CN111665506B - 基于去斜处理的高分辨率sar变重频均匀化重采样方法 - Google Patents

Abstract

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，基于大转角波束旋转扫描回波数据的多普勒模糊特性和分段变重频分段均匀采样的特性，提出对各均匀采样段数据做波束中心旋转多普勒调频率去斜处理，再在距离频域进行带内多普勒变化校正，得到满足耐奎斯特采样定律的基带均匀采样数据段，然后采用sinc插值算法将均匀采样段数据插值到全数据均匀化采样时间上，来完成均匀化重采样处理。本发明方法用于大转角星载高分辨率分段变重频聚束模式、滑动聚束模式、TOPSAR模式和Mosaic模式，具有效率高、精度高、稳健且实用性强的特点。

Description

基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法

技术领域

本发明涉及基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，应用于大转角波束旋转扫描SAR系统，属于空间微波雷达信号处理领域。

背景技术

针对高分辨率成像要求，SAR载荷通过方位向天线波束凝视扫描获得较长的目标方位向相干积累时间，来实现目标方位维的高分辨力。系统方位分辨率越高，波束中心需转动的角度范围越大，回波距离徙动范围也随之增大。针对超高分辨率SAR的大距离徙动，为避免距离模糊，系统会采用变重频方式来保证大斜距徙动回波数据的接收和图像的距离模糊特性。

大转角波束旋转扫描分段高分辨率星载SAR回波数据的特点是：方位信号非均匀采样；多普勒带宽远大于瞬时多普勒宽度、大斜视角时频谱扭曲畸变，多普勒严重模糊，采样不满足耐奎斯特采样定理。而现有信号处理和快速频域成像算法都是基于满足耐奎斯特定理下的均匀采样的，因此方位非等间隔均匀化重采样是采用频域算法进行超高分辨率星载SAR系统回波数据成像处理需要首要解决的问题和难点。

目前，关于星载SAR变重频重采样的研究大多是针对方位多通道周期性非均匀采样的，而就高分辨星载SAR分段变重频均匀化重采样，现有技术采用基于子孔径分割的改进的sinc插值法，但基于子孔径分割的方法处理步骤复杂、时间复杂度高，且不考虑大斜视时的频谱畸变、不适用于高分辨率大斜视变重频SAR数据的处理。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，基于大转角波束旋转扫描回波数据的多普勒模糊特性和分段变重频分段均匀采样的特性，提出对各均匀采样段数据做波束中心旋转多普勒调频率去斜处理，再在距离频域进行带内多普勒变化校正，得到满足耐奎斯特采样定律的基带均匀采样数据段，然后采用sinc插值算法将均匀采样段数据插值到全数据均匀化采样时间上，来完成均匀化重采样处理。本发明方法用于大转角星载高分辨率分段变重频聚束模式、滑动聚束模式、TOPSAR模式和Mosaic模式，具有效率高、精度高、稳健且实用性强的特点。

本发明目的通过以下技术方案予以实现：

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，包括如下步骤：

S1、根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间；

S2、根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；

S3、根据各均匀采样子段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；如果需要做频谱畸变校正转入S4，否则转入S5；

S4、根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后转入S5；

S5、根据回波采集非均匀时间和S1中方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行插值重采样；

S6、对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子；

S7、根据S1中方位均匀化重采样时间，对均匀化重采样数据补偿方位去斜因子。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，优选的，S2对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，优选的，根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，优选的，S4中，针对斜视模式处理在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，优选的，S5对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值。

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，包括方位均匀化重采样时间构造模块、去斜处理模块、频谱畸变校正判断模块、频谱畸变校正模块、插值模块、补偿频谱畸变校正模块、补偿方位去斜因子模块；

方位均匀化重采样时间构造模块用于根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间；然后发送给去斜处理模块；

去斜处理模块用于根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；然后发送给频谱畸变校正判断模块；

频谱畸变校正判断模块用于根据各均匀采样段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；需要做频谱畸变校正的发送给频谱畸变校正模块，否则直接发送给插值模块；

频谱畸变校正模块用于根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后发送给插值模块；

插值模块用于根据回波采集非均匀时间和方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行插值；然后发送给补偿频谱畸变校正模块；

补偿频谱畸变校正模块用于对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子；然后发送给补偿方位去斜因子模块；

补偿方位去斜因子模块用于根据方位均匀化重采样时间，对均匀化重采样数据补偿方位去斜因子。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，优选的，去斜处理模块对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，优选的，频谱畸变校正判断模块根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。

上述基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，优选的，插值模块对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值。

本发明相比于现有技术具有如下有益效果：

(1)本发明针对现有波束旋转扫描SAR分段变重频处理方法需要分子孔径、处理过程复杂且精度受子孔径拼接精度限制等的不足，提出了一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频重采样方法，有效提高了处理精度和时间效率。

(2)本发明采用基于非均匀采样时间的去斜处理实现分段变重频数据频谱不模糊，以此实现正侧视/小斜视均匀采样子段数据满足sinc插值奈奎斯特采样定律和基带要求，去斜处理简易方便，有效提高了处理精度和效率。

(3)本发明针对斜视波束扫描SAR数据采用频谱畸变校正处理校正带内多普勒变化，以此保证斜视均匀采样子段的数据满足sinc插值奈奎斯特采样定律和基带要求，使本发明方法不受观测斜视角限制。

附图说明

图1是本发明实施例提供的基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标仿真回波示意图；

图3是本发明实施例提供的本发明算法处理得到的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标仿真回波数据重采样结果(距离时间对齐后)；

图4是本发明实施例提供的本发明算法处理的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标重采样回波数据经成像处理得到的SAR图像；

图5是本发明实施例提供的本发明算法处理的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标重采样回波数据成像后的点目标二维剖面图；

图6是本发明实施例提供的本发明算法处理的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标重采样回波数据成像后的点目标距离剖面图；

图7是本发明实施例提供的本发明算法处理的1m分辨率分段变重频滑动聚束模式点目标重采样回波数据成像后的点目标方位剖面图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的实施方式作进一步详细描述。

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，包括如下步骤：

S1、根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间。

S2、根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

S3、根据各均匀采样子段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；如果需要做频谱畸变校正转入S4，否则转入S5。

S4、根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后转入S5。

S5、根据回波采集非均匀时间和S1中方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值重采样。

S6、对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子。

S7、根据S1中方位均匀化重采样时间，对均匀化重采样数据补偿方位去斜因子。

S3中根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。S4中，针对斜视模式处理在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正。

如果均匀采样子段进行了频谱畸变校正时，方位sinc重采样插值在距离频域-方位时域完成；否则，方位sinc重采样插值在距离-方位时域完成。

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，包括方位均匀化重采样时间构造模块、去斜处理模块、频谱畸变校正判断模块、频谱畸变校正模块、插值模块、补偿频谱畸变校正模块、补偿方位去斜因子模块；

方位均匀化重采样时间构造模块用于根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间；然后发送给去斜处理模块；

去斜处理模块用于根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；然后发送给频谱畸变校正判断模块；

频谱畸变校正判断模块用于根据各均匀采样段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；需要做频谱畸变校正的发送给频谱畸变校正模块，否则直接发送给插值模块；

频谱畸变校正模块用于根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后发送给插值模块；

插值模块用于根据回波采集非均匀时间和方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值；然后发送给补偿频谱畸变校正模块；

补偿频谱畸变校正模块用于对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子；然后发送给补偿方位去斜因子模块；

补偿方位去斜因子模块用于根据方位均匀化重采样时间，对均匀化重采样数据补偿方位去斜因子。

去斜处理模块对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

频谱畸变校正判断模块根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。

实施例：

一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频重采样方法，如图1所示，包括步骤如下：

(1)均匀化重采样脉冲重复频率PRF_m计算，并构造方位均匀化重采样时间

为保证均匀化处理后信号频谱特性，设定各均匀采样段中最大的脉冲重复频率为均匀化重采样脉冲重复频率：

PRF_m＝max(PRF₁,PRF₂,…,PRF_K)

式中，PRF_k(k＝1:K)为第k个均匀采样段的PRF，K为分段变重频模式不同PRF的均匀采样段个数。假设各均匀采样段的脉冲个数为N_a,k，则均匀化重采样脉冲重复频率下的采样点个数为：

构造方位均匀化重采样时间为：

t_am＝t_as+[0:N_am-1]/PRF_m

其中，t_as为以波束中心斜视角为0°的时刻为零时间的回波起始脉冲时间。

(2)对分段变重频采样数据做去斜处理

由于波束旋转扫描SAR模式回波信号的多普勒宽度由瞬时带宽和波束中心旋转带来的多普勒频变化组成，导致信号总的多普勒宽度大于脉冲重复频率，即方位频谱模糊。为消除方位频谱模糊，使信号满足sinc重采样插值对耐奎斯特采样定律和基带的要求，对非均匀采样方位信号做全局的去斜处理。

根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间t_a0和波束中心多普勒频率f_dc(t_a0)，计算多普勒中心旋转调频率K_{a_rot}：

用一阶多项式对f_dc(t_a0)进行拟合得到：

f_dc(t_a0)≈p·t_a0+q

其中，q为线性拟合常数因子，p线性拟合一次项系数，则有

K_{a_rot}＝p

由此，分段变重频采样数据去斜因子为：

其中：t_a0以波束中心斜视角为0°的时刻为零时间。

将去斜因子H_deramp与分段变重频回波数据时域复乘，即完成回波数据去斜处理。

(3)判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正

由于高分辨率SAR发射信号带宽较大，在大转角成像的大斜视观测下，因多普勒频率在信号带宽内变化剧烈，即二维频谱耦合畸变，第(2)步操作后的回波数据仍可能存在方位多普勒模糊。因此，需要根据各均匀采样子段脉冲重复频率PRF_k计算最大不模糊斜视角θ_ref,k，作为是否进行频谱校正的判断依据。带内多普勒最大不模糊斜视角θ_ref,k的计算方法为：

其中，λ为波长，V_e为等效速度，B_a为范围3dB多普勒带宽。均匀采样字段是否做畸变校正的判断过程为：

其中，θ_sqc,k为第k个均匀采样子段的中心斜视角。

(4)均匀采样子段频谱畸变校正

当步骤(3)的结果为Yes时，第k个均匀采样子段需要做频谱畸变校正，否则转步骤(5)。频谱畸变校正在均匀采样子段的距离频域内完成，复乘因子为：

H_shift(t_a0,k；f_r)＝exp[j2πΔf_dc(f_r)(t_a0,k-t_ac,k)]

其中，t_a0,k为均匀子段数据的方位脉冲采样时间，t_ac,k为t_a0,k的中心时间，Δf_dc(f_r)为多普勒频率随发射信号频率的变化量，其形式为：

其中，θ_sqc,k为均匀采样子段的中心斜视角，f_r为距离向频率，c为光速。

将去斜后均匀子段数据转到距离频域，在距离频域-方位时域中，将频谱校正因子H_shift与去斜后的均匀采样子段进行复乘，即完成均匀子段数据的频谱畸变校正。

(5)均匀采样子段sinc插值处理

当均匀采样子段需要做频谱畸变校正时，方位sinc重采样插值在距离频域-方位时域完成；当均匀采样子段不需要做频谱畸变校正时，方位sinc重采样插值在距离-方位时域完成。首先判断原子段数据的采样时间[t_a0,k(1),t_a0,k(N_a,k)]对应均匀重采样时间t_am中的时间范围t_am,k，然后采用sinc插值算法进行t_a0,k到t_am,k的插值重采样。

(6)均匀采样子段频谱畸变校正因子补偿

当步骤(3)的结果为Yes时，第k个均匀采样子段校正了频谱畸变，需要对频谱畸变校正因子进行补偿，否则转步骤(7)。频谱畸变校正补偿因子为：

H_shift,com(t_am,k；f_r)＝exp[-j2πΔf_dc(f_r)(t_am,k-t_ac,k)]

在距离频域-方位时域中，将频谱校正因子H_shift,com与插值重采样后的均匀采样子段进行复乘，即完成插值重采样子段数据的频谱畸变校正因子补偿，之后需将子段数据转到距离时域继续后续操作。

(7)方位去斜因子补偿

根据均匀化重采样时间，补偿方位去斜因子，补偿因子为：

将去斜补偿因子H_deramp,com与插值均匀化回波数据时域复乘，即完成插值均匀化数据的去斜因子补偿。

(8)判断未插值到的均匀化重采样时间位置，并用相邻位置的信号填补。

附图2中分段变重频回波数据的仿真假设分段变重频的次数K＝3，设置目标点112个。使用本实施例中方法对图2非均匀采样回波数据进行均匀化重采样得到了图3结果(距离向对齐后结果)。图3中回波数据经两步式成像处理得到如图4所示点目标SAR图像，图4中各目标聚焦效果良好、SAR图像性能良好且目标聚焦位置准确，其中，图5～图7为某点目标成像性能示意图。上述结果表明：本实施例中方法可良好地实现分段变重频数据均匀化重采样，从而得到高性能SAR成像结果。

本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。

本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。

Claims (10)

1.一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间；

S2、根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；

S3、根据各均匀采样子段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；如果需要做频谱畸变校正转入S4，否则转入S5；

S4、根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后转入S5；

S5、根据回波采集非均匀时间和S1中方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行插值重采样；

S6、对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子；

频谱畸变校正因子H_shift,com为：

H_shift,com(t_am,k；f_r)＝exp[-j2πΔf_dc(f_r)(t_am,k-t_ac,k)]

t_am,k为原子段数据的采样时间[t_a0,k(1),t_a0,k(N_a,k)]对应均匀重采样时间t_am中的时间范围，f_r为距离向频率，Δf_dc为多普勒频率随发射信号频率的变化量，t_ac,k为t_a0,k的中心时间，t_a0,k为均匀子段数据的方位脉冲采样时间；

S7、根据S1中方位均匀化重采样时间，补偿方位去斜因子H_deramp,com；

K_{a_rot}为多普勒中心旋转调频率；

将方位去斜因子H_deramp,com与均匀化重采样数据时域复乘，即完成均匀化重采样数据补偿。

2.根据权利要求1所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，S2对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

3.根据权利要求1所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，S3根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。

4.根据权利要求1所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，S4中，针对斜视模式处理在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正。

5.根据权利要求1～4之一所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，S5中，对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值。

6.根据权利要求1～4之一所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样方法，其特征在于，如果均匀采样子段进行了频谱畸变校正时，方位sinc重采样插值在距离频域-方位时域完成；否则，方位sinc重采样插值在距离-方位时域完成。

7.一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，其特征在于，包括方位均匀化重采样时间构造模块、去斜处理模块、频谱畸变校正判断模块、频谱畸变校正模块、插值模块、补偿频谱畸变校正模块、补偿方位去斜因子模块；

方位均匀化重采样时间构造模块用于根据SAR系统分段变重频采样参数，确定均匀化重采样脉冲重复频率，然后构造方位均匀化重采样时间；然后发送给去斜处理模块；

去斜处理模块用于根据非均匀采样时间和波束中心旋转调频斜率，对SAR系统的回波数据进行去斜处理；然后发送给频谱畸变校正判断模块；

频谱畸变校正判断模块用于根据各均匀采样段中心斜视角和子段脉冲重复频率，判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正；需要做频谱畸变校正的发送给频谱畸变校正模块，否则直接发送给插值模块；

频谱畸变校正模块用于根据均匀采样子段的中心斜视角和方位采样时间，在距离频域内对方位信号进行频谱畸变校正，然后发送给插值模块；

插值模块用于根据回波采集非均匀时间和方位均匀化重采样时间，对分段均匀采样预处理数据进行插值；然后发送给补偿频谱畸变校正模块；

补偿频谱畸变校正模块用于对进行了频谱畸变校正的采样子段，补偿频谱畸变校正因子；然后发送给补偿方位去斜因子模块；

其中，频谱畸变校正因子H_shift,com为：

H_shift,com(t_am,k；f_r)＝exp[-j2πΔf_dc(f_r)(t_am,k-t_ac,k)]

t_am,k为原子段数据的采样时间[t_a0,k(1),t_a0,k(N_a,k)]对应均匀重采样时间t_am中的时间范围，f_r为距离向频率，Δf_dc为多普勒频率随发射信号频率的变化量，t_ac,k为t_a0,k的中心时间，t_a0,k为均匀子段数据的方位脉冲采样时间；

补偿方位去斜因子模块用于根据方位均匀化重采样时间，补偿方位去斜因子；将方位去斜因子H_deramp,com与均匀化重采样数据时域复乘，即完成均匀化重采样数据补偿；

其中，方位去斜因子H_deramp,com为：

K_{a_rot}为多普勒中心旋转调频率。

8.根据权利要求7所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，其特征在于，去斜处理模块对SAR系统的回波数据进行去斜处理的方法为：根据方位分段变重频各方位脉冲的采样时间和波束中心多普勒频率，确定多普勒中心旋转调频斜率，利用多普勒中心旋转调频斜率确定方位去斜因子，利用方位去斜因子对SAR系统的回波数据进行去斜处理。

9.根据权利要求7所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，其特征在于，频谱畸变校正判断模块根据各均匀采样子段脉冲重复频率确定最大不模糊斜视角，利用最大不模糊斜视角判断均匀采样子段是否需要做频谱畸变校正。

10.根据权利要求7～9之一所述的一种基于去斜处理的高分辨率SAR变重频均匀化重采样装置，其特征在于，插值模块对分段均匀采样预处理数据进行sinc插值。

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