CN111638450A - 一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。一种继电器触点寿命检测系统检测方法,具有10个步骤。该检测方法能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测该检测方法还能实时监测被测触点K0状态，当监测到被测触点K0状态异常时自动停止检测。
Description
技术领域
本发明涉及继电器检验领域，特别涉及一种继电器触点寿命检测系统及其检测方法。
背景技术
继电器为一种电控制器件，具体是当输入激励量的变化达到预定值时，输出触点的状态发生阶跃变化的一种电器，输出触点通常用于自动化的控制电路中。根据《GB/T14598.2-2011量度继电器和保护装置第1部分：通用要求》要求，需要对继电器的触点进行机械寿命和电寿命两种检测。机械寿命检测要求触点在空载条件下接通、断开10000次数。电寿命检测要求触点在带载条件下接通、断开1000次，触点的接通容量不小于1000W,断开容量不小于30W,负载回路直流电压不大于242V，负载为时间常数L/R＝40ms的直流有感负荷。
现有技术主要使用两种方法对继电器的触点进行机械寿命和电寿命检测，具体如下：
第一、通过时间继电器、中间继电器、接触器实现被测继电器触点的分合控制和负载的投切。将两台时间继电器的时间定值分别整定为被测触点K0的分合时间，通过将两台时间继电器的辅助触点串入彼此线圈励磁回路从而实现对被测触点K0分合的循环控制。缺点如下：(1)无法设定和记录被测触点K0的检测次数，仅能通过时间继电器设定的动作周期与检测总时长进行除法运算计算得出检测次数；(2)仅能投切同一套负载，无法实现不同负载的切换，不能满足现有标准的要求；(3)仅能对单稳态继电器进行检测，无法对双稳态继电器进行检测；(4)电寿命检测过程中仅能依靠人工读取电压表示数判定被测触点K0的分合状态是否正常，当被测触点K0损坏后无法自动断开负载并停止检测。
第二、通过工控机配合数字量I/O卡和DAS卡、接触器实现被测继电器触点的分合控制和负载的投切。DAS卡作为A/D采样板，实现被测触点K0两端的电压和流经触点的电流采样。I/O卡用于控制电流检测回路的选择和被测触点K0的打开与闭合。工控机运行控制软件对采集到的电信号分析处理后发出控制命令。第二种方法的缺点是：(1)控制成本高；(2)体积庞大；(3)仅能对单稳态继电器进行检测，无法对双稳态继电器进行检测。
因此，针对现有技术不足，提供一种继电器触点寿命检测系统以解决现有技术不足甚为必要。
发明内容
本发明的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种继电器触点寿命检测系统。该继电器触点寿命检测系统能同时兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测。
本发明的上述目的通过以下技术措施实现：
提供一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。
监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制。
I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制。
接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切。
负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量。
被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6。
第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接。
优选的，上述被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。
优选的，上述监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2。
微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。
优选的，上述I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接。
优选的，上述第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接。
优选的，上述第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。
优选的，上述接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1。
所述负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2。
接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接。
当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点。
优选的，上述微处理器U1的型号意法半导体公司的STM32F系列的32位ARM微控制器。
优选的，上述微处理器U1的内核为Cortex-M3。
电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。
本发明的一种继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。
本发明的另一目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种继电器触点寿命检测系统检测方法。该继电器触点寿命检测系统检测方法能同时兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测。
本发明的上述目的通过以下技术措施实现：
提供一种继电器触点寿命检测系统检测方法,上述的继电器触点寿命检测系统,步骤包括有：
步骤一、判断是否进入测试，如果是，则进入步骤二；如果否，则进入步骤十；
步骤二、判断是否进行单稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤三；如果否，则进入步骤四；
步骤三、进行单稳态继电器机械寿命测试；
步骤四，判断是否进行双稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤五；如果否，则进入步骤六；
步骤五、进行双稳态继电器机械寿命测试；
步骤六，判断是否进行单稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤七；如果否，则进入步骤八；
步骤七、进行单稳态继电器电寿命测试；
步骤八、判断是否进行双稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤九；如果否，则进入步骤十；
步骤九、进行双稳态继电器电寿命测试；
步骤十、结束。
优选的，上述步骤三具体为，
步骤3.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤3.2、触点K11和触点K12闭合延时T1；
步骤3.3、断开触点K11和触点K12；
步骤3.4、触点K11和触点K12断开延时T2；
步骤3.5、判断单稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤五；如果否，则进入步骤3.1。
优选的，上述步骤五具体为，
步骤5.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤5.2、触点K11和触点K12闭合延时T3；
步骤5.3、断开触点K11和触点K12；
步骤5.4、触点K11和触点K12断开延时T4；
步骤5.5、闭合触点K21和触点K22；
步骤5.6、触点K21和触点K22闭合延时T5；
步骤5.7、断开触点K21和触点K22；
步骤5.8、双稳态间隔延时T6；
步骤5.9、判断双稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤七；如果否，则进入步骤5.1。
优选的，上述骤七具体为，
步骤7.1、闭合触点K31，闭合触点K1，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤7.2、负载组件接通延时T7；
步骤7.3、读取“保护触点”状态；
步骤7.4、判断单稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤7.5；如果是，则进入步骤7.11；
步骤7.5、单稳态继电器被测触点K0闭合延时T8；
步骤7.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤7.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T9；
步骤7.8、断开单稳态继电器被测触点K0；
步骤7.9、断开单稳态继电器被测触点K0延时T10；
步骤7.10、判断单稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤7.1；
步骤7.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
步骤7.12、进行故障提示，进入步骤一。
优选的，上述步骤九具体为，
步骤9.1、闭合触点K31，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤9.2、负载组件接通延时T11；
步骤9.3、读取“保护触点”状态；
步骤9.4、判断双稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤9.5；如果是，则进入步骤9.11；
步骤9.5、双稳态继电器被测触点K0闭合延时T12；
步骤9.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤9.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T13；
步骤9.8、断开双稳态继电器被测触点K0；
步骤9.9、双稳态继电器被测触点K0延时T14；
步骤9.10、判断双稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤9.1；
步骤9.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
步骤9.12、进行故障提示，进入步骤一。
优选的，上述T1、T2、T3、T4、T5、T6、T8、T10、T12和T14设定范围都为0.05秒～3600秒；T7、T9、T11和T13都为50毫秒。
本发明的一种继电器触点寿命检测系统检测方法,具有10个步骤。该检测方法能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测该检测方法还能实时监测被测触点K0状态，当监测到被测触点K0状态异常时自动停止检测。
附图说明
利用附图对本发明作进一步的说明，但附图中的内容不构成对本发明的任何限制。
图1为实施例1的一种继电器触点寿命检测系统的机械寿命检测控制原理图。
图2为实施例1的一种继电器触点寿命检测系统的电寿命检测控制原理图。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明的技术方案作进一步说明。
实施例1。
一种继电器触点寿命检测系统，设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。
监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制。
I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制。
接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切。
负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量。
被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6。
第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接。
被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。
其中监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2。
微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。
本发明的I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接。
第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接。
第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。
接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1,负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2。
接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接。
本发明的继电器触点寿命检测系统,还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接。
本发明的继电器触点寿命检测系统,当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点，多数情况下被测触点K0为常开触点。当K0为常闭触点时控制逻辑与K0为常开触点的控制逻辑相反。
本实施例以被测触点K0为常开触点对本发明的原理为例进行说明。
一、机械寿命检测控制原理如下：
在图1中的第一连接端子A1、第二连接端子A2之间接入激励量，第三连接端子A3、第四连接端子A4之间接入被测线圈L0，被测触点K0空载，即图2中第五连接端子A5和第六连接端子A6不接入被测触点K0。
(1)单稳态继电器检测，仅需要第一继电器参与控制，第二继电器的两副触点K21和K22始终为常开状态。
状态a1：触点K11和触点K12闭合，第三连接端子A3和第四连接端子A4之间有激励量，被测线圈L0励磁，被测触点K0闭合。
状态a2：触点K11和触点K12断开，第三连接端子A3和第四连接端子A4之间无激励量，被测线圈L0失去励磁，被测触点K0断开。
(2)双稳态继电器检测，第一继电器和第二继电器均参与控制。
状态b1：触点K11和触点K12闭合，触点K21和触点K22断开，第三连接端子A3和第四连接端子A4之间有激励量，被测线圈L0励磁，被测触点K0闭合。
状态b2：触点K11和触点K12断开，触点K21和触点K22闭合，在第三连接端子A3和第四连接端子A4之间设置激励量且极性与状态b1的极性相反，被测线圈L0反向励磁，被测触点K0断开。
状态b3：触点K11和触点K12断开，触点K21和触点K22断开，第三连接端子A3和第四连接端子A4之间无激励量，被测线圈L0失去励磁，被测触点K0断开。
二、电寿命检测控制原理
在图2中，被测触点K0接入第五连接端子A5和第六连接端子A6之间。被测触点K0的断开、闭合由图1所示的机械寿命检测控制电路完成。
状态c1：被测触点K0断开，触点K31断开，此时接触器线圈L3无励磁，故触点K1断开。
状态c2：被测触点K0断开，触点K31闭合，接触器线圈L3励磁，触点K1闭合，电阻R1和电感L1与电阻R2电感L2并联，并联后的等效感性负载功率为1000W，时间常数L/R＝40ms。
状态c3：被测触点K0闭合，检测接通容量1000W。
状态c4：被测触点K0闭合，触点K31断开，接触器线圈L3失去励磁，K1断开，此时仅有电阻R2和电感L2投入，功率为30W，时间常数L/R＝40ms。
状态c5：被测触点K0断开，检测断开容量30W。
三、被测触点K0状态监测单元原理
被测触点K0断开时，被测触点K0两端电压近似DC220V，此时光耦U2导通，光耦U2的脚4为低电平；被测触点K0闭合时，被测触点K0两端电压近似0V，此时光耦U2断开，光耦U2的脚4为高电平。光耦U2的脚4的电平送入微处理器U1的脚1，微处理器U1的脚1设为外部中断，外部中断触发后检测到微处理器U1的1脚的电平为高电平，则认为被测触点K0为闭合状态。
该继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。实施例2。
一种继电器触点寿命检测系统,其他特征与实施例1相同，不同之处在于：微处理器U1的型号意法半导体公司的STM32F系列的32位ARM微控制器，微处理器U1的内核为Cortex-M3。
电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。
与实施例1相比，本实施例的电子元件的型号为常用型号，因此具有生产成本低的优点。
该继电器触点寿命检测系统,设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件。该检测系统能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测，还通过触摸屏进入友好的人机交互界面，方便的选择检测项目，同时设置触点分合控制时间及检测次数，直观看到当前完成检测次数。该检测系统还能够自动切换不同的负载，并能极大降低控制成本并缩小控制器体积。
实施例3。
一种继电器触点寿命检测系统检测方法,采用实施例1或实施例2的继电器触点寿命检测系统,步骤包括有：
步骤一、判断是否进入测试，如果是，则进入步骤二；如果否，则进入步骤十；
步骤二、判断是否进行单稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤三；如果否，则进入步骤四；
步骤三、进行单稳态继电器机械寿命测试；
步骤四，判断是否进行双稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤五；如果否，则进入步骤六；
步骤五、进行双稳态继电器机械寿命测试；
步骤六，判断是否进行单稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤七；如果否，则进入步骤八；
步骤七、进行单稳态继电器电寿命测试；
步骤八、判断是否进行双稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤九；如果否，则进入步骤十；
步骤九、进行双稳态继电器电寿命测试；
步骤十、结束。
其中步骤三具体为，
步骤3.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤3.2、触点K11和触点K12闭合延时T1；
步骤3.3、断开触点K11和触点K12；
步骤3.4、触点K11和触点K12断开延时T2；
步骤3.5、判断单稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤五；如果否，则进入步骤3.1。
其中步骤五具体为，
步骤5.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤5.2、触点K11和触点K12闭合延时T3；
步骤5.3、断开触点K11和触点K12；
步骤5.4、触点K11和触点K12断开延时T4；
步骤5.5、闭合触点K21和触点K22；
步骤5.6、触点K21和触点K22闭合延时T5；
步骤5.7、断开触点K21和触点K22；
步骤5.8、双稳态间隔延时T6；
步骤5.9、判断双稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤七；如果否，则进入步骤5.1。
其中步骤七具体为，
步骤7.1、闭合触点K31，闭合触点K1，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤7.2、负载组件接通延时T7；
步骤7.3、读取“保护触点”状态；
步骤7.4、判断单稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤7.5；如果是，则进入步骤7.11；
步骤7.5、单稳态继电器被测触点K0闭合延时T8；
步骤7.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤7.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T9；
步骤7.8、断开单稳态继电器被测触点K0；
步骤7.9、断开单稳态继电器被测触点K0延时T10；
步骤7.10、判断单稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤7.1；
步骤7.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
步骤7.12、进行故障提示，进入步骤一。
其中步骤九具体为，
步骤9.1、闭合触点K31，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤9.2、负载组件接通延时T11；
步骤9.3、读取“保护触点”状态；
步骤9.4、判断双稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤9.5；如果是，则进入步骤9.11；
步骤9.5、双稳态继电器被测触点K0闭合延时T12；
步骤9.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤9.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T13；
步骤9.8、断开双稳态继电器被测触点K0；
步骤9.9、双稳态继电器被测触点K0延时T14；
步骤9.10、判断双稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤9.1；
步骤9.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
步骤9.12、进行故障提示，进入步骤一。
其中T1、T2、T3、T4、T5、T6、T8、T10、T12和T14设定范围都为0.05秒～3600秒；T7、T9、T11和T13都为50毫秒。
该继电器触点寿命检测系统检测方法,具有10个步骤。该检测方法能兼容单稳态继电器和双稳态继电器触点的寿命检测该检测方法还能实时监测被测触点K0状态，当监测到被测触点K0状态异常时自动停止检测。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (10)
1.一种继电器触点寿命检测系统,其特征在于：设置有监测控制装置、I/O扩展板装置、接触器装置和负载组件，
监测控制装置，用于监测被测继电器的开合状态，还用于采集检测数据，并进行被测继电器的被测触点K0的开合时间控制；
I/O扩展板装置，用于实现对被测继电器进行开合控制，还对接触器装置进行开合控制；
接触器装置，用于对负载组件中的不同负载进行投切；
负载组件，用于检测被测继电器的接通容量和断开容量；
被测继电器为单稳态继电器或者双稳态继电器。
2.根据权利要求1所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：还设置有用于监测流经被测触点K0电流的电流表、第一连接端子A1、第二连接端子A2、第三连接端子A3、第四连接端子A4、第五连接端子A5和第六连接端子A6，
第一连接端子A1和第二连接端子A2接入激励量，第一连接端子A1和第二连接端子A2、第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与I/O扩展板装置连接，第三连接端子A3和第四连接端子A4分别与被测继电器连接，第五连接端子A5与监测控制装置和电流表连接，第六连接端子A6与监测控制装置和接触器装置连接。
3.根据权利要求2所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述被测继电器设置有被测线圈L0和被测触点K0，被测线圈L0的两端分别与第三连接端子A3和第四连接端子A4连接，被测触点K0分别与第五连接端子A5和第六连接端子A6可拆卸连接。
4.根据权利要求3所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述监测控制装置设置有微处理器U1、电阻R3、电阻R4、电阻R5和光耦U2，
微处理器U1的1脚与光耦U2的4脚连接，微处理器U1的1脚还串连接电阻R5与电源输入端VCC连接，光耦U2的1脚串连电阻R3与第五连接端子A5连接，光耦U2的1脚还串连接电阻R4与第六连接端子A6连接，光耦U2的2脚与第六连接端子A6连接，光耦U2的3脚接地。
5.根据权利要求4所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述I/O扩展板装置设置有第一继电器、第二继电器和第三继电器，第一继电器设置有触点K11和触点K12，触点K11的两端分别与第一连接端子A1和第三连接端子A3连接，触点K12的两端分别与第二连接端子A2和第四连接端子A4连接；
所述第二继电器设置有触点K21和触点K22，触点K21的两端分别与第二连接端子A2和第三连接端子A3连接，触点K22的两端分别与第一连接端子A1和第四连接端子A4连接；
所述第三继电器设置有触点K31，触点K31分别接触器装置和负载组件连接。
6.根据权利要求5所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：所述接触器装置设置有接触器线圈L3和触点K1,
所述负载组件设置有电阻R1、电阻R2、电感L1和电感L2，
接触器线圈L3的一端与第六连接端子A6连接，接触器线圈L3的另一端与触点K31的一端连接，触点K31的另一端串连电阻R2与电感L2的一端连接，触点K1的一端与触点K31的另一端连接，触点K1的另一端串连电阻R1与电感L1的一端连接，电感L1的另一端和电感L2的另一端分别串连电流表与第五连接端子A5连接。
7.根据权利要求6所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于：还设置有电源模块和用于检测电源模块电压的电压表，电源模块的一端与触点K31的另一端连接，电源模块的另一端与第六连接端子A6连接，电压表的两端分别与电源模块连接；
还用于设置被测触点K0分合时间的触摸屏，触摸屏与监测控制装置连接；
当被测触点KO为常开触点时，触点K11、触点K12、触点K21、触点K22、触点K31和触点K1均为常开触点；
所述微处理器U1的型号意法半导体公司的STM32F系列的32位ARM微控制器；
所述微处理器U1的内核为Cortex-M3；
电阻R1的电阻值为50欧，电感L1为2亨利，电阻R2的电阻值为1615欧，电感L2为65亨利，电阻R3的电阻值为50千欧，电阻R4的电阻值为680欧，光耦U2型号为PC817，电阻R5为10千欧的上拉电阻。
8.一种继电器触点寿命检测系统检测方法,采用权利要求1至7任意一项所述的继电器触点寿命检测系统,其特征在于，步骤包括有：
步骤一、判断是否进入测试，如果是，则进入步骤二；如果否，则进入步骤十；
步骤二、判断是否进行单稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤三；如果否，则进入步骤四；
步骤三、进行单稳态继电器机械寿命测试；
步骤四，判断是否进行双稳态继电器机械寿命测试，如果是，则进入步骤五；如果否，则进入步骤六；
步骤五、进行双稳态继电器机械寿命测试；
步骤六，判断是否进行单稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤七；如果否，则进入步骤八；
步骤七、进行单稳态继电器电寿命测试；
步骤八、判断是否进行双稳态继电器电寿命测试，如果是，则进入步骤九；如果否，则进入步骤十；
步骤九、进行双稳态继电器电寿命测试；
步骤十、结束。
9.根据权利要求8所述的继电器触点寿命检测系统检测方法,其特征在于：所述步骤三具体为，
步骤3.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤3.2、触点K11和触点K12闭合延时T1；
步骤3.3、断开触点K11和触点K12；
步骤3.4、触点K11和触点K12断开延时T2；
步骤3.5、判断单稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤五；如果否，则进入步骤3.1；
所述步骤五具体为，
步骤5.1、闭合触点K11和触点K12；
步骤5.2、触点K11和触点K12闭合延时T3；
步骤5.3、断开触点K11和触点K12；
步骤5.4、触点K11和触点K12断开延时T4；
步骤5.5、闭合触点K21和触点K22；
步骤5.6、触点K21和触点K22闭合延时T5；
步骤5.7、断开触点K21和触点K22；
步骤5.8、双稳态间隔延时T6；
步骤5.9、判断双稳态继电器机械寿命测试是否完成，如果是则进入步骤七；如果否，则进入步骤5.1；
所述步骤七具体为，
步骤7.1、闭合触点K31，闭合触点K1，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤7.2、负载组件接通延时T7；
步骤7.3、读取“保护触点”状态；
步骤7.4、判断单稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤7.5；如果是，则进入步骤7.11；
步骤7.5、单稳态继电器被测触点K0闭合延时T8；
步骤7.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤7.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T9；
步骤7.8、断开单稳态继电器被测触点K0；
步骤7.9、断开单稳态继电器被测触点K0延时T10；
步骤7.10、判断单稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤7.1；
步骤7.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
步骤7.12、进行故障提示，进入步骤一；
所述步骤九具体为，
步骤9.1、闭合触点K31，接通负载组件的电阻R1和电感L1，实现电阻R1和电感L1与负载组件的电阻R2和电感L2并联；
步骤9.2、负载组件接通延时T11；
步骤9.3、读取“保护触点”状态；
步骤9.4、判断双稳态继电器被测触点K0是否闭合，如果否，则进入步骤9.5；如果是，则进入步骤9.11；
步骤9.5、双稳态继电器被测触点K0闭合延时T12；
步骤9.6、切断负载组件的电阻R1和电感L1，保留负载组件的电阻R2和电感L2；
步骤9.7、负载组件的电阻R1和电感L1切断延时T13；
步骤9.8、断开双稳态继电器被测触点K0；
步骤9.9、双稳态继电器被测触点K0延时T14；
步骤9.10、判断双稳态继电器电寿命测试是否完成，如果是则进入步骤一，如果否，则进入步骤9.1；
步骤9.11、断开触点K31，切断负载组件的电阻R1和电感L1；
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10.根据权利要求9所述的继电器触点寿命检测系统检测方法,其特征在于：T1、T2、T3、T4、T5、T6、T8、T10、T12和T14设定范围都为0.05秒～3600秒；
T7、T9、T11和T13都为50毫秒。
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