CN111683343B - 一种结合atc和dme综合测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种结合ATC和DME综合测试系统,包括数字信号处理模块、微波模块、大功率衰减器、环形器、MLS射频信号输出端口和ATC/DME射频信号收发端口;微波模块包括MLS发射电路、信号发射电路和信号接收电路;环形器与ATC/DME射频信号收发端口连接,信号接收电路的输入端通过大功率衰减器与所述环形器连接,信号接收电路的输出端与数字信号处理模块连接;信号发射电路的输入端与数字信号处理模块,信号发射电路的输出端与环形器连接;MLS发射电路的输入端与数字信号处理模块连接,MLS发射电路的输出端与所述MLS射频信号输出端口连接。本发明通过软件加载方式实现不同测试功能,提高测试仪器的可扩展性和持续的升级能力,以满足ATC、DME机载设备日益复杂的测试需求。

Description

一种结合ATC和DME综合测试系统
技术领域
本发明涉及ATC和DME测试,特别是涉及一种结合ATC和DME综合测试系统。
背景技术
空中交通管制系统(Air Traffic Control System简称ATC系统)是广泛应用于航空部门的空中交通控制和管理系统。ATC系统主要是用于管理和控制各类飞行事务,有效调整飞行事务计划,控制和防止飞行交通事故。通过地面系统发送询问信号,机载设备回复应答信号,向空中交通管制人员提供空域内飞机的位置和身份信息(通常是A、C模式)。随着空中交通的愈发繁忙,对系统的功能需求越来越多,A/C模式单脉冲技术的缺陷,已经不能满足新的航空通信需要。
测距仪系统(Distance Measure Equipment简称DME),精密测距系统可以提供每一架进近飞机相对于引导点的距离信息,保证全自动进近和着陆过程中按要求轨迹进近、着陆和滑行。目前,精密测距系统(DME/P)是微波着陆系统(Microwave Landing System,简称MLS)的一个重要组成部分,精密测距机载设备配合微波着陆机载设备完成飞机的进场着陆,即当飞机利用MLS系统进行进场着陆时,需要由DME/P提供在进场各个阶段的精密距离信息。在DME系统中,地面设备接收机载设备发送的询问信号,并根据询问信号给机载设备回复应答信号,完成测距功能。
ATC系统、DME系统都是专用、实时、安全的航空重大型系统,对系统的性能要求很高,因此对系统的质量保障就有很高的要求。随着我国航空运输业的持续高速发展,致使空中飞机的架次增多,ATC系统、DME系统装备需求量不断增大,而且这类机载电子设备变得越来越精密,对其的测试要求也越来越高。目前,国内ATC系统、DME系统的机载设备功能、性能测试,主要存在以下两个方面问题:
(1)采用国外进口专用仪器进行测试,如PDME-200、DTS-200、IRF6000、MLS-800等仪器,但是都是单一功能专用测试设备,无法满足组合测试需求,而且在有些技术指标测量上也存在与实际不符合的情况,如距离测量上,只体现了距离,但并未体现频率、功率变化;
(2)采用国内研制的模拟器进行测试,目前已有个别模拟器能进行组合测试,但测试精度无法满足更精密的测试要求,也存在测试功能不完备情况,而且是根据特定机型或特定应用场景的定制测试设备,缺乏通用性和标准化。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种结合ATC和DME功能的综合测试系统,采用高速AD、DA直接射频采样技术,结合FPGA并行数字信号处理能力,实现输出ATC、DME射频信号,直接采样被测机载导航设备发射的射频信号,实现高精度ATC、DME射频信号的产生、采集,并进行精确的脉冲参数测量、延迟测量;具备ATC/DME信号产生能力,通过FPGA的并行数字信号处理能力及高速数字波形合成技术,可以模拟机载导航设备测试所需的高精度ATC询问射频信号、DME应答射频信号;具备ATC/DME信号接收能力,通过直接采样机载导航设备发射的ATC应答射频信号和DME询问射频信号,并完成脉冲参数测量及解码;能够通过软件加载方式分别实现ATC和DME的测试功能,提高测试仪器的可扩展性和持续的升级能力;以满足ATC、DME机载设备日益复杂的测试需求。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的,一种结合ATC和DME综合测试系统,包括数字信号处理模块、微波模块、大功率衰减器、环形器、MLS射频信号输出端口和ATC/DME射频信号收发端口;所述微波模块包括MLS发射电路、信号发射电路和信号接收电路;
所述环形器与ATC/DME射频信号收发端口连接,所述信号接收电路的输入端通过大功率衰减器与所述环形器连接,信号接收电路的输出端与数字信号处理模块连接;所述信号发射电路的输入端与数字信号处理模块,信号发射电路的输出端与环形器连接;所述MLS发射电路的输入端与数字信号处理模块连接,MLS发射电路的输出端与所述MLS射频信号输出端口连接;
所述数字信号处理模块包括多路ADC模块、多路DAC模块、FPGA模块和存储器;所述多路DAC模块的输入与所述FPGA模块连接,多路DAC模块的输出端分别与信号发射电路和MLS发射通道连接;所述多路ADC模块的输入端与信号接收电路连接,所述多路ADC模块的输出端与FPGA模块连接;所述存储器中保存有ATC工作模式和DME工作模式下对应的软件程序包;所述FPGA模块通过加载存储器中不同的软件程序包,使得整个综合测试系统工作在ATC工作模式或DME工作模式;
在所述ATC工作模式下,所述FPGA模块用于产生ATC询问信号,通过多路DAC模块进行转换,并在所述信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制后,经环形器、ATC/DME射频信号收发端口向外发送;同时ATC/DME射频信号收发端口接收到的ATC应答射频信号经环形器、大功率衰减器,然后输入所述信号接收电路进行滤波、幅度和功率控制后,经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,由FPGA模块进行ATC测试;
在所述DME工作模式下,ATC/DME射频信号收发端口接收到的DME询问信号经环形器、大功率衰减器进入信号接收电路,然后在信号接收电路中进行滤波、幅度和功率控制后经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,FPGA模块对DME询问信号的询问参数进行测量,并延迟后产生DME应答信号,经多路DAC模块转换后,经信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制,再通过所述环形器和ATC/DME射频信号收发端口对外输出;同时FPGA模块产生MLS信号,经多路DAC模块转换后,送入MLS发射电路进行混频、滤波和功率控制,将得到的信号通过MLS射频信号输出端口进行输出。
所述综合测试系统还包括显控模块、显示模块和键盘;所述显控模块分别与显示模块和键盘连接,所述显控模块还通过内部总线与微波模块和数字信号处理模块进行连接;
所述显控模块用于将FPGA模块在DME工作模式或ATC工作模式时得到的测试数据传输给显示模块进行显示;并基于键盘输入的数据对微波模块进行控制。
所述综合测试系统还包括电源模块,所述电源模块包括AC-DC降压转换单元和多个输出电压不同的DC-DC转换单元;所述AC-DC降压转换单元的输入端连接外部的220V交流电源,并进行降压转换,AC-DC降压转换单元输出端分别与每一个DC-DC转换单元连接;所述DC-DC转换单元将AC-DC转换单元的输出转换为不同的电压,并通过内部总线对整个综合测试系统进行供电。
所述的信号接收电路包括校准信号输入接口和多路信号接收通道;每一路信号接收通道均连接有一个用于连接大功率衰减器的信号接收端口;所述校准信号输入端口经选通开关、通道选择开关后,分别与每一路信号接收通道连接;
每一路所述的信号接收通道均包括切换开关、幅度控制模块和滤波控制模块,所述切换开关的第一输入端连接该通道的信号输入端口,切换开关的第二输入端与到通道选择开关的输出端,所述切换开关的输出端依次通过幅度控制模块和滤波控制模块与数字信号处理模块的多路ADC模块连接;
FPGA模块在每一路信号接收通道输入校准信号时,将接收到的信号与输入的校准信号进行比较,生成该路信号接收通道的偏移补偿表;并在各路信号接收通道进行信号接收过程中,利用偏移补偿表对接收到的信号进行校准。
所述信号发射电路包括多路DAC模块、校准输出端口和多路信号发射通道;
每一路所述的信号发射通道均包括滤波控制模块、输出幅度控制模块和切换开关,所述滤波控制模块的输入端通过多路DAC模块与FPGA模块连接,所述滤波控制模块的输出端通过输出幅度控制模块与切换开关连接,所述切换开关的第一路输出端连接该路信号发射通道的信号输出端口,所述信号输出端口用于连接环形器;
所述校准输出端口的输入端通过选通开关连接到通道选择开关的输出端,所述通道选择开关的输入端分别与各个信号发射通道中切换开关的第二路输出端连接;
所述FPGA模块,在对各信号发射通道进行校准的过程中,产生校准信号经多路DAC模块转换后分别传输给每一路信号发射通道,经每一路信号发射通道后通过校准信号输出端口进行输出,并采集校准输出端口输出的信号,与产生的校准信号进行比较,生成每一信号发射通道的偏移补偿表;在进行信号发射时,基于各信号发射通道的偏移补偿表,预先对发射信号进行补偿,然后再通过信号发射通道和对应的信号输出接口对外发送信号。
本发明的有益效果是:本发明采用1.6GHz高速AD、DA直接射频采样技术,结合FPGA并行数字信号处理能力,应用高速数字波形合成技术直接实现输出ATC、DME射频信号,直接采样被测机载导航设备发射的射频信号,实现高精度ATC、DME射频信号的产生、采集,并进行精确的脉冲参数测量、延迟测量,通过软件加载方式分别实现ATC和DME的测试功能,以满足ATC、DME机载设备日益复杂的测试需求。
附图说明
图1为本发明的原理框图;
图2为信号接收电路中信号接收通道的原理示意图;
图3为信号发射电路中信号发射通道的原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案,但本发明的保护范围不局限于以下所述。
本发明借鉴软件无线电技术,采用软件无线电架构,通过软件加载方式实现不同测试功能,提高测试仪器的可扩展性和持续的升级能力,以满足ATC、DME机载设备日益复杂的测试需求,具体地:
如图1所示,一种结合ATC和DME综合测试系统,包括数字信号处理模块、微波模块、大功率衰减器、环形器、MLS射频信号输出端口和ATC/DME射频信号收发端口;所述微波模块包括MLS发射电路、信号发射电路和信号接收电路;
所述环形器与ATC/DME射频信号收发端口连接,所述信号接收电路的输入端通过大功率衰减器与所述环形器连接,信号接收电路的输出端与数字信号处理模块连接;所述信号发射电路的输入端与数字信号处理模块,信号发射电路的输出端与环形器连接;所述MLS发射电路的输入端与数字信号处理模块连接,MLS发射电路的输出端与所述MLS射频信号输出端口连接;
所述数字信号处理模块包括多路ADC模块、多路DAC模块、FPGA模块和存储器;所述多路DAC模块的输入与所述FPGA模块连接,多路DAC模块的输出端分别与信号发射电路和MLS发射通道连接;所述多路ADC模块的输入端与信号接收电路连接,所述多路ADC模块的输出端与FPGA模块连接;所述存储器中保存有ATC工作模式和DME工作模式下对应的软件程序包;所述FPGA模块通过加载存储器中不同的软件程序包,使得整个综合测试系统工作在ATC工作模式或DME工作模式;
在所述ATC工作模式下,所述FPGA模块用于产生ATC询问信号,通过多路DAC模块进行转换,并在所述信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制后,经环形器、ATC/DME射频信号收发端口向外发送;同时ATC/DME射频信号收发端口接收到的ATC应答射频信号经环形器、大功率衰减器,然后输入所述信号接收电路进行滤波、幅度和功率控制后,经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,由FPGA模块进行ATC测试;
在所述DME工作模式下,ATC/DME射频信号收发端口接收到的DME询问信号经环形器、大功率衰减器进入信号接收电路,然后在信号接收电路中进行滤波、幅度和功率控制后经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,FPGA模块对DME询问信号的询问参数进行测量,并延迟后产生DME应答信号,经多路DAC模块转换后,经信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制,再通过所述环形器和ATC/DME射频信号收发端口对外输出;同时FPGA模块产生MLS信号,经多路DAC模块转换后,送入MLS发射电路进行混频、滤波和功率控制,将得到的信号通过MLS射频信号输出端口进行输出。在具体实施例中,所述MLS发射电路包括依次连接的上变频混频器、滤波器和功率放大器。
所述综合测试系统还包括显控模块、显示模块和键盘;所述显控模块分别与显示模块和键盘连接,所述显控模块还通过内部总线与微波模块和数字信号处理模块进行连接;
所述显控模块用于将FPGA模块在DME工作模式或ATC工作模式时得到的测试数据传输给显示模块进行显示;并基于键盘输入的数据对微波模块进行控制。
所述综合测试系统还包括电源模块,所述电源模块包括AC-DC降压转换单元和多个输出电压不同的DC-DC转换单元;所述AC-DC降压转换单元的输入端连接外部的220V交流电源,并进行降压转换,AC-DC降压转换单元输出端分别与每一个DC-DC转换单元连接;所述DC-DC转换单元将AC-DC转换单元的输出转换为不同的电压,并通过内部总线对整个综合测试系统进行供电。
如图2所示,所述的信号接收电路包括校准信号输入接口和多路信号接收通道;每一路信号接收通道均连接有一个用于连接大功率衰减器的信号接收端口;所述校准信号输入端口经选通开关、通道选择开关后,分别与每一路信号接收通道连接;
每一路所述的信号接收通道均包括切换开关、幅度控制模块和滤波控制模块,所述切换开关的第一输入端连接该通道的信号输入端口,切换开关的第二输入端与到通道选择开关的输出端,所述切换开关的输出端依次通过幅度控制模块和滤波控制模块与数字信号处理模块的多路ADC模块连接;
FPGA模块在每一路信号接收通道输入校准信号时,将接收到的信号与输入的校准信号进行比较,生成该路信号接收通道的偏移补偿表;并在各路信号接收通道进行信号接收过程中,利用偏移补偿表对接收到的信号进行校准。
在信号接收电路中,所述选通开关包括第一单刀双掷开关和负载电阻,所述第一单刀双掷开关的动端作为输入端连接到校准信号输入端口;所述第一单刀双掷开关的第一个不动端作为输出端连接到通道选择开关的输入端,单刀双掷开关的第二个不动端经负载电阻后接地。
所述的通道选择开关为单刀多掷开关,所述单刀多掷开关的动端作为输入端,连接到选通开关的输出端;单刀多掷开关的不动端作为输出端,且单刀多掷开关的不动端与信号接收通道数目相同且一一对应,单刀多掷开关的每一个不动端均与对应信号接收通道连接。
所述切换开关包括第二单刀双掷开关;所述第二单刀双掷开关的第一个不动端作为第一输入端连接到该通道的信号输入端口;第二单刀双掷开关的第二个不动端作为第二输入端连接到通道选择开关,所述单刀双掷开关的动端作为输出端与幅度控制模块连接。
所述幅度控制模块包括第三单刀双掷开关、第四单刀双掷开关、前置放大器和第一幅度控制器;所述第三单刀双掷开关的动端连接到切换开关的输出端,所述第四单刀双掷开关的动端连接到第一幅度控制器的输入端;第三单刀双掷开关的第一个不动端和第四单刀双掷开关的第一个不动端之间连接有所述的前置放大器;第三单刀双掷开关的第二个不动端和第四单刀双掷开关的第二个不动端直连;所述第一幅度控制器的输出端与所述滤波控制模块连接。
所述滤波控制模块包括第二幅度控制器、放大器和滤波器,所述第二幅度控制器的输入端与第一幅度控制器的输出端连接,第二幅度控制器的输出端依次通过放大器和滤波器与数字信号处理模块连接。
如图3所述,所述信号发射电路包括多路DAC模块、校准输出端口和多路信号发射通道;
每一路所述的信号发射通道均包括滤波控制模块、输出幅度控制模块和切换开关,所述滤波控制模块的输入端通过多路DAC模块与FPGA模块连接,所述滤波控制模块的输出端通过输出幅度控制模块与切换开关连接,所述切换开关的第一路输出端连接该路信号发射通道的信号输出端口,所述信号输出端口用于连接环形器;
所述校准输出端口的输入端通过选通开关连接到通道选择开关的输出端,所述通道选择开关的输入端分别与各个信号发射通道中切换开关的第二路输出端连接;
所述FPGA模块,在对各信号发射通道进行校准的过程中,产生校准信号经多路DAC模块转换后分别传输给每一路信号发射通道,经每一路信号发射通道后通过校准信号输出端口进行输出,并采集校准输出端口输出的信号,与产生的校准信号进行比较,生成每一信号发射通道的偏移补偿表;在进行信号发射时,基于各信号发射通道的偏移补偿表,预先对发射信号进行补偿,然后再通过信号发射通道和对应的信号输出接口对外发送信号。
在所述信号发射电路中,所述滤波控制模块包括低通滤波器、第一放大器、第一单刀多掷开关、第二单刀多掷开关和多个通带不同的带通滤波器;所述低通滤波器的输入端与所述的DAC模块连接,所述低通滤波器的输出端与第一放大器连接,所述第一放大器的输出端通过第一单刀多掷开关分别与每一个带通滤波器连接,各个带通滤波器的输出端通过第二单刀多掷开关与所述输出幅度控制模块连接。
所述输出幅度控制模块包括三个顺次连接幅度控制单元,每一个所述的幅度控制单元均包括第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关、第二放大器和幅度控制器;
在每一个幅度控制单元中,幅度控制器的输出端与第一单刀双掷开关连接,第一单刀双掷开关的第一个输出端通过第二放大器与第二单刀双掷开关的第一个输入端连接,第一单刀双掷开关的第二个输出端与第二单刀双掷开关的第二个输入端连接;
第一个幅度控制单元中,幅度控制器的输入端与滤波控制模块的输出端连接;第二个幅度控制单元中和第三个幅度控制单元中,幅度控制器的输入端均与上一个幅度控制单元中第二单刀双掷开关的输出端连接;第三个幅度控制单元中,第二单刀双掷开关的输出端与切换开关的输入端。
所述通道选择开关包括第三单刀多掷开关,所述第三单刀多掷开关的输入端分别与每一个通道中切换开关第二路输出端连接,第三单刀多掷开关的输出端与选通开关连接。
所述选通开关包括第三单刀双掷开关和负载电阻,所述第三单刀双掷开关的一路输入端连接所述的通道选择开关输出端,第三单刀双掷开关的另一路输入端经负载电阻后接地,第三单刀双掷开关的输出端连接所述的校准输出端口。
综上,本发明能够通过软件加载方式实现不同测试功能,提高测试仪器的可扩展性和持续的升级能力,以满足ATC、DME机载设备日益复杂的测试需求。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其他不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (5)

1.一种结合ATC和DME综合测试系统,其特征在于:包括数字信号处理模块、微波模块、大功率衰减器、环形器、MLS射频信号输出端口和ATC/DME射频信号收发端口;所述微波模块包括MLS发射电路、信号发射电路和信号接收电路;
所述环形器与ATC/DME射频信号收发端口连接,所述信号接收电路的输入端通过大功率衰减器与所述环形器连接,信号接收电路的输出端与数字信号处理模块连接;所述信号发射电路的输入端与数字信号处理模块,信号发射电路的输出端与环形器连接;所述MLS发射电路的输入端与数字信号处理模块连接,MLS发射电路的输出端与所述MLS射频信号输出端口连接;
所述数字信号处理模块包括多路ADC模块、多路DAC模块、FPGA模块和存储器;所述多路DAC模块的输入与所述FPGA模块连接,多路DAC模块的输出端分别与信号发射电路和MLS发射通道连接;所述多路ADC模块的输入端与信号接收电路连接,所述多路ADC模块的输出端与FPGA模块连接;所述存储器中保存有ATC工作模式和DME工作模式下对应的软件程序包;所述FPGA模块通过加载存储器中不同的软件程序包,使得整个综合测试系统工作在ATC工作模式或DME工作模式;
在所述ATC工作模式下,所述FPGA模块用于产生ATC询问信号,通过多路DAC模块进行转换,并在所述信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制后,经环形器、ATC/DME射频信号收发端口向外发送;同时ATC/DME射频信号收发端口接收到的ATC应答射频信号经环形器、大功率衰减器,然后输入所述信号接收电路进行滤波、幅度和功率控制后,经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,由FPGA模块进行ATC测试;
在所述DME工作模式下,ATC/DME射频信号收发端口接收到的DME询问信号经环形器、大功率衰减器进入信号接收电路,然后在信号接收电路中进行滤波、幅度和功率控制后经多路DAC模块进行转换,并传输给FPGA模块,FPGA模块对DME询问信号的询问参数进行测量,并延迟后产生DME应答信号,经多路DAC模块转换后,经信号发射电路进行滤波、幅度和功率控制,再通过所述环形器和ATC/DME射频信号收发端口对外输出;同时FPGA模块产生MLS信号,经多路DAC模块转换后,送入MLS发射电路进行混频、滤波和功率控制,将得到的信号通过MLS射频信号输出端口进行输出。
2.根据权利要求1所述的一种结合ATC和DME综合测试系统,其特征在于:所述综合测试系统还包括显控模块、显示模块和键盘;所述显控模块分别与显示模块和键盘连接,所述显控模块还通过内部总线与微波模块和数字信号处理模块进行连接;
所述显控模块用于将FPGA模块在DME工作模式或ATC工作模式时得到的测试数据传输给显示模块进行显示;并基于键盘输入的数据对微波模块进行控制。
3.根据权利要求1所述的一种结合ATC和DME综合测试系统,其特征在于:所述综合测试系统还包括电源模块,所述电源模块包括AC-DC降压转换单元和多个输出电压不同的DC-DC转换单元;所述AC-DC降压转换单元的输入端连接外部的220V交流电源,并进行降压转换,AC-DC降压转换单元输出端分别与每一个DC-DC转换单元连接;所述DC-DC转换单元将AC-DC转换单元的输出转换为不同的电压,并通过内部总线对整个综合测试系统进行供电。
4.根据权利要求1所述的一种结合ATC和DME综合测试系统,其特征在于:所述的信号接收电路包括校准信号输入接口和多路信号接收通道;每一路信号接收通道均连接有一个用于连接大功率衰减器的信号接收端口;所述校准信号输入端口经选通开关、通道选择开关后,分别与每一路信号接收通道连接;
每一路所述的信号接收通道均包括切换开关、幅度控制模块和滤波控制模块,所述切换开关的第一输入端连接该通道的信号输入端口,切换开关的第二输入端与到通道选择开关的输出端,所述切换开关的输出端依次通过幅度控制模块和滤波控制模块与数字信号处理模块的多路ADC模块连接;
FPGA模块在每一路信号接收通道输入校准信号时,将接收到的信号与输入的校准信号进行比较,生成该路信号接收通道的偏移补偿表;并在各路信号接收通道进行信号接收过程中,利用偏移补偿表对接收到的信号进行校准。
5.根据权利要求1所述的一种结合ATC和DME综合测试系统,其特征在于:所述信号发射电路包括多路DAC模块、校准输出端口和多路信号发射通道;
每一路所述的信号发射通道均包括滤波控制模块、输出幅度控制模块和切换开关,所述滤波控制模块的输入端通过多路DAC模块与FPGA模块连接,所述滤波控制模块的输出端通过输出幅度控制模块与切换开关连接,所述切换开关的第一路输出端连接该路信号发射通道的信号输出端口,所述信号输出端口用于连接环形器;
所述校准输出端口的输入端通过选通开关连接到通道选择开关的输出端,所述通道选择开关的输入端分别与各个信号发射通道中切换开关的第二路输出端连接;
所述FPGA模块,在对各信号发射通道进行校准的过程中,产生校准信号经多路DAC模块转换后分别传输给每一路信号发射通道,经每一路信号发射通道后通过校准信号输出端口进行输出,并采集校准输出端口输出的信号,与产生的校准信号进行比较,生成每一信号发射通道的偏移补偿表;在进行信号发射时,基于各信号发射通道的偏移补偿表,预先对发射信号进行补偿,然后再通过信号发射通道和对应的信号输出接口对外发送信号。
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