CN111711813B - 摄像头模组中aa最佳下沉参数测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法，包括：S10针对一待测试镜头选定第一下沉参数，且第一下沉参数中包括多个粗验下沉参数；S20在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴；S30根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；S40选定第一下沉参数中MTF测试结果最高的粗验下沉参数，S50在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴；S60根据制备的模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；S70选定第二下沉参数中MTF测试结果最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。相比于现有的测试方法来说，大大提高了测试速度，同时减少了需要使用到的测试模组的数量。
Description
技术领域
本发明涉及摄像头技术领域，尤其涉及一种AA最佳下沉参数测试方法。
背景技术
AA（Active Alignment，主动对准）制程，是一项确定零配件装配过程中相对位置的技术，在这一制程中，采用了更灵活的全局最优策略，不再要求每个零配件的组装都达到局部最优。具体，AA制程设备在组装零度配件时，首先检测被组装的半成品，并根据该被组装半成品的实际情况进行主动对准；之后再将下一个零配件组装到位，达到减小整个模组装配公差的目的。
在对摄像头进行封装时，如图1所示，通常会使用AA制程将摄像芯片和镜头封装在基板上，通过对镜头6个自由度（沿x、y、z三个直角坐标轴方向的移动自由度和绕这三个坐标轴的转动自由度）的对准实现摄像芯片和镜头的焦点的重合，即调节AA最佳下沉参数（摄像芯片与镜头之间的距离），以得到清晰的图像。
目前，得到AA最佳下沉参数的方法通常是，首先通过光学计算，得到摄像芯片和镜头之间的理论AA最佳下沉参数；之后，以得到的理论AA最佳下沉参数为基准，选取多组AA最佳下沉参数分别进行试验，进而确定AA最佳下沉参数。这一过程中通常会采用多穴位模具，即一次成型产生多个镜头，如4个、8个、12个等，但是，即便是同一模具产生的多个镜头，各镜头的参数也不可能完全一致，进而影响AA最佳下沉参数的准确性。
发明内容
本发明的目的是提供一种摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法，有效解决现有AA最佳下沉参数测试方法用时较长、一致性不高等技术问题。
本发明提供的技术方案如下：
一种摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法，用于对摄像头模组中镜头与摄像芯片之间的AA最佳下沉参数进行测试，所述AA最佳下沉参数测试方法中包括：
S10 针对一待测试镜头选定第一下沉参数，且所述第一下沉参数中包括多个粗验下沉参数；
S20 在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴；
S30 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF（Modulation TransferFunction，调制传递函数）测试；
S40 选定所述第一下沉参数中MTF测试结果最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，所述第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔；
S50 在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴；
S60 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；
S70 选定所述第二下沉参数中MTF测试结果最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
进一步优选地，在步骤S20中包括：在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴，且针对所述第一下沉参数中的每个粗验下沉参数镜头多个模穴；
在步骤S30中包括：根据制备的模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第一下沉参数中每个粗验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；
在步骤S40中包括：选定所述第一下沉参数中MTF测试结果平均值最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，所述第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔。
进一步优选地，在步骤S50中包括：在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴，且针对所述第二下沉参数中的每个细验下沉参数镜头多个模穴；
在步骤S60中包括：根据制备的模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第二下沉参数中每个细验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；
在步骤S70中包括：选定所述第二下沉参数中MTF测试结果平均值最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
进一步优选地，在步骤S10中，所述第一下沉参数中多个粗验下沉参数之间参数间隔相等；在步骤S40中，所述第二下沉参数中多个细验下沉参数之间参数间隔相等；且所述各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔。
本发明提供的摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法集合了光学、软件、设备信息于一体的综合应用，结合粗验和细验的方式，在短时间内得到AA最佳下沉参数，相比于现有的测试方法来说，大大提高了测试速度，同时减少了需要使用到的测试模组的数量。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1为现有技术中AA机台作业时局部示意图；
图2为本发明中AA最佳下沉参数测试方法流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实例进一步说明本发明的实质内容，但本发明的内容并不限于此。
针对每个模穴一体式镜头之间有EFL（有效焦距）/BFL（后焦）差异，导致在保证模组最清晰时，每个模穴一体式镜头生产时与摄像芯片之间的距离不一致，进而导致每个模穴一体式镜头的AA下沉参数不一致的技术问题，本发明提供了一种用于对摄像头模组中镜头与摄像芯片之间的AA最佳下沉参数进行测试的AA最佳下沉参数测试方法，其结合粗验和细验的方式，在短时间内得到AA最佳下沉参数，大大提高了测试速度，同时减少了需要使用到的测试模组的数量。
在一实施例中，如图2所示，该AA最佳下沉参数测试方法中包括：
S10 针对一待测试镜头选定第一下沉参数，且第一下沉参数中包括多个粗验下沉参数；
S20 在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴；
S30 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；
S40 选定第一下沉参数中MTF测试结果最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔；
S50 在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴；
S60 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；
S70 选定第二下沉参数中MTF测试结果最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
在本实施例的粗验过程中，针对待测试镜头选定包括多个粗验下沉参数的第一下沉参数，并以此形成测试模组，烘烤之后进行MTF测试，并得到MTF测试结果最高的粗验下沉参数，完成粗验。在细验过程中，根据粗验过程中确定的粗验下沉参数选定包括包括多个细验下沉参数的第二下沉参数，并以此形成测试模组，烘烤之后进行MTF测试，并得到MTF测试结果最高的细验下沉参数，完成细验。在该测试方法中，第一/第二穴位模具中的各模穴均为模穴一体式镜头结构，便于后续测试。另外，在MTF测试中，通常针对一个测试模组的不同位置（Block）进行测试，得到不同测试位置的MTF测试结果，在平均时，首先对不同测试模组中同一位置的MTF测试结果进行平均，之后针对各位置的MTF测试结果平均值进一步进行平均得到整个MTF测试的平均值。
要明确，在该测试方法中，粗验的目的在于针对待测试镜头在大范围内对AA下沉参数进行筛选，得到第一下沉参数中最接近AA最佳下沉参数的粗验下沉参数；之后，以粗验下沉参数为基准进一步进行细化筛选，从而得到AA最佳下沉参数，基于此，对于第一下沉参数和第二下沉参数的选定应尽量合理，在第一下沉参数中，若粗验下沉参数之间的参数间隔过大，在细验过程中找到的细验下沉参数有可能并非AA最佳下沉参数；若第一下沉参数选定的范围过广，有可能会出现浪费的情况，故在实际应用中可以根据经验进行选定。此外，为了能够提高测试效率，选定用于测试的下沉参数时，步骤S10中第一下沉参数中多个粗验下沉参数之间参数间隔相等，步骤S40第二下沉参数中多个细验下沉参数之间参数间隔也相等。
在一实例中，第一下沉参数中包括0、-3μm、-6μm、-9μm和-12μm共5个粗验下沉参数，第二参数中以粗化过程中选定的粗验下沉参数为基准，左右分别以间隔参数1μm选定2个细化下沉参数。如，当粗化过程中选定的粗验下沉参数为-9μm，则选定-7μm、-8μm、-9μm、-10μm和-11μm共5个细化下沉参数进行进一步测试。以上仅示例性的给出第一下沉参数和第二下沉参数的选定规则，在其他实例中，可以根据实际应用进行任意选定，这里不做具体限定；另外，选定的各下沉参数为相对量。
在本实施例中，集合了光学、软件、设备信息于一体的综合应用，结合粗验和细验的方式，在短时间内得到AA最佳下沉参数，相比于现有的测试方法（理论值会有时会存在误差较大的情况，出现问题整个测量过程需要重来）来说，该测试方法针对实物对第一下沉参数进行选定，之后根据第一下沉参数进一步选定第二下沉参数，不会出现类似现有技术中整个测试过程需要重来的情况，故而大大提高了测试速度，同时减少了需要使用到的测试模组的数量。
对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，在步骤S20中包括：在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴，且针对第一下沉参数中的每个粗验下沉参数镜头多个模穴；在步骤S30中包括：根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第一下沉参数中每个粗验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；在步骤S40中包括：选定第一下沉参数中MTF测试结果平均值最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔。
在本实施例中，在粗验过程中，为了得到更加准确的测量结果，在第一穴位模具中针对第一下沉参数中的每个粗验下沉参数制备多个模穴，进而在MTF测试后计算第一下沉参数中每个粗验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值，以此选定第一下沉参数中MTF测试结果平均值最高的粗验下沉参数作为后续细验步骤的基准。
对上述实施例进行改进得到本实施例，在本实施例中，在步骤S50中包括：在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴，且针对第二下沉参数中的每个细验下沉参数镜头多个模穴；在步骤S60中包括：根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第二下沉参数中每个细验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；在步骤S70中包括：选定第二下沉参数中MTF测试结果平均值最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
在本实施例中，在细验过程中，为了得到更加准确的测量结果，在第二穴位模具中针对第二下沉参数中的每个细验下沉参数制作多个模穴，进而在MTF测试后计算第二下沉参数中每个细验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值，以此选定第二下沉参数中MTF测试结果平均值最高的细验下沉参数得到AA最佳下沉参数。
在一实例中，在粗验过程中，将待测试镜头模穴按0、-3μm、-6μm、-9μm和-12μm共5个粗验下沉参数各生产5PCS测试模组，并进行烘烤。之后，将各测试模组进行MTF测试，结果如表1所示：
表1：0、-3μm、-6μm、-9μm和-12μm对应5个粗验下沉参数MTF测试结果
其中，Block0~Block10表示测试模组中不同测试位置的MTF测试结果，其中，粗验下沉参数为0时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为71.03、62.21、66.42、63.94、67.71、61.39、65.11、50.95、52.17、49.73及51.17；粗验下沉参数为-3μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为71.58、63.59、66.68、64.87、67.66、60.81、66.17、51.24、52.41、50.28及51.39；粗验下沉参数为-6μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为71.83、65.55、66.87、66.73、67.07、62.86、67.80、52.36、53.41、51.74及52.52；粗验下沉参数为-9μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为71.13、69.36、68.84、70.30、65.49、69.23、68.52、53.95、56.18、53.55及54.86；粗验下沉参数为-12μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为70.55、69.01、67.67、69.63、64.49、67.99、68.88、55.25、56.43、54.06及54.75。
对上述MTF测试结果平均值进行对比，-9μm最佳，进而以-9μm为基准将待测试镜头模穴按-7μm、-8μm、-9μm、-10μm和-11μm共5个细验下沉参数各生产5PCS测试模组，并进行烘烤。同样将各测试模组进行MTF测试，结果如表2所示：
表1：-7μm、-8μm、-9μm、-10μm和-11μm对应5个细验下沉参数MTF测试结果
其中，Block0~Block10表示测试模组中不同测试位置的MTF测试结果，其中，粗验下沉参数为-7μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为70.11、66.52、64.78、68.11、66.24、65.7/1、62.89、51.59、51.48、50.61及50.26；粗验下沉参数为-8μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为70.04、67.20、65.04、67.97、66.00、65.92、63.04、52.83、51.95、50.75及49.48；粗验下沉参数为-9μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为72.87、69.16、68.57、69.90、69.25、68.83、66.48、56.08、53.86、54.25及52.97；粗验下沉参数为-10μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为72.93、70.58、69.47、70.45、69.20、69.79、67.57、57.48、55.91、55.49及54.89；粗验下沉参数为-11μm时，5PCS测试模组中Block0~Block10的MTF测试结果平均值分别为72.71、70.90、69.51、70.63、68.87、69.63、68.18、57.39、56.70、56.31及54.90。对上述MTF测试结果平均值进行对比，-11μm为最佳作为AA最佳下沉参数。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (5)
1.一种摄像头模组中AA最佳下沉参数测试方法，其特征在于，用于对摄像头模组中镜头与摄像芯片之间的AA最佳下沉参数进行测试，所述AA最佳下沉参数测试方法中包括：
S10 针对一待测试镜头选定第一下沉参数，且所述第一下沉参数中包括多个粗验下沉参数；
S20 在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴；
S30 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；
S40 选定所述第一下沉参数中MTF测试结果最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，所述第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔；
S50 在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴；
S60 根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试；
S70 选定所述第二下沉参数中MTF测试结果最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
2.如权利要求1所述的AA最佳下沉参数测试方法，其特征在于，
在步骤S20中包括：在第一穴位模具中形成第一下沉参数镜头模穴，且针对所述第一下沉参数中的每个粗验下沉参数制备多个模穴；
在步骤S30中包括：根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第一下沉参数中每个粗验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；
在步骤S40中包括：选定所述第一下沉参数中MTF测试结果平均值最高的粗验下沉参数，并根据该粗验下沉参数选定第二下沉参数，所述第二下沉参数中包括多个细验下沉参数，且各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔。
3.如权利要求1或2所述的AA最佳下沉参数测试方法，其特征在于，
在步骤S50中包括：在第二穴位模具中形成第二下沉参数镜头模穴，且针对所述第二下沉参数中的每个细验下沉参数制备多个模穴；
在步骤S60中包括：根据镜头模穴形成对应的测试模组并分别进行MTF测试，并计算第二下沉参数中每个细验下沉参数对应多个模穴的MTF测试结果平均值；
在步骤S70中包括：选定所述第二下沉参数中MTF测试结果平均值最高的细验下沉参数作为AA最佳下沉参数，完成AA最佳下沉参数的测试。
4.如权利要求1或2所述的AA最佳下沉参数测试方法，其特征在于，在步骤S10中，所述第一下沉参数中多个粗验下沉参数之间参数间隔相等；在步骤S40中，所述第二下沉参数中多个细验下沉参数之间参数间隔相等；且所述各细验下沉参数之间的参数间隔小于各粗验下沉参数之间的参数间隔。
5.如权利要求4所述的AA最佳下沉参数测试方法，其特征在于，各粗验下沉参数之间的参数间隔为3μm，各细验下沉参数之间的参数间隔为1μm。
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 402360 building 3, 207, electronic information industrial park, Shuangqiao Economic Development Zone, Dazu District, Chongqing Patentee after: Shengtai Photoelectric Technology Co.,Ltd. Address before: 402360 building 3, 207, electronic information industrial park, Shuangqiao Economic Development Zone, Dazu District, Chongqing Patentee before: Chongqing Sheng Tai optoelectronic Co.,Ltd. |