CN111596194A - 适用于pcb板维修测试设备的测试资源切换电路装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，包括：矩阵切换模块、测试资源接入控制电路以及控制模块；所述矩阵切换模块的触点电压、矩阵切换模块的电流、矩阵切换模块的切换时间参数覆盖测试对象集相对应的特征参数；所述电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；该电路是通用PCB板综合维修测试设备重构的基础，通过该电路测试设备可安全可靠且稳定的切换测试资源，实现对不同对象的测试。本发明涉及的设备主要有：通用PCB板综合维修测试设备。本发明采用矩阵模块和外围保护电路实现多种测试资源、多测试点的切换。
Description
技术领域
本发明涉及装备电气硬件自动测试技术领域，具体地，涉及一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，尤其涉及一种通用PCB板综合维修测试设备测试资源切换电路。
背景技术
PCB(印刷电路板)作为电子元器件及其电气连接的承载体，在武器装备上大量应用，是装备电气维修保障的最主要设备。目前装备中各种种类的PCB维修保障设备个性化明显，自动化程度不高，测试操作繁杂，效率低，难以满足后续的维修保障任务。专用自动化测试设备(ATE)的一些关键技术如PXI总线应用技术、自动测试技术、故障快速诊断技术不断发展，使得装备通用PCB板测试技术得以实现。通过一套通用PCB板综合维修测试设备、根据测试对象自动选择测试资源，可实现采用同一种测试设备测试不同种类的PCB板的功能，能提高测试装备的测试效率。资源切换电路是通用PCB板综合维修测试设备实现自动测试的基础。
专利文献CN101151936A公开了电路交换(CS)和分组交换(PS)资源的组合切换，在不影响CS切换的性能的情况下解决了在DTM切换期间的CS和PS资源切换到同一目标小区的同步问题。PS和CS资源的切换同步机制由如下功能支持:(1)关于CS和PS切换信令的资源指示,以向目标小区网络节点指示CS和PS切换对于相同的MS同时进行；(2)关于CS和PS切换信令的分配资源指示,以向源小区节点指示:对于CS和PS资源在目标小区中存在可用的资源；(3)源和目标小区中的CS和PS切换的同步管理。该专利并不能很好地适用于通用PCB板综合维修测试设备。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置。
根据本发明提供的一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，包括：矩阵切换模块、测试资源接入控制电路以及控制模块；所述矩阵切换模块的触点电压、矩阵切换模块的电流、矩阵切换模块的切换时间参数覆盖测试对象集相对应的特征参数；所述电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；所述控制模块控制矩阵切换模块的接入/断开；所述控制模块控制测试资源接入控制电路的接入/断开。
优选地，还包括：测试资源保护电路；所述测试资源保护电路的电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控包括：
步骤M1：控制断开所有矩阵切换模块连接；
步骤M2：控制打开所需资源，并延时到电路稳定；
步骤M3：控制矩阵切换模块测试点接入测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M4：单项测试完成，控制矩阵切换模块测试点断开测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M5：控制所有矩阵切换模块测试点断开测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M6：增加新测试点，按步骤3～步骤5执行新测试点测试；
步骤M7：所有测试完成，控制断开资源接入。
与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：
本发明提供一种稳定可靠的测试资源切换电路，该电路是通用PCB板综合维修测试设备重构的基础，通过该电路测试设备可安全可靠且稳定的切换测试资源，实现对不同对象的测试。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明实施例提供资源切换电路的原理框示意图；
图2为本发明实施例提供的资源切换电路的控制原理框示意图；
图3为本发明实施例提供的资源切换电路的某一路通断逻辑控制的电平示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本发明的保护范围。
如图1-3所示，根据本发明提供的一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，包括：矩阵切换模块、测试资源接入控制电路以及控制模块；所述矩阵切换模块的触点电压、矩阵切换模块的电流、矩阵切换模块的切换时间参数覆盖测试对象集相对应的特征参数；所述电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；所述控制模块控制矩阵切换模块的接入/断开；所述控制模块控制测试资源接入控制电路的接入/断开。
优选地，还包括：测试资源保护电路；所述测试资源保护电路的电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控包括：
步骤M1：控制断开所有矩阵切换模块连接；
步骤M2：控制打开所需资源，并延时到电路稳定；
步骤M3：控制矩阵切换模块测试点接入测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M4：单项测试完成，控制矩阵切换模块测试点断开测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M5：控制所有矩阵切换模块测试点断开测试资源。
优选地，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控还包括：
步骤M6：增加新测试点，按步骤3～步骤5执行新测试点测试；
步骤M7：所有测试完成，控制断开资源接入。
具体地，在一个实施例中，一种稳定可靠的测试资源切换电路，包括以下几个方面：S1、本发明提供的电路组成：S1-1、矩阵切换模块；S1-2资源控制电路；S1-3资源保护电路；S1-4控制模块；S2、本发明提供的电路各组成部分的通断逻辑受控。
进一步地，S1-1所述矩阵切换模块的触点电压、电流、切换时间参数覆盖测试对象集的相应特征参数；
进一步地，S1-2所述资源控制电路的电压、电流参数覆盖S1-1的电压、电流参数，S1-2所述资源控制电路的接通/关断时间覆盖测试对象集的时间参数要求；
进一步地，S1-3所述资源保护电路的电压、电流参数覆盖S1-1、S1-2的电压、电流参数；
进一步地，S1-1、S1-2受S1-4控制；
进一步地，S2所述通断逻辑控制步骤如下：
步骤1：控制断开所有矩阵切换模块连接；
步骤2：控制打开所需资源，并延时到电路稳定；
步骤3：控制矩阵切换模块测试点接入测试资源；
步骤4：单项测试完成，控制矩阵切换模块测试点断开测试资源；
步骤5：控制所有矩阵切换模块测试点断开测试资源；
步骤6：新测试点测试按步骤3～步骤5执行；
步骤7：所有测试完成，控制断开资源接入。
图1给出了8输入、128输出的资源切换原理，左侧为输入信号，上部为输出信号，具体如下：根据单次测试对象选择小于等于8种的测试资源，即控制“控制1”～“控制8”中的1路或对路开关打开；根据测试对象的接线关系选择小于等于128个测试点的接入，即控制矩阵切换模块的某组或多组触点连接到输入线上。
图2给出了资源切换电路的控制原理框图，具体如下：所有资源的输入总控制和矩阵切换电路触点的控制都由CPU决策；IO控制模块将CPU的决策实施到具体的控制电路上。
图3为资源1接入测试的一组通断逻辑控制的电平图，具体如下：控制模块控制"控制1"输出有效电平；t1(t1大于0)时刻后控制模块控制矩阵切换模块的C1触点输出有效电平；C1触点测试完成后控制模块控制矩阵切换模块的C1触点输出无效电平；t2(t2大于0)时刻后控制模块控制矩阵切换模块的C2触点输出有效电平，C2触点测试完成后控制模块控制矩阵切换模块的C2触点输出无效电平。
本发明提供一种稳定可靠的测试资源切换电路，该电路是通用PCB板综合维修测试设备重构的基础，通过该电路测试设备可安全可靠且稳定的切换测试资源，实现对不同对象的测试。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变化或修改，这并不影响本发明的实质内容。在不冲突的情况下，本申请的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。
Claims (8)
1.一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，包括：矩阵切换模块、测试资源接入控制电路以及控制模块；
所述矩阵切换模块的触点电压、矩阵切换模块的电流、矩阵切换模块的切换时间参数覆盖测试对象集相对应的特征参数；
所述电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；
所述控制模块控制矩阵切换模块的接入/断开；
所述控制模块控制测试资源接入控制电路的接入/断开。
2.根据权利要求1所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，还包括：测试资源保护电路；
所述测试资源保护电路的电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数。
3.根据权利要求2所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控。
4.根据权利要求3所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法包括：
步骤M1：控制断开所有矩阵切换模块连接；
步骤M2：控制打开所需资源，并延时到电路稳定；
步骤M3：控制矩阵切换模块测试点接入测试资源。
5.根据权利要求4所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M4：单项测试完成，控制矩阵切换模块测试点断开测试资源。
6.根据权利要求5所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M5：控制所有矩阵切换模块测试点断开测试资源。
7.根据权利要求6所述的适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M6：增加新测试点，按步骤3～步骤5执行新测试点测试；
步骤M7：所有测试完成，控制断开资源接入。
8.一种适用于PCB板维修测试设备的测试资源切换电路装置，其特征在于，包括：矩阵切换模块、测试资源接入控制电路以及控制模块；
所述矩阵切换模块的触点电压、矩阵切换模块的电流、矩阵切换模块的切换时间参数覆盖测试对象集相对应的特征参数；
所述电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；
所述控制模块控制矩阵切换模块的接入/断开；
所述控制模块控制测试资源接入控制电路的接入/断开；
还包括：测试资源保护电路；
所述测试资源保护电路的电路参数匹配矩阵切换模块的触点电压参数、矩阵切换模块的电流参数；
所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控；
所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法包括：
步骤M1：控制断开所有矩阵切换模块连接；
步骤M2：控制打开所需资源，并延时到电路稳定；
步骤M3：控制矩阵切换模块测试点接入测试资源；
所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M4：单项测试完成，控制矩阵切换模块测试点断开测试资源；
所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M5：控制所有矩阵切换模块测试点断开测试资源；
所述矩阵切换模块、测试资源接入控制电路、测试资源保护电路以及控制模块的通断逻辑受控方法还包括：
步骤M6：增加新测试点，按步骤3～步骤5执行新测试点测试；
步骤M7：所有测试完成，控制断开资源接入。
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Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020121904A1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-05 | Steven Hauptman | Curcuit for improved test and calibration in automated test equipment |
| CN101151936A (zh) * | 2005-03-30 | 2008-03-26 | 诺基亚公司 | 电路交换（cs）和分组交换（ps）资源的组合切换 |
| CN104345262A (zh) * | 2014-10-27 | 2015-02-11 | 华南农业大学 | 一种通用电路板测试系统 |
| CN206096378U (zh) * | 2016-08-31 | 2017-04-12 | 河南森源电气股份有限公司 | 塑壳断路器自动生产线 |
| CN207380156U (zh) * | 2017-10-26 | 2018-05-18 | 辽宁欣科电气股份有限公司 | 有触点电器性能退化综合检测平台 |
| CN109307839A (zh) * | 2018-11-23 | 2019-02-05 | 哈尔滨工业大学 | 交流电器电寿命实验过程中测试触点电压降的电路 |
| CN109633407A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-16 | 上海无线电设备研究所 | 一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统 |
-
2020
- 2020-04-23 CN CN202010328324.3A patent/CN111596194B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020121904A1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-05 | Steven Hauptman | Curcuit for improved test and calibration in automated test equipment |
| CN101151936A (zh) * | 2005-03-30 | 2008-03-26 | 诺基亚公司 | 电路交换（cs）和分组交换（ps）资源的组合切换 |
| CN104345262A (zh) * | 2014-10-27 | 2015-02-11 | 华南农业大学 | 一种通用电路板测试系统 |
| CN206096378U (zh) * | 2016-08-31 | 2017-04-12 | 河南森源电气股份有限公司 | 塑壳断路器自动生产线 |
| CN207380156U (zh) * | 2017-10-26 | 2018-05-18 | 辽宁欣科电气股份有限公司 | 有触点电器性能退化综合检测平台 |
| CN109307839A (zh) * | 2018-11-23 | 2019-02-05 | 哈尔滨工业大学 | 交流电器电寿命实验过程中测试触点电压降的电路 |
| CN109633407A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-16 | 上海无线电设备研究所 | 一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统 |
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