CN111736065A - 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents
电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111736065A CN111736065A CN202010868059.8A CN202010868059A CN111736065A CN 111736065 A CN111736065 A CN 111736065A CN 202010868059 A CN202010868059 A CN 202010868059A CN 111736065 A CN111736065 A CN 111736065A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electronic device
- circuit
- voltage
- interval
- resistance value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
- G01R31/3004—Current or voltage test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/28—Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质，所述电路的测试方法包括：电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。本发明提高了电路测试的效率。
Description
技术领域
本发明涉及电路测试领域，尤其涉及一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质。
背景技术
在电路系统中的测试过程中，器件在工作时的电压会有一个变动范围，若不考虑上述变动范围，而直接将电路进行部署，可能会由于线路的阻值误差，导致分到器件的电压满足不了器件的正常工作，且后续再针对该问题进行测试时，需要到实际电路去获取测试数据，导致电路测试的效率低。
发明内容
本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、系统及计算机可读存储介质，通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。
本发明实施例的第一方面提供一种电路的测试方法，所述电路的测试方法包括：
电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；
根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；
根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。
在一实施例中，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：
获取所述第一电子器件的额定电压；
确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在一实施例中，所述确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间的步骤包括：
获取所述第一电子器件的器件类型；
根据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围；
将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在一实施例中，在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。
在一实施例中，所述根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署的步骤包括：
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间；
在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。
在一实施例中，所述第一电子器件包括至少一个子器件。
在一实施例中，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：
若所述电路上已接入的子器件为多个时，获取所述多个第二电子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件浮动的第一电压区间。
在一实施例中，所述获取电路上已接入的所述第一电子器件的第一电阻值的步骤包括：
若所述电路上已接入的第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件的第一电阻值。
为实现上述目的，本发明提供了一种电路的测试装置，所述电路的测试装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的电路的测试方法的各个步骤。
为实现上述目的，本发明提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的电路的测试方法的各个步骤。
本发明提供的电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质，电路的测试装置电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例涉及电路的测试装置的硬件构架示意图；
图2为本发明电路的测试方法第一实施例的流程示意图；
图2A为本发明电路的测试方法第一实施例的参考图；
图3为本发明电路的测试方法第二实施例的步骤10的流程示意图；
图4为本发明电路的测试方法第三实施例的流程示意图；
图5为本发明电路的测试方法第四实施例的流程示意图；
图6为本发明电路的测试方法第五实施例的步骤10流程示意图；
图7为本发明电路的测试方法第六实施例的步骤10流程示意图。
具体实施方式
为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
本发明的主要解决方案是：通过电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。
通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。
作为一种实现方式，电路的测试装置可以如图1所示。
本发明实施例方案涉及的是电路的测试装置，电路的测试装置包括：处理器101，例如CPU，存储器102，通信总线103。其中，通信总线103用于实现这些组件之间的连接通信。
存储器102可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器（non-volatilememory），例如磁盘存储器。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器103中可以包括检测程序；而处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；
根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；
根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
获取所述第一电子器件的额定电压；
确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
获取所述第一电子器件的器件类型；
根据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围；
将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
所述根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署的步骤包括：
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间；
在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
所述第一电子器件包括至少一个子器件。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
若所述第一电子器件的子器件为多个时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件浮动的第一电压区间。
在一实施例中，处理器101可以用于调用存储器102中存储的检测程序，并执行以下操作：
若所述电路上已接入的第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件的第一电阻值。
在本实施例的技术方案中，通过电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
参照图2，图2为本发明电路的测试方法的第一实施例，所述电路的测试方法应用于装置，所述装置应用于装置，所述电路的测试方法包括以下步骤：
步骤S10，电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值。
在本实施例中，上述电路可以是即将用于实现的电路，也可以是根据已经实现的电路进行模拟的模拟电路，也可以是虚拟的实验电路，在此不做限定；上述第一电子器件指的是在电路中已经存在的电子器件，电子器件可以是纯电阻、家电设备、用电设备、发电机、变压器、办公设备以及生产设备等，在此不做限定；上述第一电压区间是可以使上述电子器件正常工作的电压范围区间；上述电源电压值为电路中的供电电源的输出电压；上述第一电阻值为第一电子器件的电阻，进一步的，若电一电子器件包含多个子器件，则将子器件作为一个整体看待，然后根据子器件的电阻、额定电压和连接情况确定上述第一电压区间和第一电阻值。
步骤S20，根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系。
在本实施例中，上述待接入的第二电子器件为建议新增入电路的电子器件，将第二电子器件与第一电子器件串联，可以起到分压的作用，以保证第一电子器件正常工作；第二电子器件的第二电压区间为电源电压与第一电压区间的差值区间，例如：电源电压为5V，第一电压区间为3V-4V，则第二电压区间为1V-2V。
步骤S30，根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间。
在本实施例中，可通过已经知道的第一电压区间和第一阻值确定出电路中的电流值。
以普通的LED组合为例，在电路的实际应用过程中，会用到多组LED的组合，多组LED的组合之后，在整个线路中的实际工作电流，电压都会有一个变动范围的情况，都会有多个电子器件也需要多个光源的支持，需要多路LED等，无论是可见光的还是近红外光的，都需要多组LED等的支持，多路LED在组装前需要进行单个LED的测试，测试出相应的额定电流，相应电压可控制的稳定范围，完全模拟在实际应用的电路系统中精度的准确，防止电路系统中存在电流的损耗，导致实际输出电流偏小，或者偏大等状况的出现。
通过相应的方程组，接相应的负载，计算相应的数值计算值，进行相应的数值的合理性的判断，通过已知的参数数值，进行相应的未知量的确定，通过相应的因变量，的大体变动范围，精确到相应的器件的某个具体值的合理值的最终确认，可以通过建立多个方程组，方程组中可以设置已知量，可以设置自变量，可以设置因变量，通过相关已知量的特殊数值的区域，以及相应的因变量的数值的确定范围，通过调整相应的数值范围，得到相应的因变量的数值范围。通过相应的数值范围，确定你的设计的数值的合理的范围。最终确定你相应的数值的合理值，防止在电路中进行数值的一次一次的试用，即浪费时间，又损耗器件生命周期的问题。
利用两路进行实例讲解：
对于上述公式，3.3位电源电压，100为安全电阻，I1和I2分别对应电路数值，即电流值，其中，一个分支中的消耗电压为1.4V；看看随着一个因变量A的取值范围，A即为上述第一电压区间，对两个分支的电流影响的状态。通过解得I1，I2：
可以定A的步长以及取值范围，则上述各项取值如图2A所示；
根据图2A的参考数据，可知电路I1对应电压变化的电流值区间为0.006333333至0.009；I2对应电压变化的电流值区间为0.005至0.006333333，可将0.006333333做为该电路的优选电流值。
在以上的基础上增加可变量P，P为电阻；
在以上的基础上增加可变量Q，Q为电压；
这样在实际应用时对相应器件的可估测可调范围的扩大估测，不用在电路系统中，一个个数值的去测试。即花费时间，也消耗器件的使用周期。
步骤S40，根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。
在本实施例中，由于第二电压区间处于一个范围内变化，所以第二电子器件对应的电阻值也存在多个；对于第二电压区间，以预设值递增，计算出每个电压值对应的第二电阻值，例如：第二电压区间为3V-4V，则可定义0.5V位预设值，分别循环计算出3V、3.5V、4V对应的第二阻值，然后在得到的三个第二阻值中选取一个优选值作为第二电子器件的第二电阻值，上述预设值可自定定义，例如以0.1V递增计算，则有10个可选的第二电阻值，在此不做限定。
在本实施例的技术方案中，通过电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。通过模拟现实电路，输入相应数据进行电路的测试，可在电路进行部署前确定是否会因为器件在工作时的电压存在浮动范围而导致器件不能正常工作的问题，不需要到实际电路去获取测试数据，提高了电路测试的效率。
参照图3，图3为本发明电路的测试方法的第二实施例，基于第一实施例，所述步骤S10包括：
步骤S11，获取所述第一电子器件的额定电压。
在本实施例中，上述额定电压可为用户输入，用于后续确定第一和第二电压区间。
步骤S12，确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在本实施例中，额定电压下，家电设备、用电设备、发电机、变压器、办公设备以及生产设备等在正常运行时具有最大经济效益。此时设备中的各部件都工作在最佳状态，性能比较稳定，寿命相对较长。指定用电设备的额定电压有利于电器制造业的生产标准化和系列化，有利于设计的标准化和选型，有利于电器的互相连接和更换，有利于备件的生产和维修等，但是，设计人员往往在给定一个额定电压至电路后就认定了上述设备是处于额定电压下工作的，并没有考虑到工作电压是在额定电压之间浮动的，所以本发明定义了一个电压区间，以便后续可以在其中给到第一电子器件一个的最佳工作电压值。
在本实施例的技术方案中，通过电子器件的额定电压来确定电子器件的正常工作电压的区间值，以额定电压为对照点进行区间延伸，误差相对较小，可提高得出的第一电压区间的精度。
参照图4，图4为本发明电路的测试方法的第三实施例，基于第一或第二二实施例，所述电路的测试方法的步骤S12包括：
步骤S121，获取所述第一电子器件的器件类型。
在本实施例中，上述器件类型可为用户输入。
步骤S122，根据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围。
在本实施例中，上述器件类型和额定电压以及所述预设浮动范围的关联关系为预先根据大数据分析得到，以第一电子器件的器件类型和额定电压作为检索条件，可在预先根据大数据技术确定的“类型-电压-浮动范围”数据库中精准的找到与其对应的浮动范围，例如：根据器件类型在上述数据库中检索同类型的器件后，再以额定电压作为检索条件，可快速找到与器件类型和额定电压关联的预设浮动范围。
步骤S123，将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
在本实施例提供的技术方案中，将器件类型和额定电压进行结合，在预设确定的电压浮动范围数据库中进行检索，可以提高效率。
基于第一至第三任一实施例，所述电路的测试方法还包括：
在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。
在本实施例的技术方案中，第二电子器件可为纯电阻，也可为电子产品，即上述设备，当确定第二电阻值较大或者可以供其他设备正常工作时，可以在电路中增加一个设备，要注意的是，若第二电子器件是设备小于第二电阻值，则在接入该设备后仍需再接入一个纯电阻，以保证设备+纯电阻=第二电阻值。
在本实施例提供的技术方案中，由于电阻器件只是作为安全电阻来保护第一电子器件正常工作的，本身用途很少，若可替换为其他设备的情况下，仍旧能保证第一电子器件正常工作，可提高资源的利用率。
参照图5，图5为本发明电路的测试方法的第四实施例，基于第一或第二实施例，所述电路的测试方法的步骤S40包括以下步骤：
步骤S41，根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间。
在本实施例中，可根据第二电压区间计算出与其对应的电阻区间，例如：第二电压区间为1V-2V，可以设置计算精度，例如从0.1V开始计算，则可得出以0.1递增的电压值对应的20个电阻值，即电阻区间。
步骤S42，在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。
在本实施例中，可将得出的每个电阻区间对应的其他数据进行展示，供用户判断并选择，也可根据自定义的规则进行机器自动选择，在此不做限定，例如：将电阻区间中的电阻对应的电路中的电压和电流作为展示信息，供客户参考，客户可自行选择合适的第二电阻值。
在本实施例提供的技术方案中，可以全范围的计算出浮动电压对应的第二电阻值，数据覆盖全面，提高了最终确定的第二电阻值的准确率。
参照图6，图6为本发明电路的测试方法的第五实施例，基于第一至第四任一实施例，所述电路的测试方法的步骤S10包括以下步骤：
步骤S13，若所述第一电子器件的子器件为多个时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联。
步骤S14，根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件浮动的第一电压区间。
在本实施例中，若电路比较复杂，例如第一电子器件中存在多个子器件，由于子器件的额定电压也存在浮动范围，可根据第一电子器件内部的子器件的连接关系，综合确定出上述第一电压区间。
在本实施例提供的技术方案中，根据第一电子器件内部的子器件进行综合考虑，定义出可使得所有子器件正常工作的的第一电压区间，在电路进行实践后，可防止部分零部件损害导致的电路稳定性低。
参照图7，图7为本发明电路的测试方法的第六实施例，基于第一至第五任一实施例，所述电路的测试方法的步骤S10包括以下步骤：
步骤S15，若所述电路上已接入的第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联。
步骤S16，根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件的第一电阻值。
在本实施例中，若电路比较复杂，对于子器件的阻值，若是串联关系，则可以直接相加，然后确定出第一电子器件的总阻值；若是并联关系，则采用并联情况下的公式计算出第一电子器件的总阻值。
在本实施例提供的技术方案中，可将电路已接入设备看做一个整体，在确定待接入设备的阻值时，不用做过多的计算，提高了电路测试的效率。
为实现上述目的，本发明提供了一种电路的测试装置，所述电路的测试装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的电路的测试方法的各个步骤。
为实现上述目的，本发明提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的电路的测试方法的各个步骤。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
应当注意的是，在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种电路的测试方法，其特征在于，所述电路的测试方法包括：
电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；
根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；
根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。
2.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：
获取所述第一电子器件的额定电压；
确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
3.如权利要求2所述的电路的测试方法，其特征在于，所述确定所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间的步骤包括：
获取所述第一电子器件的器件类型；
据所述器件类型和所述额定电压，确定与所述器件类型和所述额定电压关联的预设浮动范围；
将所述预设浮动范围作为所述额定电压的浮动范围，得到所述第一电压区间。
4.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，在所述第二电阻值大于预设电阻值时，所述第二电子器件为设备；在所述第二电阻值小于或等于预设电阻值时，所述第二电子器件为电阻器件。
5.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署的步骤包括：
根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定电阻区间；
在所述电阻区间中确定所述第二电子器件的第二电阻值。
6.如权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述第一电子器件包括至少一个子器件。
7.如权利要求6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间的步骤包括：
若所述第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件浮动的第一电压区间。
8.如权利要求6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述获取电路上已接入的所述第一电子器件的第一电阻值的步骤包括：
若所述电路上已接入的第一电子器件包括多个子器件时，获取各个所述子器件的连接关系，其中，所述连接关系包括串联/和/或并联；
根据各个所述子器件的连接关系，确定所述第一电子器件的第一电阻值。
9.一种电路的测试装置，其特征在于，所述电路的测试装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8中任一项所述的电路的测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的电路的测试方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010868059.8A CN111736065A (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010868059.8A CN111736065A (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN111736065A true CN111736065A (zh) | 2020-10-02 |
Family
ID=72658866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010868059.8A Pending CN111736065A (zh) | 2020-08-26 | 2020-08-26 | 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111736065A (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3440530A (en) * | 1966-11-22 | 1969-04-22 | Molecular Electronics Inc | Method and apparatus for measuring the resistance of an electrical component which may be shunted by a semiconductor device |
| US20130154663A1 (en) * | 2011-12-19 | 2013-06-20 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Lens module electrical testing system and testing method |
| CN104159373A (zh) * | 2014-08-15 | 2014-11-19 | 北京博尚信科技有限公司 | 基于自适应可变电路的led节能灯及其电路控制方法 |
| CN108627699A (zh) * | 2017-03-24 | 2018-10-09 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 检测装置与检测方法 |
| CN207976526U (zh) * | 2018-03-06 | 2018-10-16 | 固纬电子实业股份有限公司 | 用于绝缘测量电容性待测试物的电路 |
-
2020
- 2020-08-26 CN CN202010868059.8A patent/CN111736065A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3440530A (en) * | 1966-11-22 | 1969-04-22 | Molecular Electronics Inc | Method and apparatus for measuring the resistance of an electrical component which may be shunted by a semiconductor device |
| US20130154663A1 (en) * | 2011-12-19 | 2013-06-20 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Lens module electrical testing system and testing method |
| CN104159373A (zh) * | 2014-08-15 | 2014-11-19 | 北京博尚信科技有限公司 | 基于自适应可变电路的led节能灯及其电路控制方法 |
| CN108627699A (zh) * | 2017-03-24 | 2018-10-09 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 检测装置与检测方法 |
| CN207976526U (zh) * | 2018-03-06 | 2018-10-16 | 固纬电子实业股份有限公司 | 用于绝缘测量电容性待测试物的电路 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106294120B (zh) | 测试代码的方法、设备和计算机程序产品 | |
| CN111983499B (zh) | 开关电源的测试方法和系统 | |
| CN106055361B (zh) | 基于bmc的多种不同机型的集成式固件实现方法及系统 | |
| JP2012521596A (ja) | 電力分配装置・デバイス間の相関 | |
| WO2020113526A1 (zh) | 一种芯片验证方法和装置 | |
| CN107015901B (zh) | 一种日志分析方法及装置 | |
| CN113988469A (zh) | 芯片静态功耗的预测方法、装置、电子设备和存储介质 | |
| CN113900913A (zh) | 确定功耗方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 | |
| CN105158673A (zh) | 一种ate机台文件的生成方法及装置 | |
| CN111221849A (zh) | 一种卫星故障定位方法、装置、终端及计算机可读介质 | |
| US8661293B2 (en) | Test architecture based on intelligent test sequence | |
| CN111736065A (zh) | 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质 | |
| CN111128775A (zh) | 集成电路制程异常的定位方法和装置 | |
| US10394699B1 (en) | Method and system for reusing a refinement file in coverage grading | |
| CN104461603B (zh) | 一种信息处理方法及电子设备 | |
| CN109684695B (zh) | 一种电气设计方法和装置 | |
| US9477932B2 (en) | System and method for providing visualization of a parameter on multiple branches of a distribution network | |
| CN111695238A (zh) | 一种用于将电力系统暂态仿真数据可视化的系统及方法 | |
| US20180341732A1 (en) | Estimating timing convergence using assertion comparisons | |
| CN108052335A (zh) | 数据管理方法、装置、计算设备及存储介质 | |
| CN108269004B (zh) | 产品寿命分析方法及终端设备 | |
| CN112732498A (zh) | 模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN113282482A (zh) | 软件包的兼容测试方法及系统 | |
| JP2013200594A (ja) | 故障率算出装置及び故障率算出用プログラム | |
| CN103914380A (zh) | 结构测试中的边界值测试方法及其系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20201002 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |