CN111624169A - 基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置及方法,该装置包括两台飞秒锁模脉冲激光器、两台飞秒激光脉冲放大器、两个飞秒激光脉冲时频域控制系统、两个非线性光谱变换系统、样品测量分析系统。两台飞秒锁模脉冲激光器输出的飞秒激光经两台飞秒激光脉冲放大器放大功率输入到两个飞秒激光脉冲时频域控制系统,输出两路波段相同相位相干的光梳,两路光梳分别输入两个非线性光谱变换系统以使两路光梳波段拓展到紫外,输出的两路紫外光梳输入到样品测量分析系统,生成样品分子在紫外波段的双光梳吸收图谱。本发明的优点是:该装置结构简单,稳定性好,分辨率极高,精度高,测量速度快,可以实时监控,灵敏度高。
Description
技术领域
本发明属于超快光学和光学频率梳技术领域,具体涉及一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置及方法。
背景技术
超高精度精密光谱是诸多基础科学问题研究以及尖端新型技术发展的基础。目前,高精度物理常数的测量大多是通过直接或者间接地测量光谱跃迁谱线来获得。在精密光谱测量中,窄线宽激光光源是作为激发源。因为高性能紫外波段的增益物质十分稀少,故常见的窄线宽半导体连续激光器的输出波长局限于近红外和可见波段。而紫外波段的窄线宽激光器的使用能够大大幅度提高激光光谱的测量精度,所以如何获得稳定的窄线宽紫外激光光源一直是研究热点。
随着超快飞秒激光技术和稳频技术的发展,科学家发现时域和频域同时精密控制的飞秒光学频率梳的每一根光频梳齿均具有单纵模连续激光器的窄线宽特性,另外飞秒脉冲具有超高的峰值功率,可以通过非线性频率变换过程间接产生紫外波段的光学频率梳,并保持其相位相干性。紫外飞秒光学频率梳的时域和频域同时得到精密操控,将稳定光源拓展到了时频控制领域,其不仅可以直接用于紫外波段的超高精密光谱的研究,而且对一些基本物理常数的精确测量、X射线波段原子钟、光钟和高重复频率可调谐紫外光源的产生等基础前沿科学问题的研究具有十分重大的意义。
紫外飞秒光学频率梳的研究极大的推进精密光谱学向紫外和等短波段延伸,为更高精度的时间频率标准和超高的时间分辨率提供了研究方向。但是,基于紫外光梳的高精度光谱测量技术不是十分成熟,普遍是采用传统的激发光谱和泵浦探测的技术手段,没有完全利用紫外光梳光源的时频域优势,测量精度和准确性也不高。受上述问题的限制,紫外光波段光谱测量的分辨率和精度一直远低于可见光和红外波段,故紫外波段高精度高分辨率光谱测量的新技术方法的研究是时下研究热点之一。
发明内容
本发明的目的是根据上述现有技术的不足之处,提供一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置及方法,该装置利用非线性倍频的方法将近红外光梳拓展到紫外波段;将两台相干相位稳定的紫外光学频率梳其中一路光与样品作用,另外一路作为参考光;随后两路光进行外差探测,实现样品吸收光谱的测量。
本发明目的实现由以下技术方案完成:
一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述装置包括依次设置的飞秒锁模脉冲激光器组、飞秒激光脉冲放大器组、飞秒激光脉冲时频域控制系统组、非线性光谱变换系统组以及样品测量分析系统,其中,所述飞秒锁模脉冲激光器组包括两台飞秒锁模脉冲激光器,所述飞秒激光脉冲放大器组包括两台飞秒激光脉冲放大器,所述飞秒激光脉冲时频域控制系统组包括两个飞秒激光脉冲时频域控制系统,所述非线性光谱变换系统组包括两个非线性光谱变换系统,所述样品测量分析系统由依次设置的样品池、光路拍频模块以及数据采集与分析模块组成;所述光路拍频模块包括第一高反镜、第二高反镜、半透半反镜和平衡探测器。
所述飞秒锁模脉冲激光器为非线性偏振旋转锁模光纤激光器、半导体可饱和吸收镜锁模光纤激光器、全保偏非线性光纤环形镜锁模激光器中的一种。
所述飞秒激光脉冲放大器为啁啾脉冲光纤放大器或自相似脉冲光纤放大器。
所述飞秒激光脉冲时频域控制系统为f-2f自参考相位探测及锁定系统或窄线宽连续激光器参考探测及锁定系统。
所述非线性光谱变换系统包括依次设置的二分之一波片A、第一透镜、第一LBO晶体、第二透镜、二分之一波片B、第三透镜、第二BBO晶体、第四透镜、紫外滤光片。
一种涉及任一所述的基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的工作方法,其特征在于所述工作方法包括以下步骤:两台飞秒锁模脉冲激光器分别输出一路飞秒激光,两路所述飞秒激光分别经两台飞秒激光脉冲放大器放大功率,两个所述飞秒激光脉冲时频域控制系统分别对两路所述飞秒激光脉冲进行时频域探测和控制,以实现两路所述飞秒激光脉冲的相位稳定和重复频率差的锁定,输出两路波段相同的相干光学频率梳,两路所述光学频率梳分别输入到两个非线性光谱变换系统以使两路所述光学频率梳波段拓展到紫外波段,得到两路紫外光学频率梳,其中一路所述紫外光学频率梳作为信号路,通过样品测量分析系统中的样品池,与所述样品池中的样品分子相位作用,另一路所述紫外光学频率梳为参考路,所述信号路和所述参考路合束输入所述样品测量分析系统中的光路拍频模块,所述光路拍频模块对所述信号路和所述参考路进行拍频得到拍频数据,所述样品测量分析系统中的数据采集和分析模块采集所述拍频数据进行计算分析,生成所述样品分子在紫外波段的双光梳吸收图谱。
所述光学频率梳输入所述非线性光谱变换系统,依次经过二分之一波片A、第一透镜、第一LBO晶体、第二透镜产生二次谐波激光脉冲,所述二次谐波激光脉冲依次经过所述二分之一波片B、第三透镜、第二BBO晶体、第四透镜产生四次谐波紫外激光脉冲,所述四次谐波紫外激光脉冲经由紫外滤光片过滤输入所述样品测量分析系统。
所述信号路通过所述样品池与所述样品分子相位作用,所述信号路经过半透半反镜和经由第一高反镜出射的所述参考路合束,合束后的所述信号路和所述参考路经过所述半透半反镜和第二高反镜输入到平衡探测器;数据采集卡采集所述平衡探测器探测到的信号并输入计算软件中计算生成紫外双光梳光谱。
本发明的优点是:
(1)本装置采用光纤激光器作为种子激光源,该类型激光器输出的光脉冲光谱范围合适、光束质量好,脉冲宽度较窄,结构简单,体积小,成本低;
(2)本装置采用两台近红外光学频率梳作为种子光梳,利用非线性倍频将波段拓展到紫外,产生紫外光学频率梳,并继承了近红外光学频率梳的稳定性,避开了增益介质的稀少问题;
(3)本装置采用外差探测的双光梳光谱技术,在紫外波段进行吸收光谱测量,分辨率极高,远远大于其他紫外光源的测量精度;
(4)本装置采用外差探测的双光梳光谱技术,避免了传统测量方法中的机械扫描,采用光学重复频率差进行扫描,测量速度快,可以实时监控;
(5)本装置采用紫外光学频率梳作为光源,单根梳齿的线宽窄,同时紫外光单光子能量高,测量时具有较高的灵敏度。
附图说明
图1为本发明中基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的系统框图;
图2为本发明中基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图通过实施例对本发明的特征及其它相关特征作进一步详细说明,以便于同行业技术人员的理解:
如图1-2,图中各标记分别为: 第一激光器1、第二激光器2、第一放大器3、第二放大器4、第一锁定系统5、第二锁定系统6、第一变换系统7、第二变换系统8、样品测量分析系统9、二分之一波片71、第一透镜72、第一LBO晶体73、第二透镜74、二分之一波片75、第三透镜76、第一BBO晶体77、第四透镜78、第一紫外滤光片79、二分之一波片81、第五透镜82、第二LBO晶体83、第六透镜84、二分之一波片85、第七透镜86、第二BBO晶体87、第八透镜88、第二紫外滤光片89、样品池91、光路拍频模块92、数据采集与分析模块93、第一高反镜921、第二高反镜922、半透半反镜923、平衡探测器924、数据采集卡931、计算软件932。
实施例:如图1、2所示,本实施例具体涉及一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,该装置主要包括依次设置的飞秒锁模脉冲激光器组、飞秒激光脉冲放大器组、飞秒激光脉冲时频域控制系统组、非线性光谱变换系统组以及样品测量分析系统9。
如图1、2所示,飞秒锁模脉冲激光器组包括两台飞秒锁模脉冲激光器,分别为第一激光器1和第二激光器2,飞秒锁模脉冲激光器为非线性偏振旋转锁模光纤激光器、半导体可饱和吸收镜锁模光纤激光器或全保偏非线性光纤环形镜锁模激光器中的一种,在本实施例中选用非线性偏振旋转锁模光纤激光器,其具有固定的重复频率差。
如图1、2所示,飞秒激光脉冲放大器组包括两台飞秒激光脉冲放大器,分别为第一放大器3和第二放大器4,飞秒激光脉冲放大器为啁啾脉冲光纤放大器或自相似脉冲光纤放大器,在本实施例中飞秒激光脉冲放大器选用啁啾脉冲光纤放大器,用于激光功率放大。
如图1、2所示,飞秒激光脉冲时频域控制系统组包括两个飞秒激光脉冲时频域控制系统,分别为第一锁定系统5和第二锁定系统6,飞秒激光脉冲时频域控制系统为f-2f自参考相位探测及锁定系统或窄线宽连续激光器参考探测及锁定系统,在本实施例中选用f-2f自参考相位探测及锁定系统,用于对飞秒激光脉冲的时频域探测及控制。
如图1、2所示,非线性光谱变换系统组包括两个非线性光谱变换系统,分别为第一变换系统7和第二变换系统8,用于进行频率变换,将光学频率梳波段拓展到紫外波段;如图2所示,第一变换系统7包括依次设置的二分之一波片71、第一透镜72、第一LBO晶体73、第二透镜74、二分之一波片75、第三透镜76、第一BBO晶体77、第四透镜78、第一紫外滤光片79,第二变换系统8包括依次设置的二分之一波片81、第五透镜82、第二LBO晶体83、第六透镜84、二分之一波片85、第七透镜86、第二BBO晶体87、第八透镜88、第二紫外滤光片89。
如图1、2所示,所述样品测量分析系统9由依次设置的样品池91、光路拍频模块92以及数据采集与分析模块93组成;其中,如图2所示,光路拍频模块92包括第一高反镜921、第二高反镜922、半透半反镜923以及平衡探测器924;数据采集与分析模块93则包括数据采集卡931、计算软件932。
如图1、2所示,本实施例中基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的工作方法包括以下步骤:
第一激光器1和第二激光器2具有固定的重复频率差,第一激光器1输出的飞秒激光脉冲和第二激光器2输出的飞秒激光脉冲分别进入到第一放大器3和第二放大器4进行激光功率放大,放大后的两路高功率飞秒激光脉冲序列分别输入到第一锁定系统5和第二锁定系统6,实现两路飞秒激光脉冲的时频域探测及控制,输出两台波段相同的相干光学频率梳。两台光学频率梳分别输入到第一变换系统7和第二变换系统8进行频率变换;输入到第一变换系统7的激光脉冲依次经过二分之一波片71、第一透镜72、第一LBO晶体73、第二透镜74产生二次谐波激光脉冲,二次谐波激光脉冲再依次经过二分之一波片75、第三透镜76、第一BBO晶体77、第四透镜78,产生的四次谐波紫外激光脉冲经由第一紫外滤光片79滤出;输入到第二变换系统8的激光脉冲依次经过二分之一波片81、第五透镜82、第二LBO晶体83、第六透镜84产生二次谐波激光脉冲,二次谐波激光脉冲再依次经过二分之一波片85、第七透镜86、第二BBO晶体87、第八透镜88,产生的四次谐波紫外激光脉冲经由第二紫外滤光片89滤出;从而将两路光学频率梳波段拓展到紫外波段,输出两路相干的紫外光学频率梳。两路紫外光学频率梳输入到样品测量分析系统9中;两路紫外光学频率梳分为信号光和参考光,信号光通过样品池91与样品分子相位作用,经过半透半反镜923,信号光和第一高反镜921出射的参考光进行合束,经过半透半反镜923和第二高反镜922输入到平衡探测器924;平衡探测器924探测信号由数据采集卡931采集,并送入计算软件932中计算生成样品分子在紫外波段的高精度双光梳吸收图谱。
Claims (8)
1.一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述装置包括依次设置的飞秒锁模脉冲激光器组、飞秒激光脉冲放大器组、飞秒激光脉冲时频域控制系统组、非线性光谱变换系统组以及样品测量分析系统,其中,所述飞秒锁模脉冲激光器组包括两台飞秒锁模脉冲激光器,所述飞秒激光脉冲放大器组包括两台飞秒激光脉冲放大器,所述飞秒激光脉冲时频域控制系统组包括两个飞秒激光脉冲时频域控制系统,所述非线性光谱变换系统组包括两个非线性光谱变换系统,所述样品测量分析系统由依次设置的样品池、光路拍频模块以及数据采集与分析模块组成;所述光路拍频模块包括第一高反镜、第二高反镜、半透半反镜和平衡探测器。
2.根据权利要求1所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述飞秒锁模脉冲激光器为非线性偏振旋转锁模光纤激光器、半导体可饱和吸收镜锁模光纤激光器、全保偏非线性光纤环形镜锁模激光器中的一种。
3.根据权利要求1所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述飞秒激光脉冲放大器为啁啾脉冲光纤放大器或自相似脉冲光纤放大器。
4.根据权利要求1所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述飞秒激光脉冲时频域控制系统为f-2f自参考相位探测及锁定系统或窄线宽连续激光器参考探测及锁定系统。
5.根据权利要求1所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置,其特征在于所述非线性光谱变换系统包括依次设置的二分之一波片A、第一透镜、第一LBO晶体、第二透镜、二分之一波片B、第三透镜、第二BBO晶体、第四透镜、紫外滤光片。
6.一种涉及权利要求1到5任一所述的基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的工作方法,其特征在于所述工作方法包括以下步骤:两台飞秒锁模脉冲激光器分别输出一路飞秒激光,两路所述飞秒激光分别经两台飞秒激光脉冲放大器放大功率,两个所述飞秒激光脉冲时频域控制系统分别对两路所述飞秒激光脉冲进行时频域探测和控制,以实现两路所述飞秒激光脉冲的相位稳定和重复频率差的锁定,输出两路波段相同的相干光学频率梳,两路所述光学频率梳分别输入到两个非线性光谱变换系统以使两路所述光学频率梳波段拓展到紫外波段,得到两路紫外光学频率梳,其中一路所述紫外光学频率梳作为信号路,通过样品测量分析系统中的样品池,与所述样品池中的样品分子相位作用,另一路所述紫外光学频率梳为参考路,所述信号路和所述参考路合束输入所述样品测量分析系统中的光路拍频模块,所述光路拍频模块对所述信号路和所述参考路进行拍频得到拍频数据,所述样品测量分析系统中的数据采集和分析模块采集所述拍频数据进行计算分析,生成所述样品分子在紫外波段的双光梳吸收图谱。
7.根据权利要求6所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的工作方法,其特征在于所述光学频率梳输入所述非线性光谱变换系统,依次经过二分之一波片A、第一透镜、第一LBO晶体、第二透镜产生二次谐波激光脉冲,所述二次谐波激光脉冲依次经过所述二分之一波片B、第三透镜、第二BBO晶体、第四透镜产生四次谐波紫外激光脉冲,所述四次谐波紫外激光脉冲经由紫外滤光片过滤输入所述样品测量分析系统。
8.根据权利要求6所述的一种基于外差探测的紫外双光梳吸收光谱测量的装置的工作方法,其特征在于所述信号路通过所述样品池与所述样品分子相位作用,所述信号路经过半透半反镜和经由第一高反镜出射的所述参考路合束,合束后的所述信号路和所述参考路经过所述半透半反镜和第二高反镜输入到平衡探测器;数据采集卡采集所述平衡探测器探测到的信号并输入计算软件中计算生成紫外双光梳光谱。
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- 2020-06-03 CN CN202010493697.6A patent/CN111624169A/zh active Pending
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