底烧瓶的底部直径值，在旋转半环夹板502时，半环夹板502的内侧不会被圆底烧瓶的圆底挡住，以确保半环夹板502能够旋转至圆底烧瓶的上方，从而夹持圆底烧瓶的瓶颈，对圆底烧瓶内的液体试剂进行质量测定，并可对不同规格的圆底烧瓶夹持，进行质量测定，提高了电子分析天平在实验室的使用范围。

其中，电子分析天平座1的顶部设有位于四个玻璃门内的干燥管7，四个干燥管7分别设于电子分析天平座1顶部的四角，且干燥管7的内部装有干燥剂，通过干燥管7内的干燥剂，保持电子分析天平称量室内的干燥，避免了在多次开玻璃门放药品时，外界潮湿空气进入影响测定结果的精确性问题。

使用时，当需要测定固体试剂的质量时，打开电子分析天平一侧的玻璃门，将洁净的纸板放置在托盘4上，并进行去皮调零处理，再将需要测定的固体试剂放置到纸板上，即可测定固体颗粒药品，当需要测定液体试剂时，提前将对应的圆底烧瓶或试管进行质量测定，对应记录实验室内每种规格的圆底烧瓶或试管在辅助托环5和托盘4上的整体测定质量，后期无需重复测定，旋转辅助托环5使得辅助托环5挂在称量联动轴3上，将装有液体试剂的圆底烧瓶或试管的底部放置在托盘4的中心，并旋转辅助托环5两侧的半环夹板502，使得半环夹板502夹持住圆底烧瓶的瓶颈或试管的管壁，关闭玻璃门，进行测定，即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种质量测定用电子分析天平，包括电子分析天平座(1)，电子分析天平座(1)的顶部设有五个密封的玻璃门，其特征在于：所述电子分析天平座(1)顶端的中部设有称量传动的称量联动轴(3)，所述称量联动轴(3)的顶部固定连接有位于电子分析天平座(1)上方的托盘(4)，所述称量联动轴(3)的底端与电子分析天平座(1)内部的称量计量机构连接，所述称量联动轴(3)的外围设有可旋转的辅助托环(5)，且辅助托环(5)位于所述托盘(4)的下方，所述辅助托环(5)旋转一定角度后悬挂在称量联动轴(3)上，所述辅助托环(5)的顶部设有两个可旋转的半环夹板(502)，且半环夹板(502)的弧顶可旋转至托盘(4)的正上方；

所述辅助托环(5)的两侧均开设有与半环夹板(502)相适配的放置槽(501)，放置槽(501)的两侧与半环夹板(502)的两端分别设有旋转轴，半环夹板(502)以两个旋转轴的连接线为轴心线进行旋转，且放置槽(501)的高度值与半环夹板(502)的厚度值相同，所述辅助托环(5)上开设有位于两个放置槽(501)弧顶处的滑槽，且滑槽的槽口延伸至辅助托环(5)的最外沿，两个半环夹板(502)的弧顶处均开设有通槽，两个通槽的内部分别固定套装有定位轴，两个定位轴的中部活动套装有转动轴(5021)，两个转动轴(5021)的一端分别固定连接有半环夹板(502)内侧的夹持管套(8)；

所述夹持管套(8)的形状为半环管状，且两个所述夹持管套(8)顶部和底部的内侧均设有弹性夹垫(801)，两个夹持管套(8)内腔的顶部和底部均活动套装有半环磁块(802)，两个半环磁块(802)的向对面磁极相反，夹持管套(8)的内壁固定安装有位于两个半环磁块(802)之间的微型离子棒(804)，两个夹持管套8内腔的顶部和底部分别固定安装有限位套805，且限位套805与半环磁块802活动套接，一个所述夹持管套(8)内的两个半环磁块(802)上分别固定连接有拨动轴(803)，且两个拨动轴(803)分别延伸至夹持管套(8)顶部和底部的外侧，夹持管套(8)的顶部和底部均开设有与拨动轴(803)相适配的滑槽，一个夹持管套(8)内两个半环磁块(802)一端的外侧均设有弹性卡板，且两个弹性卡板与另一个夹持管套(8)的侧壁卡接。

2.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述称量联动轴(3)上固定套装有位于托盘(4)下方的联动套管(301)，所述联动套管(301)位于辅助托环(5)的内圈处，且联动套管(301)的外侧固定连接有两个限位管(302)，两个所述限位管(302)以称量联动轴(3)的轴心旋转对称，两个所述限位管(302)的一端均预留有管口，所述辅助托环(5)的内圈固定连接有两个分别位于两个限位管(302)一侧的定位块(503)，两个所述定位块(503)的侧面均固定连接有朝向限位管(302)管口的插轴，且插轴的高度值恰好与限位管(302)内腔的高度值相同，所述托盘(4)的顶部为内凹式设计。

3.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述电子分析天平座(1)顶部的两侧均固定连接有位于辅助托环(5)一侧的支撑块(6)，所述辅助托环(5)的两侧均固定连接有支撑板(504)，且支撑板(504)的底部与支撑块(6)的顶部活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述半环夹板(502)的内圈与托盘(4)的外围设有一定间距，且该间距的具体值应大于实验室常规圆底烧瓶的底部直径值。

5.根据权利要求1所述的一种质量测定用电子分析天平，其特征在于：所述电子分析天平座(1)的顶部设有位于四个玻璃门内的干燥管(7)，四个干燥管(7)分别设于电子分析天平座(1)顶部的四角，且干燥管(7)的内部装有干燥剂。

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