CN111754931A - 显示装置 - Google Patents

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安秉宽
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Abstract

提供了一种显示装置。所述显示装置包括：显示面板，包括被配置为接收像素驱动电流的多个像素；电流传感器，被配置为测量被分为像素驱动电流的总驱动电流；以及温度传感器，被配置为测量显示面板的环境温度，其中，显示面板包括劣化补偿器，所述劣化补偿器被配置为基于总驱动电流、环境温度和针对像素的输入灰度值来生成针对像素的输出灰度值。

Description

显示装置
本申请要求于2019年3月28日在韩国知识产权局提交的第10-2019-0036255号韩国专利申请的优先权和权益，该韩国专利申请的全部内容通过引用被包含于此。
技术领域
本发明的一些示例实施例的方面涉及一种显示装置及其驱动方法。
背景技术
随着信息技术的发展，作为用户和信息之间的连接媒介的显示装置的重要性已经显著。因此，已经越来越多地使用诸如液晶显示装置、有机发光二极管显示装置和等离子体显示装置的显示装置。
有机发光二极管显示器的每个像素可以包括至少一个有机发光二极管。随着使用时间的增加，有机发光二极管会劣化，为了显示相同的亮度需要更多的驱动电流。
在该背景技术部分中公开的以上信息仅用于增强对背景技术的理解，因此，在该背景技术部分中讨论的信息不一定构成现有技术。
发明内容
本发明的一些示例实施例包括一种显示装置及其驱动方法，所述显示装置可以使用电流传感器和温度传感器以及像素的输入灰度值来更精确地补偿有机发光二极管的劣化。
根据本发明的一些示例实施例的显示装置包括：显示面板，包括接收像素驱动电流的像素；电流传感器，用于测量被分为像素驱动电流的总驱动电流；以及温度传感器，用于测量显示面板的环境温度，其中，显示面板包括劣化补偿器，所述劣化补偿器基于总驱动电流、环境温度和针对像素的输入灰度值来生成针对像素的输出灰度值。
根据一些示例实施例，像素可以被设定为块，块的数量可以小于或等于像素的数量，并且劣化补偿器可以包括块劣化值累加器，块劣化累加器针对块中的每个块基于输入灰度值和第一块温度来累加劣化值，以生成块劣化累加值。
根据一些示例实施例，块劣化值累加器可以针对块中的每个块通过将输入灰度值的第一块代表值与第一块温度相乘以生成块劣化值并将所生成的块劣化值与块劣化累加值相加来更新块劣化累加值。
根据一些示例实施例，劣化补偿器还可以包括块代表值提取器，块代表值提取器针对块中的每个块基于第一块劣化累加值、第二块劣化累加值和第二块温度来提取第二块代表值，第一块劣化累加值为第一时刻的块劣化累加值，第二块劣化累加值为第二时刻的块劣化累加值。
根据一些示例实施例，块代表值提取器可以针对块中的每个块将第二块劣化累加值和第一块劣化累加值之间的差除以第二块温度，以生成第二块代表值。
根据一些示例实施例，劣化补偿器还可以包括块电流计算器，块电流计算器针对块中的每个块基于总驱动电流、第二块代表值和总块代表值来计算块电流。
根据一些示例实施例，块电流计算器可以针对块中的每个块计算块电流，使得块电流与总驱动电流的比率对应于第二块代表值与总块代表值的比率。
根据一些示例实施例，劣化补偿器还可以包括块温度确定器，块温度确定器针对块中的每个块基于块电流和环境温度来确定第一块温度。
根据一些示例实施例，块温度确定器可以针对块中的每个块通过将与针对块电流的块预测温度和环境温度之间的差成比例的值与环境温度相加来确定第一块温度。
根据一些示例实施例，劣化补偿器还可以包括灰度转换器，灰度转换器基于当前时刻的块劣化累加值来将输入灰度值转换为输出灰度值。
根据一些示例实施例，灰度转换器可以通过将补偿值与输入灰度值相加来生成输出灰度值，并且随着与补偿值对应的块劣化累加值越大，补偿值越大。
根据本发明的一些示例实施例的显示装置的驱动方法包括：测量电流的步骤，测量被提供到显示面板并被分为像素驱动电流的总驱动电流；测量温度的步骤，测量显示面板的环境温度；补偿劣化的步骤，基于总驱动电流、环境温度和针对像素的输入灰度值来生成针对像素的输出灰度值。
根据一些示例实施例，可以将像素设定为块，块的数量可以小于或等于像素的数量，补偿劣化的步骤可以包括针对块中的每个块基于输入灰度值和第一块温度来累加块劣化值的累加块劣化值的步骤以生成块劣化累加值，在累加块劣化值的步骤中，针对块中的每个块，通过将输入灰度值的第一块代表值和第一块温度相乘来生成块劣化值，通过将所生成的块劣化值与块劣化累加值相加来更新块劣化累加值。
根据一些示例实施例，补偿劣化的步骤还可以包括针对块中的每个块基于第一块劣化累加值(其为第一时刻的块劣化累加值)、第二块劣化累加值(其为第二时刻的块劣化累加值)和第二块温度来提取第二块代表值的提取块代表值的步骤，在提取块代表值的步骤中，针对块中的每个块，通过将第二块劣化累加值与第一块劣化累加值之间差除以第二块温度来生成第二块代表值。
根据一些示例实施例，补偿劣化的步骤还可以包括针对块中的每个块基于总驱动电流、第二块代表值和总块代表值来计算块电流的计算块电流的步骤。
根据一些示例实施例，在计算块电流的步骤中，可以针对块中的每个块计算块电流，使得块电流与总驱动电流的比率对应于第二块代表值与总块代表值的比率。
根据一些示例实施例，补偿劣化的步骤还可以包括针对块中的每个块基于块电流和环境温度来确定第一块温度的确定块温度的步骤。
根据一些示例实施例，在确定块温度的步骤中，可以针对块中的每个块通过将与针对块电流的块预测温度和环境温度之间的差成比例的值与环境温度相加来确定第一块温度。
根据一些示例实施例，补偿劣化的步骤还可以包括基于块劣化累加值来将输入灰度值转换为输出灰度值的转换灰度的步骤。
根据一些示例实施例，在转换灰度的步骤中，可以通过将补偿值与输入灰度值相加来生成输出灰度值，并且随着与补偿值对应的块劣化累加值越大，补偿值越大。
根据本发明的一些示例实施例的显示装置及其驱动方法可以使用电流传感器和温度传感器以及像素的输入灰度值来更精确地补偿有机发光二极管的劣化。
附图说明
图1是用于示出根据本发明的一些示例实施例的显示装置的图。
图2是用于示出根据本发明的一些示例实施例的像素的图。
图3是用于示出图2中所示的像素的驱动方法的图。
图4是用于示出根据本发明的一些示例实施例的劣化补偿器的图。
图5是用于示出根据一些示例实施例的像素被设定为块的情况的图。
图6是用于示出根据一些示例实施例的块代表值提取器的操作的图。
图7是用于示出根据一些示例实施例的块劣化值累加器的操作的图。
图8是用于示出根据一些示例实施例的灰度转换器的操作的图。
具体实施方式
在下文中，参照附图，将更详细地描述本发明的各种示例实施例，使得本领域技术人员可以更容易地实施本发明。本发明可以以许多不同的形式来体现，并且不限于这里所描述的示例实施例。
为了更清楚地说明本发明的示例实施例，省略了与说明书无关的部件，并且在整个说明书中相同或相似的组成元件被给以相同的附图标记。因此，可以在其它附图中使用上述附图标记。
此外，由于为了更好地理解和便于描述而任意地示出了附图中所示的每个构造的尺寸和厚度，因此本发明的示例实施例不必限于所示的示例。在附图中，为了清楚说明，夸大了层和区域的尺寸。
图1是用于示出根据本发明的一些示例实施例的显示装置的图。
参照图1，根据本发明的一些示例实施例的显示装置DD包括显示面板10、电流传感器17和温度传感器18。显示面板10可以包括时序控制器11、数据驱动器12、扫描驱动器13、发射驱动器14、像素单元15和劣化补偿器16。
显示面板10可以包括接收像素驱动电流的像素PXij。每个像素PXij的像素驱动电流可以确定每个像素PXij中包括的有机发光二极管的发光亮度。
电流传感器17可以测量被分为像素驱动电流的总驱动电流。总驱动电流可以指在像素单元15中从第一电源线流向第二电源线的总电流(见图2和图4)。根据一些示例实施例，电流传感器17可以设置为直接测量从第一电源线流向第二电源线的总电流。
根据一些示例实施例，当不能将电流传感器17设置为直接测量从第一电源线流向第二电源线的总电流时，可以将电流传感器17设置为测量被提供到像素单元15的电流或被提供到整个显示面板10的电流。因为显示面板10的大部分功率被消耗在像素单元15中，所以电流传感器17可以间接测量总驱动电流。也就是说，可以仅用一个电流传感器17来实现本发明的示例实施例。
温度传感器18可以测量显示面板10的环境温度。也就是说，可以仅用一个温度传感器18来实现本发明的示例实施例。
时序控制器11可以从外部处理器接收针对图像帧的灰度值和控制信号。时序控制器11可以渲染与显示装置DD的规格对应的灰度值。例如，外部处理器可以为每个单元点提供红色灰度值、绿色灰度值和蓝色灰度值。然而，例如，当像素单元15为pentile结构时，相邻的单元点共享像素，使得每个灰度值可以不对应于一个像素。在这种情况下，需要渲染灰度值。当一个灰度值对应于一个像素时，可以不需要渲染灰度值。可以将已渲染或未渲染的灰度值作为输入灰度值提供到劣化补偿器16。此外，时序控制器11可以提供适合于数据驱动器12、扫描驱动器13、发射驱动器14和劣化补偿器16等中的每个的控制信号，以显示图像帧。
劣化补偿器16可以基于总驱动电流、环境温度和针对像素PXij的输入灰度值来生成针对像素PXij的输出灰度值。劣化补偿器16可以将生成的输出灰度值直接提供到数据驱动器12，或者通过时序控制器11间接提供到数据驱动器12。稍后将参照图4给出劣化补偿器16的详细描述。
根据一些示例实施例，劣化补偿器16中的一些或全部可以与时序控制器11一体地构造。例如，劣化补偿器16中的一些或全部可以与时序控制器11以集成电路的形式构造。根据一些示例实施例，劣化补偿器16中的一些或全部可以在时序控制器11中以软件实现。根据一些示例实施例，劣化补偿器16可以在外部处理器中以软件或硬件实现。
数据驱动器12可以使用输出灰度值和控制信号来生成要提供到数据线D1、D2、D3、……、和Dn的数据电压。例如，数据驱动器12可以使用时钟信号来对输出灰度值采样，并且针对每个像素行将与输出灰度值对应的数据电压施加到数据线D1至Dn。n可以是大于零的整数。
扫描驱动器13可以从时序控制器11接收时钟信号和扫描起始信号，并且生成要提供到扫描线S1、S2、S3、……、和Sm的扫描信号。例如，扫描驱动器13可以将具有导通电平的脉冲的扫描信号顺序地提供到扫描线S1至Sm。例如，扫描驱动器13的每个扫描级电路可以以移位寄存器的形式构造，并且根据时钟信号的控制以将具有导通电平的脉冲的扫描起始信号顺序地传输到后一扫描级电路的方式来生成扫描信号。m可以是大于零的整数。
发射驱动器14可以从时序控制器11接收时钟信号、发射停止信号等，以生成要提供到发射线E1、E2、E3、……、和Eo的发射信号。例如，发射驱动器14可以将具有截止电平的脉冲的发射信号顺序地提供到发射线E1至Eo。例如，发射驱动器14的每个发射级电路可以以移位寄存器的形式构造，并且根据时钟信号的控制以将具有截止电平的脉冲的发射停止信号顺序地传输到后一发射级电路的方式来生成发射信号。o可以是大于零的整数。
像素单元15包括像素。每个像素PXij可以连接到对应的数据线、扫描线和发射线。此外，像素PXij可以共同地连接到第一电源线和第二电源线。i和j可以是自然数。像素PXij可以指其扫描晶体管连接到第i扫描线和第j数据线的像素。
图2是用于示出根据本发明的一些示例实施例的像素的图。
参照图2，像素PXij可以包括晶体管M1、晶体管M2、晶体管M3、晶体管M4、晶体管M5、晶体管M6和晶体管M7、存储电容器Cst和有机发光二极管OLED。
根据本发明的一些示例实施例，晶体管被示出为P型晶体管，但是本领域普通技术人员可以构造具有与N型晶体管相同的功能的像素电路。在下文中，假定晶体管由p型晶体管构成。
存储电容器Cst的第一电极可以连接到第一电源线ELVDD，存储电容器Cst的第二电极可以连接到晶体管M1的栅电极。
晶体管M1的第一电极可以连接到晶体管M5的第二电极，晶体管M1的第二电极可以连接到晶体管M6的第一电极，晶体管M1的栅电极可以连接到存储电容器Cst的第二电极。晶体管M1可以被称为驱动晶体管。晶体管M1根据其栅电极与源电极之间的电势差来确定在第一电源线ELVDD与第二电源线ELVSS之间流动的像素驱动电流的量。
晶体管M2的第一电极可以连接到数据线Dj，晶体管M2的第二电极可以连接到晶体管M1的第一电极，晶体管M2的栅电极可以连接到当前扫描线Si。晶体管M2可以被称为开关晶体管、扫描晶体管等。当导通电平的扫描信号施加到当前扫描线Si时，晶体管M2将数据线Dj的数据电压拉向并输入到像素PXij中。
晶体管M3的第一电极可以连接到晶体管M1的第二电极，晶体管M3的第二电极可以连接到晶体管M1的栅电极，晶体管M3的栅电极可以连接到当前扫描线Si。当导通电平的扫描信号施加到当前扫描线Si时，晶体管M3以二极管形式连接晶体管M1。
晶体管M4的第一电极可以连接到晶体管M1的栅电极，晶体管M4的第二电极可以连接到初始化电压线，晶体管M4的栅电极可以连接到前一扫描线S(i-1)。根据一些示例实施例，晶体管M4的栅电极可以连接到另一扫描线。当导通电平的扫描信号施加到前一扫描线S(i-1)时，晶体管M4将初始化电压VINT传输到晶体管M1的栅电极，从而使晶体管M1的栅电极的电荷量初始化。
晶体管M5的第一电极可以连接到第一电源线ELVDD，晶体管M5的第二电极可以连接到晶体管M1的第一电极，晶体管M5的栅电极可以连接到发射线Ei。晶体管M6的第一电极可以连接到晶体管M1的第二电极，晶体管M6的第二电极可以连接到有机发光二极管OLED的阳极，晶体管M6的栅电极可以连接到发射线Ei。晶体管M5和晶体管M6可以被称为发光晶体管。当导通电平的发射信号施加到晶体管M5和晶体管M6时，晶体管M5和晶体管M6在第一电源线ELVDD与第二电源线ELVSS之间形成像素驱动电流的路径，以点亮有机发光二极管OLED。
晶体管M7的第一电极可以连接到有机发光二极管OLED的阳极，晶体管M7的第二电极可以连接到初始化电压线，晶体管M7的栅电极可以连接到当前扫描线Si。根据一些示例实施例，晶体管M7的栅电极可以连接到另一扫描线。例如，晶体管M7的栅电极可以连接到前一扫描线S(i-1)或在前一扫描线S(i-1)之前的扫描线、后一扫描线(例如，第i+1扫描线)或在后一扫描线之后的扫描线。当导通电平的扫描信号施加到当前扫描线Si时，晶体管M7将初始化电压VINT传输到有机发光二极管OLED的阳极，从而使存储在有机发光二极管OLED中的电荷量初始化。
有机发光二极管OLED的阳极可以连接到晶体管M6的第二电极，有机发光二极管OLED的阴极可以连接到第二电源线ELVSS。将有机发光二极管OLED作为本发明的示例实施例，但是在另一示例实施例中，可以将可降解的无机发光二极管、量子点发光二极管等设置在像素PXij中。
图3是用于示出图2中所示的像素的驱动方法的图。
首先，针对前一像素行的数据电压DATA(i-1)j施加到数据线Dj，并且导通电平(例如，低电平)的扫描信号施加到前一扫描线S(i-1)。
因为截止电平的扫描信号施加到当前扫描线Si，所以晶体管M2处于截止状态，并且防止针对前一像素行的数据电压DATA(i-1)j被拉向并被输入到像素PXij中。
此时，因为晶体管M4导通，所以初始化电压VINT施加到晶体管M1的栅电极以使电荷量初始化。因为截止电平的发射信号施加到发射线Ei，所以晶体管M5和晶体管M6截止，并且防止了不必要的有机发光二极管OLED根据初始化电压VINT的施加处理而发光。
接下来，针对当前像素行的数据电压DATAij施加到数据线Dj，并且导通电平的扫描信号施加到当前扫描线Si。结果，晶体管M2、晶体管M1和晶体管M3导通，数据线Dj和晶体管M1的栅电极电连接。因此，从数据电压DATAij减去晶体管M1的阈值电压的补偿电压施加到存储电容器Cst的第二电极，并且存储电容器Cst存储第一电源线ELVDD的电压与补偿电压之间的差。
此时，因为晶体管M7导通，所以有机发光二极管OLED的阳极连接到初始化电压线，从而有机发光二极管OLED被预充入或初始化有与初始化电压VINT和第二电源线ELVSS的电压之间的电压差对应的电荷量。
此后，当导通电平的发射信号施加到发射线Ei时，晶体管M5和晶体管M6导通，并且根据存储在存储电容器Cst中的电荷量来控制流过晶体管M1的像素驱动电流的量，使得像素驱动电流流向有机发光二极管OLED。有机发光二极管OLED发光，直到截止电平的发射信号施加到发射线Ei。
图4是用于示出根据本发明的一些示例实施例的劣化补偿器的图，图5是用于示出像素被设定为块的情况的图，图6是用于示出块代表值提取器的操作的图，图7是用于示出块劣化值累加器的操作的图，图8是用于示出灰度转换器的操作的图。
参照图4，根据本发明的一些示例实施例的劣化补偿器16可以基于总驱动电流IE、环境温度TPA和针对像素PXij的输入灰度值IG来生成针对像素PXij的输出灰度值OG。
例如，劣化补偿器16可以包括块劣化值累加器161、块代表值提取器162、块电流计算器163、块温度确定器164和灰度转换器165。
参照图5，像素PX1、像素PX2和像素PX3可以被设定或划分为块BL1、块BL2和块BL3。块BL1、块BL2和块BL3的数量可以小于或等于像素PX1、像素PX2和像素PX3的数量。例如，块BL1、块BL2和块BL3中的每个可以被设定或划分为包括一个或更多个像素PX1、像素PX2和像素PX3。当块BL1、块BL2和块BL3中的每个仅包括像素PX1、像素PX2和像素PX3中的一个(即，块BL1、块BL2和块BL3的数量与像素PX1、像素PX2和像素PX3的数量相等)时，可以实现精确的劣化补偿，但是数据存储和计算的成本会增加。当块BL1、块BL2和块BL3中的每个包括像素PX1、像素PX2和像素PX3中的两个或更多个(即，块BL1、块BL2和块BL3的数量比像素PX1、像素PX2和像素PX3的数量少)时，数据存储和计算的成本降低，但是会无法实现精确的劣化补偿。显示装置DD的制造商可以考虑这种权衡关系来确定块BL1、块BL2和块BL3的大小。
块劣化值累加器161可以针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个基于输入灰度值IG和第一块温度TP1来累加块劣化值以生成块劣化累加值。
例如，针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块劣化值累加器161可以通过将输入灰度值IG的第一块代表值与第一块温度TP1相乘以生成块劣化值并将所生成的块劣化值与块劣化累加值相加来更新块劣化累加值(见等式1)。
等式1：
ACD[n]＝ACD[n-1]+BRV1[n]×TP1
这里，ACD[n-1]可以是直到第n-1图像帧的块劣化累加值，BRV1[n]可以是第n图像帧中的第一块代表值，TP1可以是第一块温度TP1。ACD[n]可以是直到第n图像帧的块劣化累加值。
例如，第一块代表值可以是通过将权重值应用到对应块的输入灰度值IG并除以输入灰度值IG的数量而获得的值。这里，表述“将权重值应用到对应块的输入灰度值IG”是指使权重值与对应块的输入灰度值IG相乘，并将所得到的值相加。例如，当输入灰度值IG的权重值等于1时，第一块代表值可以表示平均值。
在等式1中，BRV1[n]×TP1可以是第n图像帧中的块劣化值。也就是说，第n图像帧中的第一块代表值BRV1[n]越大并且第一块温度TP1越大，则第n图像帧中的块劣化值越大。块劣化值可以对应于在对应块中所包括的像素中所包括的有机发光二极管OLED的劣化程度。当有机发光二极管OLED劣化时，为了以相同亮度级发射光，需要更多的驱动电流。
因为块劣化值累加器161必须在显示装置DD的整个寿命内存储劣化数据，所以需要简化劣化数据。例如，块劣化值累加器161可以存储当前时刻的块劣化累加值，并且可以不存储过去时刻的块劣化累加值、每个图像帧的第一块代表值和第一块温度TP1。
如图6中所示，块劣化累加值随时间增加。
针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块代表值提取器162可以基于第一块劣化累加值ACD1(其为第一时刻t1的块劣化累加值)、第二块劣化累加值ACD2(其为第二时刻t2的块劣化累加值)以及第二块温度TP2来提取第二块代表值BRV2。
例如，针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块代表值提取器162可以通过将第二块劣化累加值ACD2和第一块劣化累加值ACD1之间的差除以第二块温度TP2来生成第二块代表值BRV2(等式2)。
等式2
BRV2＝(ACD2(t2)-ACD(t1))/TP2
这里，BRV2可以是第二块代表值，ACD2(t2)可以是第二时刻t2的第二块劣化累加值，ACD1(t1)可以是第一时刻t1的第一块劣化累加值，TP2可以是第二块温度。
如果将第n图像帧的块劣化值反映在第二时刻t2的块劣化累加值中，将第n-1图像帧的块劣化值反映在第一时刻t1的块劣化累加值中，并且等式2中的第二块温度TP2与等式1中的第一块温度TP1相等，则等式2中的BRV2变得与等式1中的BRV1[n]相等。也就是说，根据一些示例实施例，块代表值提取器162可以从仅包括关于块劣化累加值的信息的块劣化值累加器161来精确地提取块代表值。
然而，根据产品的规格，可以将第n图像帧的块劣化值反映在第二时刻t2的块劣化累加值中，并且可以将第n-2图像帧的块劣化值反映在第一时刻t1或在第一时刻t1之前的时刻的块劣化累加值中。也就是说，块代表值提取器162从块劣化值累加器161对块劣化累加值采样的间隔可以比两个图像帧的间隔大。在这种情况下，等式2中的第二块代表值BRV2可以与等式1中的第一块代表值BRV1[n]不匹配，但是显示装置DD可以被设计为使得该不匹配对于计算块温度是可接受的。
针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块电流计算器163可以基于总驱动电流IE、第二块代表值BRV2和总块代表值来计算块电流IB。
例如，针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块电流计算器163计算块电流IB，使得块电流IB与总驱动电流IE的比率可以对应于第二块代表值BRV2与总块代表值的比率。
等式3
IB＝IE×(BRV2/EBRV)
这里，IB是块电流，IE是总驱动电流，BRV2是第二块代表值，EBRV是总块代表值。
如上所述，总驱动电流IE可以指像素单元15中的从第一电源线ELVDD流向第二电源线ELVSS的总电流。像素PXij可以共同地连接到第一电源线ELVDD和第二电源线ELVSS。
此外，如上所述，当不能将电流传感器17设置为直接测量从第一电源线ELVDD流向第二电源线ELVSS的总电流时，可以将电流传感器17设置为测量被提供到像素单元15的电流或被提供到整个显示面板10的电流。在这种情况下，测量的总驱动电流IE可能与等式3的总驱动电流IE不匹配，但是显示装置DD可以被设计为使得该不匹配对于计算块电流可以是可接受的。例如，可以通过从测量的电流值中排除从除了像素单元15外的其它元件预期消耗的电流量来获得总驱动电流IE。
此外，如上所述，当块代表值提取器162从块劣化值累加器161对块劣化累加值采样的间隔可以比两个图像帧的间隔大时，总驱动电流IE可以是在大于两个图像帧的间隔中累加的值。
总块代表值可以是通过将权重值应用于对应的块BL1、块BL2和块BL3的第二块代表值而获得的值。例如，当权重值均为1时，总块代表值可以是块BL1、块BL2和块BL3的第二块代表值的总和。
针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块温度确定器164可以基于块电流IB和环境温度TPA来确定第一块温度TP1。
例如，针对块BL1、块BL2和块BL3中的每个，块温度确定器164可以通过将与针对块电流IB的块预测温度TPE和环境温度TPA之间的差成比例的值与环境温度TPA相加来确定第一块温度TP1(见等式4)。
等式4
TP1＝TPA+(K×(TPE-TPA))
这里，TP1是确定的第一块温度TP1，TPA是环境温度TPA，K是比例常数，TPE是块预测温度。
可以基于块电流IB通过参考查找表(LUT)来确定块预测温度TPE。可选地，块预测温度TPE可以由另一算法确定。
即使具有相同的输入灰度值IG，根据显示面板10的发光效率也可以流动不同的块电流IB并且第一块温度TP1可以改变。因此，根据本发明的一些示例实施例，可以通过参考块电流IB以及输入灰度值IG来获得精确的第一块温度TP1。当前帧的第一块温度TP1可以作为后一帧的第二块温度TP2。
此外，本发明的一些示例实施例可以仅利用一个电流传感器17和一个温度传感器18来实现。
块劣化值累加器161可以根据等式1通过将第三时刻t3的块劣化值与第二时刻t2的第二块劣化累加值ACD2相加来更新第三时刻t3的第三块劣化累加值ACD3。
灰度转换器165可以基于第三块劣化累加值ACD3来将输入灰度值IG转换为输出灰度值OG。
例如，灰度转换器165可以通过将补偿值CPV与输入灰度值IG相加来生成输出灰度值OG。随着对应的第三块劣化累加值ACD3越大，补偿值CPV可以越大。换言之，可以通过将较大的补偿值CPV与输入灰度值IG相加来补偿有机发光二极管OLED的劣化。
以上提及的本发明的附图和详细描述仅是描述性的意义，并且仅用于说明的目的，并且不意图限制其含义或者限制权利要求中描述的发明的范围。因此，通过上面的内容，本领域普通技术人员将理解各种修改和其它等同实施例也是可能的。因此，本发明的实际保护范围应由权利要求的技术范围及其等同物确定。

Claims (10)

1.一种显示装置，所述显示装置包括：
显示面板，包括被配置为接收像素驱动电流的多个像素；
电流传感器，被配置为测量被分为所述像素驱动电流的总驱动电流；以及
温度传感器，被配置为测量所述显示面板的环境温度，
其中，所述显示面板包括劣化补偿器，所述劣化补偿器被配置为基于所述总驱动电流、所述环境温度和针对像素的输入灰度值来生成针对像素的输出灰度值。
2.根据权利要求1所述的显示装置，
其中，像素被设定为块，
其中，所述块的数量小于或等于像素的数量，并且
其中，所述劣化补偿器包括：
块劣化值累加器，被配置为针对所述块中的每个块基于所述输入灰度值和第一块温度来累加块劣化值，以生成块劣化累加值。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，
所述块劣化值累加器被配置为针对所述块中的每个块通过将所述输入灰度值的第一块代表值与所述第一块温度相乘以生成所述块劣化值并将所生成的块劣化值与所述块劣化累加值相加来更新所述块劣化累加值。
4.根据权利要求2所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器还包括：
块代表值提取器，被配置为针对所述块中的每个块基于第一块劣化累加值、第二块劣化累加值和第二块温度来提取第二块代表值，所述第一块劣化累加值为第一时刻的所述块劣化累加值，所述第二块劣化累加值为第二时刻的所述块劣化累加值。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述块代表值提取器被配置为针对所述块中的每个块将所述第二块劣化累加值与所述第一块劣化累加值之间的差除以所述第二块温度，以生成所述第二块代表值。
6.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器还包括：
块电流计算器，被配置为针对所述块中的每个块基于所述总驱动电流、所述第二块代表值和总块代表值来计算块电流。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述块电流计算器被配置为针对所述块中的每个块计算所述块电流，使得所述块电流与所述总驱动电流的比率对应于所述第二块代表值与所述总块代表值的比率。
8.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器还包括：
块温度确定器，被配置为针对所述块中的每个块基于所述块电流和所述环境温度来确定所述第一块温度。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述块温度确定器被配置为针对所述块中的每个块通过将与针对所述块电流的块预测温度和所述环境温度之间的差成比例的值与所述环境温度相加来确定所述第一块温度。
10.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器还包括：
灰度转换器，被配置为基于当前时刻的所述块劣化累加值来将所述输入灰度值转换为所述输出灰度值，
其中，所述灰度转换器被配置为通过将补偿值与所述输入灰度值相加来生成所述输出灰度值，并且
其中，随着与所述补偿值对应的所述块劣化累加值越大，所述补偿值越大。
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