CN111693070B - 电子经纬仪自准直误差原位检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，涉及电子经纬仪技术领域，解决了在野外快速进行电子经纬仪的自准直偏差原位检测的问题。本发明的主要技术方案为：采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，并得到第一检测结果；根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差；若所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差，采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值。
Description
技术领域
本发明涉及电子经纬仪技术领域，尤其涉及一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法。
背景技术
经纬仪是用于大地测绘、定位定点、角度测量的常用仪器，电子经纬仪又称全站仪(或全站式测速仪)，其将光学度盘换为光电扫描度盘，将人工光学测微读数代之以自动记录和显示读数，使测角操作简单化，且可避免读数误差的产生。电子经纬仪的自动记录、储存、计算功能，以及数据通讯功能，进一步提高了测绘作业的自动化程度。
电子经纬仪的校准通常采用多齿分度台法和多目标法进行其光学性能部分的检定或校准，都必须在特定的环境条件下，其经纬仪检定装置固定于室内，不能搬迁(需要防震、装置移动位置需要重新校准等)，所以对于野外作业的电子经纬仪一旦出现意外(设备运输、安装不慎、操作失误等)对测量结果出现质疑时，如果可以快速判断电子经纬仪的自准直偏差没有影响，既可以确定经纬仪光学系统和测量系统是可靠的，因此如何在野外快速进行电子经纬仪的自准直偏差原位检测是目前急需解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，主要目的是解决如何在野外快速进行电子经纬仪的自准直偏差原位检测的问题。为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：
一方面，本发明实施例提供了一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，该电子经纬仪自准直误差原位检测方法包括：
采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，并得到第一检测结果；
根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差；
若所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差，采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值。
可选的，所述采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，具体为：
将所述目标棱镜与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第一预设距离，分别调平并对中；
转动所述待测电子经纬仪的望远镜方向，通过所述望远镜的粗瞄准器对准所述目标棱镜；
打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述目标棱镜发出第一准直十字线，转动所述待测电子经纬仪的水平微动旋钮和垂直微动旋钮，使所述望远镜中的十字丝与所述目标棱镜的中心重合；
查看所述待测电子经纬仪的所述望远镜是否能够观测到返回的所述第一准直十字线。
可选的，所述第一预设距离不小于30m。
可选的，所述根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方向是否出现超差，具体为：
若从所述望远镜中可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差；
若从所述望远镜中不可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位出现超差。
可选的，所述采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值，具体为：
将所述参考电子经纬仪与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第二预设距离，分别调平并对中；
采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并重复检测n次；
通过n次检测结果计算得到所述待测电子经纬仪的所述自准直方向偏差值。
可选的，所述采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，具体为：
将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪；
打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述参考电子经纬仪发出第二准直十字线，用所述参考电子经纬仪的所述望远镜的瞄准划分板进行照准，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第一位置参数值；
打开所述参考电子经纬仪的自准直光源，向所述待测电子经纬仪发出第三准直十字线，用所述待测电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板进行照准；
所述第二准直十字线在所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板的位置出现变化，用所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板再次照准所述第二准直十字线，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第二位置参数值。
可选的，所述将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪，具体为：
分别转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述望远镜，并分别通过粗瞄准器进行粗瞄准；
转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述水平微动旋钮，打开所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述自准直光源，通过相互发射准直十字线进行精瞄准。
可选的，所述通过n次检测结果计算得到所述自准直方向偏差值，具体为：
根据公式(1)分别计算n次检测的偏差值，并取n个所述检测偏差值中的最大值为所述自准直方向偏差值；
Δθ＝θ0-θi-180 (1)
其中，Δθ为所述待测电子经纬仪的所述自准直方向偏差值；
θ0为所述第一位置参数值；
θi为所述第二位置参数值。
可选的，所述第二预设距离不大于5m。
可选的，n的取值为5。
本发明实施例提出的一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，首先通过待测电子经纬仪配套的目标棱镜对待测电子经纬仪进行初步的检测，判断待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差，即判断待测电子经纬仪的光学系统是否出现超差，若电子经纬仪的光学系统出现超差，则无法继续使用，若待测电子经纬仪的准直方向未出现超差，则证明待测电子经纬仪的光学系统未出现超差，其自准直功能基本正常，可通过下一步骤采用另一台已校准的未出现意外损坏的电子经纬仪作为参考电子经纬仪，检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并可具体得到待测电子经纬仪的自准直方向偏差值，可供后续使用待测电子经纬仪时进行偏差补偿修正，本方案可以实现用于野外工作的待测电子经纬仪的原位校准，可快速检测判断待测电子经纬仪的自准直偏差，检测方法精准可靠，提高野外工作以及待测电子经纬仪的检测效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法的另一种流程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法的另一种流程示意图；
图4为本发明实施例提供的一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法的另一种流程示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
实施例一
参考附图1-附图4，本发明的实施例一提出一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，该电子经纬仪自准直误差原位检测方法包括：
步骤1、采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，并得到第一检测结果；
步骤2、根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差；
步骤3、若所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差，采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值。
具体的，本实施例提供的电子经纬仪自准直误差原位检测方法应用于电子经纬仪的光学部分误差检测，目前，电子经纬仪的校准通常采用多齿分度台法和多目标法进行其光学性能部分的检定或校准，其经纬仪检定装置固定于室内，无法搬迁，而当野外工作的电子经纬仪一旦出现可能对检测结果造成影响的意外时，则无法采用上述两种方法对电子经纬仪—(以下称为待测电子经纬仪)，为了在野外工作中可快速的电子经纬仪的自准直偏差是否受到影响，本实施例提供的方法可在野外工作中进行原位检测，具体采用的技术方案为：通常电子经纬仪会配套有其自带的目标准直棱镜(以下称为目标棱镜)，本方案首先可通过待测电子经纬仪配套的目标棱镜对待测电子经纬仪进行初步的检测，判断待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差，即判断待测电子经纬仪的光学系统是否出现超差，若电子经纬仪的光学系统出现超差，则无法继续使用，若待测电子经纬仪的准直方向未出现超差，则证明待测电子经纬仪的光学系统未出现超差，其自准直功能基本正常，可通过下一步骤进行下一步的检测；通常在野外勘探、测绘等作业时都需要携带多台已经校准的电子经纬仪，下一步骤的检测可以通过另一台已校准的未出现意外损坏的电子经纬仪作为参考电子经纬仪，检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并可具体得到待测电子经纬仪的自准直方向偏差值，可供后续使用待测电子经纬仪时进行偏差补偿修正；当然，也可直接通过步骤3检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差值的检测，但通过步骤1和步骤2可以提前进行初步判断，检测出准直方位出现超差的待测电子经纬仪，节省后续的精准检测的操作步骤，可节省检测时间，且提高整个检测方法的检测精确性；步骤1和步骤3的具体检测步骤和原理将在下文详述。
根据上述所列，本发明实施例提出一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，首先通过待测电子经纬仪配套的目标棱镜对待测电子经纬仪进行初步的检测，判断待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差，即判断待测电子经纬仪的光学系统是否出现超差，若电子经纬仪的光学系统出现超差，则无法继续使用，若待测电子经纬仪的准直方向未出现超差，则证明待测电子经纬仪的光学系统未出现超差，其自准直功能基本正常，可通过下一步骤采用另一台已校准的未出现意外损坏的电子经纬仪作为参考电子经纬仪，检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并可具体得到待测电子经纬仪的自准直方向偏差值，可供后续使用待测电子经纬仪时进行偏差补偿修正，本方案可以实现用于野外工作的待测电子经纬仪的原位校准，可快速检测判断待测电子经纬仪的自准直偏差，检测方法精准可靠，提高野外工作以及待测电子经纬仪的检测效率。
进一步的，参考附图2，在具体实施中，上述的步骤1中的所述采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，具体为：
步骤1.1、将所述目标棱镜与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第一预设距离，分别调平并对中；
步骤1.2、转动所述待测电子经纬仪的望远镜方向，通过所述望远镜的粗瞄准器对准所述目标棱镜；
步骤1.3、打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述目标棱镜发出第一准直十字线，转动所述待测电子经纬仪的水平微动旋钮和垂直微动旋钮，使所述望远镜中的十字丝与所述目标棱镜的中心重合；
步骤1.4、查看所述待测电子经纬仪的所述望远镜是否能够观测到返回的所述第一准直十字线。
具体的，为了实现待测电子经纬仪的初步检测校准，本发明采取的技术方案中，采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的原理为：采用目标棱镜作为基准确定待测电子经纬仪发射光线返回路径(平行于发射光线)，从而驱动待测电子经纬仪发射和返回光线的方向，由此就可以判断出待测电子经纬仪的准直方位是否出现偏差甚至超差；具体的检测方法为：首先选择一个相对平坦的地势，平坦距离不小于第一预设距离，可以选择某段公路或者平地，放置目标棱镜和待测电子经纬仪，二者间隔第一预设距离，第一预设距离可以设定为不小于30m，放置完成后，分别将待测电子经纬仪和目标棱镜调平并对中；随后进行粗瞄，松开待测电子经纬仪的水平制动螺旋和竖直制动螺旋，转动待测电子经纬仪的望远镜的方向，望远镜转动的轴为待测电子经纬仪的横轴，通过待测电子经纬仪的望远镜的粗瞄准器对准目标棱镜，此时，保证在待测电子经纬仪的望远镜中能够与看到目标棱镜即可，并锁定待测电子经纬仪的水平制动螺旋和竖直制动螺旋；接下来的步骤需要打开待测电子经纬仪的自准直光源，此时，第一准直十字线通过自准直分划板射至目标棱镜，转动待测电子经纬仪的水平微动旋钮和竖直微动旋钮，以使望远镜的十字丝与目标棱镜的中心重合；查看望远镜是否能够观测到返回的第一准直十字线。
进一步的，在具体实施中，所述第一预设距离不小于30m。
进一步的，在具体实施中，上述的步骤2中的所述根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方向是否出现超差，具体为：
若从所述望远镜中可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差；若从所述望远镜中不可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位出现超差。
具体的，本发明采取的技术方案中，在上述的步骤1.4中，查看待测电子经纬仪的望远镜是否能够观测到返回的第一准直十字线，根据采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的原理可判断，若从望远镜中能够观测到返回的第一准直十字线，则可以判断待测电子经纬仪的准直方位未出现超差，这里仅确定是否出现超差即可，出现误差可以通过后续的采用参考电子经纬仪的步骤对误差进行检测，电子经纬仪的准直方位未出现超差即可证明待测电子经纬仪的自准直功能基本正常，可以通过后续步骤对其自准直方向偏差进行进一步的检测；若从望远镜中无法观测到返回的第一准直十字线，则证明待测电子经纬仪的光学系统出现了超差，无法继续进行使用，也无需进行后续的检测过程，检测步骤到此结束。
进一步的，参考附图3，在具体实施中，上述的步骤3中的所述采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值，具体为：
步骤3.1、将所述参考电子经纬仪与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第二预设距离，分别调平并对中；
步骤3.2、采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并重复检测n次；
步骤3.3、通过n次检测结果计算得到所述自准直方向偏差值。
具体的，通常在野外勘探、测绘等作业时都需要携带多台已经校准的电子经纬仪，若未出现意外损坏等情况，均可作为标准的电子经纬仪，本发明采取的技术方案中，可以通过另一台已校准的且未出现意外损坏的电子经纬仪作为参考电子经纬仪，检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并可具体得到待测电子经纬仪的自准直方向偏差值，可供后续使用待测电子经纬仪时进行偏差补偿修正，具体的方法为：首先选择一个相对平坦的地势，平坦距离不小于第二预设距离，可以选择某段公路或者平地，放置参考电子经纬仪和待测电子经纬仪，二者间隔第二预设距离，第一预设距离可以设定为不小于30m，放置完成后，分别将待测电子经纬仪和参考电子经纬仪调平并对中，并使二者的望远镜均处于水平位置；随后采用对瞄法对待测电子经纬仪进行检测，即待测电子经纬仪和参考电子经纬仪相互瞄准并发出准直十字线进行照准，具体的检测方法将在下文详述，采用对妙法检测待测电子经纬仪的自准直方向偏差的操作需要重复进行n次，n的取值可以为5次，但不限于此；最后通过n次检测的检测结果计算得到待测电子经纬仪的自准直方向偏差值。
进一步的，参考附图4，在具体实施中，上述的步骤3.2中所述采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，具体为：
步骤3.2.1、将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪；
步骤3.2.2、打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述参考电子经纬仪发出第二准直十字线，用所述参考电子经纬仪的所述望远镜的瞄准划分板进行照准，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第一位置参数值；
步骤3.2.3、打开所述参考电子经纬仪的自准直光源，向所述待测电子经纬仪发出第三准直十字线，用所述待测电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板进行照准；
步骤3.2.4、所述第二准直十字线在所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板的位置出现变化，用所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板再次照准所述第二准直十字线，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第二位置参数值。
具体的，本发明采取的技术方案中，均采用对瞄法首先需要将待测电子经纬仪瞄准参考电子经纬仪，确保待测电子经纬仪和参考电子经纬仪能够从各自的望远镜中观测到对方放射的准直十字线，以便进行后续的检测过程；打开待测电子经纬仪的自准直光源，从待测电子经纬仪的准直分划板向参考电子经纬仪发出第二准直十字线，并通过参考电子经纬仪的望远镜的瞄准分划板对准第二准直十字线，此时，在参考电子经纬仪的度数系统中读取当下的第一位置参数值；随后，打开参考电子经纬仪的自准直光源，从参考电子经纬仪的望远镜的准直分划板向待测电子经纬仪发出第三准直十字线，采用待测电子经纬仪的望远镜的瞄准划分板对准第三准直十字线，由于待测电子经纬仪的望远镜的调整，此时参考电子经纬仪中观测到的第二准直十字线的位置会发生变化，用参考电子经纬仪的望远镜的瞄准分划板再次照准第二准直十字线，并通过参考电子经纬仪读数系统再次读取当下的第二位置参数值，第一位置参数值和第二位置参数值用于计算待测电子经纬仪的自准直方向误差值，上述步骤中采用参考电子经纬仪的读数系统进行读取的原因在于参考电子经纬仪为已经校准的标准的电子经纬仪。
进一步的，在具体实施中，上述的步骤3.2.1、所述将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪，具体为：
3.2.1.1、分别转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述望远镜，并分别通过粗瞄准器进行粗瞄准；
3.2.1.2、转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述水平微动旋钮，打开所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述自准直光源，通过相互发射准直十字线进行精瞄准。
具体的，本发明采取的技术方案中，首先进行初步瞄准，松开待测电子经纬仪和参考电子经纬仪的水平制动螺旋和竖直制动螺旋，转动望远镜的方向，待测电子经纬仪和参考电子经纬仪可以通过各自的粗瞄准器进行初步对瞄，以保证能够看到对方的望远镜镜筒即可，在粗瞄准期间，可以实时调整待测电子经纬仪和参考电子经纬仪下部安装的三脚架的位置，以确保两个电子经纬仪的望远镜处于同一高度水平位置；接下来进行精瞄准，需要转动待测电子经纬仪和参考电子经纬仪的水平微动旋钮，打开各自的自准直光源，分别观测待测电子经纬仪和参考电子经纬仪的望远镜，保证能够从各自的望远镜中观测到对方发射的准直十字线即可。
进一步的，在具体实施中，上述的步骤3.3、所述通过n次检测结果计算得到所述自准直方向偏差值，具体为：
根据公式(1)分别计算n次检测的偏差值，并取n个所述检测偏差值中的最大值为所述自准直方向偏差值；
Δθ＝θ0-θi-180 (1)
其中，Δθ为所述待测电子经纬仪的所述自准直方向偏差值；
θ0为所述第一位置参数值；
θi为所述第二位置参数值。
具体的，本发明采取的技术方案中，将n次检测得到的第一位置参数值和第二位置参数值分别带入到公式(1)中，并取五次计算得到的检测偏差值中的最大值为所述自准直方向偏差值。
进一步的，在具体实施中，所述第二预设距离不大于5m，具体可以为3m左右。
进一步的，在具体实施中，n的取值可以为5。
需要说明的是，在本说明书的描述中，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制；术语“连接”、“安装”、“固定”等均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，包括：
采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，并得到第一检测结果；
根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方位是否出现超差；
若所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差，采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值；
其中，所述采用参考电子经纬仪检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并计算得到自准直方向偏差值，具体为：
将所述参考电子经纬仪与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第二预设距离，分别调平并对中；
采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，并重复检测n次；
通过n次检测结果计算得到所述待测电子经纬仪的所述自准直方向偏差值；
其中，所述采用所述参考电子经纬仪和所述待测电子经纬仪对瞄法检测所述待测电子经纬仪的自准直方向偏差，具体为：
将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪；
打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述参考电子经纬仪发出第二准直十字线，用所述参考电子经纬仪的望远镜的瞄准划分板进行照准，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第一位置参数值；
打开所述参考电子经纬仪的自准直光源，向所述待测电子经纬仪发出第三准直十字线，用所述待测电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板进行照准；
所述第二准直十字线在所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板的位置出现变化，用所述参考电子经纬仪的所述望远镜的所述瞄准划分板再次照准所述第二准直十字线，并在所述参考电子经纬仪的读数系统中读取第二位置参数值；
其中，所述通过n次检测结果计算得到所述自准直方向偏差值，具体为：
根据公式(1)分别计算n次检测的偏差值，并取n个所述检测偏差值中的最大值为所述自准直方向偏差值；
Δθ＝θ0-θi-180 (1)
其中，Δθ为所述待测电子经纬仪的所述自准直方向偏差值；
θ0为所述第一位置参数值；
θi为所述第二位置参数值。
2.根据权利要求1所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
所述采用目标棱镜检测待测电子经纬仪的准直方位偏差，具体为：
将所述目标棱镜与所述待测电子经纬仪放置于平坦表面且间隔第一预设距离，分别调平并对中；
转动所述待测电子经纬仪的望远镜方向，通过所述望远镜的粗瞄准器对准所述目标棱镜；
打开所述待测电子经纬仪的自准直光源，向所述目标棱镜发出第一准直十字线，转动所述待测电子经纬仪的水平微动旋钮和垂直微动旋钮，使所述望远镜中的十字丝与所述目标棱镜的中心重合；
查看所述待测电子经纬仪的所述望远镜是否能够观测到返回的所述第一准直十字线。
3.根据权利要求2所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
所述第一预设距离不小于30m。
4.根据权利要求3所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
所述根据所述第一检测结果，判断所述待测电子经纬仪的准直方向是否出现超差，具体为：
若从所述望远镜中可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位未出现超差；
若从所述望远镜中不可观测到返回的所述准直十字线，则判断所述待测电子经纬仪的准直方位出现超差。
5.根据权利要求1所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
所述将所述待测电子经纬仪瞄准所述参考电子经纬仪，具体为：
分别转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述望远镜，并分别通过粗瞄准器进行粗瞄准；
转动所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的水平微动旋钮，打开所述待测电子经纬仪和所述参考电子经纬仪的所述自准直光源，通过相互发射准直十字线进行精瞄准。
6.根据权利要求1所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
所述第二预设距离不大于5m。
7.根据权利要求1所述的电子经纬仪自准直误差原位检测方法，其特征在于，
n的取值为5。
Priority Applications (1)
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