CN111752788A - 用于对滑盖式终端进行检测的设备、检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本公开是关于一种用于对滑盖式终端进行检测的设备、检测方法及装置，属于移动终端制造领域。该设备包括：第一容置部、第二容置部、驱动组件和检测组件；第一容置部，用于固定滑盖式终端的第一滑盖部，第一滑盖部组装有滑动方向排列的第一霍尔传感器和第二霍尔传感器；第二容置部，用于固定滑盖式终端的第二滑盖部，第二滑盖部内设置有磁铁；驱动组件，用于带动第一容置部和第二容置部进行相对滑动；检测组件，用于检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。本公开通过对工作时的第一霍尔传感器进行检测，间接地检测出磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。

Description

用于对滑盖式终端进行检测的设备、检测方法及装置

技术领域

本公开涉及移动终端制造领域，特别涉及一种用于对滑盖式终端进行检测的设备、检测方法及装置。

背景技术

滑盖式终端是具有上滑盖和下滑盖的终端。滑盖式终端是实现全面屏终端的一个方向。滑盖式终端可将前置摄像头隐藏在下滑盖的正面上。用户可以手动将滑盖式终端的上/下滑盖进行滑开或滑闭。

发明内容

本公开实施例提供了一种用于对滑盖式终端进行检测的设备、检测方法及装置，可以解决磁化后的钢片对霍尔传感器的输出结果造成影响的问题。所述技术方案如下：

根据本公开的一个方面，提供了一种用于对滑盖式终端进行检测的设备，所述设备包括：第一容置部、第二容置部、驱动组件和检测组件；

所述第一容置部，被配置为固定所述滑盖式终端的第一滑盖部，所述第一滑盖部组装有滑动方向排列的第一霍尔传感器和第二霍尔传感器；

所述第二容置部，被配置为固定所述滑盖式终端的第二滑盖部，所述第二滑盖部内设置有磁铁；

所述驱动组件，被配置为带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

所述检测组件，被配置为检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常；

其中，所述第一磁力计是设置在所述第一霍尔传感器周侧的磁力计。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

可选的，所述第一控制芯片，被配置为在所述磁场变化异常时，确定所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

所述第二控制芯片，被配置为根据所述第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

可选的，所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。

在另一种可选的实施方式中，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第二端子与电源引脚相连，所述第一端子与所述第二控制芯片电性相连，所述第一端子和所述第二端子在滑动过程中的接触位置与目标滑动位置相对应，所述目标滑动位置是所述第一霍尔传感器在滑动方向上与所述磁铁之间的距离小于阈值的位置；

所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第一端子输出为高电平的时间确定的。

根据本公开的另一方面，提供了一种检测方法，应用于如上所述的设备中，所述方法包括：

将所述第一滑盖部固定于所述第一容置部，所述第二滑盖部固定于所述第二容置部；

控制所述驱动组件带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

根据所述第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第一端子与电源引脚相连，所述第二端子与所述第二控制芯片电性相连；

在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第二端子输出为高电平的时间确定的。

根据本公开的另一方面，提供了一种检测装置，应用于如上所述的设备中，所述装置包括：

固定模块，被配置为将所述第一滑盖部固定于所述第一容置部，所述第二滑盖部固定于所述第二容置部；

控制模块，被配置为控制所述驱动组件带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

检测模块，被配置为检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

所述检测模块，被配置为根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

所述检测模块，被配置为根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

所述检测模块，被配置为根据所述第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。

在另一种可选的实施方式中，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第一端子与电源引脚相连，所述第二端子与所述第二控制芯片电性相连；

所述检测模块，被配置为在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第二端子输出为高电平的时间确定的。

根据本公开实施例的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现如上所述的检测方法。

根据本公开实施例的另一方面，提供了一种计算机程序产品，所述程序产品中存储有计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现如上所述的检测方法。

本公开实施例提供的技术方案至少包括以下有益效果：

通过设置有检测组件的设备，对组装有磁化后的连接器的滑盖式终端进行检测，且检测组件通过检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。通过对工作时的第一霍尔传感器进行检测，间接地检测出磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求，避免未达到预期的磁化要求的连接器影响滑盖式终端的正常使用的问题。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是本公开一个示例性实施例提供的滑盖式终端的外观示意图；

图2是本公开另一个示例性实施例提供的滑盖式终端的结构示意图；

图3是图2所示实施例提供的滑盖式终端的双霍尔传感器在滑动过程中的输出电平示意图；

图4是本公开另一个示例性实施例提供的滑盖式终端的结构示意图；

图5是图4所示实施例提供的滑盖式终端的双霍尔传感器在滑动过程中的输出电平示意图；

图6是本公开另一个示例性实施例提供的滑盖式终端的结构示意图；

图7是图6所示实施例提供的滑盖式终端的双霍尔传感器在滑动过程中的输出电平示意图；

图8是本公开一个示例性实施例提供的设备的结构示意图；

图9是本公开另一个示例性实施例提供的设备的结构示意图；

图10是本公开另一个示例性实施例提供的设备的结构示意图；

图11是本公开另一个示例性实施例提供的设备的结构示意图；

图12是本公开另一个示例性实施例提供的设备的结构示意图；

图13是本公开一个示例性实施例提供的检测方法的流程图；

图14是本公开一个示例性实施例提供的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

滑盖式终端的连接器中包括钢片，该连接器可以是用于连接主板和副板的连接器。在制造该连接器时，连接器中的钢片可能被制造环境中的磁场进行误磁化，该磁化后的钢片可能对滑盖式终端中的霍尔传感器的输出结果造成影响。

本申请实施例通过对连接器中的钢片进行有目的的磁化，来消除误磁化过程的影响。从而使得有目的的磁化后的钢片符合预期设想，即有目的的磁化后的钢片不会对滑盖式终端中的霍尔传感器的输出结果造成影响。

而如何确定有目的的磁化后的钢片符合预期的磁化要求，是一个亟需解决的问题。

图1示意性的示出了本公开的一个示意性实施例示出的一种滑盖式终端100的外观示意图。该滑盖式终端100包括：上滑盖120和下滑盖140，上滑盖120和下滑盖140之间通过滑轨相连。上滑盖120和下滑盖140可在滑开状态和闭合状态之间进行切换。

滑开状态是指上滑盖120和下滑盖140之间的相对滑动距离大于预设值的状态。在滑开状态下，位于下滑盖140的前表面上的前置摄像头12处于外露状态。

闭合状态是指上滑盖120和下滑盖140之间的相对滑动距离为零的状态，也即上滑盖102和下滑盖140的正视位置是重合的。在闭合状态下，位于下滑盖140的前表面上的前置摄像头12处于非外露状态。

可选地，上滑盖120和下滑盖140之间设置有滑动检测组件和滑盖助滑组件。

一方面，该滑动检测组件用于在用户开始滑动上下滑盖时，检测上滑盖102和下滑盖140之间沿着滑开方向的相对滑动距离是否达到阈值，并在相对滑动距离达到阈值时上报滑盖滑开事件。滑盖助滑组件用于当根据该滑盖滑开事件时，控制上滑盖120和下滑盖140进行自动滑动，直至从闭合状态完全切换为滑开状态。

另一方面，该滑动检测组件用于在用户开始滑动上下滑盖时，检测上滑盖102和下滑盖140之间沿着滑闭方向的相对滑动距离是否达到阈值，并在相对滑动距离达到阈值时上报滑盖闭合事件。滑盖助滑组件用于当根据该滑盖闭合事件时，控制上滑盖120和下滑盖140进行自动滑动，直至从滑开状态完全切换为闭合状态。

上述滑动检测组件可以通过一个磁铁和两个霍尔传感器来实现。霍尔传感器是通过霍尔效应产生输出电压的电子器件，霍尔效应是指位于磁场中的霍尔半导体有电流从一端穿过另一端时，电流中的电子在洛伦兹力的作用下在霍尔半导体的横向方向上产生偏移，使得该霍尔半导体产生电位差。霍尔半导体通过霍尔效应产生的电位差即为霍尔电压。

图2示出了本申请另一个示例性实施例提供的滑盖式终端100的结构示意图。该滑盖式终端100包括：上滑盖120和下滑盖140。

上滑盖120和下滑盖140之间通过滑轨(图中未示出)相连。

上滑盖120内设置有磁铁122。可选地，该磁铁包括第一磁极和第二磁极。在本实施例中，第一磁极是N极，第二磁极是S极，磁铁的磁力线方向是从N极到S极。可选地，上滑盖120的正面还设置有触摸屏，该触摸屏的屏占比大于预设屏占比，比如，该触摸屏的屏占比大于90％。

下滑盖140内设置有第一霍尔传感器142、第二霍尔传感器144和处理器146，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144分别与处理器146电性相连。可选地，处理器146还与存储器148相连。可选地，第一霍尔传感器142与第二霍尔传感器144分别与处理器146的GPIO(General Purpose Input Output，通用输入/输出)接口相连。可选地，下滑盖140内还设置有运动传感器、前置摄像头、后置摄像头、通信芯片、物理接口、麦克风、扬声器、天线中的至少一种。

第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144沿上滑盖和下滑盖的滑动方向上间隔预设距离d设置。该预设距离d可以由研发人员根据上下滑盖的滑动总长度L来确定，该预设距离d是小于L的距离。可选地，预设距离d的中点与滑动总长度L的中点是重合的。

在滑盖滑开状态下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144均位于磁铁122的第一磁极所在方向的一侧。可选地，第一磁极是N极。第一磁极所在方向的一侧不包括第一磁极的正下方。

在滑盖闭合状态下，第一霍尔传感器142和第二传感器均位于磁铁122的第二磁极所在方向的一侧。可选地，第二磁极是S极。第二磁极所在方向的一侧不包括第二磁极的正下方。

可选地，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144在图中竖直方向的磁力线分量的方向发生改变时，输出电平也随之发生改变。

在磁铁122未受其它磁场干扰的场景下，也即上述滑盖检测组件的正常工作模式下：

图3示出了图2所示的滑盖式终端100在滑动过程中的电平变化示意图。

在闭合状态31时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144均位于磁铁122的N极所在方向的一侧，第一霍尔传感器142离磁铁122较近，磁铁122的由上向下的磁力线穿过第一霍尔传感器142，此时第一霍尔传感器142的输出电平为第一电平0，该第一电平0可以是低电平；第二霍尔传感器144离磁铁122较远，受磁铁122的影响较小，第二霍尔传感器144的输出电平为第二电平1，该第二电平1可以是高电平。也即在闭合状态下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为01。

当磁铁122滑动到第一霍尔传感器142的正上方时，第一霍尔传感器142所受到的竖直方向的磁力线分量变为0，水平方向的磁力线分量不为0；当磁铁122继续向滑开方向滑动时，第一霍尔传感器142上所受到的竖直方向的磁力线分量变为由下到上。此时，第一霍尔传感器142的输出电平由第一电平0变为第二电平1。

在中间状态32下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为11。

当磁铁122滑动到第二霍尔传感器144的正上方时，第二霍尔传感器144所受到的竖直方向的磁力线分量变为0，水平方向的磁力线分量不为0；当磁铁122继续向滑开方向滑动时，第二霍尔传感器144上所受到的竖直方向的磁力线分量变为由上到下。此时，第二霍尔传感器144的输出电平由第二电平1变为第一电平0。

在滑开状态33时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为10。

也即，当上滑盖120和下滑盖140沿滑开方向相对滑动时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平按照01→11→10顺序转变，处理器146运行的程序代码在输出电平为10时，生成并输出滑盖滑开事件。该滑盖滑开事件可以向位于上层的操作系统和应用层进行输出。操作系统在接收到滑盖滑开事件时，可以控制滑盖助滑组件驱动上滑盖120和下滑盖140进行自动滑动，直至完全处于滑开状态。

反之，当上滑盖120和下滑盖140沿闭合方向相对滑动时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平按照10→11→01顺序转变，处理器146运行的程序代码在输出电平为01时，生成并输出滑盖闭合事件。该滑盖闭合事件可以向位于上层的操作系统和应用层进行输出。操作系统在接收到滑盖闭合事件时，可以控制滑盖助滑组件驱动上滑盖120和下滑盖140进行自动滑动，直至完全处于闭合状态。

但是发明人在制造上述滑盖式终端100的过程中发现，由于滑盖式终端100中还存在其它易被磁化的电子部件，比如USB控制板需要与主板通过柔性排线相连，该柔性排线的插接件上存在一个长条形的薄钢片，该薄钢片在制造过程中被外部磁场(干扰磁场)影响，存在一定的几率(比如3％)会被磁化。磁化后的薄钢片可能会影响上述霍尔传感器的正常运行。

图4示出了连接器160的位置示意图。该连接器160位于第一霍尔传感器142的附近，假设在制造过程中受到外部磁场的干扰，该连接器160的磁极方向与磁铁122的磁极方向相反，因此对于第一霍尔传感器142而言，该连接器160所产生的磁力线在竖直方向上的磁力线分量是由上到下的。

示意性的，图5示出了图4所示的滑盖式终端100在滑动过程中的电平变化示意图。

在闭合状态31时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144均位于磁铁122的N极所在方向的一侧，第一霍尔传感器142离磁铁122较近，磁铁122的由上向下的磁力线穿过第一霍尔传感器142，同时，连接器160的由上向下的磁力线分量也穿过第一霍尔传感器142，也即第一霍尔传感器142在竖直方向上的磁力线分量和是由上向下的，此时第一霍尔传感器142的输出电平为第一电平0，该第一电平0可以是低电平；第二霍尔传感器144离磁铁122和连接器160较远，受磁铁122的影响较小，第二霍尔传感器144的输出电平为第二电平1，该第二电平1可以是高电平。也即在闭合状态下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为01。

当磁铁122滑动到第一霍尔传感器142的正上方时，磁铁122对第一霍尔传感器142在竖直方向的磁力线分量变为0，但连接器160在竖直方向的磁力线分量不为0(仍然为由上到下)，第一霍尔传感器142的输出电平为0。当磁铁122继续向右边一段距离时，磁铁122对第一霍尔传感器142在竖直方向的磁力线分量变为由下到上，与连接器160在竖直方向的磁力线分量之和抵消为0，第一霍尔传感器142的输出电平由第一电平0变为第二电平1。

在中间状态32a下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为11。

当磁铁122继续向右滑动时，磁铁122和连接器160对第二霍尔传感器122在竖直方向的磁力线分量之和抵消为0，导致第二霍尔传感器143的输出电平由第二电平1变为第一电平0。

在中间状态32b下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为10。

当磁铁122继续滑动时，虽然磁铁122已经远离第一霍尔传感器142，但是第一霍尔传感器142在竖直方向上仍然收到连接器160的由上到下的磁力线分量，第一霍尔传感器142的输出电平由第二电平1变为第一电平0。

在滑开状态33时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为00。

也即，当上滑盖120和下滑盖140沿滑开方向相对滑动时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平按照01→11→10→00顺序转变。与正常检测过程不同，会引起处理器的处理错误。

同时，发明人发现当连接器160的磁极方向与磁铁122的磁极方向相同时，连接器160不会对霍尔传感器的输出结果产生影响。

图6示出了本申请的一个示例性实施例提供的滑盖式终端100的结构框图。该滑盖式终端100的下滑盖140内还包括连接器160，连接器160位于第一霍尔传感器142的周侧。

在滑盖闭合状态下，磁铁122和连接器160在第一霍尔传感器处的垂直于滑动方向上产生方向相反的磁力线分量。示意性的，垂直于滑动方向的方向是图中的垂直方向，磁铁122在第一霍尔传感器142的垂直方向上产生由上到下的磁力线分量，连接器160在第一霍尔传感器142的垂直方向上产生由下到上的磁力线分量。

可选地，在滑盖闭合状态下，磁铁在第一霍尔传感器处的垂直于滑动方向上产生第一磁力线分量，连接器在第二霍尔传感器处的垂直于滑动方向上产生第二磁力线分量，第一磁力线分量大于第二磁力线分量。

图7示出了图6所示的滑盖式终端100在滑动过程中的电平变化示意图。

在闭合状态71时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144均位于磁铁122的N极所在方向的一侧，第一霍尔传感器142离磁铁122较近，磁铁122的由上向下的第一磁力线分量穿过第一霍尔传感器142，同时，连接器160的由下向上的第二磁力线分量也穿过第一霍尔传感器142，虽然两者会抵消一部分，但是由于第一磁力线分量大于第二磁力线分量，也即第一霍尔传感器142在竖直方向上的磁力线分量和是由上向下的，此时第一霍尔传感器142的输出电平为第一电平0，该第一电平0可以是低电平；第二霍尔传感器144离磁铁122和连接器160较远，受磁铁122的影响较小，第二霍尔传感器144的输出电平为第二电平1，该第二电平1可以是高电平。也即在闭合状态下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为01。

当磁铁122未滑动到第一霍尔传感器142的正上方时，磁铁122对第一霍尔传感器142在竖直方向的第一磁力线分量逐渐变小，但连接器160在竖直方向的第二磁力线分量保持不变，当两者的磁力线分量和为0时，第一霍尔传感器142的输出电平由第一电平0变为第二电平1。

在中间滑动状态72下，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为11。

当磁铁122继续向右滑动而经过第一霍尔传感器142的正上方时，磁铁122和连接器160对第二霍尔传感器122在竖直方向的两个磁力线分量均为由下到上，两个磁力线分量之和不为0，第一霍尔传感器142的输出电平保持为电平1，也即第一霍尔传感器142的输出电平不会改变。

当磁铁122继续向右滑动时，磁铁122和连接器160对第二霍尔传感器144在竖直方向的磁力线分量之和抵消为0，导致第二霍尔传感器144的输出电平由第二电平1变为第一电平0。

在滑开状态72时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平为10。

也即，当上滑盖120和下滑盖140沿滑开方向相对滑动时，第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器144的输出电平按照01→11→10顺序转变，与正常检测过程相同。

根据图5和图7示出的两个霍尔传感器的输出电平的顺序，发明人对连接器160进行有目的的磁化，使得连接器160的磁极方向与图6所示的相同。因此，发明人在制造该连接器160的过程中增加有目的的磁化步骤，使得磁化后的连接器160的磁极方向与图6所示的方向相同。

发明人对制造连接器160的设备进行改装，对连接器160进行有目的的磁化。但是，对于磁化后的连接器160是否有达到预期的磁化要求，却是不确定的。有鉴于此，提供有如下实施例。

为解决上述的不确定磁化后的连接器160是否有达到预期的磁化要求的问题，发明人在进行组装滑盖式终端的过程中，通过设置有检测组件的设备，对还未组装完成的且组装有磁化后的连接器160的滑盖式终端进行检测，根据检测组件的结果确定磁化后的连接器160是否有达到预期的磁化要求。

图8示出了本公开一个示例性实施例提供的设备的结构示意图，该设备用于对滑盖式终端进行检测，该设备包括：第一容置部810、第二容置部820、驱动组件840和检测组件830。

第一容置部810，用于固定滑盖式终端的第一滑盖部811，第一滑盖部811内组装有沿滑动方向排列的第一霍尔传感器142和第二霍尔传感器。

第二容置部820，用于固定滑盖式终端的第二滑盖部821，第二滑盖部821内设置有磁铁122。

可选的，第一容置部810和第二容置部820的类型包括卡槽、机械抓手中的至少一种。

驱动组件840，用于带动第一容置部810和第二容置部820进行相对滑动，以驱动第一滑盖部811和第二滑盖部821在滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动。

可选的，驱动组件840的驱动方式包括如下3种方式：

第一种，驱动组件带动第一容置部810来回滑动，第二容置部820固定不动；

第二种，驱动组件带动第二容置部820来回滑动，第一容置部820固定不动；

第三种，驱动组件驱动第一容置部810和第二容置部820同时相对滑动。

可选的，驱动组件840带动两个容置位的驱动方式包括但不限于上述三种方式，对驱动组件840采取的驱动方式，本实施例不做限定。

检测组件830与滑盖式终端的第一滑盖部811电性相连，检测组件830，用于检测第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。

可选的，检测组件830的检测方式包括：检测磁场变化，和，检测第一霍尔传感器142的输出电平变化中的至少一种。

综上所述，本申请实施例提供的设备，通过设置有检测组件的设备，对组装有磁化后的连接器的滑盖式终端进行检测，且检测组件通过检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。通过对工作时的第一霍尔传感器进行检测，间接地检测出磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求，避免未达到预期的磁化要求的连接器影响滑盖式终端的正常使用的问题。

在基于图8所示的实施例中，如图9所示，通过第一磁力计162采集第一霍尔传感器142的磁场变化，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。图9示出的设备的结构示意图中，检测组件包括第一控制芯片831，第一控制芯片831与第一滑盖部810内的第一磁力计162电性相连。

可选的，第一滑盖部810还包括端口812，第一磁力计162和端口812电性相连，端口812和第一控制芯片831电性相连。即第一磁力计162和第一控制芯片831通过端口812电性相连。在可能的实现中，该端口812可以是USB端口，或者GPIO端口。

第一磁力计162组装于第一滑盖部811内，且设置在第一霍尔传感器142周侧。第一磁力计162是设置在第一霍尔传感器142周侧的磁力计。第一磁力计162，用于采集第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时的磁场变化。

第一控制芯片831，用于根据第一磁力计162采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。

可选的，第一控制芯片831，用于在磁场变化异常时，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时存在异常。磁场变化异常包括第一霍尔传感器142在单次滑动过程中的磁场方向会变化两次，如图5所示。

本申请实施例提供的设备，通过在每个滑盖式终端中组装有一个第一磁力计，第一磁力计位于第一霍尔传感器的周侧，第一磁力计和第一控制芯片电性相连，能够准确检测第一霍尔传感器在工作时的磁场变化，确定第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，从而确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。

在基于图8所示的实施例中，如图10所示，通过第二磁力计164采集第一霍尔传感器142的磁场变化，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。图10示出的设备的结构示意图中，该检测组件包括第一控制芯片831和第二磁力计164。

第一控制芯片831与第二磁力计164电性相连，第二磁力计164设置在第一容置部810中，第二磁力计164与第一霍尔传感器142的直线距离小于阈值。即第二磁力计164位于第一霍尔传感器142的周侧。第二磁力计164是设置在第一容置部810中，且位于第一霍尔传感器142的周侧的磁力计。第二磁力计164，用于采集第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时的磁场变化。

第一控制芯片831，用于根据第二磁力计164采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。

可选的，第一控制芯片831，用于在磁场变化异常时，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时存在异常。磁场变化异常包括：第一霍尔传感器142在单次滑动过程中的磁场方向会变化两次，如图5所示。

本申请实施例提供的设备，通过在设备的第一容置部中设置第二磁力计，且第二磁力计位于第一霍尔传感器的周侧，第二磁力计和第一控制芯片电性相连，能够避免占用滑盖式终端的空间，且能准确检测第一霍尔传感器在工作时的磁场变化，确定第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，从而确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。

在基于图8所示的实施例中，如图11所示，通过检测第一霍尔传感器142的输出的电平，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。图11示出的设备的结构示意图中，该检测组件包括第二控制芯片832，第二控制芯片832与第一霍尔传感器142的输出端电性相连。

可选的，第一滑盖部811还组装有端口812，第一霍尔传感器142与端口812电性相连，端口812与第二控制芯片832电性相连。即第一霍尔传感器142和第二控制芯片832通过端口812电性相连。第二控制芯片832通过端口812获取第一霍尔传感器142工作时的输出的电平变化。

第二控制芯片832，用于根据第一霍尔传感器142在滑动过程中输出的电平，检测第一霍尔传感器142的工作是否存在异常。

可选的，第二控制芯片，用于在第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定第一霍尔传感器的工作存在异常，第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。可选地，第一目标时间段的开始时刻是开始滑动时刻，结束时刻等于(开始滑动时刻+单次滑动时长)。

电平变化异常包括：第一霍尔传感器142在单次滑动过程中受磁场的影响输出的电平会变化两次，也即先变过一次之后又变化一次，和/或，第一霍尔传感器142在单次滑动过程中输出的电平未达到高/低电平的值。

本申请实施例提供的设备，第一霍尔传感器和第二控制芯片电性相连，第二控制芯片获取第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化，根据第一目标时间段内输出的电平变化，确定第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，从而确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。

在基于图8所示的实施例中，如图12所示，通过检测第一霍尔传感器142的输出的电平，确定第一霍尔传感器142在滑动过程中受磁铁122的磁场影响进行工作时是否存在异常。图12示出的设备的结构示意图中，第一容置部811上设置有第一端子851，第二容置部821上设置有第二端子852，第二端子852与电源引脚(VCC)相连，第一端子851与第二控制芯片832电性相连，第一端子851和第二端子852在滑动过程中的接触位置与目标滑动位置相对应，目标滑动位置是第一霍尔传感器142在滑动方向上与磁铁122之间的距离小于阈值的一段范围位置。

可选的，第一滑盖部811还组装有端口812，第一霍尔传感器142与端口812电性相连，端口812与第二控制芯片832电性相连。即第一霍尔传感器142和第二控制芯片832通过端口812电性相连。第二控制芯片832通过端口812获取第一霍尔传感器142工作时的输出的电平变化。

而且，第一端子851和端口812电性相连，端口812与第二控制芯片832电性相连。即第一端子851和第二控制芯片832通过端口812电性相连。第二控制芯片832通过端口812获取第一端子851根据第二端子852在滑动过程中的接触位置，确定第一端子851输出的电平。

第二控制芯片832，用于根据第一霍尔传感器142在滑动过程中输出的电平，检测第一霍尔传感器142的工作是否存在异常。

可选的，第二控制芯片832，用于在第一霍尔传感器142在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定第一霍尔传感器142的工作存在异常，第二目标时间段是根据第一端子851输出为高电平的时间确定的。电平变化异常包括第一霍尔传感器142在单次滑动过程中受磁场的影响输出的电平会变化两次，也即先变过一次之后又变化一次，和/或，第一霍尔传感器142在单次滑动过程中输出的电平未达到高/低电平的值。

本申请实施例提供的设备，通过第一端子和第二端子，确定两个滑盖部之间的滑动的位置，根据两个滑盖部之间的滑动的位置，确定第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化，确定第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，从而确定磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求。

需要说明的是，图9、10中的任意一种检测方案可以和图11、12中的任意一种检测方案组合，即该设备可以同时检测磁场变化和电平变化中的至少一种，对实际检测时，发明人采用的检测方式，本实施例对此不做限定。

图10示出了本公开一个示例性实施例提供的检测方法的流程图，该方法应用于如图8至图12中所示的任意一种设备中，该方法包括：

步骤1301，将第一滑盖部固定于第一容置部，第二滑盖部固定于第二容置部。

可选地，该设备包括控制芯片，该控制芯片包括处理器和存储器。处理器，用于控制升降柱实现升降操作，使得升降柱在第一位置和第二位置之间进行切换，即该设备通过控制芯片实现运作。存储器，用于存储控制升降柱实现升降操作的计算代码。

控制芯片将第一滑盖部固定于第一容置部，第二滑盖部固定于第二容置部。

可选的，第一容置部和第二容置部的类型包括卡槽、机械抓手中的至少一种。

步骤1302，控制驱动组件带动第一容置部和第二容置部进行相对滑动，以驱动第一滑盖部和第二滑盖部在滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动。

控制芯片控制驱动组件带动第一容置部和第二容置部进行相对滑动。

可选的，驱动组件的驱动方式包括如下3种方式：

第一种，驱动组件带动第一容置部来回滑动，第二容置部固定不动；

第二种，驱动组件带动第二容置部来回滑动，第一容置部固定不动；

第三种，驱动组件驱动第一容置部和第二容置部同时滑动。

可选的，驱动组件带动两个容置位的驱动方式包括但不限于上述三种方式，对驱动组件采取的驱动方式，本实施例不做限定。

步骤1303，检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在一种可选的实施方式中，检测组件包括第一控制芯片。第一控制芯片与第一滑盖部内的第一磁力计电性相连。第一控制芯片根据第一磁力计采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计。第一控制芯片与第二磁力计电性相连，第二磁力计设置在第一容置部中，第二磁力计与第一霍尔传感器的直线距离小于阈值。第一控制芯片根据第二磁力计采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，检测组件包括第二控制芯片，第二控制芯片与第一霍尔传感器的输出端电性相连。第二控制芯片根据第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，第一容置部上设置有第一端子，第二容置部上设置有第二端子，第一端子与电源引脚相连，第二端子与第二控制芯片电性相连。第二控制芯片在第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定第一霍尔传感器的工作存在异常，第二目标时间段是根据第二端子输出为高电平的时间确定的。

电平变化异常包括：第一霍尔传感器在单次滑动过程中受磁场的影响输出的电平会变化两次，也即先变过一次之后又变化一次，和/或，第一霍尔传感器142在单次滑动过程中输出的电平未达到高/低电平的值。

可选的，在确定第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时存在异常，确定磁化后的连接器未达到预期的磁化要求，对滑盖式终端中的连接器重新进行磁化。

综上所述，本申请实施例提供的方法，通过检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，间接地检测出磁化后的连接器是否达到预期的磁化要求，避免未达到预期的磁化要求的连接器对滑盖式终端正常使用的影响。

以下为本公开的装置实施例，对于装置实施例中未详细描述的细节，可以参考上述方法实施例。

图14示出了本公开一个示例性实施例提供的检测装置的结构示意图，该装置应用于如图8至图12中所示的任意一种设备中，该装置包括：

固定模块1410，被配置为将第一滑盖部固定于第一容置部，第二滑盖部固定于第二容置部；

控制模块1420，被配置为控制驱动组件带动第一容置部和第二容置部进行相对滑动，以驱动第一滑盖部和第二滑盖部在滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

检测模块1430，被配置为检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在一种可选的实施方式中，检测组件包括第一控制芯片；第一控制芯片与第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

第一控制芯片，被配置为根据第一磁力计采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；第一控制芯片与第二磁力计电性相连，第二磁力计设置在第一容置部中，第二磁力计与第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

第一控制芯片，被配置为根据第二磁力计采集到的磁场变化，检测第一霍尔传感器在滑动过程中受磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

在另一种可选的实施方式中，检测组件包括第二控制芯片，第二控制芯片与第一霍尔传感器的输出端电性相连；

第二控制芯片，被配置为根据第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

在另一种可选的实现方式中，第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。

在另一种可选的实施方式中，第一容置部上设置有第一端子，第二容置部上设置有第二端子，第一端子与电源引脚相连，第二端子与第二控制芯片电性相连；

第二控制芯片，被配置为在第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定第一霍尔传感器的工作存在异常，第二目标时间段是根据第二端子输出为高电平的时间确定的。

需要说明的一点是，上述实施例提供的装置在检测时，仅以上述各个功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据实际需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内容结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

在示例性实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质为非易失性的计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，存储的计算机程序被控制芯片执行时能够实现本公开上述实施例提供的检测方法。

应当理解的是，在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (19)

1.一种用于对滑盖式终端进行检测的设备，其特征在于，所述设备包括：第一容置部、第二容置部、驱动组件和检测组件；

所述第一容置部，被配置为固定所述滑盖式终端的第一滑盖部，所述第一滑盖部组装有滑动方向排列的第一霍尔传感器和第二霍尔传感器；

所述第二容置部，被配置为固定所述滑盖式终端的第二滑盖部，所述第二滑盖部内设置有磁铁；

所述驱动组件，被配置为带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

所述检测组件，被配置为检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常；

其中，所述第一磁力计是设置在所述第一霍尔传感器周侧的磁力计。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

4.根据权利要求2或3所述的设备，其特征在于，

所述第一控制芯片，被配置为在单次滑动过程中的所述磁场方向变化为两次时，确定所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时存在异常。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

所述第二控制芯片，被配置为根据所述第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，

所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。

7.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第二端子与电源引脚相连，所述第一端子与所述第二控制芯片电性相连，所述第一端子和所述第二端子在滑动过程中的接触位置与目标滑动位置相对应，所述目标滑动位置是所述第一霍尔传感器在滑动方向上与所述磁铁之间的距离小于阈值的位置；

所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第一端子输出为高电平的时间确定的。

8.一种检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1所述的设备中，所述方法包括：

将所述第一滑盖部固定于所述第一容置部，所述第二滑盖部固定于所述第二容置部；

控制所述驱动组件带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

所述检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，包括：

根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

所述检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，包括：

根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

11.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

所述检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，包括：

根据所述第一霍尔传感器在滑动过程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

12.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第一端子与电源引脚相连，所述第二端子与所述第二控制芯片电性相连；

所述检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常，包括：

在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第二端子输出为高电平的时间确定的。

13.一种检测装置，其特征在于，应用于如权利要求1所述的设备中，所述装置包括：

固定模块，被配置为将所述第一滑盖部固定于所述第一容置部，所述第二滑盖部固定于所述第二容置部；

控制模块，被配置为控制所述驱动组件带动所述第一容置部和所述第二容置部进行相对滑动，以驱动所述第一滑盖部和第二滑盖部在所述滑动方向上的闭合状态和滑开状态之间进行滑动；

检测模块，被配置为检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片；所述第一控制芯片与所述第一滑盖部内的第一磁力计电性相连；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第一磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

15.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述检测组件包括第一控制芯片和第二磁力计；所述第一控制芯片与所述第二磁力计电性相连，所述第二磁力计设置在所述第一容置部中，所述第二磁力计与所述第一霍尔传感器的直线距离小于阈值；

所述第一控制芯片，被配置为根据所述第二磁力计采集到的磁场变化，检测所述第一霍尔传感器在滑动过程中受所述磁铁的磁场影响进行工作时是否存在异常。

16.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述检测组件包括第二控制芯片，所述第二控制芯片与所述第一霍尔传感器的输出端电性相连；

所述第二控制芯片，被配置为根据所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内程中输出的电平，检测所述第一霍尔传感器的工作是否存在异常。

17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，

所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第一目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第一目标时间段是根据开始滑动时刻确定的。

18.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述第一容置部上设置有第一端子，所述第二容置部上设置有第二端子，所述第一端子与电源引脚相连，所述第二端子与所述第二控制芯片电性相连；

所述第二控制芯片，被配置为在所述第一霍尔传感器在第二目标时间段内输出的电平变化异常时，确定所述第一霍尔传感器的工作存在异常，所述第二目标时间段是根据所述第二端子输出为高电平的时间确定的。

19.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序由处理器加载并执行以实现如权利要求8至12任一所述的方法。

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