CN111712473B - 基于波长分析检测浮法玻璃中的夹杂物方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于检测钠钙硅基玻璃诸如浮法玻璃中的夹杂物(例如，硫化镍基夹杂物/缺陷)的方法和/或系统。在某些示例性情况下，在玻璃制造工艺期间和/或之后，在浮法工艺中的形成玻璃片并使其浮在熔融材料(例如锡浴)上并冷却或诸如通过退火炉使其冷却的阶段之后，将光引导在所得的玻璃处，并且分析各种波长(例如红光和蓝光波长)的反射来检测夹杂物。

Description

基于波长分析检测浮法玻璃中的夹杂物方法和系统

本申请要求于2018年3月7日提交的美国申请号62/639,547的优先权，该美国申请的全部内容据此全文以引用方式并入本文。

本发明的示例性实施方案涉及用于检测钠钙硅基玻璃(例如浮法玻璃)中的夹杂物和/或其他缺陷(例如微夹杂物，诸如硫化镍基夹杂物/缺陷)的方法和/或系统。在本发明的某些示例性实施方案中，来自至少一个光源的光(例如，可见光)被引导在玻璃处，并且分析和比较来自该至少一个光源的不同波长的反射光(例如折射和/或散射光)并且可基于不同波长之间的差异来检测夹杂物。例如，硫化镍夹杂物具有将影响给定的波长范围(例如，400nm-500nm)而不影响另一波长范围(例如，600nm-650nm)的表面粗糙度特征。例如，硫化镍夹杂物具有将比红光衍射更多蓝光从而在不同波长处提供不同程度的散射的表面粗糙度特征。因此，可基于受到不同影响(例如，衍射和/或散射)的不同波长来检测硫化镍基夹杂物，而没有夹杂物或具有带光滑镜状表面的夹杂物的浮法玻璃本身不具有这种效果。在本发明的一个示例性实施方案中，在玻璃制造工艺期间和/或之后，在浮法工艺中的形成玻璃片并使其浮在熔融材料(例如锡浴)上并冷却或使其至少部分冷却的阶段之后(诸如在退火炉之后)，将来自至少一个光源的光引导在所得玻璃处，并且可基于分析和/或比较作为波长(λ)的函数的反射光(例如折射和/或散射光)来检测夹杂物。例如，在给定位置处反射光(例如，折射和/或散射)的显著差异可指示硫化镍基夹杂物的存在。

背景技术

制备浮法玻璃的方法是本领域已知的。例如，参见美国专利号3,954,432、3,083,551、3,220,816、7,743,630、8,677,782、9,016,094和5,214,008，所有这些专利的公开内容据此全文以引用方式并入本文。一般而言，在浮法玻璃生产线中，在熔炉或熔化器中加热批料以形成玻璃熔体。将玻璃熔体倾倒在诸如锡的熔融材料浴(锡浴)上，并且然后连续冷却以形成浮法玻璃带。然后将浮法玻璃带送至退火炉进行进一步处理，并且然后将其切割以形成固体玻璃制品，诸如平板玻璃片。对于浮法玻璃，玻璃批料通常包括苏打、石灰和硅，以形成钠钙硅基平板玻璃。

浮法玻璃广泛用于商业和住宅建筑中的窗户、玻璃家具、淋浴门和汽车挡风玻璃。对于许多产品，浮法玻璃必须进行热回火(加热到至少580℃，随后快速冷却)以确保在破裂时的安全性。来自原料的杂质、来自添加剂的硫和/或来自浮法工艺的污染物在玻璃形成期间偶尔且不可预测地形成不想要的化合物(例如夹杂物)，这是玻璃中的不期望的缺陷。例如，已知镍自发地与硫结合形成硫化镍或基于硫化镍(任何合适的化学计量，诸如NiS)的夹杂物。

尽管在退火玻璃(例如，通过浮法工艺制造而没有任何附加的热处理诸如热回火)中通常是无害的，但已知NiS夹杂物会导致热回火玻璃的自发破裂。此外，热回火玻璃中的NiS夹杂物/缺陷已在长时间段内导致已安装产品的灾难性玻璃失效。因此，剔除有缺陷的退火玻璃至少有两个目的：a)在昂贵的热回火和热浸泡阶段期间提高产量，以及b)使已安装产品中玻璃的灾难性失效最小化。

硫化镍在不同的温度处以不同的相存在。例如，已知的NiS的两种特定相是α-相和β-相。在低于715°F(379℃)的温度处，硫化镍以β-相形式相对稳定。高于该温度，其以α-相稳定。因此，当在熔炉中生产玻璃时，任何NiS夹杂物都可能处于α-相。在典型的退火玻璃中，由退火炉提供的缓慢冷却过程允许NiS在玻璃冷却时有充足的时间转变成其β-相。

然而，在热强化和回火玻璃中都使用的快速冷却过程中，通常没有足够的时间来完成相变(这是一个相对较慢的过程)。因此，NiS夹杂物以其高温α-相被捕获在玻璃中。然而，一旦玻璃冷却超过相变温度，NiS夹杂物试图重新进入较低能量的β-相。对于截留的夹杂物，该过程需要几个月至几年的时间。这可能对玻璃没有影响，如果不是当NiS从α-相变为β-相时，体积增加诸如2％-4％。这种膨胀可能产生局部拉伸应力，这可导致玻璃失效。

硫化镍也是一种以各种形式出现的化合物。硫化镍的最常见形式是Ni₇S₆、NiS、NiS_1.03、Ni₃S₂和Ni₃S₂+Ni。当在电子显微镜下观察时，Ni₇S₆、NiS和NiS_1.03是黄金色的，并且具有类似于高尔夫球的粗糙表面。这三种类型是非磁性的，并且已经发现会导致回火玻璃失效。

已经使用了各种方法来在线检测NiS夹杂物和类似尺寸尺度的其他微缺陷(例如，40微米-150微米尺寸的缺陷)。例如美国专利号7,511,807(以引用方式并入本文)将光引导在玻璃处并寻找光散射以便检测夹杂物。因此，用于检测夹杂物的常规技术是低效的，并且有时是无效的。

鉴于上述情况，很明显，在本领域中需要一种制造玻璃并控制玻璃质量的改进方法，包括用于检测钠钙硅基玻璃中的夹杂物的改进方法和/或装置。

发明内容

提供了一种用于检测钠钙硅基玻璃中的夹杂物(例如，硫化镍基夹杂物/缺陷)的方法和/或系统。本文所讨论的在线系统和/或方法可用于检测例如浮法玻璃中的夹杂物和/或其他缺陷，诸如硫化镍夹杂物和/或尺寸为约30μm-200μm、更优选地约40μm-150μm的其他微缺陷，和/或可用于区分此类硫化镍基夹杂物与其他夹杂物。

在某些示例性实施方案中，钠钙硅基玻璃包含基础玻璃部分，该基础玻璃部分包含按重量百分比计：SiO₂ 67％-75％、Na₂O 10％-20％、CaO 5％-15％、Al₂O₃ 0％-7％、MgO0％-7％和K₂O 0％-7％。任选地，玻璃的着色剂部分还可包括一种或多种着色剂，诸如铁、硒、钴、铒和/或类似物。

在本发明的某些示例性实施方案中，提供了用于检测钠钙硅基玻璃(例如浮法玻璃)中的夹杂物和/或其他缺陷(例如，微夹杂物，诸如硫化镍基夹杂物/缺陷)的方法和/或系统。在本发明的某些示例性实施方案中，来自至少一个光源的光(例如，可见光)被引导在玻璃处，并且分析和比较来自该至少一个光源的不同波长的反射光(例如折射和/或散射光)，并且可基于不同波长之间的差异来检测夹杂物。例如，硫化镍夹杂物具有将影响给定的波长范围(例如，400nm-500nm)而不影响另一波长范围(例如，600nm-650nm)的表面粗糙度特征。例如，硫化镍夹杂物具有将比红光衍射更多蓝光从而在不同波长处提供不同程度的散射的表面粗糙度特征。因此，可基于受到不同影响(例如，衍射和/或散射)的不同波长来检测硫化镍基夹杂物，而没有夹杂物或具有带光滑镜状表面的夹杂物的浮法玻璃本身不具有这种效果。在本发明的一个示例性实施方案中，在玻璃制造工艺期间和/或之后，在浮法工艺中的形成玻璃片并使其浮在熔融材料(例如锡浴)上并冷却或使其至少部分冷却的阶段之后(诸如在退火炉之后)，将来自至少一个光源的光引导在所得玻璃处，并且可基于分析和/或比较作为波长(λ)的函数的反射光(例如折射和/或散射光)来检测夹杂物。例如，在给定位置处反射光(例如，折射和/或散射)的显著差异可指示硫化镍基夹杂物的存在。

在本发明的一个示例性实施方案中，提供了一种用于检测玻璃中的夹杂物的系统，该玻璃包含基础玻璃组合物，该基础玻璃组合物包含：SiO₂ 67％-75％，Na₂O 10％-20％，CaO 5％-15％，Al₂O₃ 0％-7％，K₂O 0％-7％，该系统包括：用于将光引向玻璃的至少一个光源；以及处理器，该处理器被配置为至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物。

在本发明的一个示例性实施方案中，提供了一种用于检测玻璃中的夹杂物的系统，该玻璃包含基础玻璃组合物，该基础玻璃组合物包含：SiO₂ 67％-75％，Na₂O 10％-20％，CaO 5％-15％，Al₂O₃ 0％-7％，K₂O 0％-7％，该系统包括：用于将光引向玻璃的至少一个光源；以及处理器，该处理器被配置为至少基于来自玻璃的第一反射波长和第二反射波长的反射率来确定玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物。

附图说明

图1是示出浮法玻璃中可能存在的硫化镍夹杂物的吸收率与波长(nm)的关系的图。

图2是示出示例性钠钙硅基浮法玻璃的透射率(％T)与波长(nm)的关系的图。

图3包括玻璃中的硫化镍夹杂物(左两列)和非NiS金属夹杂物(右两列)相对于在不同对比度水平处的入射蓝光和入射红光的多张图片。

图4是根据本发明的一个示例性实施方案的用于检测浮法玻璃中的夹杂物的系统的示意图。

具体实施方式

提供了一种用于检测钠钙硅基玻璃1中的夹杂物(例如，硫化镍基夹杂物/缺陷)的方法和/或系统。在某些示例性实施方案中，钠钙硅基玻璃1包括基础玻璃部分，该基础玻璃部分包含按重量百分比计：SiO2 67％-75％、Na₂O 10％-20％、CaO 5％-15％、Al₂O₃ 0％-7％、MgO 0％-7％和K₂O 0％-7％。任选地，玻璃的着色剂部分还可包括一种或多种着色剂，诸如铁、硒、钴、铒和/或类似物。另选地，玻璃1可以是不同类型的玻璃，诸如硼硅酸盐玻璃、铝硅酸盐玻璃等。

根据本发明的某些实施方案的可通过浮法工艺或其他合适的工艺制备的示例性钠钙硅基玻璃1包含基于重量百分比的以下基本成分：

表1：示例性基础玻璃

其他微量成分，包括各种精制助剂，诸如盐饼、结晶水和/或类似物，也可包含在基础玻璃中。在某些实施方案中，例如，本文的玻璃1可由批料原料硅砂、苏打灰、白云石、石灰石制成，使用盐饼(SO₃)作为精制剂。

在某些情况下还可使用还原剂和氧化剂。在某些情况下，本文的钠钙硅基玻璃1可包含按重量计约10％-15％的Na₂O和约6％-12％的CaO。除了以上讨论的基础玻璃材料之外，玻璃批料和/或最终玻璃1还可包括着色剂部分，该着色剂部分包括适当量的诸如铁、铒、钴、硒和/或类似物的材料，以便以期望的方式为玻璃提供着色和/或吸收率。在本发明的某些示例性实施方案中，玻璃中总铁的量可为约0.05％至1.2％，更优选地为约0.3％至0.8％。在某些透明的高透射率玻璃的情况下，总铁可为约0.005％至0.025％。根据标准实践，玻璃中以及因此在其着色剂部分中存在的铁的总量在本文中以Fe₂O₃表示。然而，这并不意味着所有铁实际上都是Fe₂O₃形式。同样，亚铁态的铁的量在本文中以FeO表示，即使玻璃中所有亚铁态的铁可能不是FeO的形式。

当例如通过浮法工艺制造玻璃时，将玻璃批料原料(例如，硅砂、苏打灰、白云石、石灰石、着色剂等)提供到熔炉或熔化器中并在其中加热以形成玻璃熔体。将玻璃熔体倾倒在诸如锡的熔融材料浴(锡浴)上，在此形成玻璃，并连续冷却以形成浮法玻璃带。浮法玻璃带朝退火炉行进以缓慢冷却。任选地，在进入退火炉之前，可在热条件下对玻璃片的侧向边缘部分进行修整。玻璃片通常在至少约540℃、更优选地至少约580℃的温度(其中可能的范围为约540℃(或580℃)至800℃)处到达退火炉的起点。在退火期间，玻璃片条的温度从退火点(例如，从约538-560℃)缓慢冷却到约495-560℃的应变点，这可称为退火范围。尽管这些温度范围对于退火是优选的，但在某些情况下可使用不同的温度。在退火期间，连续玻璃片可由辊或气体支撑。退火后，连续玻璃片继续移动以进行进一步处理，诸如切割、附加冷却、涂覆和/或类似处理中的一种或多种。

如图1至图2所示，NiS通常是不透明的材料，这使其对玻璃透明的某些光波长具有吸收性。浮法玻璃1例如在紫外线(UV)和近红外(NIR)区域中基本上是吸收性的。同时，可见光波长(400nm-700nm)和甚至一些近IR很容易穿过玻璃1，如图2所示。

图4示出了用于检测钠钙硅基玻璃1(诸如在辊3上沿方向D移动的浮法玻璃)中的夹杂物和/或其他缺陷(例如，微夹杂物，诸如硫化镍基夹杂物/缺陷)的示例性系统。在本发明的某些示例性实施方案中，来自至少一个光源LS的光(例如，包括红光、绿光和蓝光波长的可见光)L被引导在玻璃1处，并且分析和比较来自该至少一个光源的不同波长的反射光(例如，折射和/或散射光)R、R′，并且可基于不同波长之间的差异来检测夹杂物。来自光源LS1、LS2的光可被聚焦或不被聚焦在玻璃1上，诸如被聚焦在玻璃的上表面上。例如，玻璃1中的硫化镍夹杂物具有将影响给定的波长范围(例如，400nm-500nm)而不影响另一波长范围(例如，600nm-650nm)的表面粗糙度特征。例如，硫化镍夹杂物具有将比红光衍射更多蓝光从而在不同波长处(诸如蓝光和红光波长处)提供不同程度的散射的表面粗糙度特征。因此，可基于受到不同影响(例如衍射和/或散射)的不同波长来检测玻璃1中硫化镍基夹杂物，而不含夹杂物的浮法玻璃本身不具有这种效果。例如，参考图4，滤色器1可过滤来自光源LS1的可见光，以便滤出绿光和蓝光，使得光检测器1接收并分析反射(例如，折射和/或散射)的红光，并且滤色器2可过滤来自光源LS2的可见光，以便滤出绿光和红光，使得光检测器2接收并分析反射(例如，折射和/或散射)的蓝光。注意，滤色器是任选的，并且在不存在这些滤色器中的一者或两者的实施方案中，处理系统可分析和比较特定的波长。然后，包括处理器和比较器(其可以是处理器的一部分)的计算机和/或计算机系统分析反射的红光和蓝光，并至少基于来自给定玻璃位置的反射的红光与蓝光之间的差异来确定是否存在硫化镍基夹杂物。

例如，当(a)从给定区域/位置反射(例如折射和/或散射)的红光的亮度、强度、程度、尺寸和/或量与(b)从该区域/位置反射(例如折射和/或散射)的蓝光的亮度、强度、程度、尺寸和/或量之间的差异大于预定值时，可通过计算机的处理器确定在玻璃1的该区域/位置中存在硫化镍基夹杂物。当(a)与(b)之间的差异小于预定值时，可确定在玻璃的该位置处不存在硫化镍基夹杂物(例如，在给定的尺寸范围内，诸如本文所讨论的尺寸范围)。

在本发明的一个示例性实施方案中，在玻璃制造工艺期间和/或之后，在浮法工艺中的形成玻璃片并使其浮在熔融材料(例如锡浴)上并冷却或使其至少部分冷却的阶段之后(诸如在退火炉之后)，将来自至少一个光源LS1、LS2的光引导在所得玻璃1处，并且可基于分析和/或比较作为波长(λ)的函数的反射光(例如折射和/或散射光)来检测夹杂物。例如，如上所述，在给定位置处反射光(例如，折射和/或散射)的显著差异可指示硫化镍基夹杂物的存在。在本发明的某些示例性实施方案中，图4所示的用于检测玻璃1中的夹杂物(诸如(任何化学计量的)硫化镍基夹杂物)的系统可位于退火炉之后并且在玻璃切割工位之前或之后的浮法生产线上。当在玻璃中发现夹杂物时，将玻璃的该部分丢弃和/或不进行热回火。另选地，图4所示的夹杂物检测系统可替代地与浮法生产线分开定位，诸如位于浮法生产线与回火炉之间的工位上，或者位于回火设施中正好在回火炉之前的工位上，以便检测夹杂物并且在热回火之前丢弃具有夹杂物的玻璃。此类夹杂物检测方法也可在其他类型的玻璃诸如硼硅酸盐玻璃、铝硅酸盐玻璃等的制造期间或之后使用(与在用于制造钠钙硅基玻璃的浮法工艺期间或之后相反)。在不同的示例性实施方案中，光源LS1、LS2可以是脉冲的或连续的，并且可以是单个光源或光源阵列。因此，基于波长来检测玻璃1中的硫化镍基夹杂物。

以这种方式制造的在通过检测站之后没有检测到夹杂物的玻璃用于例如但不限于建筑物和/或车辆的玻璃窗应用、太阳能电池应用、家具玻璃应用和/或显示器玻璃应用。

因此，在本发明的某些示例性实施方案中，提供了一种检测硫化镍(例如，NiS)基夹杂物的方法。该方法基于硫化镍夹杂物，由于其结晶性质，具有表面微粗糙度，并且该微粗糙度的尺寸至少在可见光(400nm-700nm)的尺度上。反射来自夹杂物的在该范围内的各种颜色(波长)的光然后对其进行分析，允许区分硫化镍夹杂物/缺陷与其他类型的夹杂物/缺陷。

在某些示例性实施方案中，将来自相同光源的光从基本上相同的角度发送到玻璃(例如，来自光源LS1和LS2的光从相同的角度被引向图4中的移动玻璃)，但具有至少两种不同的颜色，然后提供处理器以分析(例如，比较)图像(例如，参见图3中的图像)。在非NiS夹杂物(诸如在图3的右两列中的金属夹杂物)的情况下，此类夹杂物的光滑表面将不会在离开夹杂物和其周围的反射图像中引起不同颜色之间的显著差异，如图3的右两列所示。

然而，在图3的左两列中所示的硫化镍基夹杂物的情况下，在蓝色范围内(例如，400nm-500nm)的此类夹杂物的表面粗糙度特征例如与红光(例如，600nm-650nm)相比将衍射更多的蓝光，从而提供由视觉检测系统可检测到的不同程度的散射，如图3的左两列所示。

图3展示了在不同对比度水平的蓝光和红光下，硫化镍夹杂物(左两列)与非NiS金属夹杂物(右两列)之间的示例性比较。并且如上所述，图4示出了用于检测夹杂物并识别其性质(诸如是否存在硫化镍基夹杂物和/或给定的夹杂物是否是硫化镍基)的示例性系统和装置。第1行示出在处理中对比度较低，并且图3中的第3行示出在反射信号处理中的对比度更高，并且图3中的第2行示出在处理反射的红光和蓝光波长期间使用中等量的对比度时发生的情况。在处理红光和绿光反射波长期间使用增加的对比度的第3行表明，对于左两列中的硫化镍基夹杂物(而不是右两列中的金属夹杂物)提供了非常不同的红光和蓝光反射图像。因此，诸如在图3的左边两列的第3行中的检测到离开夹杂物的蓝光和红光反射之间的显著差异，表明存在硫化镍基夹杂物。在检测到夹杂物时，有缺陷的玻璃可经历放行/剔除算法，使得其可被剔除或被送出以用于夹杂物的详细识别。如果不存在硫化镍基夹杂物，玻璃1仍可用于生产。

因此，在本发明的示例性实施方案中，提供了一种检测退火或回火玻璃中的硫化镍基夹杂物的系统和/或方法。基于来自缺陷的至少两种不同颜色(波长)的散射光来识别夹杂物。由于硫化镍基夹杂物的形态特征对不同波长的衍射略有不同(例如，参见图3第三行中的左两列)，至少两种不同颜色的光反射产生硫化镍基夹杂物的不同反射图像。另一方面，对于非NiS金属或硅基夹杂物，产生了对入射光的颜色较不敏感的反射图案(例如，参见图3第三行的右两列)。优选地，两种颜色的光在可见光波长范围内。例如，第一颜色可以是蓝色(例如400nm-480nm)，并且第二颜色可以是红色(例如650nm-700nm)。这两种颜色的光处于可见光谱的不同光谱区域中。虽然这两种颜色优选地在光谱的可见部分中，但一种或多种颜色可在可见光谱之外。绿光也可代替红光或蓝光。作为另一示例，两种波长的光中的一种可在可见光谱中，而另一种在近红外(例如700nm-1200nm)中。作为另一可能的示例，两种波长的光中的一种可在可见光谱中，而另一种在光谱的UV部分中，但波长比玻璃的吸收限长(吸收限根据玻璃的类型而变化，并且可在200nm-380nm的范围内)。在另一个示例性实施方案中，两种波长的光中的一种可在近IR中，而另一种在光谱的UV部分中。因此，使用两种或更多种波长的光来检测诸如NiS夹杂物的夹杂物。夹杂物检测系统可以是在线的或离线的。

在本发明的一个示例性实施方案中，提供了一种用于检测玻璃中的夹杂物的系统，该玻璃包含基础玻璃组合物，该基础玻璃组合物包含：SiO₂ 67％-75％，Na₂O 10％-20％，CaO 5％-15％，Al₂O₃ 0％-7％，K₂O 0％-7％，该系统包括：用于将光引向玻璃的至少一个光源；以及处理器，该处理器被配置为至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物。

在紧接的前述段落的系统中，该第一波长可以是红光波长并且/或者第二波长可以是蓝光波长。

在前述两个段落中任一个的系统中，该第一波长可包括在约650nm-700nm范围内的波长。

在前述三个段落中任一个的系统中，该第二波长可包括在约400nm-480nm范围内的波长。

在前述四个段落中任一个的系统中，该反射波长可以是由玻璃中的夹杂物折射和/或散射的波长。

在前述五个段落中任一个的系统中，该至少一个光源可包括可相对于玻璃以基本上相同的角度取向的第一光源和第二光源。可在玻璃与第一光源之间设置第一滤色器，并且可在玻璃与第二光源之间设置第二滤色器。

在前述六个段落中任一个的系统中，该处理器可被配置为至少通过分析包括来自包含硫化镍的夹杂物的反射的至少一个图像，至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定玻璃中是否存在该夹杂物。

在前述七个段落中任一个的系统中，该处理器可被配置为至少基于是否检测到包含硫化镍的夹杂物来确定是放行还是剔除该玻璃。

在前述八个段落中任一个的系统中，光源可位于浮法生产线之上和/或之中，并且可定位在浮法生产线的退火炉之后。

在前述九个段落中任一个的系统中，该处理器可被配置为当(a)从包含硫化镍的夹杂物反射的红光的亮度、强度、程度、尺寸和/或量中的一者或多者与(b)从该夹杂物反射的蓝光的亮度、强度、程度、尺寸和/或量中的一者或多者之间的差异大于预定值时，确定所述玻璃中存在该夹杂物。

一旦给出上述公开内容，许多其他特征、修改和改进对于本领域技术人员将变得显而易见。因此，此类特征、修改和改进被认为是本发明的一部分，本发明的范围由以下权利要求确定。

Claims (25)

1.一种检测玻璃中的夹杂物的方法，所述玻璃包含基础玻璃组合物，所述基础玻璃组合物包含：

所述方法包括：

将来自至少一个光源的光引向所述玻璃；以及

至少基于第一反射波长与第二反射波长如何折射和/或散射之间的差异来确定所述玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物，

其中所述第一反射波长和所述第二反射波长是不相同的，并且所述第一反射波长和所述第二反射波长中的一种在光谱的可见部分中，而另一种在光谱的紫外线部分、可见部分或近红外部分中。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一反射波长是红光波长。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二反射波长是蓝光波长。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一反射波长包括在650nm-700nm范围内的波长。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二反射波长包括在400nm-480nm范围内的波长。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个光源包括第一光源和第二光源。

7.根据权利要求6所述的方法，其中在所述玻璃与所述第一光源之间设置有第一滤色器，并且在所述玻璃与所述第二光源之间设置有第二滤色器。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定所述玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物包括分析包含来自所述夹杂物的反射的至少一个图像。

9.根据权利要求1所述的方法，还包括至少基于是否检测到夹杂物来确定是放行还是剔除所述玻璃。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述光源位于浮法生产线之上和/或之中，并且定位在所述浮法生产线的退火炉之后。

11.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定所述玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物包括：当(a)从所述夹杂物反射的红光的强度和尺寸中的一者或多者与(b)从所述夹杂物反射的蓝光的强度和尺寸中的一者或多者之间的差异大于预定值时，确定为所述玻璃中存在所述包含硫化镍的夹杂物。

12.一种用于检测玻璃中的夹杂物的系统，所述玻璃包含基础玻璃组合物，所述基础玻璃组合物包含：

所述系统包括：

用于将光引向所述玻璃的至少一个光源；以及

处理器，所述处理器被配置为至少基于第一反射波长与第二反射波长如何折射和/或散射之间的差异来确定所述玻璃中是否存在包含硫化镍的夹杂物，其中所述第一反射波长和所述第二反射波长是不相同的，并且所述第一反射波长和所述第二反射波长中的一种在光谱的可见部分中，而另一种在光谱的紫外线部分、可见部分或近红外部分中。

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述第一反射波长是红光波长。

14.根据权利要求12所述的系统，其中所述第二反射波长是蓝光波长。

15.根据权利要求12所述的系统，其中所述第一反射波长包括在650nm-700nm范围内的波长。

16.根据权利要求12所述的系统，其中所述第二反射波长包括在400nm-480nm范围内的波长。

17.根据权利要求12所述的系统，其中所述至少一个光源包括相对于所述玻璃以基本上相同的角度定向的第一光源和第二光源。

18.根据权利要求12所述的系统，其中所述至少一个光源包括第一光源和第二光源，并且其中在所述玻璃与所述第一光源之间设置有第一滤色器，并且在所述玻璃与所述第二光源之间设置有第二滤色器。

19.根据权利要求12所述的系统，其中所述处理器被配置为至少通过分析包括来自包含硫化镍的夹杂物的反射的至少一个图像，至少基于第一反射波长与第二反射波长之间的差异来确定所述玻璃中是否存在所述夹杂物。

20.根据权利要求12所述的系统，其中所述处理器被配置为至少基于是否检测到包含硫化镍的夹杂物来确定是放行还是剔除所述玻璃。

21.根据权利要求12所述的系统，其中所述光源位于浮法生产线之上和/或之中，并且定位在所述浮法生产线的退火炉之后。

22.根据权利要求12所述的系统，其中所述处理器被配置为当(a)从包含硫化镍的夹杂物反射的红光的强度和尺寸中的一者或多者与(b)从所述夹杂物反射的蓝光的强度和尺寸中的一者或多者之间的差异大于预定值时，确定为所述玻璃中存在所述夹杂物。

23.一种检测玻璃中的夹杂物的方法，所述玻璃包含基础玻璃组合物，所述基础玻璃组合物包含：

所述方法包括：

将来自至少一个光源的包括第一反射波长和第二反射波长的光引向所述玻璃；以及

至少基于第一反射波长和第二反射波长被所述玻璃如何折射和/或散射之间的差异来确定所述玻璃中是否存在夹杂物，

其中所述第一反射波长包括在650nm-700nm范围内的波长并且所述第二反射波长包括在400nm-480nm范围内的波长，并且其中所述夹杂物包含硫化镍。

24.根据权利要求23所述的方法，其中所述第一反射 波长是红光波长。

25.根据权利要求23所述的方法，其中所述第二反射 波长是蓝光波长。

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